技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種非接觸式空間粒子帶電檢測(cè)裝置及方法。本發(fā)明通過(guò)真空設(shè)備對(duì)腔體內(nèi)大氣抽真空并注入定量填充氣體，以達(dá)到指定氣壓；將塵埃樣品至于腔體內(nèi)的樣品臺(tái)或者樣品倉(cāng)中，通過(guò)輻照或者摩擦的方式使樣品帶電；帶電塵埃被電場(chǎng)推動(dòng)或載氣流體推動(dòng)至位于勻強(qiáng)電場(chǎng)的檢測(cè)區(qū)域中，在僅受重力、推力及外加電場(chǎng)力的條件下做受迫運(yùn)動(dòng)；依靠激光檢測(cè)器檢測(cè)帶電塵埃顆粒的粒徑及運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，計(jì)算單顆粒的帶電量。本發(fā)明容易實(shí)施，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用效果好。

技術(shù)研發(fā)人員：金宏;李雄耀;王世杰;李世杰;唐紅;李陽(yáng);曾獻(xiàn)棣
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院地球化學(xué)研究所
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.28
技術(shù)公布日：2017.07.14