1.一種導(dǎo)通測試治具，應(yīng)用于工件上的接觸件和電路板的導(dǎo)通測試，其特征在于，包括：
底座，包括用于對所述工件進(jìn)行裝夾的定位組件和固定組件；
導(dǎo)通機(jī)構(gòu)，設(shè)置在所述底座上并用于擠壓所述接觸件；及
測試機(jī)構(gòu)，包括與所述電路板對應(yīng)并用于連接檢測儀器的探針，與所述探針連接并用于驅(qū)動所述探針遠(yuǎn)離或靠近所述電路板的第一驅(qū)動組件，安裝在所述底座上并用于驅(qū)動所述第一驅(qū)動組件運(yùn)動的第二驅(qū)動組件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述第一驅(qū)動組件包括設(shè)置在所述第二驅(qū)動組件上的支板和第一氣缸，中部鉸接在所述支板上的擺桿，固定在所述支板上的第一直線導(dǎo)軌，及與所述第一直線導(dǎo)軌滑動配合并與所述擺桿的一端鉸接的第一滑塊，所述第一氣缸的活塞桿與所述擺桿的另一端鉸接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述第一滑塊包括與所述第一直線導(dǎo)軌配合的滑動部，及與滑動部垂直連接的安裝部，所述探針設(shè)置在所述安裝部遠(yuǎn)離所述滑動的一端上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述第一滑塊上還設(shè)置有與所述底座對應(yīng)的限位緩沖件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述第二驅(qū)動組件包括固定在所述底座上并與所述第一直線滑軌垂直設(shè)置的第二直線導(dǎo)軌，與所述第二直線導(dǎo)軌滑動配合并與所述第一驅(qū)動組件連接的第二滑塊，及設(shè)置在所述底座上的第二氣缸，所述第二氣缸的缸筒固定在所述底座上，所述第二氣缸的活塞桿與所述第二滑塊連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述導(dǎo)通機(jī)構(gòu)包括固定在所述底座上的連接塊，安裝在所述連接塊上的第三氣缸，通過滑動結(jié)構(gòu)與所述連接塊滑動配合并與所述第三氣缸的活塞桿連接且與所述工件對應(yīng)的抵壓塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述滑動結(jié)構(gòu)包括一端固定在所述抵接塊上且相互平行的兩根導(dǎo)桿，所述連接塊上設(shè)置有供所述導(dǎo)桿的另一端穿設(shè)的滑孔。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，還包括如下中的任意一個：
所述連接塊上還設(shè)置有用于收容所述第三氣缸的活塞桿的容置槽；
所述抵壓塊上還設(shè)置有與所述工件接觸的彈性件。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述定位組件包括支撐臺，設(shè)置在所述支撐臺上并用于承載所述工件的底板，設(shè)置在所述底板其中一相對兩側(cè)上并對所述工件進(jìn)行X軸方向定位的X軸定位塊，設(shè)置在所述底板另一相對兩側(cè)上并對所述工件進(jìn)行Y軸方向定位的Y軸定位塊。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)通測試治具，其特征在于，所述固定組件包括真空發(fā)生器，所述底座上設(shè)置有與所述真空發(fā)生器連接并與所述工件對應(yīng)的通氣孔。