本發(fā)明涉及熱年代學(xué)方法中的磷灰石裂變徑跡退火研究領(lǐng)域，具體地說，涉及一種利用太赫茲時域光譜快速測量的磷灰石裂變徑跡退火程度的方法。

背景技術(shù)：

熱年代學(xué)是一種利用巖石礦物中放射性元素的裂變或衰變產(chǎn)物在礦物內(nèi)的產(chǎn)出和累積來對地質(zhì)體進(jìn)行定年的方法，可以為油氣勘探提供豐富的盆地構(gòu)造-沉積演化和烴源巖熱成熟的時間信息。低溫?zé)崮甏鷮W(xué)是利用巖石礦物中封閉溫度較低的放射性元素的裂變或衰變產(chǎn)物在礦物內(nèi)的產(chǎn)出和累積來對地質(zhì)體進(jìn)行定年的方法，主要包括裂變徑跡和(U-Th)/He兩種方法。磷灰石裂變徑跡是低溫?zé)崮甏鷮W(xué)中應(yīng)用最廣的方法之一，在重建上地殼1-4km內(nèi)數(shù)百萬年以來的隆升剝露歷史方面具有巨大的優(yōu)勢，可以為沉積盆地油氣勘探提供可靠的生烴歷史。

磷灰石裂變徑跡是酸蝕刻后的“潛徑跡”，是²³⁸U自發(fā)裂變在磷灰石晶格內(nèi)形成的線性損傷。經(jīng)過化學(xué)蝕刻，潛徑跡的直徑由5-10nm增加到1-2μm，使得通過光學(xué)顯微鏡可以直接觀察蝕刻后的徑跡。磷灰石裂變徑跡方法是建立在磷灰石中的²³⁸U裂變產(chǎn)生的徑跡在地質(zhì)時間內(nèi)受溫度作用而發(fā)生退火行為的基礎(chǔ)上的。在地質(zhì)歷史時期，徑跡會逐漸積累并且隨著溫度的升高逐漸發(fā)生縮短，即為退火。因此，磷灰石裂變徑跡的長度分布記錄了其經(jīng)歷的熱歷史，即裂變徑跡的退火程度反映了磷灰石所在地層經(jīng)歷的受熱程度。

磷灰石裂變徑跡退火程度研究的傳統(tǒng)方法需要將從巖石樣品中篩選出來的磷灰石與環(huán)氧樹脂進(jìn)行膠結(jié)，然后對固結(jié)后的樣品進(jìn)行粗研磨、拋光、蝕刻后，再利用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行觀察統(tǒng)計(jì)才能計(jì)算出裂變徑跡的長度，分析退火程度，操作步驟繁瑣，其中，粗研磨和拋光操作需要經(jīng)驗(yàn)豐富的實(shí)驗(yàn)者才能較好地完成，而且對樣品厚度和拋光效果有較高的要求，否則會嚴(yán)重影響裂變徑跡在顯微鏡下的觀察統(tǒng)計(jì)工作，圖1a是表現(xiàn)拋光效果較好的圖片，圖1b是拋光效果不太好的圖片。

另外，目前，許多譜學(xué)方法已經(jīng)廣泛用于分析不同種類的經(jīng)拋光蝕刻的磷灰石顆粒的固有屬性和退火動力學(xué)特性之間的關(guān)系。例如：通過電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)，電子探針顯微分析(EPMA)和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)等方法測定的磷灰石全組成分析結(jié)果反映出化學(xué)組成是如何影響裂變徑跡退火的。同時，磷灰石晶胞參數(shù)與抗退火能力之間的聯(lián)系也通過X射線衍射(XRD)和拉曼光譜進(jìn)行了探討。但是，上述方法受到本身分辨率和適用性的影響，更適合通過單顆磷灰石成分或物理屬性的分析來表征磷灰石的抗退火能力，而并不適用于同時表征多顆磷灰石內(nèi)部裂變徑跡的整體退火程度。因此迫切需要一種可以分辨率適合、可以簡化傳統(tǒng)方法操作步驟、可以提高裂變徑跡退火程度分析測試效率的方法。

太赫茲處于微波和遠(yuǎn)紅外之間，是頻率在0.1-10THz范圍內(nèi)的電磁波。太赫茲時域光譜(THz-TDS)是一種非電離的、非接觸的透射光譜檢測技術(shù)，它可以為材料成分和結(jié)構(gòu)變化造成的異常晶格振動和介電常數(shù)變化提供豐富的相位和振幅信息。太赫茲光譜的分辨能力在微米級，并且從時域光譜中獲得吸收系數(shù)可以反映礦物晶格結(jié)構(gòu)的變化，因此非常適合對裂變徑跡的退火程度進(jìn)行統(tǒng)計(jì)研究。太赫茲時域光譜的信噪比和穩(wěn)定性明顯高于傅里葉變換遠(yuǎn)紅外光譜(FTIR)，它的能量(幾十meV)也遠(yuǎn)小于X射線衍射(幾keV)，因此是一種無損的測試方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明提供一種利用太赫茲時域光譜檢測磷灰石裂變徑跡退火程度的方法，該方法結(jié)合特定的制樣方法，然后通過太赫茲時域光譜獲得更準(zhǔn)確的裂變徑跡光譜學(xué)參數(shù)，進(jìn)而利用光譜學(xué)參數(shù)反映裂變徑跡與退火程度(退火時間、退火溫度)的關(guān)系。實(shí)驗(yàn)的驗(yàn)證成功，能為實(shí)際的熱年代學(xué)研究奠定科學(xué)的基礎(chǔ)。

本發(fā)明解決以上技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下：一種利用太赫茲時域光譜分析磷灰石裂變徑跡退火程度的方法，包括制作樣品的過程，以及將樣品放入太赫茲測試分析裝置進(jìn)行測試、分析的過程，其特征在于：

所述測試、分析的過程包括如下步驟：

(1)按照同一退火時間、不同退火溫度下的樣品作為一組，進(jìn)行分組實(shí)驗(yàn)；

(2)在同組實(shí)驗(yàn)中，先空測取得參考信號的時域光譜，再把樣品逐一放入裝置中進(jìn)行測試，獲得樣品的太赫茲時域光譜，然后再把參考光譜和樣品的太赫茲時域光譜通過傅里葉變換轉(zhuǎn)化為頻域光譜，根據(jù)比爾-朗伯定律，可由下式獲得樣品的吸收系數(shù)α：

D是樣品的厚度，I和I₀分別是光的出射光強(qiáng)和入射光強(qiáng)，分別從樣品和參考信號的頻域光譜中獲得；

(3)進(jìn)一步把吸收系數(shù)轉(zhuǎn)換成吸收指數(shù)：

α-正在測試的樣品的吸收系數(shù)；α_c-發(fā)生完全退火的樣品的吸收系數(shù)；α_u-未退火的樣品的吸收系數(shù)；

(4)通過擬合建立同一退火時間下的吸收指數(shù)與退火溫度的關(guān)系；

(5)把步驟(1)中的所有實(shí)驗(yàn)組按照步驟(2)-(4)的過程均建立吸收指數(shù)與退火溫度的關(guān)系；

(6)再從所有實(shí)驗(yàn)結(jié)果中挑出相同退火溫度、不同退火時間的吸收指數(shù)，建立新的組，通過擬合方法建立吸收指數(shù)與退火時間的關(guān)系；

(7)綜合步驟(5)和步驟(6)的結(jié)果，就獲得了通過太赫茲光譜吸收指數(shù)反映的磷灰石裂變徑跡退火程度與退火溫度和退火時間的關(guān)系。

進(jìn)一步地，建立吸收指數(shù)與退火溫度關(guān)系的方法是：提取可以反映裂變徑跡退火程度隨退火溫度變化有效的太赫茲頻段，這個頻段是指不同樣品的吸收光譜曲線能夠完全分開，并且未完全退火的樣品的吸收系數(shù)隨退火溫度升高呈逐漸增大趨勢時所對應(yīng)的太赫茲頻段。

進(jìn)一步地，對于每個樣品，在其上設(shè)置等步長矩陣型的測試點(diǎn)，進(jìn)行多點(diǎn)測試，然后取所有測試點(diǎn)吸收系數(shù)的平均值作為該樣品的吸收系數(shù)。

進(jìn)一步地，所述制作樣品的過程，包括如下步驟：

1)將磷灰石顆粒進(jìn)行研磨篩選，用鋁膜包裹置于馬弗爐內(nèi)進(jìn)行等溫退火；

2)將加熱退火后的磷灰石粉末與聚乙烯粉末均勻混合，使用壓片機(jī)進(jìn)行壓片；

3)將片狀樣品進(jìn)行蝕刻。

再進(jìn)一步地，所述步驟1)中，磷灰石粉末顆粒粒徑為75-100μm，放入預(yù)熱的銅盤后置于馬弗爐內(nèi)進(jìn)行等溫退火實(shí)驗(yàn)。

再進(jìn)一步地，所述步驟2)中，磷灰石粉末與聚乙烯粉末按一定的質(zhì)量比(一般為1∶1-1∶6)均勻混合，在20MPa的壓力下壓片2min。

再進(jìn)一步地，所述步驟3)中，樣品置于室溫下的5.5mol/L的硝酸內(nèi)蝕刻20s，然后置于干燥箱內(nèi)在40℃下干燥24h后取用。

進(jìn)一步地，所述太赫茲測試分析裝置，包括飛秒激光器、分束器、時延裝置、反射鏡、探測器、鎖定放大器、計(jì)算機(jī)、發(fā)射器、凸透鏡、砷化銦晶體、凹面反射鏡組、樣品倉、碲化鋅晶體、凸透鏡；

由飛秒激光器發(fā)出的光經(jīng)過分束器分成兩束，一束作為泵浦光，一束作為探測光，所述泵浦光經(jīng)反射鏡反射進(jìn)入發(fā)射器并通過凸透鏡和砷化銦晶體產(chǎn)生聚焦的太赫茲波，通過凹面反射鏡組進(jìn)入樣品倉，對樣品進(jìn)行太赫茲測試；所述探測光通過反射鏡進(jìn)入探測器，與攜帶樣品信息的太赫茲波匯聚于碲化鋅晶體之上，產(chǎn)生樣品的太赫茲信號，太赫茲信號經(jīng)鎖定放大器放大后進(jìn)入計(jì)算機(jī)，在計(jì)算機(jī)中將樣品的太赫茲信號轉(zhuǎn)化為太赫茲時域光譜。

再進(jìn)一步地，所述進(jìn)行等步長的太赫茲時域光譜測試，入射飛秒激光中心波長800nm、脈沖寬度100fs、平均能量200mW。

再進(jìn)一步地，所述樣品倉是一個充滿高純度氮?dú)獾那皇遥瑵穸鹊陀?％，測試溫度為室溫。

與傳統(tǒng)方法相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：

(1)太赫茲光譜的分辨率在微米級別，吸收光譜可以反映礦物晶格結(jié)構(gòu)的變化，適用于分析各種磷灰石經(jīng)歷的退火程度；

(2)本發(fā)明通過太赫茲吸收指數(shù)表征磷灰石裂變徑跡的退火程度，避免了傳統(tǒng)方法中因粗研磨、拋光操作不當(dāng)對裂變徑跡研究工作造成的影響，降低了實(shí)驗(yàn)對實(shí)驗(yàn)者操作經(jīng)驗(yàn)的要求；

(3)本發(fā)明的制樣方法簡單、操作步驟更少、測試周期更短，需要測試的參數(shù)更少；

(4)對在不同溫度下退火的磷灰石進(jìn)行了太赫茲光譜研究，吸收系數(shù)可以很好地反映樣品因退火時間或退火溫度的不同而產(chǎn)生的差異，吸收指數(shù)可以很好地識別樣品間退火程度的變化。

因此，太赫茲時域光譜可以被用于確定磷灰石的退火程度，并有潛力成為研究含油氣盆地?zé)N源巖熱演化歷史的一種輔助技術(shù)。本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且部分的從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。

附圖說明

附圖僅用于示出具體實(shí)施例的目的，而并不認(rèn)為是對本發(fā)明的限制，在整個附圖中，相同的參考符號表示相同的部件。

圖1a為傳統(tǒng)方法中使用拋光技術(shù)獲得的拋光效果較好的圖片。

圖1b為傳統(tǒng)方法中使用拋光技術(shù)獲得的拋光效果不太好的圖片。

圖2為樣品測試點(diǎn)分布示意圖。

圖3為加熱10h的Durango磷灰石的吸收光譜。

圖4為加熱10h的Durango磷灰石的吸收指數(shù)與退火溫度的關(guān)系圖。

圖5為太赫茲時域光譜測試裝置示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該知道，以下實(shí)施例并不是對本發(fā)明技術(shù)方案作的唯一限定，凡是在本發(fā)明技術(shù)方案精神實(shí)質(zhì)下所做的任何等同變換或改動，均應(yīng)視為屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。

本發(fā)明提供一種利用太赫茲時域光譜吸收系數(shù)分析磷灰石裂變徑跡退火程度的方法，以Durango磷灰石退火實(shí)驗(yàn)為例，該方法包括如下步驟：

(1)樣品準(zhǔn)備階段：

先制作磷灰石樣品，所有樣品都經(jīng)過蝕刻。樣品中包含有未經(jīng)過退火處理的，也包含有經(jīng)過完全退火處理的，還包含有經(jīng)過部分退火處理的；樣品的退火溫度、退火時間各有不同，這些樣品中既包含相同時間下的多種退火溫度，也包含有相同退火溫度下的多種退火時間。

退火溫度可以選擇幾個梯度溫度，如100℃、150℃、200℃、275℃、300℃、345℃、400℃、450℃、500℃等，不過根據(jù)磷灰石自身的特性以及經(jīng)過多數(shù)實(shí)驗(yàn)證明，磷灰石在400℃以上加熱10小時基本就可以完全退火了；退火時間可以隨意選擇，如10小時、100小時、1000小時等。

然后對于每個樣品，在其上取幾個測試點(diǎn)，實(shí)驗(yàn)時是取這幾個測試點(diǎn)的測試平均值，作為取用值。圖2為樣品測試點(diǎn)分布示意圖，進(jìn)行太赫茲測試時，為了消除顆粒形態(tài)和可能的粉末不均勻混合對測試結(jié)果造成的影響，采用等步長多點(diǎn)矩陣測試的方法進(jìn)行測試，一般以測試9個點(diǎn)(3×3)、16個點(diǎn)(4×4)或25個點(diǎn)(5×5)為宜，既可以保證多點(diǎn)平均的有效性，又可以避免測試點(diǎn)過多延長實(shí)驗(yàn)時間、增加實(shí)驗(yàn)費(fèi)用。

(2)測試過程：

把同一退火時間、不同退火溫度下的樣品作為一組作對比實(shí)驗(yàn)，這樣有多少種退火時間，即可劃分出多少組實(shí)驗(yàn)。

例如取第一組加熱時間同為10h的樣品進(jìn)行測試，蝕刻樣品干燥后，利用太赫茲測試分析裝置進(jìn)行太赫茲時域光譜測試，通過太赫茲時域光譜測試可以得到樣品每個測試點(diǎn)的太赫茲時域光譜信號，通過快速傅里葉變換(FFT)可以將時域光譜轉(zhuǎn)化為頻域光譜，根據(jù)比爾-朗伯定律，可由下式獲得太赫茲頻域光譜的吸收系數(shù)α：

D是樣品的厚度。I和I₀分別是光的出射光強(qiáng)和入射光強(qiáng)。

吸收系數(shù)可以反映礦物晶格結(jié)構(gòu)的變化，通過計(jì)算多個測試點(diǎn)吸收系數(shù)的平均值，獲得的頻率-吸收系數(shù)光譜。

多個退火溫度的樣品做同樣的測試，獲得圖3所示的圖譜。由圖3可見，由于強(qiáng)烈的吸收作用，有效的頻率段為0.1-1.9THz，在該頻段內(nèi)，每個未完全退火的測試樣品的吸收系數(shù)都隨頻率的增加而緩慢增加，呈現(xiàn)規(guī)律性；同時，各個退火溫度下的曲線幾乎平行，說明各個退火溫度下的樣品的太赫茲頻率與吸收系數(shù)的關(guān)系具有同一性，由此總結(jié)出可以用太赫茲光譜吸收系數(shù)來評價退火溫度具有可行性。

(3)進(jìn)一步把該組不同退火溫度下的所有樣品吸收系數(shù)轉(zhuǎn)換成吸收指數(shù)，建立吸收指數(shù)與退火溫度的關(guān)系，建立方法是：

提取可以反映裂變徑跡退火程度隨退火溫度變化有效太赫茲頻段(這個頻段是指不同樣品的吸收光譜曲線能夠完全分開，并且未完全退火的樣品的吸收系數(shù)隨退火溫度升高呈逐漸增大趨勢時所對應(yīng)的太赫茲頻段，如在圖3的實(shí)施例中認(rèn)為是1.1-1.8THz頻段)，在同一頻率下，把各溫度下太赫茲光譜吸收系數(shù)轉(zhuǎn)換成吸收指數(shù)：

α-正在測試的樣品的吸收系數(shù)；α_c-發(fā)生完全退火的樣品的吸收系數(shù)；α_u-未退火的樣品的吸收系數(shù)。

因?yàn)槲障禂?shù)只是對每個樣品的測試，而退火程度是一個相對概念，即與沒有退火的樣品相比，當(dāng)前樣品的退火程度。因此需要設(shè)置完全退火的吸收系數(shù)和未退火的吸收系數(shù)這兩個基準(zhǔn)值，當(dāng)獲得測試樣品的吸收系數(shù)后，即可建立三者之間的關(guān)系，計(jì)算得到吸收指數(shù)，才能有效表征裂變徑跡的退火程度。

根據(jù)計(jì)算得出的吸收指數(shù)，采用指數(shù)模型對數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，建立不同類型磷灰石的太赫茲吸收指數(shù)與退火溫度的關(guān)系，如圖4所示的是代表加熱10小時這一組實(shí)驗(yàn)得到的數(shù)據(jù)關(guān)系：

K＝-0.011*exp(T/75.889+1.018)，R²＝0.987

T表示溫度，R²表示擬合度。

圖4為加熱10h的Durango磷灰石的吸收光譜，選擇其他同樣的加熱時長做實(shí)驗(yàn)也可以，加熱溫度分別為20℃(室溫)、275℃、300℃、325℃、450℃和500℃。根據(jù)文獻(xiàn)，在345℃下加熱10h后，Durango磷灰石內(nèi)部的裂變徑跡全部退火消失，因此450℃和500℃的樣品的吸收系數(shù)基本相同。低于345℃時，隨退火溫度的增加，磷灰石內(nèi)部的裂變徑跡數(shù)量越來越少，吸收系數(shù)也越來越大。

以上實(shí)施例是以第一組(退火時間10h、不同退火溫度)Durango磷灰石樣品為例，獲得的太赫茲吸收指數(shù)與退火溫度的關(guān)系圖。同樣地，可以進(jìn)行第二組(比如退火時間100h)、第三組(比如退火時間1000h)實(shí)驗(yàn)。每一組實(shí)驗(yàn)的擬合結(jié)果可以表征在當(dāng)前加熱時間下，太赫茲光譜吸收指數(shù)與退火溫度的相關(guān)性；再把所有組中相同退火溫度、不同退火時間的測試結(jié)果挑選出來，就可擬合出太赫茲光譜吸收指數(shù)與退火時間的相關(guān)性。因此可以通過太赫茲光譜實(shí)驗(yàn)綜合反映Durango磷灰石裂變徑跡退火程度(包含退火溫度和退火時間兩方面因素)。

繼續(xù)選取FCT磷灰石(產(chǎn)自Fish Canyon Tuff，U.S.A)、氟磷灰石、羥磷灰石或氯磷灰石重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)。最后，綜合所有實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，可建立不同類型磷灰石的太赫茲吸收指數(shù)與退火溫度和退火時間的關(guān)系圖版。

將加熱時間更改為對數(shù)坐標(biāo)，將實(shí)驗(yàn)室條件下的數(shù)據(jù)外推到地質(zhì)歷史時期(因?yàn)橥馔频降刭|(zhì)歷史時期，時間會以1百萬年(1Ma)為單位，與1000小時相差的數(shù)量級很多，因此需要將加熱時間設(shè)置為對數(shù)坐標(biāo)，才能把數(shù)據(jù)均勻地放置到一個圖內(nèi)，否則橫坐標(biāo)(時間)跨度太大)，用于分析待測試樣品的磷灰石裂變徑跡退火程度，反映其經(jīng)歷的退火溫度和退火時間。

進(jìn)一步地，本發(fā)明也涉及了一種制作上述磷灰石樣品的方法，包括如下步驟：

1)將磷灰石顆粒進(jìn)行研磨篩選，用鋁膜包裹置于馬弗爐內(nèi)進(jìn)行等溫退火；

2)將加熱退火后的磷灰石粉末與聚乙烯粉末均勻混合，使用壓片機(jī)進(jìn)行壓片；

3)將片狀樣品進(jìn)行蝕刻。

所述步驟1)優(yōu)選為將不同種類的磷灰石顆粒進(jìn)行研磨篩選，使得粒徑為75-100μm，用鋁箔包裹，放入預(yù)熱的銅盤后置于馬弗爐內(nèi)進(jìn)行等溫退火實(shí)驗(yàn)。

所述步驟2)優(yōu)選為將磷灰石粉末與聚乙烯粉末按一定的質(zhì)量比(一般為1∶1-1∶6)均勻混合，在20MPa的壓力下壓片2min。

所述步驟3)優(yōu)選為將樣品置于室溫下的5.5mol/L的硝酸內(nèi)蝕刻20s。

所述步驟3)優(yōu)選為將蝕刻后的樣品置于干燥箱內(nèi)在40℃下干燥24h后再用。

進(jìn)一步地，本發(fā)明還提供了一種用于實(shí)驗(yàn)的太赫茲測試分析裝置，如圖5所示，該裝置包括飛秒激光器1、分束器2、時延裝置3、反射鏡4、探測器5、鎖定放大器6、計(jì)算機(jī)7、發(fā)射器8、凸透鏡9、砷化銦晶體10、凹面反射鏡組11、樣品倉12、碲化鋅晶體13、凸透鏡14等。

由飛秒激光器1發(fā)出的光經(jīng)過分束器2分成兩束，一束作為泵浦光，一束作為探測光，并用時延裝置3將兩束光形成一定的時延。從分束器2分出的泵浦光經(jīng)反射鏡4反射進(jìn)入發(fā)射器8并通過凸透鏡9和砷化銦晶體10產(chǎn)生聚焦的太赫茲波，通過凹面反射鏡組11進(jìn)入樣品倉12，對樣品進(jìn)行太赫茲測試。從分束器2分出的探測光經(jīng)過時延裝置3，通過反射鏡4進(jìn)入探測器5，與攜帶樣品信息的太赫茲波匯聚于碲化鋅晶體13之上，產(chǎn)生樣品的太赫茲信號，太赫茲信號經(jīng)鎖定放大器6放大后進(jìn)入計(jì)算機(jī)7，通過軟件將樣品的太赫茲信號轉(zhuǎn)化為太赫茲時域光譜。

進(jìn)行樣品測試之前，需要測試參考信號，即樣品倉12內(nèi)未放置樣品時測試得到的信號，通過參考信號和樣品的測試信號計(jì)算樣品的吸收系數(shù)。

優(yōu)選地，進(jìn)行等步長的太赫茲時域光譜測試，入射飛秒激光中心波長800nm、脈沖寬度100fs、平均能量200mW。

由于水蒸氣對太赫茲脈沖的強(qiáng)吸收性，所以優(yōu)選地，樣品測試在一個充滿高純度氮?dú)獾那皇疫M(jìn)行，濕度低于3％，測試溫度為室溫。

實(shí)驗(yàn)選擇的原料可以優(yōu)選為將國際上標(biāo)準(zhǔn)的Durango磷灰石(產(chǎn)自Durango，Mexico)、FCT磷灰石(產(chǎn)自Fish Canyon Tuff，U.S.A)和純的氟磷灰石、羥磷灰石和氯磷灰石分別研磨成粉末，等溫退火實(shí)驗(yàn)后制成測試樣品，對這些樣品進(jìn)行太赫茲光譜測試，計(jì)算得到每種磷灰石不同溫度下、不同加熱時間退火樣品的吸收指數(shù)，更具有普遍適用性。