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一種測量磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置及方法與流程

文檔序號:12447609閱讀:341來源:國知局
一種測量磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置及方法與流程

本發(fā)明涉及材料光學參數(shù)的試驗系統(tǒng)裝置及方法,是一種針對磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置方法,特別能精確定量測量在給定磁場場強大小、給定磁場方向、給定溫度、給定波長(波段)、給定入射角度、給定表面微結(jié)構(gòu)的對磁光材料的光學參數(shù)。



背景技術(shù):

磁光材料指的是具有磁光效應的光信息功能材料,包括:磁光晶體、磁光玻璃和磁光薄膜。在磁場作用下其原子或離子具有固有磁矩的物質(zhì)將產(chǎn)生磁感應現(xiàn)象,導致磁矩的有序排列,從而影響光在其內(nèi)部的傳播特性,稱為磁光效應。磁光效應可以破環(huán)材料的量子力學時間反演不變性,表現(xiàn)為非互易性,基爾霍夫定律不再成立。目前磁光效應通常指法拉第效應、科頓-穆頓效應和磁光克爾效應等。磁光材料所具有的非互易性能,在一定波段下具有定向全透射,全吸收,全輻射的特性。因此對于磁光材料相應的進一步研究,有利于推動磁光材料在各領域的應用發(fā)展。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于解決現(xiàn)有對研究磁光材料光學性能的具體研究的缺乏,提供一種測量磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置及方法,促進磁光材料在各領域的應用發(fā)展。

本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:一種測量磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,包括兩個電磁鐵、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀、兩個光束收集器、兩個偏振分析儀、兩個分光光度計、試樣放置臺、全反射棱鏡、光源發(fā)射器和空氣調(diào)節(jié)器;

所述試樣放置臺安裝有可旋轉(zhuǎn)的固定裝置,固定裝置上放置有試樣,試樣兩側(cè)分別設有電磁鐵,試樣位于電磁鐵所產(chǎn)生的平行磁場中;

所述光源發(fā)射器發(fā)射探測光束,經(jīng)過全反射棱鏡射向試樣,經(jīng)過試樣的透射光束和反射光束分別依次導向分光光度計、偏振分析儀、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀外接的光束收集器;

上述試驗測量系統(tǒng)裝置均設置在封閉空間內(nèi),并通過空氣調(diào)節(jié)器調(diào)節(jié)環(huán)境溫度,所述傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀的輸出端連接處理計算機。

作為優(yōu)選,所述電磁鐵為SB-130型雙軛雙調(diào)諧可變氣隙電磁鐵,標準極頭磁場范圍0T~2.5T。

作為優(yōu)選,所述傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀為Nicolet IS10型傅里葉變換紅外光譜儀。

作為優(yōu)選,所述偏振分析儀為PAX-5710型全波段偏振分析儀。

作為優(yōu)選,所述分光光度計為LAMBDA950型分光光度計。

一種采用上述裝置的測量磁光材料光學參數(shù)的試驗方法,包括以下步驟:

1)首先在試樣放置臺上設有試樣的固定裝置,將試樣放置在固定裝置后,其位于電磁鐵所產(chǎn)生的平行磁場中,電磁鐵自主調(diào)節(jié)所產(chǎn)生的平行磁場大小,固定裝置可在試樣放置臺上旋轉(zhuǎn),選擇磁場方向和被測表面的角度;

2)在試驗開始前將試驗空間進行封閉,利用空氣調(diào)節(jié)器進行溫度調(diào)節(jié),將環(huán)境溫度調(diào)至預定試驗溫度,定量分析不同溫度下的磁光材料的光學性能;

3)光源發(fā)射器首先發(fā)射測量所需波長或波段的探測光束,探測光束經(jīng)過全反射棱鏡射向試樣,探測光束通過全反射棱鏡進行相對于被測表面多角度(0.1°~90°)的角度調(diào)整,光源發(fā)射器和全反射棱鏡的位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設備;

4)經(jīng)過試樣的透射光束和反射光束依次導向分光光度計和偏振分析儀,進行光束場強與偏振態(tài)分析,所述分光光度計測量不同波長下的光束強度,分析波長與光強度的關(guān)系,所述偏振分析儀在寬的波長范圍內(nèi)進行高精度的測量光束的偏振態(tài);分光光度計和偏振分析儀的位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設備;

5)之后兩束光分別通過光束收集器進入傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀進行數(shù)據(jù)采集,光束收集器用來接收來自被測材料的反射、透射或輻射光束,其位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設備;

6)傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀的數(shù)據(jù)輸出至處理計算機進行數(shù)據(jù)計算處理;所述處理計算機具有相應的數(shù)據(jù)處理軟件,在測量設備的測量數(shù)據(jù)輸入后,可進行數(shù)據(jù)處理,得到(包括但并不僅限于)被測材料的介電常數(shù)張量、吸收率、反射率、透射率、偏振態(tài)旋轉(zhuǎn)角度、色散關(guān)系等光學參數(shù),可定量分析位于不同方向(極向、橫向、縱向)、不同場強的平行磁場作用下,磁光材料的不同波長、入射角度、溫度、摻雜濃度、表面微結(jié)構(gòu)對磁光材料光學性能的對應關(guān)系和非互易性能的對應關(guān)系。

有益效果:本發(fā)明解決了現(xiàn)有對研究磁光材料光學性能的具體研究的缺乏,提供一種測量磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,促進磁光材料在各領域的應用發(fā)展。

附圖說明

圖1為本發(fā)明試驗測量系統(tǒng)裝置示意圖;

圖2為本發(fā)明試樣放置臺示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明做進一步說明。

如圖1和2所示,一種測量磁光材料光學參數(shù)的試驗測量系統(tǒng)裝置,包括兩個電磁鐵1、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀2、兩個光束收集器3、兩個偏振分析儀4、兩個分光光度計5、試樣放置臺6、全反射棱鏡7、光源發(fā)射器8和空氣調(diào)節(jié)器9;

所述試樣放置臺6安裝有可旋轉(zhuǎn)的固定裝置,固定裝置上放置有試樣,試樣兩側(cè)分別設有電磁鐵1,試樣位于電磁鐵1所產(chǎn)生的平行磁場中;

所述光源發(fā)射器8發(fā)射探測光束,經(jīng)過全反射棱鏡7射向試樣,經(jīng)過試樣的透射光束和反射光束分別依次導向分光光度計5、偏振分析儀4、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀2外接的光束收集器3;

上述試驗測量系統(tǒng)裝置均設置在封閉空間內(nèi),并通過空氣調(diào)節(jié)器9調(diào)節(jié)環(huán)境溫度,所述傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀2的輸出端連接處理計算機。

作為優(yōu)選,所述電磁鐵1為SB-130型雙軛雙調(diào)諧可變氣隙電磁鐵,標準極頭磁場范圍0T~2.5T。

作為優(yōu)選,所述傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀2為Nicolet IS10型傅里葉變換紅外光譜儀。

作為優(yōu)選,所述偏振分析儀4為PAX-5710型全波段偏振分析儀。

作為優(yōu)選,所述分光光度計5為LAMBDA950型分光光度計。

一種采用上述裝置的測量磁光材料光學參數(shù)的試驗方法,包括以下步驟:

1)首先在試樣放置臺6上設有試樣的固定裝置,將試樣放置在固定裝置后,其位于電磁鐵1所產(chǎn)生的平行磁場中,電磁鐵1自主調(diào)節(jié)所產(chǎn)生的平行磁場大小,固定裝置可在試樣放置臺6上旋轉(zhuǎn),選擇磁場方向和被測表面的角度;

2)在試驗開始前將試驗空間進行封閉,利用空氣調(diào)節(jié)器9進行溫度調(diào)節(jié),將環(huán)境溫度調(diào)至預定試驗溫度,定量分析不同溫度下的磁光材料的光學性能;

3)光源發(fā)射器8首先發(fā)射測量所需波長或波段的探測光束,探測光束經(jīng)過全反射棱鏡7射向試樣,探測光束通過全反射棱鏡7進行相對于被測表面多角度(0.1°~90°)的角度調(diào)整,光源發(fā)射器8和全反射棱鏡7的位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設備;

4)經(jīng)過試樣的透射光束和反射光束依次導向分光光度計5和偏振分析儀4,進行光束場強與偏振態(tài)分析,所述分光光度計5測量不同波長下的光束強度,分析波長與光強度的關(guān)系,所述偏振分析儀4在寬的波長范圍內(nèi)進行高精度的測量光束的偏振態(tài);分光光度計5和偏振分析儀4的位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設備;

5)之后兩束光分別通過光束收集器3進入傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀2進行數(shù)據(jù)采集,光束收集器3用來接收來自被測材料的反射、透射或輻射光束,其位置根據(jù)入射角度的調(diào)整而調(diào)整,并具有固定、調(diào)節(jié)的配套設備;

6)傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜分析儀2的數(shù)據(jù)輸出至處理計算機進行數(shù)據(jù)計算處理;所述處理計算機在測量設備的測量數(shù)據(jù)輸入后,帶入(包括并不僅限于)Drude模型進行數(shù)據(jù)處理,得到(包括但并不僅限于)被測材料的介電常數(shù)張量、吸收率、反射率、透射率、偏振態(tài)旋轉(zhuǎn)角度、色散關(guān)系等光學參數(shù),可定量分析位于不同方向(極向、橫向、縱向)、不同場強的平行磁場作用下,磁光材料的不同波長、入射角度、溫度、摻雜濃度、表面微結(jié)構(gòu)對磁光材料光學性能的對應關(guān)系和非互易性能的對應關(guān)系。

以上結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施方式做出詳細說明,但本發(fā)明不局限于所描述的實施方式。對本領域的普通技術(shù)人員而言,在本發(fā)明的原理和技術(shù)思想的范圍內(nèi),對這些實施方式進行多種變化、修改、替換和變形仍落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。

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