本發(fā)明涉及電平轉換器測試的技術領域，特別是指一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統(tǒng)。

背景技術：

TTL(Transister-Transister-Logic)電路是指晶體管-晶體管邏輯電路，是數(shù)字集成電路的一大門類。TTL電路采用雙極型工藝制造，具有高速度低功耗和品種多等特點。ECL(Emitter Couple Logic)電路是指射極耦合邏輯集成電路，與TTL電路不同，ECL電路的最大特點是其基本門電路工作在非飽和狀態(tài)。所以，ECL電路的最大優(yōu)點是具有相當高的速度，這種電路的平均延遲時間可達幾個毫微秒甚至亞毫微秒數(shù)量級。這使得ECL集成電路在高速和超高速數(shù)字系統(tǒng)中具有較大的優(yōu)勢，能夠廣泛用于數(shù)字通信、雷達等領域。

在新一代電子電路設計中，隨著低電壓邏輯的引入，系統(tǒng)內部常常出現(xiàn)輸入/輸出邏輯不協(xié)調的問題，從而提高了系統(tǒng)設計的復雜性。例如，當1.8V的數(shù)字電路與工作在3.3V的模擬電路進行通信時，需要首先解決兩種電平的轉換問題，這時就需要通過電平轉換器來實現(xiàn)這一功能。同時，隨著不同工作電壓的數(shù)字IC的不斷涌現(xiàn)，邏輯電平轉換的必要性更加突出，電平轉換方式也將隨邏輯電壓、數(shù)據(jù)總線的形式(例如4線SPI、32位并行數(shù)據(jù)總線等)以及數(shù)據(jù)傳輸速率的不同而改變。

但是，對于TTL到差分ECL的電平轉換器來說，由于其輸出為差分ECL信號，所以功能及交直流參數(shù)的測試條件比較特殊。從而導致常見的測試系統(tǒng)有時候不能滿足某些TTL到差分ECL的電平轉換器的測試需求，例如J750測試系統(tǒng)的數(shù)字通道電壓范圍為-1V至6V，截止電壓的最小值為-1V；Magnum II測試系統(tǒng)的數(shù)字通道電壓范圍為-1.5V至6.5V；Magnum V測試系統(tǒng)的數(shù)字通道電壓范圍為-1.5V至4.5V；T5385ES測試系統(tǒng)的數(shù)字通道電壓范圍為-1.5V至5V；M5S測試系統(tǒng)的數(shù)字通道電壓范圍為-1.5V至6.5V。這些測試系統(tǒng)的截止電壓最小值均為-1.5V或-1V，而有一些TTL到差分ECL的電平轉換器的測試條件為“50ohm to-2V”，也即需要的測試電壓為-2V，若是現(xiàn)有測試系統(tǒng)不能滿足電平轉換器的測試條件，將會影響這一類電平轉換器邏輯功能、交流參數(shù)以及直流參數(shù)VOH、VOL等的測試。進而給這一類電平轉換器的使用帶來不便。

技術實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提出一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統(tǒng)，使得測試系統(tǒng)能夠滿足電平轉換器的測試需求。

基于上述目的本發(fā)明提供的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法，包括：

在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中增加一個輔助電源，并且對輔助電源的管腳配置進行設置；

在輔助電源相應的電源設置模塊中分別設置輔助電源的電壓值、限流、延遲參數(shù)；

將待測電平轉換器的相應接口連接到測試系統(tǒng)中，且將待測電平轉換器的輸出接口均分別通過電阻連接到輔助電源上；

按照測試需求，建立待測電平轉換器的測試流程并在測試系統(tǒng)中選取相應的測試方法進行電平轉換器的測試。

可選的，所述在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中增加一個輔助電源的步驟之前還包括：

判斷待測電平轉換器的測試電壓是否超出測試系統(tǒng)數(shù)字通道的電壓范圍，若是，則執(zhí)行在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中增加一個輔助電源的步驟；

否則，直接進行待測試電平轉換器的測試。

可選的，所述測試系統(tǒng)為V93000測試系統(tǒng)，所述待測電平轉換器為SY100ELT24。

進一步，所述待測電平轉換器SY100ELT24與測試系統(tǒng)V93000的連接方式為：測試系統(tǒng)的電源通道DPS1、DPS2分別連接到待測電平轉換器的正負電源電壓管腳V_CC、V_EE；測試系統(tǒng)的數(shù)字通道1連接到待測電平轉換器的輸入信號管腳D；待測電平轉換器的輸出信號管腳Q、分別連接到測試系統(tǒng)的數(shù)字通道2和數(shù)字通道3，同時所述輸出信號管腳Q、分別通過一個電阻串聯(lián)到增加的輔助電源DPS3中。

進一步，在所述V93000測試系統(tǒng)中，所述輔助電源的限流、延時參數(shù)通過電平定義功能中的DPS模塊設置。

可選的，所述管腳配置包括：名稱定義、編號設置、類型設置、測試通道設置以及極性設置。

本發(fā)明還提供了一種TTL到ECL的電平轉換器的測試系統(tǒng)，包括：

電平轉換器，用于將TTL信號轉換為ECL信號，作為系統(tǒng)的待測模塊；

測試系統(tǒng)，用于給電平轉換器提供電源并輸入TTL信號，接收電平轉換器輸出的ECL信號，進而測試電平轉換器的性能；

其中，在所述測試系統(tǒng)中按照電平轉換器的測試需求添加一個輔助電源，并且相應的設置輔助電源的電壓值、限流、延遲參數(shù)；在測試時，將電平轉換器的相應管腳與測試系統(tǒng)的相應管腳相互連接，然后將電平轉換器的輸出管腳均分別通過電阻串聯(lián)到增加的輔助電源中。

從上面所述可以看出，本發(fā)明提供的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統(tǒng)，通過在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中添加輔助電源，并且對輔助電源的參數(shù)和管腳相應的設置，通過將添加的輔助電源通過電阻分別連接到待測電平轉換器的輸出接口，進而能夠滿足電平轉換器的測試需求，最后按照測試需求，建立待測電平轉換器的測試流程并在測試系統(tǒng)中選取相應的測試方法進行電平轉換器的測試。本發(fā)明所述的TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統(tǒng)通過新增輔助電源并且相應的設置參數(shù)，使得測試系統(tǒng)能夠滿足電平轉換器的測試需求，進而完成電平轉換器的各項測試，極大地保證了電平轉換器性能測試的穩(wěn)定性和可靠性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明提供的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法的實施例的流程圖；

圖2為本發(fā)明提供的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試系統(tǒng)的實施例的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本發(fā)明進一步詳細說明。

需要說明的是，本發(fā)明實施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是為了區(qū)分兩個相同名稱非相同的實體或者非相同的參量，可見“第一”“第二”僅為了表述的方便，不應理解為對本發(fā)明實施例的限定，后續(xù)實施例對此不再一一說明。

參照圖1所示，為本發(fā)明提供的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法的實施例的流程圖。所述TTL到ECL的電平轉換器的測試方法，包括：

步驟101，在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中增加一個輔助電源，并且對輔助電源的管腳配置進行設置；

其中，所述測試系統(tǒng)是指常見可用的測試系統(tǒng)，例如：V93000測試系統(tǒng)、Magnum II測試系統(tǒng)、Magnum V測試系統(tǒng)、T5385ES測試系統(tǒng)、M5S測試系統(tǒng)。所述電源設置模塊是指對應系統(tǒng)中用于設置電源通道的模塊，能夠設置增刪電源以及相應的設置這些電源的參數(shù)。在原始的測試系統(tǒng)中通常具有多個電源通道管腳以及數(shù)字通道管腳等等用于測試的通道或管腳，需要測試人員預先在測試系統(tǒng)中相應的設置這些管腳的參數(shù)才能相應的實現(xiàn)測試功能。

步驟102，在輔助電源相應的電源設置模塊中分別設置輔助電源的電壓值、限流、延遲參數(shù)；

其中，需要根據(jù)待測電平轉換器的測試條件，相應的設置增加的輔助電源的電壓值、限流參數(shù)、延遲參數(shù)等等相關參數(shù)。例如：待測電平轉換器的測試條件包含-2V的電壓，則相應的輔助電源的電壓值設置為-2V。所述限流參數(shù)、延遲參數(shù)的設置起到保護、限制的作用，使得測試過程更加穩(wěn)定、可靠。

步驟103，將待測電平轉換器的相應接口連接到測試系統(tǒng)中，且將待測電平轉換器的輸出接口均分別通過電阻連接到輔助電源上；

其中，按照常規(guī)的測試方法將待測電平轉換器的相應接口連接到測試系統(tǒng)中，然后將待測電平轉換器的輸出接口均分別通過電阻連接到輔助電源上，這樣，使得測試系統(tǒng)的連接能夠滿足待測電平轉換器的測試條件，進而有效完成待測電平轉換器的測試。所述電阻的阻值可以根據(jù)待測電平轉換器的測試條件相應設置。

步驟104，按照測試需求，建立待測電平轉換器的測試流程并在測試系統(tǒng)中選取相應的測試方法進行電平轉換器的測試。

其中，建立測試流程以及選取測試方法的步驟既可以采用常規(guī)的測試流程和測試方法，也可以根據(jù)需要，按照新增的輔助電源對測試流程和測試方法相應的調整。需要說明的是，在步驟101-104中的其他參數(shù)的相關設置可以參照常規(guī)的測試過程進行相應的參數(shù)設置。

由上述實施例可知，所述TTL到ECL的電平轉換器的測試方法，通過在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中添加輔助電源，并且對輔助電源的參數(shù)和管腳相應的設置，然后通過將添加的輔助電源通過電阻分別連接到待測電平轉換器的輸出接口，進而能夠滿足電平轉換器的測試需求，最后按照測試需求，建立待測電平轉換器的測試流程并在測試系統(tǒng)中選取相應的測試方法進行電平轉換器的測試。本發(fā)明所述的TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統(tǒng)通過新增輔助電源并且相應的設置參數(shù)，使得測試系統(tǒng)能夠滿足電平轉換器的測試需求，進而完成電平轉換器的各項測試，極大地保證了電平轉換器性能測試的穩(wěn)定性和可靠性。綜上，本發(fā)明所述的TTL到ECL的電平轉換器的測試方法能夠克服原有測試系統(tǒng)的測試電壓不能滿足某些待測電平轉換器的測試條件的情形，進而有效完成這些待測電平轉換器的連接、直流參數(shù)、交流參數(shù)、功能等各項測試。

在本發(fā)明一些優(yōu)選的實施例中，所述在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中增加一個輔助電源的步驟之前還包括：

判斷待測電平轉換器的測試電壓是否超出測試系統(tǒng)數(shù)字通道的電壓范圍，若是，則執(zhí)行在測試系統(tǒng)的電源設置模塊中增加一個輔助電源的步驟；

否則，直接進行待測試電平轉換器的測試。

大多數(shù)情況下，測試系統(tǒng)均能夠滿足電平轉換器的測試條件(通常是指電壓的條件)，因此，在滿足測試條件時可以按照常規(guī)的測試方法進行電平轉換器的測試，只有在電壓不滿足測試需求時，才相應的更改測試系統(tǒng)的配置，進而實現(xiàn)這一類電平轉換器的測試。這樣，能夠進一步提高測試的效率。

在本發(fā)明一個可選的實施例中，參照圖2所示，所述測試系統(tǒng)為V93000測試系統(tǒng)，所述待測電平轉換器為SY100ELT24。其中，DPS1、DPS2、DPS3均為測試系統(tǒng)的電源通道，用于提供測試電源，DPS1、DPS2分別用于提供正、負電源電壓，DPS3為新增輔助電源，其參數(shù)根據(jù)測試的條件相應的設置；通道1、2、3均為測試系統(tǒng)的數(shù)字通道，并且數(shù)字通道1用于提供TTL輸入信號，數(shù)字通道2和3用于接收輸出的ECL差分信號；V_CC、V_EE分別為電平轉換器SY100ELT24的電源管腳，管腳D為電平轉換器的信號輸入管腳，管腳Q、分別為電平轉換器的ECL信號輸出管腳，GND管腳接地。具體的，所述待測電平轉換器SY100ELT24與測試系統(tǒng)V93000的連接方式為：測試系統(tǒng)的電源通道DPS1、DPS2分別連接到待測電平轉換器的正負電源電壓管腳V_CC、V_EE；測試系統(tǒng)的數(shù)字通道1連接到待測電平轉換器的輸入信號管腳D；待測電平轉換器的輸出信號管腳Q、分別連接到測試系統(tǒng)的數(shù)字通道2和數(shù)字通道3，同時，所述輸出信號管腳Q、分別通過一個50歐姆的電阻串聯(lián)到增加的輔助電源DPS3中。對于系統(tǒng)以及電平轉換器的其他接口均按照常規(guī)的測試方法進行相應的連接，此處不再重復贅述。當然其中50歐姆的電阻只是一個示例，而根據(jù)待測電平轉換器的測試條件的不同，其阻值也可能不同。同理，這里的管腳與通道只是示例性的介紹，還可以根據(jù)實際情況的需要，設置成其他的方式。

這樣，在輸出差分ECL信號的輸出管腳通過串聯(lián)電阻連接到增加的輔助電源DPS3中，能夠使得測試系統(tǒng)滿足電平轉換器的測試條件，進而完成后續(xù)的各項性能或參數(shù)的測試。

在一些優(yōu)選的實施例中，在所述V93000測試系統(tǒng)中，所述輔助電源的限流、延時參數(shù)通過電平定義功能中的DPS模塊設置。

在另一些優(yōu)選的實施例中，以V93000測試系統(tǒng)為例，本發(fā)明所述的管腳配置是指在管腳設置(Pin Settings)中的數(shù)字管腳(Digital Pins)中定義除電源管腳外的其他所有管腳的名稱(Name)、編號(No)、類型(Type)及測試通道(Tester Channel)等，在DPS管腳(DPS Pins)中定義電源管腳的名稱(Name)、極性(Polarity)及測試通道(Tester Channel)等，并選擇相應的DPS通道模式(DPS Channel Mode)。

在測試系統(tǒng)中，電平定義(Level Equation)模塊由電平集(Level Sets)模塊、DPS模塊、參數(shù)(Specs)模塊以及定義(Equations)模塊四部分組成。其中，電平集(Level Sets)模塊使用參數(shù)變量(spec variables)等給輸入輸出管腳的電平資源賦值，DPS模塊也使用參數(shù)變量等指定DPS電平，參數(shù)模塊聲明電平集模塊或DPS模塊中使用的參數(shù)變量，定義模塊通過定義系統(tǒng)(equation system)來給定義變量(equation variables)賦值，其中，定義變量用于指定電平資源的值。DPS模塊還可以直接給輔助電源限流以及延遲時間對應的定義變量(即ilimit、t_ms)賦值。

電平參數(shù)(Level Spec)是指參數(shù)工具(Spec Tool)中的參數(shù)集(Spec Sets)，用于給在參數(shù)模塊中的參數(shù)變量賦值。

在電平參數(shù)中設置輔助電源電壓值的過程為：在電平建立(Level Setup)中選擇編輯參數(shù)(Edit Specifications)，然后在參數(shù)工具的更改(Change)中選擇建立參數(shù)(Create Specification)，最后在新建的參數(shù)集(Spec Sets)中給輔助電源電壓值對應的參數(shù)變量賦值。

具體的，本發(fā)明采用V93000測試系統(tǒng)的測試程序和應用控制資源對外圍控制電路切換為功能測試模式和參數(shù)測試模式進行電平轉換器測試的過程為：首先，新建一個輔助電源并進行相應的管腳配置；其次，進行電平(Level)設置；再次，進行時序(Timing)設置；然后，建立測試所需的向量(Pattern)；最后，在上述基礎上建立測試流程(Test flow)，分別采用不同的測試方法(Test Method)進行功能測試、直流參數(shù)測試以及交流參數(shù)測試。

在一些較佳的實施例中，本發(fā)明以管腳配置、電平(Level)設置、時序(Timing)設置及測試向量(Pattern)建立為基礎，建立測試流程(Test flow)來測試邏輯功能、輸入高電平電壓V_IH、輸入低電平電壓V_IL、輸出高電平電壓V_OH、輸出低電平電壓V_OL、輸入鉗位電壓V_IK、輸入高低漏電流I_IH、I_IL、電源電流I_CC、I_EE等直流參數(shù)以及輸出延遲時間t_PLH、t_PHL等交流參數(shù)。具體的：

高低電平下功能測試的Test Method為ac_tml.AcTest.FunctionalTest；

輸入高電平電壓V_IH、輸入低電平電壓V_IL的測試方法為ac_tml.AcTest.FunctionalTest；

輸出高電平電壓V_OH、輸出低電平電壓V_OL的測試方法為dc_tml.DcTest.OutputDC；

輸入鉗位電壓V_IK的測試方法為dc_tml.DcTest.GeneralPMU；

輸入高低漏電流I_IH、I_IL的測試方法為dc_tml.DcTest.Leakage；

電源電流I_CC、I_EE的測試方法為dc_tml.DcTest.OperatingCurrent；

輸出延遲時間t_PLH、t_PHL的測試方法為ac_tml.AcTest.SpecSearch。

可選的，所述管腳配置包括：名稱定義、編號設置、類型設置、測試通道設置以及極性設置。

在一些可選的實施例中，本發(fā)明所述的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法，通過V93000測試系統(tǒng)靈活的測試程序和豐富的應用控制資源，對TTL到差分ECL的電平轉換器的適配器的外圍控制電路切換為功能測試模式和參數(shù)測試模式，在不同模式下對功能和參數(shù)分別進行測試，解決了電平轉換器SY100ELT24在數(shù)字測試系統(tǒng)中不能測試邏輯功能、交流參數(shù)及直流參數(shù)VOH、VOL的問題。

需要說明的是本發(fā)明所述的測試方法并不限于上述實施例中的測試系統(tǒng)或電平轉換器，例如：本發(fā)明所述的測試方法可以用于Magnum II、Magnum V、T5385ES、M5S等測試系統(tǒng)實現(xiàn)電平轉換器MC100EPT24、MC10ELT24、MC100ELT24等邏輯功能、交流參數(shù)及直流參數(shù)VOH、VOL的測試。

優(yōu)選的，本發(fā)明還提供了一種TTL到ECL的電平轉換器的測試系統(tǒng)，包括：

電平轉換器，用于將TTL信號轉換為ECL信號，作為系統(tǒng)的待測模塊；

測試系統(tǒng)，用于給電平轉換器提供電源并輸入TTL信號，接收電平轉換器輸出的ECL信號，進而測試電平轉換器的性能；

其中，在所述測試系統(tǒng)中按照電平轉換器的測試需求添加一個輔助電源，并且相應的設置輔助電源的電壓值、限流、延遲參數(shù)；在測試時，將電平轉換器的相應管腳與測試系統(tǒng)的相應管腳相互連接，然后將電平轉換器的輸出管腳均分別通過電阻串聯(lián)到增加的輔助電源中。

所屬領域的普通技術人員應當理解：以上任何實施例的討論僅為示例性的，并非旨在暗示本公開的范圍(包括權利要求)被限于這些例子；在本發(fā)明的思路下，以上實施例或者不同實施例中的技術特征之間也可以進行組合，步驟可以以任意順序實現(xiàn)，并存在如上所述的本發(fā)明的不同方面的許多其它變化，為了簡明它們沒有在細節(jié)中提供。

另外，為簡化說明和討論，并且為了不會使本發(fā)明難以理解，在所提供的附圖中可以示出或可以不示出與集成電路(IC)芯片和其它部件的公知的電源/接地連接。此外，可以以框圖的形式示出裝置，以便避免使本發(fā)明難以理解，并且這也考慮了以下事實，即關于這些框圖裝置的實施方式的細節(jié)是高度取決于將要實施本發(fā)明的平臺的(即，這些細節(jié)應當完全處于本領域技術人員的理解范圍內)。在闡述了具體細節(jié)(例如，電路)以描述本發(fā)明的示例性實施例的情況下，對本領域技術人員來說顯而易見的是，可以在沒有這些具體細節(jié)的情況下或者這些具體細節(jié)有變化的情況下實施本發(fā)明。因此，這些描述應被認為是說明性的而不是限制性的。

盡管已經(jīng)結合了本發(fā)明的具體實施例對本發(fā)明進行了描述，但是根據(jù)前面的描述，這些實施例的很多替換、修改和變型對本領域普通技術人員來說將是顯而易見的。例如，其它存儲器架構(例如，動態(tài)RAM(DRAM))可以使用所討論的實施例。

本發(fā)明的實施例旨在涵蓋落入所附權利要求的寬泛范圍之內的所有這樣的替換、修改和變型。因此，凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所做的任何省略、修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。