本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，更具體的說(shuō)，它涉及一種高效開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

一般的開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試裝置一次只能測(cè)試一臺(tái)電源，而在測(cè)試過(guò)程中每測(cè)試一臺(tái)之后要把這臺(tái)電源從測(cè)試裝置中卸下，然后裝上，非常耗費(fèi)時(shí)間，本發(fā)明采用的方式可以實(shí)現(xiàn)第一臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中，下一臺(tái)即可完成接線(xiàn)安裝等待測(cè)試，而這一臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中，上一臺(tái)可以被換成再下一臺(tái)，從而節(jié)約了幾乎一半的測(cè)試時(shí)間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種能夠?qū)Χ嗯_(tái)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行測(cè)試，使得提高產(chǎn)品測(cè)試效率的高效開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試裝置。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案：一種高效開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試裝置，其包括輸入分析儀、輸出負(fù)載、MCU控制器、第一開(kāi)關(guān)電源和第二開(kāi)關(guān)電源，所述第一開(kāi)關(guān)電源的輸入端和第二開(kāi)關(guān)電源的輸入端與輸入分析儀器之間設(shè)置有第一繼電器組，所述第一開(kāi)關(guān)電源的輸出端和第二開(kāi)關(guān)電源的輸出端與輸出負(fù)載之間設(shè)置有第二繼電器組，MCU控制器分別控制第一繼電器組和第二繼電器組的導(dǎo)通和關(guān)閉，MCU控制器的第一控制端連接輸入分析儀的控制端，MCU控制器的第二控制端連接輸出負(fù)載的控制端。

本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為：所述第一繼電器組包括第一繼電器、第二繼電器、第三繼電器和第四繼電器，第一繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第一輸出端連接，第一繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源的一輸入端與輸入分析儀的火線(xiàn)端之間，第二繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第二輸出端連接，第二繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源的另一輸入端與輸入分析儀的零線(xiàn)端之間，第三繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第三輸出端連接，第三繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第二開(kāi)關(guān)電源的一輸入端與輸入分析儀的火線(xiàn)端之間，第四繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第四輸出端連接，第四繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第二開(kāi)關(guān)電源的另一輸入端與輸入分析儀的零線(xiàn)端之間。

本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為：所述第二繼電器組第五繼電器、第六繼電器、第七繼電器和第八繼電器，第五繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第五輸出端連接，第五繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源的一輸出端與輸出負(fù)載的一輸出端之間，第六繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第六輸出端連接，第六繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源的另一輸出端與輸出負(fù)載的另一輸出端之間，第七繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第七輸出端連接，第七繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源的一輸出端與輸出負(fù)載的一輸出端之間，第八繼電器的線(xiàn)圈端與MCU控制器的第八輸出端連接，第八繼電器的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第二開(kāi)關(guān)電源的另一輸出端與輸出負(fù)載的另一輸出端之間。

本實(shí)用新型具有下述優(yōu)點(diǎn)：通過(guò)MCU控制器與第一繼電器組和第二繼電器組之間的相互配合，使得能夠?qū)﹂_(kāi)關(guān)電源進(jìn)行輪流替換操作，使得形成測(cè)試循環(huán)，避免了在一個(gè)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行測(cè)試后，需要對(duì)儀器進(jìn)行停工操作，并進(jìn)行下一臺(tái)測(cè)試之間的時(shí)間浪費(fèi)情況。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型一種高效開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試裝置的電路系統(tǒng)框圖。

圖中：1、輸入分析儀；2、輸出負(fù)載；3、MCU控制器；4、第一開(kāi)關(guān)電源；5、第二開(kāi)關(guān)電源；6、第一繼電器組；7、第一繼電器；8、第二繼電器；9、第三繼電器；10、第四繼電器；11、第二繼電器組；12、第五繼電器；13、第六繼電器；14、第七繼電器；15、第八繼電器。

具體實(shí)施方式

參照?qǐng)D1所示，本實(shí)施例的一種高效開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試裝置，其包括輸入分析儀1、輸出負(fù)載2、MCU控制器3、第一開(kāi)關(guān)電源4和第二開(kāi)關(guān)電源5，所述第一開(kāi)關(guān)電源4的輸入端和第二開(kāi)關(guān)電源5的輸入端與輸入分析儀1器之間設(shè)置有第一繼電器7組6，所述第一開(kāi)關(guān)電源4的輸出端和第二開(kāi)關(guān)電源5的輸出端與輸出負(fù)載2之間設(shè)置有第二繼電器8組11，MCU控制器3分別控制第一繼電器7組6和第二繼電器8組11的導(dǎo)通和關(guān)閉，MCU控制器3的第一控制端連接輸入分析儀1的控制端，MCU控制器3的第二控制端連接輸出負(fù)載2的控制端。

所述第一繼電器7組6包括第一繼電器7、第二繼電器8、第三繼電器9和第四繼電器10，第一繼電器7的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第一輸出端連接，第一繼電器7的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源4的一輸入端與輸入分析儀1的火線(xiàn)端之間，第二繼電器8的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第二輸出端連接，第二繼電器8的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源4的另一輸入端與輸入分析儀1的零線(xiàn)端之間，第三繼電器9的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第三輸出端連接，第三繼電器9的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第二開(kāi)關(guān)電源5的一輸入端與輸入分析儀1的火線(xiàn)端之間，第四繼電器10的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第四輸出端連接，第四繼電器10的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第二開(kāi)關(guān)電源5的另一輸入端與輸入分析儀1的零線(xiàn)端之間。

所述第二繼電器8組11第五繼電器12、第六繼電器13、第七繼電器14和第八繼電器15，第五繼電器12的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第五輸出端連接，第五繼電器12的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源4的一輸出端與輸出負(fù)載2的一輸出端之間，第六繼電器13的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第六輸出端連接，第六繼電器13的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源4的另一輸出端與輸出負(fù)載2的另一輸出端之間，第七繼電器14的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第七輸出端連接，第七繼電器14的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第一開(kāi)關(guān)電源4的一輸出端與輸出負(fù)載2的一輸出端之間，第八繼電器15的線(xiàn)圈端與MCU控制器3的第八輸出端連接，第八繼電器15的常開(kāi)觸點(diǎn)連接在第二開(kāi)關(guān)電源5的另一輸出端與輸出負(fù)載2的另一輸出端之間。

通過(guò)采用上述技術(shù)方案，第一開(kāi)關(guān)電源4和第二開(kāi)關(guān)電源5，通過(guò)繼電器與輸入和輸出相連。同時(shí)MCU控制器3可以控制繼電器，及輸入分析儀1及輸出負(fù)載2。

當(dāng)測(cè)試第一開(kāi)關(guān)電源4時(shí)，第一繼電器7、第二繼電器8、第五繼電器12和第六繼電器13接通，其它繼電器斷開(kāi)，當(dāng)完成前面狀態(tài)后，MCU開(kāi)啟輸入分析儀1及輸出負(fù)載2，進(jìn)行測(cè)試。而此時(shí)測(cè)試人員可以將第二開(kāi)關(guān)電源5接入測(cè)試儀器的線(xiàn)路。

當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)電源4測(cè)試完畢后，MCU控制器3使得第三繼電器9、第四繼電器10、第七繼電器14和第八繼電器15接通，其它繼電器斷開(kāi)，當(dāng)完成前面狀態(tài)后，主控板開(kāi)啟輸入分析儀1及輸出負(fù)載2，進(jìn)行測(cè)試。而此時(shí)測(cè)試人員可以將下一個(gè)待測(cè)試的開(kāi)關(guān)電源接入測(cè)試儀器的線(xiàn)路中。

這樣循環(huán)操作可以使得測(cè)試的等待時(shí)間不會(huì)被浪費(fèi)而用于拆除和接線(xiàn)。

以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不僅局限于上述實(shí)施例，凡屬于本實(shí)用新型思路下的技術(shù)方案均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型原理前提下的若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。