1.一種特高壓串補(bǔ)保護(hù)自動(dòng)測(cè)試儀，其特征在于，所述測(cè)試儀包括：數(shù)字處理單元、功放單元、數(shù)據(jù)通信單元和光纖以太網(wǎng)通訊單元，所述功放單元、數(shù)據(jù)通信單元和光纖以太網(wǎng)通訊單元分別與所述數(shù)字處理單元相連；
所述光纖以太網(wǎng)通訊單元，與特高壓串補(bǔ)保護(hù)裝置相連，用于獲取特高壓串補(bǔ)的定值，并將所述定值發(fā)送至所述數(shù)字處理單元；
所述數(shù)字處理單元，用于將所述定值通過(guò)數(shù)據(jù)通信單元發(fā)送至上位機(jī)，通過(guò)所述數(shù)據(jù)通信單元接收由所述上位機(jī)反饋的測(cè)試指令，根據(jù)所述測(cè)試指令產(chǎn)生啟動(dòng)指令，并將所述啟動(dòng)指令發(fā)送至所述功放單元；
所述功放單元，用于產(chǎn)生與所述啟動(dòng)指令對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào)及電流信號(hào)，并將所述電壓信號(hào)及電流信號(hào)傳輸至所述特高壓串補(bǔ)保護(hù)裝置；
所述光纖以太網(wǎng)通訊單元，用于接收所述特高壓串補(bǔ)保護(hù)裝置的反饋信息，并將所述反饋信息轉(zhuǎn)發(fā)至所述數(shù)字處理單元；
所述數(shù)字處理單元，還用于將所述反饋信息轉(zhuǎn)發(fā)至所述上位機(jī)，以實(shí)現(xiàn)保護(hù)測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述測(cè)試儀還包括：守時(shí)單元，所述守時(shí)單元與所述數(shù)字處理單元相連；
所述守時(shí)單元，用于產(chǎn)生守時(shí)信號(hào)，并將所述守時(shí)信號(hào)發(fā)送至所述數(shù)字處理單元。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述守時(shí)單元包括：GPS模塊、IRIG-B碼對(duì)時(shí)模塊、IEEE1588對(duì)時(shí)模塊以及守時(shí)處理模塊；所述GPS模塊、IRIG-B碼對(duì)時(shí)模塊、IEEE1588對(duì)時(shí)模塊分別與守時(shí)處理模塊相連；
所述守時(shí)處理模塊，用于接收所述GPS模塊、IRIG-B碼對(duì)時(shí)模塊和IEEE1588對(duì)時(shí)模塊分別發(fā)送的秒脈沖信號(hào)，并根據(jù)接收到的秒脈沖信號(hào)產(chǎn)生守時(shí)信號(hào)，并將所述守時(shí)信號(hào)發(fā)送至所述數(shù)字處理單元。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述測(cè)試儀還包括：開(kāi)關(guān)量單元，所述開(kāi)關(guān)量單元與所述數(shù)字處理單元相連；
所述開(kāi)關(guān)量單元，用于獲取開(kāi)關(guān)量，并將所述開(kāi)關(guān)量傳輸至所述數(shù)字處理單元。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述測(cè)試儀還包括：授時(shí)單元，所述授時(shí)單元與所述數(shù)字處理單元相連；
所述授時(shí)單元，用于獲取所述守時(shí)信號(hào)，并根據(jù)所述守時(shí)信號(hào)產(chǎn)生授時(shí)信號(hào)，并將所述授時(shí)信號(hào)發(fā)送至所述數(shù)字處理單元；
相應(yīng)地，所述數(shù)字處理單元，還用于根據(jù)所述授時(shí)信號(hào)為所述開(kāi)關(guān)量打上絕對(duì)時(shí)標(biāo)。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述授時(shí)單元包括：IRIG-B電碼與光碼輸出模塊、IEEE1588授時(shí)模塊以及授時(shí)處理模塊；所述IRIG-B電碼與光碼輸出模塊和IEEE1588授時(shí)模塊分別與授時(shí)處理模塊相連；
所述授時(shí)處理模塊，用于獲取所述守時(shí)信號(hào)，并根據(jù)所述守時(shí)信號(hào)結(jié)合所述IRIG-B電碼與光碼輸出模塊和IEEE1588授時(shí)模塊產(chǎn)生授時(shí)信號(hào)，并將所述授時(shí)信號(hào)發(fā)送至所述數(shù)字處理單元。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述數(shù)字處理單元包括：第一處理器、第二處理器和第三處理器；
所述第一處理器，用于根據(jù)所述測(cè)試指令產(chǎn)生啟動(dòng)指令；
所述第二處理器，用于對(duì)所述數(shù)據(jù)通信單元進(jìn)行控制，將所述定值通過(guò)數(shù)據(jù)通信單元發(fā)送至上位機(jī)，通過(guò)所述數(shù)據(jù)通信單元接收由所述上位機(jī)反饋的測(cè)試指令，并將所述反饋信息轉(zhuǎn)發(fā)至所述上位機(jī)；
所述第三處理器，用于實(shí)現(xiàn)所述第一處理器和第二處理器之間的通信；將所述啟動(dòng)指令發(fā)送至所述功放單元；以及，接收所述守時(shí)單元發(fā)送的守時(shí)信號(hào)。
8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述功放單元包括電壓功放模塊與電流功放模塊；
所述電壓功放模塊，用于產(chǎn)生與所述啟動(dòng)指令對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào)；
所述電流功放模塊，用于產(chǎn)生與所述啟動(dòng)指令對(duì)應(yīng)的電流信號(hào)。
9.如權(quán)利要求1～8中任一項(xiàng)所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述功放單元設(shè)置有保護(hù)接口。
10.如權(quán)利要求1～8中任一項(xiàng)所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述數(shù)據(jù)通信單元通過(guò)MII接口與所述數(shù)字處理單元連接。