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一種起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置的制作方法

文檔序號(hào):12248861閱讀:391來源:國知局
一種起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置的制作方法

本實(shí)用新型屬于醫(yī)學(xué)醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置。



背景技術(shù):

磁鐵頻率作為起搏器使用中工況檢測(cè)的基本手段之一,對(duì)于起搏器是最基本且必須的功能。在起搏器生產(chǎn)過程中,磁鐵頻率的磁場(chǎng)敏感度需要檢測(cè)以確保磁場(chǎng)磁場(chǎng)強(qiáng)度高于2mT時(shí),可使起搏器內(nèi)部的磁鐵開關(guān)閉合,執(zhí)行磁鐵頻率?,F(xiàn)有的檢測(cè)手段為人工方式,使用手持專用永磁鐵在起搏器特定距離處進(jìn)行驗(yàn)證。磁場(chǎng)強(qiáng)度大小對(duì)磁鐵與起搏器之間的距離非常敏感,手動(dòng)檢測(cè)誤差較大,速度慢,人力成本昂貴,且容易出錯(cuò),測(cè)試重復(fù)性較差。若磁鐵與起搏器距離過近,當(dāng)磁場(chǎng)強(qiáng)度大于10mT時(shí)會(huì)對(duì)起搏器產(chǎn)生永久性的破壞,故對(duì)起搏器而言,手持測(cè)量方法亦存在一定的風(fēng)險(xiǎn)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),提供了一種起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置,該裝置有效的解決人工檢測(cè)帶來的弊端,起搏器的安全性較高,并且檢測(cè)效率高。

為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型所述的起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置包括電壓控制電路、電流控制電路、電磁鐵、MCU芯片及用于提供電能的第一電源,其中,第一電源依次經(jīng)電壓控制電路及電流控制電路與電磁鐵上的線圈相連接,MCU芯片的輸出端與電壓控制電路的控制端相連接,電磁鐵正對(duì)待檢測(cè)起搏器內(nèi)的干簧管。

電磁鐵與待檢測(cè)起搏器之間的間距為4cm。

所述電壓控制電路包括AD5308芯片、第一電阻、第二電阻、第三電阻、電容、第二電源及第三電源;

MCU芯片的P4.7/TBCLK引腳、P4.6/TB6引腳及P4.5/TB5引腳分別與第三電阻的一端、第一電阻的一端及第二電阻的一端相連接,第一電阻的另一端、第二電阻的另一端及第三電阻的另一端分別與AD5308芯片的SCLK引腳、引腳及DIN引腳相連接,電容的一端、AD5308芯片的VREF1引腳及VREF2引腳均與第三電源相連接,AD5308芯片的VDD引腳與第二電源相連接,AD5308芯片的GND引腳及電容的另一端均接地,AD5308芯片的VOUTE引腳與電流控制電路相連接。

所述電流控制電路包括第四電源、第一三極管、第二三極管、第四電阻及第五電阻;

AD5308芯片的VOUTE引腳與第一三極管的基極及第二三極管的基極相連接,第一三極管的發(fā)射極經(jīng)第四電阻接地,第二三極管的發(fā)射極經(jīng)第五電阻接地,第四電源與電磁鐵上線圈的一端相連接,電磁鐵上線圈的另一端與第一三極管的集電極及第二三極管的集電極相連接。

本實(shí)用新型具有以下有益效果:

本實(shí)用新型所述的起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置在具體操作時(shí),采用自動(dòng)檢測(cè)的方式解決人工檢測(cè)帶來的弊端,具體的,通過MCU芯片控制電壓控制電路輸出電壓的大小,通過電壓控制電路輸出的電壓控制電流控制電路輸出的電流大小,從而使電磁鐵產(chǎn)生較為精確的磁場(chǎng)強(qiáng)度,檢測(cè)效率高,并且節(jié)省人力,安全系數(shù)高,防范起搏器受強(qiáng)磁場(chǎng)影響的風(fēng)險(xiǎn),減少錯(cuò)誤,提高測(cè)試的質(zhì)量。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型中MCU芯片以及外圍電路的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本實(shí)用新型中電壓控制電路的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為本實(shí)用新型電流控制電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)描述:

參考圖1,本實(shí)用新型所述的起搏器電路自動(dòng)檢測(cè)中的磁鐵試驗(yàn)裝置包括電壓控制電路、電流控制電路、電磁鐵、MCU芯片及用于提供電能的第一電源,其中,第一電源依次經(jīng)電壓控制電路及電流控制電路與電磁鐵上的線圈相連接,MCU芯片的輸出端與電壓控制電路的控制端相連接,電磁鐵正對(duì)待檢測(cè)起搏器內(nèi)的干簧管。

參考圖2,電磁鐵與待檢測(cè)起搏器之間的間距為4cm;電壓控制電路包括AD5308芯片、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、電容C1、第二電源及第三電源;MCU芯片的P4.7/TBCLK引腳、P4.6/TB6引腳及P4.5/TB5引腳分別與第三電阻R3的一端、第一電阻R1的一端及第二電阻R2的一端相連接,第一電阻R1的另一端、第二電阻R2的另一端及第三電阻R3的另一端分別與AD5308芯片的SCLK引腳、引腳及DIN引腳相連接,電容C1的一端、AD5308芯片的VREF1引腳及VREF2引腳均與第三電源相連接,AD5308芯片的VDD引腳與第二電源相連接,AD5308芯片的GND引腳及電容C1的另一端均接地,AD5308芯片的VOUTE引腳與電流控制電路相連接。

參考圖3,所述電流控制電路包括第四電源、第一三極管U1、第二三極管U2、第四電阻R4及第五電阻R5;AD5308芯片的VOUTE引腳與第一三極管U1的基極及第二三極管U2的基極相連接,第一三極管U1的發(fā)射極經(jīng)第四電阻R4接地,第二三極管U2的發(fā)射極經(jīng)第五電阻R5接地,第四電源與電磁鐵上線圈的一端相連接,電磁鐵上線圈的另一端與第一三極管U1的集電極及第二三極管U2的集電極相連接。

電壓控制電路輸出的電壓大小通過MCU芯片進(jìn)行控制;電流控制電路由第一三極管U1及第二三極管U2并聯(lián)而成,根據(jù)電壓控制電路輸出的電壓大小調(diào)節(jié)第一三極管U1及第二三極管U2集電極的電流大小,使電流控制電路向電磁鐵輸出相應(yīng)大小的電流,進(jìn)而使電磁鐵會(huì)產(chǎn)生相應(yīng)大小的磁場(chǎng)強(qiáng)度。

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