本實(shí)用新型涉及電子儀器測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種接觸供電測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

在對(duì)板卡的功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一般是將板卡固定在測(cè)試盒的板卡固定板上，使板卡上的焊點(diǎn)與測(cè)試盒的探針接觸，然后探針將焊點(diǎn)的電信號(hào)傳導(dǎo)至測(cè)試裝置，以對(duì)板卡的電性能進(jìn)行測(cè)試；為了使板卡的焊點(diǎn)與測(cè)試盒的探針有效接觸，需要將測(cè)試盒定位到工裝夾具上，通過氣缸推動(dòng)頂針向下運(yùn)動(dòng)將板卡壓緊以使板卡的焊點(diǎn)與探針可靠接觸。

而為了便于自動(dòng)化操作，將測(cè)試盒設(shè)置了上料/卸料工位和測(cè)試工位，并由氣缸驅(qū)動(dòng)測(cè)試盒在這兩個(gè)工位之間往復(fù)運(yùn)動(dòng)，但是，現(xiàn)有的測(cè)試盒的探針是通過導(dǎo)線與測(cè)試裝置連接的，當(dāng)測(cè)試盒在那兩個(gè)工位之間往復(fù)運(yùn)動(dòng)時(shí)，導(dǎo)線也會(huì)受到測(cè)試盒的拉扯而隨之運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)線拉扯頻繁會(huì)使導(dǎo)線與探針的連接處疲勞導(dǎo)致接觸不良，影響檢測(cè)結(jié)果；同時(shí)，導(dǎo)線也會(huì)容易被扯斷而頻繁的更換，影響板卡的測(cè)試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是提供一種導(dǎo)線不會(huì)隨著測(cè)試盒運(yùn)動(dòng)的接觸供電測(cè)試裝置，以避免導(dǎo)線被測(cè)試盒拉扯的現(xiàn)象發(fā)生，以提高測(cè)試盒的探針與測(cè)試裝置連接的穩(wěn)定性，并同是提高板卡的測(cè)試效率。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種接觸供電測(cè)試裝置，包括底座、架設(shè)在所述底座上的龍門架、板卡測(cè)試組件以及設(shè)置在所述龍門架頂部的，用于壓緊板卡的壓緊組件；所述底座上設(shè)有導(dǎo)軌及第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述板卡測(cè)試組件設(shè)置在所述導(dǎo)軌上，所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試組件沿所述導(dǎo)軌移動(dòng)；所述龍門架的下端設(shè)有測(cè)試引腳接收端口，在所述板卡測(cè)試組件上與所述測(cè)試引腳接收端口相向的側(cè)部上設(shè)有與所述測(cè)試引腳接收端口相對(duì)應(yīng)的測(cè)試引腳輸入端口；當(dāng)所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試組件移進(jìn)所述龍門架時(shí)，所述測(cè)試引腳輸入端口與所述測(cè)試引腳接收端口對(duì)應(yīng)插接。

作為優(yōu)選方案，所述龍門架的下端設(shè)有橫板，所述橫板的兩端分別跨接在所述龍門架的兩個(gè)相對(duì)的立柱上；所述測(cè)試引腳接收端口包括引腳集成塊和多個(gè)第一引腳，所述引腳集成塊固定在所述橫板的中部，多個(gè)所述第一引腳排列在所述引腳集成塊上，且所述第一引腳的兩端從所述引腳集成塊中穿出。

作為優(yōu)選方案，所述測(cè)試引腳輸入端口包括多個(gè)第二引腳，多個(gè)所述第二引腳排列在所述側(cè)部上，且所述第二引腳的一端伸入到所述板卡測(cè)試組件內(nèi)，所述第二引腳的另一端露出所述板卡測(cè)試組件；當(dāng)所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試移進(jìn)所述龍門架時(shí)，所述第一引腳與所述第二引腳對(duì)應(yīng)連接。

作為優(yōu)選方案，所述板卡測(cè)試組件的所述側(cè)部上設(shè)有與所述引腳集成塊位置相對(duì)應(yīng)的插接口；當(dāng)所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述板卡測(cè)試移進(jìn)所述龍門架時(shí)，所述引腳集成塊對(duì)應(yīng)插接在所述插接口內(nèi)。

作為優(yōu)選方案，所述板卡測(cè)試組件包括測(cè)試盒以及由底板和側(cè)壁圍成的上部開口的測(cè)試盒固定殼；所述測(cè)試盒固定殼的底部連接在所述導(dǎo)軌上，所述測(cè)試盒固定殼與所述測(cè)試引腳接收端口相向的側(cè)壁上設(shè)有供所述測(cè)試引腳接收端口的引腳集成塊對(duì)應(yīng)插接的插接口；所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)設(shè)有壓緊組件，所述壓緊組件的壓緊塊的至少一部分可從所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)伸出和退回；當(dāng)測(cè)試盒從所述測(cè)試盒固定殼的開口插入所述測(cè)試盒固定殼時(shí)，所述壓緊塊抵靠在所述測(cè)試盒的側(cè)壁上。

作為優(yōu)選方案，所述壓緊組件包括第一彈性件、所述壓緊塊及固定塊，所述第一彈性件的一端連接在所述殼體的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)上，所述第一彈性件的另一端連接所述壓緊塊；所述固定塊的中部設(shè)有過孔，所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁內(nèi)側(cè)設(shè)有收容槽；所述固定塊固定在所述收容槽內(nèi)，所述壓緊塊的外側(cè)部輪廓與所述過孔內(nèi)側(cè)部輪廓形狀配合，且所述壓緊塊可沿所述通孔的軸向移動(dòng)。

作為優(yōu)選方案，所述壓緊塊伸出所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的端面上設(shè)有自所述測(cè)試盒固定殼的開口向所述測(cè)試盒固定殼底部?jī)A斜設(shè)置的導(dǎo)向部以及承接在所述導(dǎo)向部末端的壓緊部。

作為優(yōu)選方案，所述測(cè)試盒包括上端開口的殼體、外圍尺寸大于所述殼體的開口的外圍尺寸的上蓋以及板卡固定板，所述上蓋可拆卸地固定在所述殼體的上端，且所述上蓋的靠近其外圍的區(qū)域伸出所述殼體的側(cè)壁外側(cè)，所述板卡固定板可浮動(dòng)地設(shè)于所述上蓋的上表面；所述板卡固定板上設(shè)有多個(gè)與板卡的焊錫點(diǎn)位置相對(duì)應(yīng)的第一通孔，所述上蓋與所述第一通孔相對(duì)應(yīng)的位置上設(shè)有第三引腳，所述第三引腳的下端與所述測(cè)試引腳輸入端口的引腳電連接，所述第三引腳的上端伸出所述上蓋的上表面且與所述第一通孔相對(duì)應(yīng)。

作為優(yōu)選方案，所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁的上端設(shè)有定位銷，所述上蓋的伸出所述測(cè)試盒固定殼的側(cè)壁外側(cè)的區(qū)域內(nèi)設(shè)有與所述定位銷相匹配的定位孔；當(dāng)所述測(cè)試盒插接于所述測(cè)試盒固定殼內(nèi)時(shí)，所述定位孔對(duì)應(yīng)套接于所述定位銷上。

作為優(yōu)選方案，所述上蓋上設(shè)有多個(gè)彈性定位件，所述彈性定位件包括套筒、定位桿和第三彈性件，在所述板卡固定板與所述彈性定位件相對(duì)應(yīng)的位置處設(shè)有第二通孔，所述套筒垂直地固定在所述上蓋上，所述第三彈性件設(shè)于所述套筒內(nèi)，所述定位桿的一端可滑動(dòng)地套接于所述套筒內(nèi)，所述定位桿的另一端設(shè)有錐形定位部，且該錐形定位部穿出所述第二通孔。

本實(shí)用新型的接觸供電測(cè)試裝置，在龍門架的下端設(shè)有測(cè)試引腳接收端口，在板卡測(cè)試組件上與測(cè)試引腳接收端口相向的側(cè)部上設(shè)有與測(cè)試引腳接收端相對(duì)應(yīng)的測(cè)試引腳輸入端口；當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件移進(jìn)龍門架(即測(cè)試盒位于測(cè)試工位)時(shí)，測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口對(duì)應(yīng)插接，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試盒與測(cè)試裝置良好電連接，而當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件移出龍門架(即測(cè)試盒位于上料/卸料工位)時(shí)測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口斷開，此時(shí)，由于板卡不需要測(cè)試，測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口斷開不影響測(cè)試進(jìn)程，因此，不需要導(dǎo)線將測(cè)試盒與測(cè)試裝置連接，從而可以避免導(dǎo)線被測(cè)試盒拉扯的現(xiàn)象發(fā)生，以提高測(cè)試盒的探針與測(cè)試裝置連接的穩(wěn)定性，并同時(shí)提高板卡的測(cè)試效率。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例的接觸供電測(cè)試裝置的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；

圖2是本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例的接觸供電測(cè)試裝置測(cè)試引腳輸入端口與測(cè)試引腳接收端口的連接結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試盒固定殼的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；

圖4是本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試盒的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖。

其中，1、底座；11、導(dǎo)軌；12、第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；2、龍門架；3、板卡測(cè)試組件；31、測(cè)試盒固定殼；310、插接口；311、測(cè)試盒固定殼側(cè)壁；312、壓緊塊；313、第一彈性件；314、收容槽；315、固定塊；316、過孔；317、導(dǎo)向部；318、壓緊部；319、定位銷；32、測(cè)試盒；320、殼體、321、測(cè)試盒側(cè)壁；322、上蓋；323、板卡固定板；324、第一通孔；325、彈性支撐件；3251、導(dǎo)向筒；3252、支撐桿；326、第三引腳；327、定位孔；328、彈性定位件；3281、套筒；3282、定位桿；3283、錐形定位部；329、第二通孔；4、壓緊組件；41、第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；42、下壓板；5、橫板；50、引腳穿過孔；6、測(cè)試引腳接收端口；61、引腳集成塊；62、第一引腳；7、測(cè)試引腳輸入端口；70、第二引腳。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型，但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。

結(jié)合圖1及圖4所示，示意性地顯示了本實(shí)用新型實(shí)施例的接觸供電測(cè)試裝置，其包括底座1、架設(shè)在底座1上的龍門架2、板卡測(cè)試組件3以及設(shè)置在龍門架2頂部的，用于壓緊板卡的壓緊組件4；在底座1上設(shè)有導(dǎo)軌11及第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)12，該板卡測(cè)試組件3設(shè)置在導(dǎo)軌11上，第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)12驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件3沿導(dǎo)軌11移動(dòng)；在龍門架2的下端設(shè)有測(cè)試引腳接收端口6，在板卡測(cè)試組件3上與測(cè)試引腳接收端口6相向的側(cè)部上設(shè)有與測(cè)試引腳接收端口6相對(duì)應(yīng)的測(cè)試引腳輸入端口7。

當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)12驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件3移進(jìn)龍門架2時(shí)，測(cè)試引腳輸入端口7與測(cè)試引腳接收端口6對(duì)應(yīng)插接，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試盒與測(cè)試裝置良好電連接，而當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)12驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件3移出龍門架2(即測(cè)試盒位于上料/卸料工位)時(shí)，測(cè)試引腳輸入端口7與測(cè)試引腳接收端口6斷開，此時(shí)，由于板卡不需要測(cè)試，測(cè)試引腳輸入端口7與測(cè)試引腳接收端口6的斷開不影響測(cè)試進(jìn)程，因此，不需要導(dǎo)線將測(cè)試盒與測(cè)試裝置連接，從而可以避免導(dǎo)線被測(cè)試盒拉扯的現(xiàn)象發(fā)生，以提高測(cè)試盒的探針與測(cè)試裝置連接的穩(wěn)定性，并同時(shí)提高板卡的測(cè)試效率。

請(qǐng)結(jié)合圖1及圖2所示，可以在龍門架2的下端設(shè)置橫板5，該橫板5的兩端分別跨接在龍門架2的兩個(gè)相對(duì)的立柱上；測(cè)試引腳接收端口6可以包括引腳集成塊61和多個(gè)第一引腳62，該引腳集成塊61固定在橫板5的中部，多個(gè)第一引腳62排列在引腳集成塊61上，且第一引腳62的兩端從引腳集成塊61中穿出；第一引腳62的一端可以通過導(dǎo)線與測(cè)試裝置點(diǎn)連接，第一引腳62的另一端用于與測(cè)試引腳輸入端口7對(duì)應(yīng)對(duì)接；可以在橫板5的中部設(shè)置引腳穿過孔50，以便第一引腳62穿過，避免與第一引腳62連接的導(dǎo)線需要繞過橫板5，造成接觸不良。

請(qǐng)結(jié)合圖2及圖4所示，測(cè)試引腳輸入端口7包括多個(gè)第二引腳70，多個(gè)第二引腳70排列在板卡測(cè)試組件3與測(cè)試引腳接收端口6相對(duì)應(yīng)的側(cè)部上，且第二引腳70的一端伸入到板卡測(cè)試組件3內(nèi)，第二引腳70的另一端露出板卡測(cè)試組件3；在板卡測(cè)試組件3的測(cè)試引腳接收端口6相對(duì)應(yīng)的側(cè)部上設(shè)有與引腳集成塊61位置相對(duì)應(yīng)的插接口310；當(dāng)?shù)谝或?qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)12驅(qū)動(dòng)板卡測(cè)試組件3移進(jìn)龍門架2時(shí)，該引腳集成塊61對(duì)應(yīng)插接在插接口310內(nèi)。

請(qǐng)結(jié)合圖1至圖4所示，板卡測(cè)試組件3包括測(cè)試盒32以及由底板和側(cè)壁圍成的上部開口的測(cè)試盒固定殼31；測(cè)試盒固定殼31的底部連接在導(dǎo)軌11上，插接口310設(shè)置在測(cè)試盒固定殼31與測(cè)試引腳接收端口6相向的側(cè)壁，即測(cè)試盒固定殼側(cè)壁311上；測(cè)試盒固定殼31的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)設(shè)有壓緊組件，該壓緊組件的壓緊塊312的至少一部分可從測(cè)試盒固定殼31的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)伸出和退回；當(dāng)測(cè)試盒32從測(cè)試盒固定殼31的開口插入時(shí)，壓緊塊312抵靠在測(cè)試盒32的側(cè)壁上。

作為優(yōu)選方案，壓緊組件包括壓緊塊312、第一彈性件313及固定塊315，第一彈性件313的一端連接在測(cè)試盒固定殼31的側(cè)壁的內(nèi)側(cè)上，第一彈性件313的另一端連接壓緊塊312；固定塊315的中部設(shè)有過孔316，測(cè)試盒固定殼31的側(cè)壁內(nèi)側(cè)設(shè)有收容槽314；固定塊315固定在收容槽314內(nèi)，壓緊塊312的外側(cè)部輪廓與過孔316內(nèi)側(cè)部輪廓形狀配合，且壓緊塊312可沿過孔316的軸向移動(dòng)。

當(dāng)測(cè)試盒32從開口中插入測(cè)試盒固定殼31時(shí)，測(cè)試盒32的側(cè)壁會(huì)頂推壓緊塊312退回，而壓緊塊312由于第一彈性件313的反作用力，則始終會(huì)抵靠在測(cè)試盒32的側(cè)壁上，從而以對(duì)測(cè)試盒32進(jìn)行可靠定位，防止測(cè)試盒放生晃動(dòng)；而由于第一彈性件313的可壓縮和回彈的性能，使得壓緊塊312能夠伸出和退回一段行程，從而能夠允許具有不同尺寸的測(cè)試盒插入測(cè)試盒固定殼310內(nèi)進(jìn)行固定，以此提高了測(cè)試盒固定裝置的通用性，并且操作也極為方便，可以提高板卡的測(cè)試效率。

可以在壓緊塊312伸出測(cè)試盒固定殼31的側(cè)壁的端面上設(shè)置自測(cè)試盒固定殼31的開口向測(cè)試盒固定殼31底部?jī)A斜的導(dǎo)向部317以及承接在導(dǎo)向部317末端的壓緊部318；導(dǎo)向部317對(duì)測(cè)試盒32具有導(dǎo)向作用，以利于測(cè)試盒32的插入，并通過壓緊部318將測(cè)試盒32壓緊固定。

請(qǐng)結(jié)合圖1至圖4所示，測(cè)試盒32包括上端開口的殼體320、外圍尺寸大于殼體320的開口的外圍尺寸的上蓋322以及板卡固定板323，上蓋322可拆卸地固定在殼體320的上端，且上蓋322的靠近其外圍的區(qū)域伸出殼體320的側(cè)壁外側(cè)，板卡固定板323可浮動(dòng)地設(shè)于上蓋322的上表面；板卡固定板323上設(shè)有多個(gè)與板卡的焊錫點(diǎn)位置相對(duì)應(yīng)的第一通孔324，上蓋322與第一通孔423相對(duì)應(yīng)的位置上設(shè)有第三引腳326，第三引腳326的下端與測(cè)試引腳輸入端口7的第二引腳70電連接，第三引腳326的上端伸出上蓋322的上表面且與第一通孔324相對(duì)應(yīng)。

在上蓋322上設(shè)有多個(gè)彈性支撐件325，該彈性支撐件325包括導(dǎo)向筒3251、支撐桿3252和第二彈性件(未圖示)，導(dǎo)向筒3251垂直地固定在上蓋322上且伸入到殼體320內(nèi)，第二彈性件設(shè)于導(dǎo)向筒3251內(nèi)，支撐桿3252的一端可滑動(dòng)地套接于導(dǎo)向筒3251內(nèi)且其端面與第一彈性件抵接，支撐桿3252的另一端固定連接板卡固定板323的下表面；當(dāng)測(cè)試架(未圖示)的頂桿從上往下頂推板卡固定板323時(shí)，第二彈性件被壓縮，板卡固定板323向下運(yùn)動(dòng)，當(dāng)壓緊組件4的第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)41驅(qū)動(dòng)下壓板42抬升時(shí)，第二彈性件回復(fù)從而將支撐桿3252向?qū)蛲?251外推出，使得板卡固定板323向上運(yùn)動(dòng)。

可以在上蓋322上設(shè)有多個(gè)彈性定位件328，該彈性定位件328包括套筒3281、定位桿3282和第三彈性件(未圖示)，在板卡固定板323與彈性定位件323相對(duì)應(yīng)的位置處設(shè)有第二通孔329，套筒3281垂直地固定在上蓋322上，第三彈性件設(shè)于套筒3281內(nèi)，定位桿3282的一端可滑動(dòng)地套接于套筒3281內(nèi)，定位桿3282的另一端設(shè)有錐形定位部3283，且該錐形定位部3283穿出第二通孔329；彈性定位件328可以對(duì)放入到板卡固定板323上的板卡(未圖示)進(jìn)行準(zhǔn)確定位，在對(duì)板卡進(jìn)行定位時(shí)，板卡上的基準(zhǔn)孔套接在錐形定位部3283上，錐形定位部3283可以對(duì)板卡的位置進(jìn)行自適應(yīng)調(diào)整，以提高板卡的定位的準(zhǔn)確性。

可以在測(cè)試盒固定殼31的側(cè)壁的上端設(shè)有定位銷319，在測(cè)試盒32的上蓋323的伸出殼體320的側(cè)壁外側(cè)的區(qū)域內(nèi)設(shè)有與定位銷319相匹配的定位孔327；當(dāng)測(cè)試盒32插接于測(cè)試盒固定殼31內(nèi)時(shí)，定位孔327對(duì)應(yīng)套接于定位銷319上；采用這種定位方式，可以將測(cè)試盒32準(zhǔn)確地定位到測(cè)試盒固定殼31上，并且其定位準(zhǔn)確性不受測(cè)試盒32尺寸的影響。

以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和替換，這些改進(jìn)和替換也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。