本實(shí)用新型涉及一種抗干擾電路，具體是一種用于消除原子熒光光度計(jì)道間干擾的電路。

背景技術(shù)：

原子熒光光度計(jì)利用原子熒光譜線的波長和強(qiáng)度進(jìn)行物質(zhì)定性及定量的檢測方法，是一種優(yōu)良的痕量分析儀器?，F(xiàn)有技術(shù)中專利申請?zhí)枺?01210156612.0的多通道原子熒光光度計(jì)道間干擾消除電路，采用的方法是：在信號通過耦合電容的時(shí)間內(nèi)，受控開關(guān)在控制脈沖作用下斷開，使信號能夠耦合到模擬和數(shù)字信號處理系統(tǒng)；在下一通道信號進(jìn)來之前，受控開關(guān)在控制脈沖作用下閉合，使得耦合電容能通過電阻快速放電，去除耦合電容存儲的當(dāng)前通道信號，消除了對下一通道信號的影響。

這個(gè)專利采用的方法本質(zhì)上是電容放電的方法，通過增加額外的放電電路，在下一通道信號到來之前，迅速將耦合電容里儲存的上一通道的電荷釋放，以此達(dá)到不影響下一通道的目的。這個(gè)方案的缺點(diǎn)之一是，耦合電容放電需要一定時(shí)間，下一通道的信號必須延遲固定的時(shí)間才能接入。這樣檢測完一個(gè)通道，不能馬上檢測下一個(gè)通道，使儀器檢測總體時(shí)間大大延長。缺點(diǎn)之二是，這個(gè)方案總體上所有通道共用一套信號放大電路，除了前面所述耦合電容，組成放大電路的其它容抗器件也會有存儲電荷的效應(yīng)，雖然影響沒有耦合電容明顯，但是本質(zhì)上肯定會對下一通道信號產(chǎn)生干擾。

專利申請?zhí)枺?00910182018.7的用于原子熒光光譜儀雙道或多道道間干擾消除電路，其采用的方法是：在電路中通過放大器的前鋒加入一級可調(diào)電位器與放大器的第一階電容并聯(lián)，通過調(diào)節(jié)這個(gè)電位器，可以將放大器產(chǎn)生的前一個(gè)脈沖信號的反響過沖對下一級的干擾完全消除，從而達(dá)到消除儀器道間干擾的目的。

這個(gè)專利也存在專利1中存在的兩個(gè)缺點(diǎn)，其一是檢測完一個(gè)通道，不能馬上檢測下一個(gè)通道，因?yàn)榍耙粋€(gè)脈沖信號存在反向過沖，使儀器檢測總體時(shí)間大大延長。其二是，總體上所有通道共用一套信號放大電路，組成放大電路的容抗器件會有存儲電荷的效應(yīng)，本質(zhì)上肯定會對下一通道信號產(chǎn)生干擾。

上述兩個(gè)專利存在兩個(gè)共同的缺點(diǎn)：

（1）檢測完一個(gè)通道，不能馬上檢測下一個(gè)通道，使儀器檢測總體時(shí)間大大延長。

（2）因所有通道共用一套信號放大電路，組成放大電路的容抗器件會有存儲電荷的效應(yīng)，本質(zhì)上肯定會對下一通道信號產(chǎn)生干擾。

本發(fā)明采用一種創(chuàng)新的方案，從本質(zhì)上徹底解決了這兩個(gè)缺點(diǎn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的用于消除原子熒光光度計(jì)道間干擾的電路，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：

一種用于消除原子熒光光度計(jì)道間干擾的電路，包括整體方案由光電倍增管PMT、模擬開關(guān)SPDT1、電阻R1、電容C1和微處理器MCU，所述光電倍增管PMT的輸出管腳SIG分別與各通道的輸入模擬開關(guān)SPDT1常開管腳3和SPDT3的常開管腳3相連，模擬開關(guān)SPDT2的常開管腳3連接SPDT4的常開管腳3和模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的輸入管腳1，模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的輸出總線2和MCU輸入總線1相連，模擬開關(guān)SPDT1的常閉管腳2與放電電阻R1一個(gè)管腳相連，電阻R1的另一管腳接地，SPDT1的公共管腳1和耦合電容C1的一個(gè)管腳相連，電容C1另一管腳和放電器A1的輸入管腳1相連，放大器A1的輸出管腳2和模擬開關(guān)SPDT2的公共管腳1相連，模擬開關(guān)SPDT2的常閉管腳2與放電電阻R2一個(gè)管腳相連，電阻R2的另一管腳和地相連。

作為本實(shí)用新型的優(yōu)選方案：所述模擬開關(guān)SPDT1、電阻R1、電容C1、放大器A1、電阻R2和模擬開關(guān)SPDT2組成通道1。

作為本實(shí)用新型的優(yōu)選方案：所述模擬開關(guān)SPDT3、電阻R3、電容C2、放大器A2、電阻R4和模擬開關(guān)SPDT4組成通道2。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是：本實(shí)用新型在采用雙通道的方式，通道1和通道2可以進(jìn)行無時(shí)間延遲的交替采集，從而避免了現(xiàn)有專利中必須等到前一個(gè)通道脈沖信號放電完畢之后，才能進(jìn)行下一個(gè)通道的信號采集，大大縮短了儀器整體的信號采集時(shí)間。另外每個(gè)通道都有自己單獨(dú)的一套信號放大電路，并且通過各自的模擬開關(guān)與其他通道完全隔離，從本質(zhì)上徹底解決了通道間干擾的問題。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型雙通道的電路圖；

圖2為雙通道方案工作時(shí)序圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

請參閱圖1-2，一種用于消除原子熒光光度計(jì)道間干擾的電路，包括整體方案由光電倍增管PMT、模擬開關(guān)SPDT1、電阻R1、電容C1和微處理器MCU，所述光電倍增管PMT的輸出管腳SIG分別與各通道的輸入模擬開關(guān)SPDT1常開管腳3和SPDT3的常開管腳3相連，模擬開關(guān)SPDT2的常開管腳3連接SPDT4的常開管腳3和模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的輸入管腳1，模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的輸出總線2和MCU輸入總線1相連，模擬開關(guān)SPDT1的常閉管腳2與放電電阻R1一個(gè)管腳相連，電阻R1的另一管腳接地，SPDT1的公共管腳1和耦合電容C1的一個(gè)管腳相連，電容C1另一管腳和放電器A1的輸入管腳1相連，放大器A1的輸出管腳2和模擬開關(guān)SPDT2的公共管腳1相連，模擬開關(guān)SPDT2的常閉管腳2與放電電阻R2一個(gè)管腳相連，電阻R2的另一管腳和地相連。

模擬開關(guān)SPDT1、電阻R1、電容C1、放大器A1、電阻R2和模擬開關(guān)SPDT2組成通道1。模擬開關(guān)SPDT3、電阻R3、電容C2、放大器A2、電阻R4和模擬開關(guān)SPDT4組成通道2。

本實(shí)用新型的工作原理是：本實(shí)用新型以雙通道為例，技術(shù)方案如圖1所示。整體方案由光電倍增管PMT、模擬開關(guān)SPDT1、SPDT2、SPDT3、SPDT3、電阻（R1、R2、R3、R4）、電容（C1、C2、C3、C4）、信號放大器（A1、A2）、模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC和微處理器MCU組成。其中光電倍增管（PMT）、模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC和微處理器MCU是所有通道共用的，而通道切換和放大電路（對通道1而言是通道1虛線框中的電路，通道2是通道2虛線框中的電路）每個(gè)通道各有一路。

對于三通道只需增加一路虛線框（兩個(gè)虛線框中的元器件及其連接關(guān)系均相同）中的元器件及其連接即可。對于三通道以上的多通道以此類推。

光電倍增管PMT的輸出管腳SIG分別與各通道的輸入模擬開關(guān)SPDT1和SPDT3的常開管腳3(NO)相連；各通道的輸出模擬開關(guān)SPDT2和SPDT4的常開管腳3(NO)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的輸入管腳1相連；模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出總線2和MCU輸入總線1相連。

對于通道1，其模擬開關(guān)SPDT1的常閉管腳2（NC）與放電電阻R1一個(gè)管腳相連，R1的另一管腳和地相連；SPDT1的公共管腳1(COM)和耦合電容C1的一個(gè)管腳相連，C1另一管腳和放電器A1的輸入管腳1相連；放大器A1的輸出管腳2和模擬開關(guān)SPDT2的公共管腳1（COM）相連，模擬開關(guān)SPDT2的常閉管腳2（NC）與放電電阻R2一個(gè)管腳相連，R2的另一管腳和地相連。

對于通道2，其連接和通道1相同。對于3通道和3通道以上的多通道以此類推。