技術(shù)總結(jié)
本實用新型公開了一種指紋傳感器基板的幾何參數(shù)檢測系統(tǒng)，用于測試指紋傳感器基板的幾何參數(shù)，包括測量環(huán)、測量盤、測試基準(zhǔn)平臺、第一激光位移傳感器、第二激光位移傳感器、探頭固定架和計算機(jī)，測量環(huán)水平設(shè)置在測試基準(zhǔn)平臺上且測量環(huán)的上端面設(shè)有支撐組件，測量盤通過支撐組件水平放置在測量環(huán)上，測量盤上開有用于放置指紋傳感器基板的測量槽，所述探頭固定架固定在測試基準(zhǔn)平臺上，探頭固定架具有上支撐臂和下支撐臂，第一激光位移傳感器設(shè)置在上支撐臂的延伸端，第二激光位移傳感器設(shè)置在下支撐臂的延伸端，第一激光位移傳感器和第二激光位移傳感器的信號輸出端與計算機(jī)的通訊接口連接，通過激光位移傳感器采集相關(guān)參數(shù)，并由計算機(jī)計算幾何參數(shù)。

技術(shù)研發(fā)人員：曹偉兵;朱洪偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海柏凌電子科技有限公司
文檔號碼：201621195112
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.07
技術(shù)公布日：2017.07.21