本實(shí)用新型涉及設(shè)備檢測技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說，涉及一種霍爾組件檢測裝置。

背景技術(shù)：

為保證電機(jī)的安全穩(wěn)定運(yùn)行，在電機(jī)出廠前通常需要對電機(jī)的各元器件進(jìn)行檢測，而電機(jī)檢測的核心是對霍爾組件的輸出參數(shù)(包括：電壓、電流、頻率、占空比、周期、高低脈沖、電容值等)進(jìn)行檢測。

目前對霍爾組件的輸出參數(shù)的檢測方法是：首先使用穩(wěn)壓電源給霍爾組件提供5V工作電壓，然后采用示波器和電流表獲取霍爾組件的輸出參數(shù)，并將各參數(shù)值進(jìn)行顯示，最后檢測人員用眼睛觀察識別示波器上顯示的參數(shù)值和波形，以及電流表上顯示的電流值，并根據(jù)各參數(shù)值及波形判斷被測霍爾組件是否合格，以查找出不合格的霍爾組件。

由于檢測人員每天需要檢測的霍爾組件的數(shù)量高達(dá)幾千件，因此頻繁的檢測操作以及長時間連續(xù)工作很容易導(dǎo)致檢測人員身心疲憊，容易出現(xiàn)因?qū)Ω鲄?shù)值和/或波形讀數(shù)錯誤導(dǎo)致對霍爾組件誤判的情況。所以如何提供一種霍爾組件檢測裝置以減少檢測人員的操作強(qiáng)度，并提高霍爾組件的檢測準(zhǔn)確度是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本實(shí)用新型公開一種霍爾組件檢測裝置，以實(shí)現(xiàn)在對霍爾組件進(jìn)行檢測時，減少檢測人員的操作強(qiáng)度，并提高霍爾組件的檢測準(zhǔn)確度。

一種霍爾組件檢測裝置，包括：

微控制單元，所述微控制單元具有信號采集端口和信號控制端口；

用于采集被測霍爾組件的輸出參數(shù)的采集電路，所述采集電路的輸出端與所述信號采集端口連接，所述信號采集端口用于采集所述輸出參數(shù)；

一端用于與放置所述被測霍爾組件的PG板接口連接，為所述被測霍爾組件提供電源PG信號的信號PG輸入接口，所述信號PG輸入接口的另一端與所述采集電路的輸入端連接；

與所述信號控制端口連接，用于對所述信號控制端口的輸出信息進(jìn)行顯示的顯示屏，所述信號控制端口用于輸出所述微控制單元采集的所述輸出參數(shù)，以及根據(jù)所述輸出參數(shù)中的各參數(shù)值和對應(yīng)的參數(shù)閾值范圍的比較結(jié)果得到的所述被測霍爾組件是否合格的檢測結(jié)果。

優(yōu)選的，所述采集電路包括：

用于采集被測霍爾組件的輸出電壓參數(shù)的電壓采集電路，所述電壓采集電路的輸入端與所述信號PG輸入接口連接，所述電壓采集電路的輸出端與所述信號采集端口連接，所述信號采集端口用于采集所述輸出電壓參數(shù)；

用于采集所述被測霍爾組件的輸出頻率參數(shù)的頻率采集電路，所述頻率采集電路的輸入端與所述信號PG輸入接口連接，所述頻率采集電路的輸出端與所述信號采集端口連接，所述信號采集端口用于采集所述輸出頻率參數(shù)；

用于采集所述被測霍爾組件的輸出電流波形參數(shù)的波形采集電路，所述波形采集電路的輸入端與所述信號PG輸入接口連接，所述波形采集電路的輸出端與所述信號采集端口連接，所述信號采集端口用于采集所述輸出電流波形參數(shù)；

用于采集所述被測霍爾組件的輸出電容參數(shù)的電容采集電路，所述電容采集電路的輸入端與所述信號PG輸入接口連接，所述電容采集電路的輸出端與所述信號采集端口連接，所述信號采集端口用于采集所述輸出電容參數(shù)。

優(yōu)選的，還包括：

與所述信號控制端口連接，用于對所述輸出信息進(jìn)行存儲的存儲單元。

優(yōu)選的，還包括：

與所述信號控制端口連接，用于在所述輸出信息中包含有報警控制信號時，根據(jù)所述報警控制信號報警的報警器。

優(yōu)選的，所述報警器包括：聲音報警器。

優(yōu)選的，所述報警器包括：

用于在接收到用戶輸入的停止報警指令才停止報警的按鍵報警電路。

從上述的技術(shù)方案可知，本實(shí)用新型公開了一種霍爾組件檢測裝置，檢測裝置包括微控制單元、采集電路、信號PG輸入接口和顯示屏，當(dāng)對被測霍爾組件進(jìn)行檢測時，只需將被測霍爾組件放置在PC板接口，然后將PC板接口與信號PG輸入接口連接，檢測裝置就會對被測霍爾組件是否合格進(jìn)行自動檢測，并在顯示屏顯示檢測結(jié)果以及被測霍爾組件的輸出參數(shù)。由此可知，本實(shí)用新型公開的檢測裝置實(shí)現(xiàn)了對霍爾組件的自動檢測，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，本實(shí)用新型在對霍爾組件進(jìn)行檢測時，大大降低了檢測人員的操作強(qiáng)度，同時還有效避免了因檢測人員讀數(shù)錯誤而導(dǎo)致對霍爾組件誤判的情況，提高了對霍爾組件的檢測準(zhǔn)確度。

附圖說明

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)公開的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種霍爾組件檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的另一種霍爾組件檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種霍爾組件檢測裝置，以實(shí)現(xiàn)在對霍爾組件進(jìn)行檢測時，減少檢測人員的操作強(qiáng)度，并提高霍爾組件的檢測準(zhǔn)確度。

參見圖1，本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種霍爾組件檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，該檢測裝置包括：微控制單元(Microcontroller Unit，MCU)10、采集電路20、信號PG輸入接口30和顯示屏40。

其中：

MCU10具有信號采集端口和信號控制端口。

信號PG輸入接口30的一端用于與放置被測霍爾組件的PG板接口連接，以為被測霍爾組件提供電源PG信號，信號PG輸入接口30的另一端與采集電路20的輸入端連接。

需要說明的是，電源PG信號是電源Power Good信號的簡稱，是直流輸出電壓檢測信號和交流輸入電壓檢測信號的邏輯，與TTL(Transistor TransistorLogic，晶體管)信號兼容。本實(shí)用新型中，電源PG信號用于為被測霍爾組件提供電源信號，其中，當(dāng)電源PG信號包含有PG信號且PG信號的時序正確時，才能作為被測霍爾組件的電源信號。

采集電路20的輸出端與MCU10的信號采集端口連接，采集電路20用于采集被測霍爾組件的輸出參數(shù)，并通過信號采集端口輸出至MCU10。

其中，被測霍爾組件的輸出參數(shù)包括：電流、周期、頻率、高脈沖、低脈沖、占空比、電容量等。

顯示屏40與MCU10的信號控制端口連接，顯示屏40用于對信號控制端口的輸出信息進(jìn)行顯示，其中，信號控制端口用于輸出MCU10采集的輸出參數(shù)，以及根據(jù)輸出參數(shù)中的各參數(shù)值和對應(yīng)的參數(shù)閾值范圍的比較結(jié)果得到的被測霍爾組件是否合格的檢測結(jié)果。

為方便理解，本實(shí)用新型還公開了采用霍爾組件檢測裝置對被測霍爾組件的檢測過程，具體如下：

(1)將霍爾組件檢測裝置的電源端50與AC220V電源接通，使霍爾組件檢測裝置處于開機(jī)狀態(tài)；

需要說明的是，在霍爾組件檢測裝置處于開機(jī)狀態(tài)后，顯示屏40上會顯示被測霍爾組件的各被檢測參數(shù)，這樣可以方便檢查人員查看各被檢測參數(shù)是否與被測霍爾組件的型號對應(yīng)，從而有效避免因各被檢測參數(shù)與被測霍爾組件的型號不對應(yīng)而導(dǎo)致的誤判。

(2)設(shè)置被測霍爾組件的各被測參數(shù)的上限值和下限值，得到各被測參數(shù)的參數(shù)閾值范圍，此時霍爾組件檢測裝置處于正常工作狀態(tài)；

(3)將放置有被測霍爾組件的PG板接口插入信號PG輸入接口30(可以認(rèn)為是檢測座)，霍爾組件檢測裝置將自動對被測霍爾組件進(jìn)行靜態(tài)測試，該靜態(tài)測試主要包括對被測霍爾組件在靜態(tài)測試(包括靜態(tài)電阻和電容回路檢測)時的輸出參數(shù)進(jìn)行檢測。當(dāng)對被測霍爾組件靜態(tài)測試完成后，將被測霍爾組件安裝在電機(jī)內(nèi)，并在電機(jī)工作的情況下，對被測霍爾組件進(jìn)行動態(tài)測試，該動態(tài)測試主要包括對被測霍爾組件在動態(tài)測試時的輸出參數(shù)(主要是波形參數(shù))進(jìn)行檢測。

(4)MCU10通過將獲取的被測霍爾組件的輸出參數(shù)中的各參數(shù)值和對應(yīng)的參數(shù)閾值范圍進(jìn)行比較，判斷被測霍爾組件是否合格，并得到對應(yīng)的檢測結(jié)果。

其中，當(dāng)被測霍爾組件的所有參數(shù)值均在對應(yīng)的參數(shù)閾值范圍內(nèi)時，得到表征被測霍爾組件合格的檢測結(jié)果；當(dāng)被測霍爾組件的所有參數(shù)值中，存在數(shù)值不在對應(yīng)參數(shù)閾值范圍的參數(shù)值時，得到表征被測霍爾組件不合格的檢測結(jié)果。

(5)將被測霍爾組件的輸出參數(shù)以及檢測結(jié)果均在顯示屏40顯示，以便檢測人員查看。

綜上可知，本實(shí)用新型公開的霍爾組件檢測裝置在對被測霍爾組件進(jìn)行檢測時，只需將被測霍爾組件放置在PC板接口，然后將PC板接口與信號PG輸入接口30連接，檢測裝置就會對被測霍爾組件是否合格進(jìn)行自動檢測，并在顯示屏40顯示檢測結(jié)果以及被測霍爾組件的輸出參數(shù)。由此可知，本實(shí)用新型公開的檢測裝置實(shí)現(xiàn)了對霍爾組件的自動檢測，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，本實(shí)用新型在對霍爾組件進(jìn)行檢測時，大大降低了檢測人員的操作強(qiáng)度，同時還有效避免了因檢測人員讀數(shù)錯誤而導(dǎo)致對霍爾組件誤判的情況，提高了對霍爾組件的檢測準(zhǔn)確度。

另外，相比現(xiàn)有技術(shù)手動檢測霍爾組件而言，本實(shí)用新型通過對霍爾組件進(jìn)行自動檢測還提高了對霍爾組件的檢測效率。

需要說明的是，本實(shí)用新型中的霍爾組件檢測裝置還具備掉電記憶功能。

優(yōu)選的，顯示屏40可以采用抗干擾強(qiáng)度等級較高的60*80顯示屏，以有效減少因測試干擾造成的顯示亂碼等現(xiàn)象。

優(yōu)選的，為提高對被測霍爾組件的輸出波形參數(shù)的采樣精度，MCU10可以采用高速單片機(jī)，這樣MCU10對被測霍爾組件的輸出波形參數(shù)的采集精度可以達(dá)到0.01us。

為進(jìn)一步優(yōu)化上述實(shí)施例，參見圖2，本實(shí)用新型另一實(shí)施例公開的一種霍爾組件檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，與圖1所示實(shí)施例不同的是，采集電路20具體包括：電壓采集電路21、頻率采集電路22、波形采集電路23和電容采集電路24。

其中：

電壓采集電路21的輸入端與信號PG輸入接口30連接，電壓采集電路21的輸出端與MCU10的信號采集端口連接，電壓采集電路21用于采集被測霍爾組件的輸出電壓參數(shù)，并通過信號采集端口將輸出電壓參數(shù)輸出至MCU10。

頻率采集電路22輸入端與信號PG輸入接口30連接，頻率采集電路22的輸出端與MCU10的信號采集端口連接，頻率采集電路22用于采集被測霍爾組件的輸出頻率參數(shù)，并通過信號采集端口將輸出頻率參數(shù)輸出至MCU10。

波形采集電路23的輸入端與信號PG輸入接口30連接，波形采集電路23的輸出端與MCU10的信號采集端口連接，波形采集電路23用于采集被測霍爾組件的輸出電流波形參數(shù)，并通過信號采集端口將輸出電流波形參數(shù)輸出至MCU10。

需要說明的是，波形采集電路23采集的被測霍爾組件的輸出電流波形參數(shù)為對被測霍爾組件進(jìn)行動態(tài)測試時的電流波形參數(shù)，根據(jù)該輸出電流波形參數(shù)可以得到被測霍爾組件的輸出電流、周期、占空比、頻率、高脈沖和低脈沖。

其中，在實(shí)際應(yīng)用中，輸出電流波形參數(shù)能夠按照預(yù)設(shè)比例在顯示屏40上動態(tài)顯示，霍爾組件檢測裝置對電流的采樣率可以為2000次/秒。

電容采集電路24的輸入端與信號PG輸入接口30連接，電容采集電路24的輸出端與MCU10的信號采集端口連接，電容采集電路24用于采集被測霍爾組件的輸出電容參數(shù)，并通過信號采集端口將輸出電容參數(shù)輸出至MCU10。

其中，被測霍爾組件的輸出參數(shù)中各參數(shù)的測量范圍、精度以及參數(shù)閾值范圍可參見表1中示出的數(shù)值，這些數(shù)值在實(shí)際應(yīng)用中可依據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行修改，表1具體如下：

表1

需要說明的是，電壓采集電路21、頻率采集電路22、波形采集電路23和電容采集電路24可以連接至MCU10的同一個信號采集端口，也可以分別連接一個MCU10的信號采集端口，具體依據(jù)實(shí)際需要而定，本實(shí)用新型在此不做限定。

為進(jìn)一步優(yōu)化上述實(shí)施例，霍爾組件檢測裝置還可以包括：存儲單元60；

存儲單元60與MCU10的信號控制端口連接，用于對MCU10的輸出信息進(jìn)行存儲。

本領(lǐng)域技術(shù)人員都公知的是，MCU10本身具有存儲功能，能夠?qū)CU10運(yùn)行程序時所需的數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，但是，MCU10本身的存儲空間有限，同時若MCU10本身存儲數(shù)據(jù)過多，將會影響MCU10的運(yùn)行速度，因此，本實(shí)用新型通過增加存儲單元60來分擔(dān)MCU10中的存儲數(shù)據(jù)，以提高M(jìn)CU10的運(yùn)行速度。

為進(jìn)一步優(yōu)化上述實(shí)施例，霍爾組件檢測裝置還可以包括：報警器70；

報警器70與MCU10的信號控制端口連接，用于在MCU10的輸出信息中包含有報警控制信號時，根據(jù)所述報警控制信號報警。

當(dāng)霍爾組件檢測裝置檢測到被測霍爾組件的輸出參數(shù)中，存在數(shù)值不在對應(yīng)參數(shù)閾值范圍的參數(shù)時，表明被測霍爾組件不合格，在這種情況下，霍爾組件檢測裝置可以采用報警的形式告知檢測人員。

報警器70可以選用聲音報警器，例如語音報警器。

為方便檢測人員查看被測霍爾組件中不滿足參數(shù)閾值范圍的參數(shù)，本實(shí)用新型公開的霍爾組件檢測裝置還可以對不滿足參數(shù)閾值范圍的參數(shù)進(jìn)行標(biāo)記，例如，對該參數(shù)進(jìn)行反顯變黑，并將標(biāo)記后的參數(shù)在顯示屏40中顯示。

為避免霍爾組件檢測裝置檢測出不合格霍爾組件后，檢測人員因某些原因(例如離開檢測現(xiàn)場)未聽見報警聲音，而誤將不合格的霍爾組件歸類到合格的霍爾組件中，本實(shí)用新型中的報警器70還包括按鈕報警電路。

當(dāng)霍爾組件檢測裝置檢測出不合格的霍爾組件后，報警器70會一直處于報警狀態(tài)，只有檢測人員按下按鈕報警電路對應(yīng)的按鈕，報警才會解除，從而有效避免了檢測人員誤將不合格的霍爾組件歸類到合格的霍爾組件這一情況的發(fā)生。

當(dāng)被測霍爾組件檢測合格時，本實(shí)用新型為避免在被測霍爾組件測試完成后，因熱插拔被測霍爾組件而造成被測霍爾組件損壞的情況，霍爾組件檢測裝置在測試被測霍爾組件合格后，還會生成一個斷電控制信號，通過將該斷電控制信號輸出至信號PG輸入接口30，控制信號PG輸入接口30停止向被測霍爾組件輸出電源PG信號。

另外，由于每天需要檢測的霍爾組件高達(dá)幾千件，因此方便統(tǒng)計(jì)合格的霍爾組件數(shù)量以及不合格霍爾組件數(shù)量，本實(shí)用新型公開的霍爾組件檢測裝置還具備對合格霍爾組件和不合格霍爾組件的計(jì)數(shù)功能。

具體的，當(dāng)MCU10判定檢測結(jié)果的類型表征被測霍爾組件檢測合格時，對第一計(jì)數(shù)值加一；當(dāng)MCU10判定檢測結(jié)果類型表征被測霍爾組件檢測不合格時，對第二計(jì)算值加一，其中，第一計(jì)數(shù)值和第二計(jì)數(shù)值的初始值均為零。

其中，本實(shí)用新型公開的霍爾組件檢測裝置還可以根據(jù)顯示屏40顯示的波形判定波形抖動特性，具體判定過程可參見現(xiàn)有技術(shù)中示波器對波形抖動的判定過程，此處不再贅述。

最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實(shí)體或者操作與另一個實(shí)體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

本說明書中各個實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。

對所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對這些實(shí)施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本實(shí)用新型將不會被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。