本實(shí)用新型涉及一種可穿戴設(shè)備，特別是涉及一種能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備。

背景技術(shù)：

在生產(chǎn)和制造智能可穿戴設(shè)備的過程中，工作電流是評(píng)估設(shè)備性能的重要指標(biāo)之一，工作電流能反饋故障、設(shè)備功耗等信息。目前，工廠檢測(cè)設(shè)備電路電流的方法主要有兩種：（1）將設(shè)備電路板放入人工機(jī)械測(cè)試架，人工調(diào)節(jié)不同的模式檔位，通過萬用表和電流電壓表測(cè)試電路板電流，從而判斷設(shè)備電路板工作情況；（2）將設(shè)備的電路板放入自動(dòng)檢測(cè)電流儀器，儀器自動(dòng)檢測(cè)電流，在儀器顯示屏顯示測(cè)試結(jié)果，人工識(shí)別和判斷電路板工作情況。

每一個(gè)設(shè)備在生產(chǎn)過程中都需要檢測(cè)設(shè)備電路工作情況，如通過上述第一種方法測(cè)試設(shè)備電路電流，即人工操作測(cè)試，時(shí)間成本高，工作效率低。為了提高效率，工廠需要購置多個(gè)人工機(jī)械測(cè)試架、萬用表、電流電壓表，聘用多個(gè)測(cè)試人員，這樣無疑增加了設(shè)備的生產(chǎn)成本。如通過上述第二種方法測(cè)試設(shè)備電路電流，效率相對(duì)上述第一種方法高，但設(shè)備已裝機(jī)完成后有需要測(cè)試電流的情況時(shí)，必須拆機(jī)才可完成測(cè)試電流工作，比較麻煩；尤其是面對(duì)裝機(jī)完成的設(shè)備在后續(xù)質(zhì)檢測(cè)試中反饋功耗大，但當(dāng)初裝機(jī)測(cè)試時(shí)電流正常的情況，需要拆機(jī)測(cè)試，不利于排查造成該現(xiàn)象的原因；且可能是因?yàn)檠b配問題導(dǎo)致設(shè)備拆機(jī)后設(shè)備電流正常。

因此，需要一種能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，提供一種能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備。為了實(shí)現(xiàn)這一目的，本實(shí)用新型所采取的技術(shù)方案如下。

按照本實(shí)用新型實(shí)施例的一個(gè)方面，提供一種能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備，包括微處理器，此外還包括：串聯(lián)在設(shè)備主供電回路上的取樣電阻器；輸入端跨接在取樣電阻器兩端并輸出成比例的電流的處理部件；以及串聯(lián)在處理部件輸出端與地之間的第一分壓電阻器和第二分壓電阻器，其中所述微處理器的輸入端連接到第一分壓電阻器和第二分壓電阻器之間的節(jié)點(diǎn)。

按照再一個(gè)實(shí)施例，優(yōu)選的是，所述的能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備還包括連接在所述處理部件的輸出端與所述節(jié)點(diǎn)之間的電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)。

按照又一個(gè)實(shí)施例，優(yōu)選的是，所述電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)為晶體管，其控制極通過上拉電阻器連接到所述微處理器的控制信號(hào)輸出端。

按照另一個(gè)實(shí)施例，優(yōu)選的是，所述晶體管為金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管。

按照再又一個(gè)實(shí)施例，優(yōu)選的是，所述電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)連接在所述第一分壓電阻器與所述節(jié)點(diǎn)之間。

按照本實(shí)用新型實(shí)施例的能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備，通過這樣的電路設(shè)計(jì)，設(shè)備不需要拆機(jī)即可完成電流測(cè)量。在生產(chǎn)過程中，降低產(chǎn)線對(duì)設(shè)備電路電流監(jiān)測(cè)的成本；在后期質(zhì)檢過程中，面對(duì)電路板裝機(jī)前電流是正常而裝機(jī)完成后電流不正常的情況，有利于快捷和準(zhǔn)確地排查原因；在產(chǎn)品銷售和售后過程中，設(shè)備可隨時(shí)進(jìn)行功耗監(jiān)測(cè)，一旦出現(xiàn)過載或功耗偏低的情況，可以提示用戶咨詢技術(shù)支持，可以為用戶提供更好的體驗(yàn)。

下面將結(jié)合附圖并通過實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行具體說明，其中相同或基本相同的部件采用相同的附圖標(biāo)記指示。

附圖說明

圖1是按照本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備的局部電路原理圖；

圖2是按照本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，是按照本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備的局部電路原理圖，主要示出了可穿戴設(shè)備中增加的電流監(jiān)測(cè)單元電路部分。通過測(cè)量?jī)?nèi)部取樣電阻器R1的電壓，計(jì)算通過取樣電阻器R1的電流。由于取樣電阻器R1是串聯(lián)在電路中，例如串聯(lián)在設(shè)備主供電回路，因此通過取樣電阻器R1的電流就是電路電流。

當(dāng)電流通過時(shí)，串聯(lián)在主供電回路上的電阻器R1兩端形成電壓降，通過跨接在取樣電阻器R1兩端的處理部件（端子2和3），例如芯片ZXCT1008，經(jīng)檢測(cè)放大轉(zhuǎn)換后，按照例如10mV：100uA的比例，轉(zhuǎn)換成比例電流輸出。第一分壓電阻器R2和第二分壓電阻器R3串聯(lián)在處理部件的輸出端（即端子1）與地之間，第一分壓電阻器和第二分壓電阻器之間的節(jié)點(diǎn)A與可穿戴設(shè)備的微處理器（MCU）的AD輸入端連接；比例電流經(jīng)過電阻器R2和R3，電阻器R3上產(chǎn)生電壓，即節(jié)點(diǎn)A的對(duì)地電壓Va，通過TOMCU接入可穿戴設(shè)備的MCU的AD輸入端，可穿戴設(shè)備MCU根據(jù)測(cè)量到的電壓Va，按照公式：I=(100*Va)/(R1*R3),求得主供電回路串聯(lián)電阻器R1的電流，及自身電路電流；且可通過驅(qū)動(dòng)可穿戴設(shè)備顯示或通訊模塊傳輸?shù)浇K端設(shè)備顯示計(jì)算結(jié)果。

考慮到電流監(jiān)測(cè)電路也是會(huì)有功率損失，且相對(duì)功耗要求非常嚴(yán)格的可穿戴設(shè)備是難以容忍的；因此在一個(gè)實(shí)施例中，可在電路中設(shè)置電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)，其連接在所述處理部件的輸出端1與所述節(jié)點(diǎn)A之間。在圖1所示的實(shí)施例中，所述電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)連接在所述第一分壓電阻器R2與所述節(jié)點(diǎn)A之間。在一個(gè)實(shí)施例中，所述開關(guān)為晶體管，其控制極通過上拉電阻器連接到所述微處理器的控制信號(hào)輸出端，進(jìn)一步地所述晶體管為金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管（即MOS管），其源極S和漏極D分別連接到電阻器R2和節(jié)點(diǎn)A。當(dāng)設(shè)備需要監(jiān)測(cè)電流時(shí)，MCU輸出監(jiān)測(cè)信號(hào)（高電平）給CTRL腳，高電平信號(hào)經(jīng)過限流電阻器R16輸入MOS管，MOS管開啟，電流監(jiān)測(cè)電路工作；當(dāng)設(shè)備不需要監(jiān)測(cè)電流時(shí)，MCU輸出停止監(jiān)測(cè)信號(hào)（低電平）給CTRL腳，低電平信號(hào)經(jīng)過限流電阻器R16輸入MOS管，MOS管關(guān)閉，電流監(jiān)測(cè)電路不工作。通過這樣的設(shè)置實(shí)現(xiàn)電流監(jiān)測(cè)電路的智能開啟，減少不必要的功耗浪費(fèi)。

通過這樣的電路設(shè)計(jì)，設(shè)備不需要拆機(jī)即可完成電流測(cè)量。在生產(chǎn)過程中，降低產(chǎn)線對(duì)設(shè)備電路電流監(jiān)測(cè)的成本；在后期質(zhì)檢過程中，面對(duì)電路板裝機(jī)前電流是正常而裝機(jī)完成后電流不正常的情況，有利于快捷和準(zhǔn)確的排查原因；在產(chǎn)品銷售和售后過程中，設(shè)備可隨時(shí)進(jìn)行功耗監(jiān)測(cè)，一旦出現(xiàn)過載或功耗偏低的情況，可以提示用戶咨詢技術(shù)支持，可以為用戶提供更好的體驗(yàn)。

如圖2所示，是按照本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的能自動(dòng)檢測(cè)自身電路電流的可穿戴設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。其中電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)202根據(jù)主芯片200（即MCU）的指令控制電流監(jiān)測(cè)單元204的工作與否；電流監(jiān)測(cè)單元204用于進(jìn)行電路電流的監(jiān)測(cè)，并把監(jiān)測(cè)結(jié)果輸入到主芯片200；鋰電池206用于為整個(gè)設(shè)備系統(tǒng)供電；顯示屏208用于顯示主芯片200輸出的數(shù)字信號(hào)信息；心率傳感器210用于檢測(cè)用戶心率；運(yùn)動(dòng)傳感器212用于檢測(cè)用戶運(yùn)動(dòng)情況；存儲(chǔ)單元214用于存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)。可穿戴設(shè)備各結(jié)構(gòu)邏輯關(guān)系為：主芯片200根據(jù)觸摸按鍵216的輸入或設(shè)備系統(tǒng)預(yù)設(shè)的情況控制心率傳感器210、運(yùn)動(dòng)傳感器212、存儲(chǔ)單元214、顯示屏208、以及馬達(dá)218的工作；心率傳感器210、運(yùn)動(dòng)傳感器212將所采集數(shù)據(jù)輸入到主芯片200；存儲(chǔ)單元214根據(jù)主芯片200輸出的信號(hào)將主芯片所需要的數(shù)據(jù)輸入到主芯片；主芯片200電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)202，進(jìn)而通過電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)控制電流監(jiān)測(cè)單元204的工作，如電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)輸出“開”的信號(hào)，電流監(jiān)測(cè)單元監(jiān)測(cè)電路電流并將監(jiān)測(cè)結(jié)果輸入到主芯片200；如電流監(jiān)測(cè)控制開關(guān)輸出“關(guān)”的信號(hào)，則電流監(jiān)測(cè)單元204不對(duì)電路電流進(jìn)行監(jiān)測(cè)；鋰電池充電管理220對(duì)鋰電池206進(jìn)行充電，鋰電池206經(jīng)過電流監(jiān)測(cè)單元204對(duì)設(shè)備供電。

以上通過具體的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了說明，但本實(shí)用新型并不限于這些具體的實(shí)施例。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白，還可以對(duì)本實(shí)用新型做各種修改、等同替換、變化等等。但是，這些變換只要未背離本實(shí)用新型的精神，都應(yīng)在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。另外，本申請(qǐng)說明書和權(quán)利要求書所使用的一些術(shù)語，例如“第一”、“第二”等等，并不是限制，僅僅是為了便于描述。此外，以上多處所述的“一個(gè)實(shí)施例”、“另一個(gè)實(shí)施例”等等表示不同的實(shí)施例，當(dāng)然也可以將其全部或部分結(jié)合在一個(gè)實(shí)施例中。