本實(shí)用新型涉及一種用于X射線圖像掃描的系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤。

背景技術(shù)：

目前X射線儀器設(shè)備主要利用了單能或雙能探測器產(chǎn)生二維掃描圖像進(jìn)行成像分析，無損檢測等。然而由于X射線具有的高穿透特性導(dǎo)致圖像中結(jié)構(gòu)疊加現(xiàn)象普遍存在，在對圖像中目標(biāo)物體進(jìn)行深度，寬度，和長度的計算分析的過程中產(chǎn)生大量計算偏差。在許多需要利用X射線圖像分析的應(yīng)用中達(dá)不到精準(zhǔn)化，立體分析的效果。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述不足，而提供一種結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，可以提高精準(zhǔn)化，立體分析效果的用于X射線圖像掃描的系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤。

本實(shí)用新型解決上述問題所采用的技術(shù)方案是：

一種用于X射線圖像掃描的系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤，其特征在于：包括托盤體，托盤體設(shè)置有用于容納物品的托盤容納槽，托盤容納槽的底部邊沿固定有若干個低位基點(diǎn)識別件，托盤容納槽的頂部邊沿固定有若干個高位基點(diǎn)識別件。

本實(shí)用新型系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤的使用過程如下：將系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤平置于傳送帶上，將被檢物體置于托盤當(dāng)中，被檢物體并不遮擋4個或以上的基點(diǎn)，在進(jìn)行X射線圖像掃描的時候，X射線探測器識別低位基點(diǎn)識別件、高位基點(diǎn)識別件，獲得托盤容納槽的深度，寬度，高度數(shù)據(jù)，從而對掃描圖像所涵蓋空間進(jìn)行三維校準(zhǔn)，通過校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對被檢物品實(shí)現(xiàn)深度，寬度，高度等參數(shù)進(jìn)行精準(zhǔn)計算。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，低位基點(diǎn)識別件的數(shù)量至少為四個，高位基點(diǎn)識別件的數(shù)量至少為四個。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，低位基點(diǎn)識別件的數(shù)量為四個，高位基點(diǎn)識別件的數(shù)量為八個。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，所有低位基點(diǎn)識別件處于同一平面高度，所有高位基點(diǎn)識別件處于同一平面高度。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，低位基點(diǎn)識別件采用不銹鋼球。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，高位基點(diǎn)識別件采用鋁合金片，鋁合金片的中部開設(shè)有開孔。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，不銹鋼球的直徑為2毫米。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，鋁合金片為10毫米邊長的正方形，鋁合金片的厚度為2毫米，開孔的直徑為4毫米。

進(jìn)一步，作為優(yōu)選，托盤容納槽的長度為400～600毫米，托盤容納槽的寬度為300～400毫米，托盤容納槽的高度為60～150毫米。

本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)和效果：系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤有助于X射線探測器模擬和測算錐形X射線波普的幾何結(jié)構(gòu)，以及通道空間內(nèi)的橫截面范圍，從而測算扇形波普在通道空間內(nèi)的覆蓋角度，從而實(shí)現(xiàn)自動定位穿透圖像中基點(diǎn)中心位置，將圖像中基點(diǎn)相對位移的像素點(diǎn)數(shù)轉(zhuǎn)化為空間指數(shù)，即通過X射線探測器通過對托盤上低位基點(diǎn)識別件、高位基點(diǎn)識別件的識別，將二維圖像中的橫向或縱向像素點(diǎn)位移轉(zhuǎn)化為可測量的空間指數(shù)，自動對系統(tǒng)進(jìn)行三維校準(zhǔn)，減少X射線圖像中由于疊加結(jié)構(gòu)造成的深度，寬度，和長度的計算分析誤差，從而可以提高精準(zhǔn)化，立體分析效果。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤的使用狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤的立體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤的平面結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤低位基點(diǎn)識別件的安裝結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤高位基點(diǎn)識別件的安裝結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖并通過實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明，以下實(shí)施例是對本實(shí) 用新型的解釋而本實(shí)用新型并不局限于以下實(shí)施例。

參見圖1-圖5，本實(shí)施例用于X射線圖像掃描的系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤，包括托盤體11，托盤體11設(shè)置有用于容納物品的托盤容納槽12，托盤容納槽12的底部邊沿固定有四個低位基點(diǎn)識別件31，托盤容納槽12的頂部邊沿固定有八個高位基點(diǎn)識別件32。所有低位基點(diǎn)識別件31處于同一平面高度，所有高位基點(diǎn)識別件32處于同一平面高度。低位基點(diǎn)識別件31采用不銹鋼球。

高位基點(diǎn)識別件32采用鋁合金片，鋁合金片的中部開設(shè)有開孔321。不銹鋼球的直徑為2毫米。鋁合金片為10毫米邊長的正方形，鋁合金片的厚度為2毫米，開孔321的直徑為4毫米。托盤容納槽12的長度為550毫米，托盤容納槽12的寬度為350毫米，托盤容納槽12的高度為110毫米。

本實(shí)用新型系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤的使用過程如下：將系統(tǒng)自校準(zhǔn)托盤平置于傳送帶4上，將被檢物體置于托盤當(dāng)中，被檢物體并不遮擋4個或以上的基點(diǎn)，在進(jìn)行X射線圖像掃描的時候，X射線探測器5識別低位基點(diǎn)識別件31、高位基點(diǎn)識別件32，獲得托盤容納槽12的深度，寬度，高度數(shù)據(jù)，從而對掃描圖像所涵蓋空間進(jìn)行三維校準(zhǔn)，通過校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對被檢物品實(shí)現(xiàn)深度，寬度，高度等參數(shù)進(jìn)行精準(zhǔn)計算。

本說明書中所描述的以上內(nèi)容僅僅是對本實(shí)用新型所作的舉例說明。本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對所描述的具體實(shí)施例做各種各樣的修改或補(bǔ)充或采用類似的方式替代，只要不偏離本實(shí)用新型說明書的內(nèi)容或者超越本權(quán)利要求書所定義的范圍，均應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。