本實(shí)用新型涉及電機(jī)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

在直流電機(jī)的生產(chǎn)、研發(fā)過程中，為確定電機(jī)是否能夠達(dá)到預(yù)期設(shè)計(jì)使用壽命，需要對(duì)電機(jī)進(jìn)行壽命測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)的電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)一般采用繼電器、計(jì)數(shù)器等電器元件對(duì)測(cè)試進(jìn)程進(jìn)行控制，或者采用簡(jiǎn)單的單片機(jī)結(jié)合數(shù)碼管、鍵盤等對(duì)測(cè)試進(jìn)程進(jìn)行控制。由于繼電器、計(jì)數(shù)器等本身壽命都較短，且可靠性差，因此采用繼電器、計(jì)數(shù)器等電器元件對(duì)測(cè)試進(jìn)程進(jìn)行控制的方式實(shí)用性差，無法良好實(shí)現(xiàn)對(duì)電機(jī)壽命的測(cè)試，且這種控制方式智能化程度低，不能方便設(shè)置和修改測(cè)試進(jìn)程。而采用簡(jiǎn)單的單片機(jī)結(jié)合數(shù)碼管、鍵盤等對(duì)測(cè)試進(jìn)程進(jìn)行控制的方式雖然在一定程度上提高了測(cè)試可靠性及智能化水平，但其人機(jī)交互性還是不夠友好。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是，提供一種直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)的電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)智能化程度低、人機(jī)交互性不夠友好的問題。本實(shí)用新型是通過如下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：

一種直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)，包括微處理器、觸摸顯示屏、程控開關(guān)電源、電機(jī)支承座、電性測(cè)試單元、示波器；

所述觸摸顯示屏與所述微處理器連接；

所述微處理器與所述程控開關(guān)電源連接，用于控制所述程控開關(guān)電源的輸出；

所述電機(jī)支承座上安裝有用于固定待測(cè)電機(jī)的支撐架；

所述程控開關(guān)電源用于驅(qū)動(dòng)固定在所述支撐架上的待測(cè)電機(jī)；

所述電性測(cè)試單元用于檢測(cè)所述待測(cè)電機(jī)的電性；

所述示波器與所述電性測(cè)試單元連接，用于實(shí)時(shí)顯示及輸出所述待測(cè)電機(jī)的電性參數(shù)。

進(jìn)一步地，所述程控開關(guān)電源包括隔離變壓器、EMI濾波電路、整流電路、脈寬調(diào)制控制器；

所述隔離變壓器用于接入市電，并對(duì)所述市電進(jìn)行降壓；

所述EMI濾波電路與所述隔離變壓器連接，用于對(duì)降壓后的市電進(jìn)行EMI濾波；

所述整流電路與所述EMI濾波電路連接，用于將EMI濾波后的市電轉(zhuǎn)換為直流電；

所述脈寬調(diào)制控制器與所述整流電路和待測(cè)電機(jī)連接，用于將所述直流電調(diào)壓后輸出到所述待測(cè)電機(jī)，以驅(qū)動(dòng)所述待測(cè)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)。

進(jìn)一步地，所述程控開關(guān)電源具有多路輸出，所述電機(jī)支承座上安裝有多個(gè)所述支撐架；

所述程控開關(guān)電源的每一路輸出用于驅(qū)動(dòng)固定在一個(gè)支撐架上的電機(jī)；

所述電性測(cè)試單元具有多個(gè)測(cè)試通道和多個(gè)輸出通道，各測(cè)試通道與各輸出通道一一對(duì)應(yīng)，每一個(gè)測(cè)試通道用于檢測(cè)固定在一個(gè)支撐架上的電機(jī)的電性，并通過其對(duì)應(yīng)的輸出通道將檢測(cè)到的電性參數(shù)輸出給所述示波器；

所述示波器具有多個(gè)輸入通道，每個(gè)輸入通道用于與所述電性測(cè)試單元的一個(gè)輸出通道連接，用于實(shí)時(shí)顯示該輸出通道輸出的電性參數(shù)。

進(jìn)一步地，所述電性測(cè)試單元為電流測(cè)試單元，其用于檢測(cè)所述待測(cè)電機(jī)的額定電流。

進(jìn)一步地，所述示波器上安裝有打印機(jī)模塊，用于通過所述打印機(jī)模塊實(shí)時(shí)打印所述待測(cè)電機(jī)的電性參數(shù)曲線。

進(jìn)一步地，所述電性測(cè)試單元還與所述微處理器連接，用于將檢測(cè)到的所述待測(cè)電機(jī)的電性參數(shù)發(fā)送給所述微處理器。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)包括微處理器、觸摸顯示屏、程控開關(guān)電源、電機(jī)支承座、電性測(cè)試單元、示波器。在與微處理器連接的觸摸顯示屏上可實(shí)現(xiàn)設(shè)定測(cè)試參數(shù)、顯示系統(tǒng)狀態(tài)、數(shù)據(jù)、報(bào)警信息等人機(jī)交互功能，提高了系統(tǒng)智能化程度和人機(jī)交互界面的友好程度，保障了測(cè)試的可靠性。

附圖說明

圖1：本實(shí)用新型實(shí)施例1提供的直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)的組成示意圖；

圖2：本實(shí)用新型實(shí)施例2提供的直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)的組成示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。

如圖1所示，本實(shí)用新型實(shí)施例1提供了一種直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)，包括微處理器1、觸摸顯示屏2、程控開關(guān)電源3、電機(jī)支承座4、電性測(cè)試單元7和示波器8。

觸摸顯示屏2與微處理器1連接。觸摸顯示屏2可用于顯示測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試狀態(tài)等信息，同時(shí)還可用于輸入測(cè)試參數(shù)、測(cè)試命令等。

微處理器1與程控開關(guān)電源3連接，用于控制程控開關(guān)電源3的輸出。微處理器1可采用內(nèi)部集成有定時(shí)器和計(jì)數(shù)器的微處理器1，方便對(duì)測(cè)試進(jìn)行定時(shí)和計(jì)數(shù)。

電機(jī)支承座4上安裝有用于固定待測(cè)電機(jī)6的支撐架5。支撐架5用于固定和支撐待測(cè)電機(jī)6。

程控開關(guān)電源3用于驅(qū)動(dòng)固定在支撐架5上的待測(cè)電機(jī)6。

電性測(cè)試單元7用于檢測(cè)待測(cè)電機(jī)6的電性。如電機(jī)6的耐壓、絕緣電阻、額定頻率、額定功率、額定電壓、額定電流、額定轉(zhuǎn)速、堵轉(zhuǎn)電流等電性參數(shù)都在檢測(cè)范圍，因此電性測(cè)試單元7具體包括若干分別測(cè)試上述各電性參數(shù)的電性測(cè)試子彈元，如耐壓測(cè)試子彈元、絕緣電阻測(cè)試子彈元、額定電流測(cè)試子彈元等。

示波器8與電性測(cè)試單元7連接，用于實(shí)時(shí)顯示及輸出待測(cè)電機(jī)6的電性參數(shù)。

在本實(shí)施例中，程控開關(guān)電源3包括隔離變壓器、EMI濾波電路、整流電路和脈寬調(diào)制控制器。

隔離變壓器用于接入市電，并對(duì)市電進(jìn)行降壓。EMI濾波電路與隔離變壓器連接，用于對(duì)降壓后的市電進(jìn)行EMI濾波。整流電路與EMI濾波電路連接，用于將EMI濾波后的市電轉(zhuǎn)換為直流電。脈寬調(diào)制控制器與整流電路和待測(cè)電機(jī)6連接，用于將直流電調(diào)壓后輸出到待測(cè)電機(jī)6，以驅(qū)動(dòng)待測(cè)電機(jī)6轉(zhuǎn)動(dòng)。

如圖2所示，實(shí)施例2提供了另一種直流電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)，其在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，程控開關(guān)電源3具有多路輸出，電機(jī)支承座4上安裝有多個(gè)支撐架5。程控開關(guān)電源3的每一路輸出用于驅(qū)動(dòng)固定在一個(gè)支撐架5上的電機(jī)6。

電性測(cè)試單元7具有多個(gè)測(cè)試通道和多個(gè)輸出通道，各測(cè)試通道與各輸出通道一一對(duì)應(yīng)，每一個(gè)測(cè)試通道用于檢測(cè)固定在一個(gè)支撐架5上的電機(jī)6的電性，并通過其對(duì)應(yīng)的輸出通道將檢測(cè)到的電性參數(shù)輸出給示波器8。

示波器8具有多個(gè)輸入通道，每個(gè)輸入通道用于與電性測(cè)試單元7的一個(gè)輸出通道連接，用于實(shí)時(shí)顯示該輸出通道輸出的電性參數(shù)。這樣，該測(cè)試系統(tǒng)就可同時(shí)對(duì)多個(gè)電機(jī)6的電性進(jìn)行測(cè)試，可同時(shí)對(duì)多個(gè)電機(jī)6進(jìn)行同一電性的測(cè)試，也可同時(shí)測(cè)試多個(gè)電機(jī)6，但每個(gè)電機(jī)6測(cè)試不同的電性，提高測(cè)試效率。

本實(shí)施例中，電性測(cè)試單元7為電流測(cè)試單元，其用于檢測(cè)待測(cè)電機(jī)6的額定電流。

本實(shí)施例中，示波器8上安裝有打印機(jī)模塊，用于通過打印機(jī)模塊實(shí)時(shí)打印待測(cè)電機(jī)6的電性參數(shù)曲線。打印機(jī)模塊可在測(cè)試過程中持續(xù)打印，從而將整個(gè)測(cè)試周期的電性參數(shù)曲線打印出來供技術(shù)人員參考。

本實(shí)施例中，電性測(cè)試單元7還與微處理器1連接，用于將檢測(cè)到的待測(cè)電機(jī)6的電性參數(shù)發(fā)送給微處理器1。這樣，微處理器1可將接收到的電性參數(shù)發(fā)送到觸摸顯示屏2顯示。

最后應(yīng)說明的是：上述各實(shí)施例僅用于說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對(duì)前述實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分或全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本實(shí)用新型各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。