本實(shí)用新型涉及絕緣電阻測試技術(shù)，尤其是涉及一種絕緣電阻測試儀。

背景技術(shù)：

絕緣電阻測試儀，一般指兆歐表，它的刻度是以兆歐為單位的。兆歐表是電工常用的一種測量儀表，其主要用來檢查電氣設(shè)備、家用電器或電氣線路對地及相間的絕緣電阻，以保證這些設(shè)備、電器和線路工作在正常狀態(tài)，避免發(fā)生觸電傷亡及設(shè)備損壞等事故。

但是，現(xiàn)有的絕緣電阻測試儀，體積較大、不易攜帶，而且也不能適用于多種不同的量程，從而導(dǎo)致其應(yīng)用極為狹窄。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于克服上述技術(shù)不足，提出一種絕緣電阻測試儀，解決現(xiàn)有技術(shù)中絕緣電阻測試儀體積大、不易攜帶及測試量程狹窄的技術(shù)問題。

為達(dá)到上述技術(shù)目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案提供一種絕緣電阻測試儀，包括箱體、蓋體及一內(nèi)置于所述箱體內(nèi)的測試儀本體，所述測試儀本體包括，

一嵌設(shè)于所述箱體開口端的控制面板，所述控制面板與所述箱體之間形成有安裝腔體；

內(nèi)置于所述安裝腔體的測試模塊，所述測試模塊包括一用于形成設(shè)定電壓的電壓發(fā)生單元，一與所述電壓發(fā)生單元連接的電流輸出單元，一用于調(diào)節(jié)所述電壓發(fā)生單元產(chǎn)生的電壓的電壓調(diào)節(jié)單元，一用于測試被測絕緣電阻中的泄漏電流的泄漏電流測試單元，一用于處理所述泄漏電流測試單元測試數(shù)據(jù)的MCU處理單元，所述電壓調(diào)節(jié)單元串聯(lián)于所述電壓發(fā)生單元與所述MCU處理單元之間；

一與所述MCU處理單元連接的可充電電池；及

均嵌設(shè)于所述控制面板上的測試端子、液晶顯示屏、電源接口，所述測試端子與所述電流輸出單元和泄漏電流測試單元連接，所述液晶顯示屏與所述MCU處理單元連接，所述電源接口與所述可充電電池連接。

優(yōu)選的，所述測試儀本體包括一嵌設(shè)于所述控制面板的電量警示燈，所述測試模塊包括一用于獲取所述可充電電池電量的電量采集單元，所述電量采集單元和電量警示燈均與所述MCU處理單元連接。

優(yōu)選的，所述控制面板上還設(shè)置有一電源按鈕，所述電源按鈕串聯(lián)于所述可充電電池與所述MCU處理單元之間。

優(yōu)選的，所述測試模塊包括一用于記錄測試時(shí)間的時(shí)間記錄單元，所述時(shí)間記錄單元與所述MCU處理單元連接。

優(yōu)選的，所述測試模塊包括一用于測試被測絕緣電阻的電容的電容測試單元，所述電容測試單元串聯(lián)于所述測試端子與所述MCU處理單元之間。

優(yōu)選的，所述控制面板上還設(shè)置有一用于調(diào)節(jié)所述液晶顯示屏的灰度的顯示屏調(diào)節(jié)按鈕。

優(yōu)選的，所述可充電電池為12.6V鋰離子蓄電池。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型一方面設(shè)置箱體和箱蓋容納測試儀本體，其提高了攜帶的便利性，另一方面在測試模塊中設(shè)置電壓調(diào)節(jié)單元，從而形成多個(gè)不同的測試電壓，提高了其使用的廣泛性，而本實(shí)施例采用可充電電池為電源，便于野外使用。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型的絕緣電阻測試儀的連接結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型的測試儀本體的連接框圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

請參閱圖1、圖2，本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種絕緣電阻測試儀，包括箱體1、蓋體2及一內(nèi)置于所述箱體1內(nèi)的測試儀本體3，所述測試儀本體3包括，

一嵌設(shè)于所述箱體1開口端的控制面板31，所述控制面板31與所述箱體1之間形成有安裝腔體；

內(nèi)置于所述安裝腔體的測試模塊32，所述測試模塊32包括一用于形成設(shè)定電壓的電壓發(fā)生單元321，一與所述電壓發(fā)生單元321連接的電流輸出單元322，一用于調(diào)節(jié)所述電壓發(fā)生單元321產(chǎn)生的電壓的電壓調(diào)節(jié)單元323，一用于測試被測絕緣電阻中的泄漏電流的泄漏電流測試單元324，一用于處理所述泄漏電流測試單元324測試數(shù)據(jù)的MCU處理單元325，所述電壓調(diào)節(jié)單元323串聯(lián)于所述電壓發(fā)生單元321與所述MCU處理單元325之間；

一與所述MCU處理單元325連接的可充電電池36；及

均嵌設(shè)于所述控制面板31上的測試端子33、液晶顯示屏34、電源接口35，所述測試端子33與所述電流輸出單元322和泄漏電流測試單元324連接，所述液晶顯示屏34與所述MCU處理單元325連接，所述電源接口35與可充電電池36連接。

具體測試時(shí)，通過測試線連接測試端子33和待測絕緣電阻，通過電壓發(fā)生單元321形成高電壓，具體可形成500V、1000V、2500V、5000V、10000V的電壓，并且可根據(jù)需要通過電壓調(diào)節(jié)單元323進(jìn)行調(diào)節(jié)，具體可通過設(shè)置于控制面板31上的電壓調(diào)節(jié)按鈕37進(jìn)行調(diào)節(jié)，電壓調(diào)節(jié)按鈕37與MCU處理單元連接。形成高電壓后，可通過電流輸出單元322將電流輸入至被測絕緣電阻中，并通過泄漏電流測試單元324測試被測絕緣電阻中的泄漏電流，測試數(shù)據(jù)輸送至MCU處理單元325進(jìn)行處理，處理后通過液晶顯示屏34顯示出來。其中，所述可充電電池36為12.6V鋰離子蓄電池，其可內(nèi)置于安裝腔體內(nèi)。

在測試時(shí)，易發(fā)生可充電電池36電量較少導(dǎo)致無法測試的狀況，為了避免無法測試，所述測試儀本體3包括一嵌設(shè)于所述控制面板31的電量警示燈38，所述測試模塊32包括一用于獲取所述可充電電池36電量的電量采集單元326，所述電量采集單元326和電量警示燈38均與所述MCU處理單元325連接，通過電量采集單元326實(shí)時(shí)采集可沖電電池36的電量，讓采集的電量低于設(shè)定值時(shí)，則啟動(dòng)電量警示燈38閃爍，提醒操作者及時(shí)充電。其中，正常使用時(shí)，電量警示燈38處于常亮狀態(tài)。

為了便于對測試儀本體3的控制，所述控制面板31上還設(shè)置有一電源按鈕39，所述電源按鈕39串聯(lián)于所述可充電電池36與所述MCU處理單元325之間，即可通過電源按鈕39將測試儀本體3開啟或關(guān)閉。

而為了便于測試的精確性，所述測試模塊32包括一用于記錄測試時(shí)間的時(shí)間記錄單元327，所述時(shí)間記錄單元327與所述MCU處理單元325連接，該時(shí)間記錄單元327可實(shí)時(shí)記錄測試時(shí)間并顯示于液晶顯示屏34上。

其中，由于測試的泄漏電流為電容電流，其與帶測試絕緣電阻的電容相關(guān)，為了測試的準(zhǔn)確性，本實(shí)施例所述測試模塊32包括一用于測試被測絕緣電阻的電容的電容測試單元328，所述電容測試單元328串聯(lián)于所述測試端子33與所述MCU處理單元325之間。

由于測試過程中的溫度變化易導(dǎo)致液晶顯示屏34的灰度發(fā)生改變，易影響液晶顯示屏34的正常使用，故本實(shí)施例所述控制面板31上還設(shè)置有一用于調(diào)節(jié)所述液晶顯示屏34的灰度的顯示屏調(diào)節(jié)按鈕30。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型一方面設(shè)置箱體和箱蓋容納測試儀本體，其提高了攜帶的便利性，另一方面在測試模塊中設(shè)置電壓調(diào)節(jié)單元，從而形成多個(gè)不同的測試電壓，提高了其使用的廣泛性，而本實(shí)施例采用可充電電池為電源，便于野外使用。

以上所述本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限定。任何根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思所做出的各種其他相應(yīng)的改變與變形，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。