技術總結
本實用新型公開了一種紅外焦平面探測器讀出電路的補償電路，包括補償校準控制模塊、校準單元、校準開關陣列和讀出控制模塊，所述校準開關陣列包含M個與前述像元陣列和讀出通道一一對應的選通開關，每個選通開關的固定端連接與該選通開關對應的讀出通道，每個選通開關的兩個選擇端分別連接校準單元和與該選通開關對應的像元陣列，所述M個選通開關的控制端均與補償校準控制模塊相連，M列像元陣列中的所有像元的控制端均與讀出控制模塊相連。本實用新型采用電路級和系統(tǒng)級相結合的補償方法，有效地降低了讀出通道的非一致性帶來的豎條紋非均勻性。

技術研發(fā)人員：韋良忠;梅平;劉燕;陳黎明
受保護的技術使用者：無錫艾立德智能科技有限公司
文檔號碼：201620722725
技術研發(fā)日：2016.07.08
技術公布日：2017.01.11