本實(shí)用新型涉及醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域,尤其涉及一種用于磁共振成像的磁體裝置以及多模態(tài)成像設(shè)備。
背景技術(shù):
在磁共振成像設(shè)備中,由于鳥籠線圈有很好的場(chǎng)均勻性,普遍使用在體發(fā)射線圈設(shè)計(jì)中,鳥籠線圈基本可分為低通型、高通型和高低通混合型三類。鳥籠型線圈形似鳥籠,由兩端金屬環(huán)形和中間N根金屬腿組成。低通型鳥籠線圈的電容加載位于每條腿的中間;高通型鳥籠線圈的電容加載位于兩端的金屬環(huán)上;高低通混合型鳥籠線圈的電容加載在腿間和端環(huán)上都可存在。高通型鳥籠線圈比起低通型有著饋電方便的優(yōu)點(diǎn)。
高通鳥籠線圈,電容主要集中在兩端環(huán)上,加之端環(huán)上有環(huán)向電流會(huì)對(duì)鳥籠式體發(fā)射線圈產(chǎn)生以下不利影響。
1)一方面因?yàn)殡娙菥哂袇R集電荷的作用,因此端環(huán)上上電荷集中,周圍電場(chǎng)很大,往往是造成局部SAR值超標(biāo)的罪魁禍?zhǔn)祝?/p>
2)由于端環(huán)環(huán)向電流的存在,會(huì)在體發(fā)射線圈中產(chǎn)生一個(gè)沿著軸向的磁場(chǎng),這是造成體發(fā)射線圈磁場(chǎng)不均勻的主要原因;
3)由于端環(huán)周圍電磁場(chǎng)很大,與局部表面接收線圈聯(lián)合使用的時(shí)候,距離端環(huán)比較近的接收線圈,與發(fā)射線圈耦合強(qiáng)烈,這一方面會(huì)造成體發(fā)射線圈工作狀態(tài)發(fā)生變化,另一個(gè)方面會(huì)造成接收線圈的毀壞。
另外,在PET-MR設(shè)計(jì)中需要在鳥籠式發(fā)射線圈振子和屏蔽之間增加PET探測(cè)器模塊,這樣就破壞了線圈空間上的對(duì)稱性。也有技術(shù)方案,把PET探測(cè)器模塊添加在射頻屏蔽層和梯度線圈之間,但我們認(rèn)為這樣需要添加一層額外用于黏貼射頻屏蔽層的套筒,一方面會(huì)造成空間上的浪費(fèi),另外一方面這層額外添加的套筒在空間固定方面都很難解決。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為了解決上述問(wèn)題,本實(shí)用新型提出了一種用于磁共振成像的磁體裝置。
一種用于磁共振成像的磁體裝置,包括主磁場(chǎng)線圈、梯度線圈以及體發(fā)射線圈,所述梯度線圈設(shè)置于所述主磁場(chǎng)線圈內(nèi)側(cè)、所述體發(fā)射線圈設(shè)置于所述梯度線圈內(nèi)側(cè),在所述梯度線圈與所述體發(fā)射線圈之間設(shè)置有第一屏蔽層以及第二屏蔽層,所述第一屏蔽層靠近所述體發(fā)射線圈,所述第二屏蔽層靠近所述梯度線圈;所述體發(fā)射線圈包括兩個(gè)端環(huán)以及設(shè)置于兩個(gè)端環(huán)之間導(dǎo)線,所述兩個(gè)端環(huán)被布置于第一屏蔽層、第二屏蔽層之間。
優(yōu)選地,所述端環(huán)至所述體發(fā)射線圈中心軸線的距離大于所述導(dǎo)線至所述體發(fā)射線圈中心軸線的距離,所述第一屏蔽層將所述端環(huán)與所述導(dǎo)線進(jìn)行物理分隔。
優(yōu)選地,所述端環(huán)上設(shè)置有一個(gè)或數(shù)個(gè)的端環(huán)電容。
優(yōu)選地,所述第一屏蔽層的長(zhǎng)度大于或等于所述體發(fā)射線圈的長(zhǎng)度。
優(yōu)選地,所述第一屏蔽層鄰近所述端環(huán)的位置上設(shè)置有開(kāi)孔,所述開(kāi)孔用于容納所述端環(huán)與所述導(dǎo)線的連接線。
優(yōu)選地,包括支撐塊,所述支撐塊貼于所述第一屏蔽層,所述端環(huán)設(shè)置于所述支撐塊上表面。
優(yōu)選地,包括射頻線纜以及射頻饋電端口,設(shè)置于所述支撐塊上表面,用于給所述端環(huán)供電。
優(yōu)選地,所述第二屏蔽層貼于所述梯度線圈的內(nèi)壁。
優(yōu)選地,所述第一屏蔽層的軸向長(zhǎng)度小于第二屏蔽層的軸向長(zhǎng)度。
本實(shí)用新型還提供了一種多模態(tài)成像設(shè)備。所述多模態(tài)成像設(shè)備包括如上所述的用于磁共振成像的磁體裝置,進(jìn)一步,還包括正電子發(fā)射斷層顯示探測(cè)器模塊,所述正電子發(fā)射斷層顯示探測(cè)器模塊設(shè)置于所述第一屏蔽層與第二屏蔽層之間。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1、將端環(huán)設(shè)置在兩個(gè)屏蔽層之間,其一解決了端環(huán)電容對(duì)于SAR值的影響;其二解決了端環(huán)產(chǎn)生的磁場(chǎng)對(duì)軸向場(chǎng)的不均勻性的影響;其三解決了在聯(lián)合使用狀態(tài)下,對(duì)部分靠近端環(huán)的接收線圈的不利影響。
2、在多模態(tài)成像中,將PET模塊設(shè)置在兩個(gè)屏蔽層之間,解決了現(xiàn)有技術(shù)中PET模塊對(duì)體發(fā)射線圈的干擾,改善體發(fā)射場(chǎng)的均勻性,同時(shí)也很大程度上屏蔽了體發(fā)射線圈的電磁場(chǎng)對(duì)PET模塊的干擾。
附圖說(shuō)明
圖1為用于磁共振成像的磁體裝置的橫截面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為用于磁共振成像的磁體裝置的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為用于磁共振成像的磁體裝置的局部結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為一種多模態(tài)成像設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本實(shí)用新型。但是本實(shí)用新型能夠以很多不同于在此描述的其它方式來(lái)實(shí)施,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本實(shí)用新型內(nèi)涵的情況下做類似推廣,因此本實(shí)用新型不受下面公開(kāi)的具體實(shí)施的限制。
其次,本實(shí)用新型利用示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述,在詳述本實(shí)用新型實(shí)施例時(shí),為便于說(shuō)明,所述示意圖只是實(shí)例,其在此不應(yīng)限制本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
如圖1所示,本實(shí)用新型提供了一種用于磁共振成像的磁體裝置,包括主磁場(chǎng)線圈(圖未示)、梯度線圈31以及體發(fā)射線圈32,所述梯度線圈31設(shè)置于所述主磁場(chǎng)線圈內(nèi)側(cè)、所述體發(fā)射線圈32設(shè)置于所述梯度線圈31的內(nèi)側(cè),在所述梯度線圈31與所述體發(fā)射線圈32之間設(shè)置有第一屏蔽層35以及第二屏蔽層36,所述第一屏蔽層35靠近所述體發(fā)射線圈32,所述第二屏蔽層36靠近所述梯度線圈31。在一個(gè)實(shí)施例中,所述第二屏蔽層36貼于所述梯度線圈31的內(nèi)壁(這里特別說(shuō)明,圖1所述的磁體裝置的橫截面位于體線圈中部的位置)。
在一個(gè)實(shí)施例中,所述第一屏蔽層的軸向長(zhǎng)度小于第二屏蔽層的軸向長(zhǎng)度。在另一個(gè)實(shí)施例中,所述第一屏蔽層35的長(zhǎng)度大于或等于所述體發(fā)射線圈32的長(zhǎng)度。
如圖2所示,所述體發(fā)射線圈32包括兩個(gè)端環(huán)321、設(shè)置于兩個(gè)端環(huán)之間導(dǎo)線322,所述兩個(gè)端環(huán)321被布置于第一屏蔽層35、第二屏蔽層36之間。
所述端環(huán)321至所述體發(fā)射線圈32中心軸線的距離A大于所述導(dǎo)線322至所述體發(fā)射線圈32中心軸線的距離B。所述第一屏蔽層35將所述端環(huán)321與所述導(dǎo)線322進(jìn)行物理分隔。
如圖3所示,所述第一屏蔽層鄰近所述端環(huán)的位置上設(shè)置有開(kāi)孔40,所述開(kāi)孔40用于容納所述端環(huán)321(只示出一側(cè)的端環(huán))與所示導(dǎo)線322的連接線323。
所述磁體裝置還包括很多支撐塊37,用于支撐屏蔽層、端環(huán)以及導(dǎo)線等組件。如圖3所示,所述第一屏蔽層35設(shè)置于底部支撐塊37(1)的上表面,所述第一屏蔽層35的兩側(cè)設(shè)置有支撐塊37(2),所述端環(huán)321設(shè)置于所述支撐塊37(2)的上表面。在一些實(shí)施例中,所述端環(huán)321上設(shè)置有一個(gè)或數(shù)個(gè)的用于調(diào)諧作用的端環(huán)電容(圖未示)。
由于采用高通鳥籠線圈,因此射頻饋電點(diǎn)在端環(huán)上,直流饋電點(diǎn)分布在所述端環(huán)之間的導(dǎo)線上。如圖3所示,在支撐塊37(2)的上表面設(shè)置有射頻饋電端口以及射頻線纜38,其與所述端環(huán)321連接,用于給所述端環(huán)321供電。在支撐塊37(1)的設(shè)置有直流供電端口以及線纜39,用于給所述導(dǎo)線供電。
如圖4所示,本實(shí)用新型還提出一種多模態(tài)成像設(shè)備,所述多模態(tài)成像設(shè)備5包括用于磁共振成像的磁體裝置,具體地包括主磁場(chǎng)線圈50(圖未示出)、梯度線圈51以及體發(fā)射線圈52,所述梯度線圈51設(shè)置于所述主磁場(chǎng)線圈50內(nèi)側(cè)、所述體發(fā)射線圈52設(shè)置于所述梯度線圈51的內(nèi)側(cè),在所述梯度線圈51與所述發(fā)射線圈52之間設(shè)置有第一屏蔽層55以及第二屏蔽層56,所述第一屏蔽層55靠近所述體發(fā)射線圈52(圖中未示出端環(huán)部分),所述第二屏蔽層56靠近所述梯度線圈51。在一個(gè)實(shí)施例中,所述第二屏蔽層56貼于所述梯度線圈51的內(nèi)壁。所述多模態(tài)設(shè)備包括進(jìn)一步地,還包括正電子發(fā)射斷層顯示(Positron Emission Tomography,PET)探測(cè)器模塊57,所述正電子發(fā)射斷層顯示探測(cè)器模塊設(shè)置于所述第一屏蔽層55與第二屏蔽層56之間。
本實(shí)用新型雖然已以較佳實(shí)施例公開(kāi)如上,但其并不是用來(lái)限定本實(shí)用新型,任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi),都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案做出可能的變動(dòng)和修改,因此,凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化及修飾,均屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍。