本實(shí)用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電源紋波測(cè)試裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

在硬件開發(fā)過程中，電源的紋波是研發(fā)過程中要重點(diǎn)測(cè)試和解決的問題，如何獲得準(zhǔn)確的電源紋波將會(huì)極大影響到電源問題的定位、調(diào)試等，例如，很多模擬電源都需要極低的紋波幅度，以滿足電源的要求。目前，主要采用普通示波器加近地探頭來測(cè)試電源的紋波，但是，該方法不能測(cè)試精度比較高的紋波，比如10mV以下的紋波。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電源紋波測(cè)試裝置及系統(tǒng)，可以提高電源紋波的測(cè)試精度。

本實(shí)用新型實(shí)施例第一方面提供了一種電源紋波測(cè)試裝置，包括：

同軸線，射頻探頭，第一引線和第二引線，其中，所述同軸線的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭，另一端連接所述射頻探頭，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭將所述同軸線的信號(hào)線與所述第一引線的第一端連接和所述同軸線的地線與所述第二引線的第一端連接。

本實(shí)用新型實(shí)施例第二方面提供了一種電源紋波測(cè)試系統(tǒng)，包括：電源紋波測(cè)試裝置、示波器和被測(cè)電源，其中，所述電源紋波測(cè)試裝置包括同軸線、射頻探頭、第一引線和第二引線，所述同軸線的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭，另一端連接所述射頻探頭，所述射頻探頭連接所述示波器的任一接口，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭將所述同軸線的信號(hào)線與所述第一引線的第一端連接和所述同軸線的地線與所述第二引線的第一端連接，所述第一引線的第二端與所述被測(cè)電源的被測(cè)點(diǎn)的正極，所述第二引線的第二端連接所述被測(cè)點(diǎn)的負(fù)極。

實(shí)施本實(shí)用新型實(shí)施例，具有如下有益效果：

通過本實(shí)用新型實(shí)施例，電源紋波測(cè)試裝置由同軸線、射頻探頭、第一引線和第二引線，其中，所述同軸線的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭，另一端連接所述射頻探頭，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭將所述同軸線的信號(hào)線與所述第一引線的第一端連接和所述同軸線的地線與所述第二引線的第一端連接。從而，在測(cè)量過程中，該裝置的射頻探頭與示波器接口進(jìn)行連接，而第一引線接被測(cè)電源的被測(cè)點(diǎn)的正極和第二引線接被測(cè)量電源的負(fù)極，可提高電源紋波的測(cè)試精度。

附圖說明

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電源紋波測(cè)試裝置的實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；

圖1a是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電源紋波測(cè)試裝置測(cè)量電源紋波的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種種電源紋波測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1，為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電源紋波測(cè)試裝置的實(shí)施例流程示意圖。本實(shí)施例中所描述的電源紋波測(cè)試裝置，包括：

同軸線101，射頻探頭102，第一引線104和第二引線105，其中，所述同軸線101的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭103，另一端連接所述射頻探頭102，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭103將所述同軸線101的信號(hào)線與所述第一引線104的第一端 連接和所述同軸線101的地線與所述第二引線105的第一端連接。

具體地，本實(shí)用新型中所描述的電源紋波測(cè)試裝置主要可包括同軸線101，射頻探頭102，第一引線104和第二引線105。其中，同軸線101的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭103，另一端連接射頻探頭102。由現(xiàn)有技術(shù)可知，同軸線通常包含信號(hào)線和地線，而同軸線的一端通常與同軸線轉(zhuǎn)接頭連接，利用該同軸線轉(zhuǎn)接頭引出同軸線的信號(hào)線和地線。因此，本實(shí)用新型中，同軸線轉(zhuǎn)接頭103可用于引出同軸線101的信號(hào)線和地線，從而，通過該同軸線轉(zhuǎn)接頭103將該同軸線101的信號(hào)線與第一引線104的第一端連接和同軸線101的地線與第二引線105的第一端連接。

進(jìn)一步地，在該電源紋波測(cè)試裝置在對(duì)被測(cè)電源進(jìn)行測(cè)量的過程中，如圖1a所示，還需要用到示波器和被測(cè)電源。其中，被測(cè)電源包含被測(cè)點(diǎn)，優(yōu)選地，被測(cè)點(diǎn)為距離被測(cè)電源的正極最近的電容，由此，被測(cè)點(diǎn)可包含正極和負(fù)極。射頻探頭102可用于連接示波器的任一接口，第一引線104的第二端與被測(cè)點(diǎn)的正極，第二引線105的第二端連接被測(cè)點(diǎn)的負(fù)極，從而，形成一個(gè)完整的電源紋波測(cè)量電路。在電源紋波測(cè)量電路上電后，用戶可把示波器通道的帶寬限制打開，調(diào)整至AC耦合檔位，打開示波器的余暉模式，調(diào)整幅度至用戶需要的精度即可測(cè)試到更加準(zhǔn)確更加小的紋波。

優(yōu)選地，第一引線104的長度不大于30厘米，和/或，第二引線105的長度不大于30厘米。第一引線104的寬度不小于0.2毫米，和/或，第二引線的寬度不小于0.2毫米。即實(shí)際測(cè)量中第一引線104和第二引線105的長度越短越好，且第一引線104和第二引線105的寬度越寬越好，如此，可降低因?yàn)橐€引入電阻，給電源紋波測(cè)量帶來誤差。其中，引線具體的長度和寬度可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行確定。在第一引線104和第二引線105為同一種材料的情況下，第一引線104與第二引線105長度差小于預(yù)設(shè)閾值。該預(yù)設(shè)閾值可為0～1厘米，或者，2～5厘米，0.02厘米～1厘米等等。即在第一引線104和第二引線105為同一種材料的情況下，第一引線104和第二引線105的長度在相同的情況下，可避免由于導(dǎo)線長度不一，帶來的測(cè)量誤差。

在不需要明確追求測(cè)量精度的情況下，第一引線104或者第二引線105的長度也可以大于30厘米。第一引線104和第二引線105的寬度也可以小于0.2毫米。

特殊地，若第一引線104和第二引線105由超導(dǎo)材料制作而成，那么，導(dǎo)線的長度與寬度可不受限制。

需要說明的是，實(shí)際應(yīng)用中，射頻探頭具有本底噪聲，因而，與原有示波器的近地探頭相比，具有更地的本底噪聲。而同軸線是常見的信號(hào)傳輸線，中心的銅芯是傳送高電平的，被絕緣材料包覆；絕緣材料外面是與銅芯共軸的筒狀金屬薄層，傳輸?shù)碗娖?，同時(shí)起到屏蔽作用?？蓽p小信號(hào)在傳輸過程中帶來的干擾。

通過本實(shí)用新型實(shí)施例，電源紋波測(cè)試裝置由同軸線、射頻探頭、第一引線和第二引線，其中，所述同軸線的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭，另一端連接所述射頻探頭，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭將所述同軸線的信號(hào)線與所述第一引線的第一端連接和所述同軸線的地線與所述第二引線的第一端連接。從而，在測(cè)量過程中，該裝置的射頻探頭與示波器接口進(jìn)行連接，而第一引線接被測(cè)電源的被測(cè)點(diǎn)的正極和第二引線接被測(cè)量電源的負(fù)極，可提高電源紋波的測(cè)試精度。

請(qǐng)參閱圖2，為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電源紋波測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例中所描述的電源紋波測(cè)試系統(tǒng)，包括：

電源紋波測(cè)試裝置201、示波器202和被測(cè)電源203，其中，所述電源紋波測(cè)試裝置201包括同軸線101、射頻探頭102、第一引線104和第二引線105，所述同軸線101的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭103，另一端連接所述射頻探頭102，所述射頻探頭102連接所述示波器202的任一接口，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭103將所述同軸線101的信號(hào)線與所述第一引線104的第一端連接和所述同軸線101的地線與所述第二引線105的第一端連接，所述第一引線104的第二端與所述被測(cè)電源203的被測(cè)點(diǎn)的正極，所述第二引線105的第二端連接所述被測(cè)點(diǎn)的負(fù)極。

具體地，該電源紋波測(cè)試系統(tǒng)中，被測(cè)電源203包含被測(cè)點(diǎn)，優(yōu)選地，被測(cè)點(diǎn)為距離被測(cè)電源的正極最近的電容，由此，被測(cè)點(diǎn)可包含正極和負(fù)極。電源紋波測(cè)試裝置201通過射頻探頭102連接示波器202的任一接口，電源紋波測(cè)試裝置201的第一引線104的第二端與被測(cè)點(diǎn)的正極，第二引線105的第二端連接被測(cè)點(diǎn)的負(fù)極，從而，形成一個(gè)完整的電源紋波測(cè)量電路。在電源紋波測(cè)量電路上電后，用戶可把示波器通道的帶寬限制打開，調(diào)整至AC耦合檔位，打開示波器的余暉模式，調(diào)整幅度至用戶需要的精度即可測(cè)試到更加準(zhǔn)確更加 小的紋波。

優(yōu)選地，第一引線104的長度不大于30厘米，和/或，第二引線105的長度不大于30厘米。第一引線104的寬度不小于0.2毫米，和/或，第二引線的寬度不小于0.2毫米。即實(shí)際測(cè)量中第一引線104和第二引線105的長度越短越好，且第一引線104和第二引線105的寬度越寬越好，如此，可降低因?yàn)橐€引入電阻，給電源紋波測(cè)量帶來誤差。其中，引線具體的長度和寬度可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行確定。在第一引線104和第二引線105為同一種材料的情況下，第一引線104與第二引線105長度差小于預(yù)設(shè)閾值。該預(yù)設(shè)閾值可為0～1厘米，或者，2～5厘米，0.02厘米～1厘米等等。即在第一引線104和第二引線105為同一種材料的情況下，第一引線104和第二引線105的長度在相同的情況下，可避免由于導(dǎo)線長度不一，帶來的測(cè)量誤差。

在不需要明確追求測(cè)量精度的情況下，第一引線104或者第二引線105的長度也可以大于30厘米。第一引線104和第二引線105的寬度也可以小于0.2毫米。

特殊地，若第一引線104和第二引線105由超導(dǎo)材料制作而成，那么，導(dǎo)線的長度與寬度可不受限制。

需要說明的是，實(shí)際應(yīng)用中，射頻探頭具有本底噪聲，因而，與原有示波器的近地探頭相比，具有更地的本底噪聲。而同軸線是常見的信號(hào)傳輸線，中心的銅芯是傳送高電平的，被絕緣材料包覆；絕緣材料外面是與銅芯共軸的筒狀金屬薄層，傳輸?shù)碗娖?，同時(shí)起到屏蔽作用?？蓽p小信號(hào)在傳輸過程中帶來的干擾。

通過本實(shí)用新型實(shí)施例，由電源紋波測(cè)試裝置、示波器和被測(cè)電源組成的電源紋波測(cè)試系統(tǒng)中的電源紋波測(cè)試裝置由同軸線、射頻探頭、第一引線和第二引線，其中，所述同軸線的一端設(shè)有同軸線轉(zhuǎn)接頭，另一端連接所述射頻探頭，通過所述同軸線轉(zhuǎn)接頭將所述同軸線的信號(hào)線與所述第一引線的第一端連接和所述同軸線的地線與所述第二引線的第一端連接。從而，在測(cè)量過程中，該裝置的射頻探頭與示波器接口進(jìn)行連接，而第一引線接被測(cè)電源的被測(cè)點(diǎn)的正極和第二引線接被測(cè)量電源的負(fù)極，可提高電源紋波的測(cè)試精度。

以上所揭露的僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本實(shí)用新型之權(quán)利范圍，因此依本實(shí)用新型權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本實(shí)用 新型所涵蓋的范圍。