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一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng)與流程

文檔序號(hào):12062005閱讀:315來源:國(guó)知局
一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng)與流程

本申請(qǐng)涉及地質(zhì)勘探與油氣勘探技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng)。



背景技術(shù):

露頭是出露地表的地質(zhì)體,可以作為地下儲(chǔ)層的近似類比,對(duì)露頭地質(zhì)特征的研究是了解地下儲(chǔ)層地質(zhì)情況的重要手段。根據(jù)露頭的地形特征,一般可以將露頭劃分為直立區(qū)露頭、平躺區(qū)露頭和地表淺層露頭。建立三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型是利用數(shù)字化設(shè)備采集露頭的空間位置信息,將其與露頭地質(zhì)信息結(jié)合,得到具有露頭地質(zhì)信息的三維數(shù)據(jù)體。通過三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型可以對(duì)露頭地質(zhì)特征進(jìn)行直觀的三維空間分析和重復(fù)研究。

現(xiàn)有技術(shù)中確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法的主要步驟是:利用光探測(cè)與測(cè)量(Ground-based light detection and ranging,Lidar)掃描儀采集目的露頭的空間定位數(shù)據(jù);對(duì)目的露頭的空間定位數(shù)據(jù)進(jìn)行匯編處理,得到目的露頭的三維數(shù)據(jù)體;通過地質(zhì)踏勘的方式對(duì)目的露頭進(jìn)行地質(zhì)剖面實(shí)測(cè),得到目的露頭的地質(zhì)信息;結(jié)合目的露頭的地質(zhì)信息,對(duì)目的露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行地質(zhì)標(biāo)定處理,確定目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題:針對(duì)出露條件比較復(fù)雜的露頭,其可能包括直立區(qū)露頭、平躺區(qū)露頭和地表淺層露頭中的兩種或三種類型的露頭。Lidar掃描儀僅適用于對(duì)直立區(qū)露頭進(jìn)行掃描,無法對(duì)平躺區(qū)露頭和地表淺層露頭進(jìn)行掃描。因此,針對(duì)出露條件比較復(fù)雜的露頭,現(xiàn)有技術(shù)中采用的方法無法采集目的露頭中平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),可能導(dǎo)致所采集的目的露頭的空間定位數(shù)據(jù)不完整,進(jìn)而可能導(dǎo)致所確定的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的可靠性較低。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本申請(qǐng)實(shí)施例的目的是提供一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng),以提高確定的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的可靠性。

為解決上述技術(shù)問題,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng)是這樣實(shí)現(xiàn)的:

一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法,包括:

獲取目的露頭的地形特征信息,根據(jù)所述地形特征信息,將所述目的露頭劃分為至少一個(gè)直立區(qū)露頭、至少一個(gè)平躺區(qū)露頭,以及地表淺層露頭;

確定所述目的露頭的地質(zhì)信息;

利用預(yù)選第一組設(shè)備對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行第一數(shù)據(jù)采集處理,確定所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù);利用預(yù)選第二組設(shè)備對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行第二數(shù)據(jù)采集處理,確定所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù);利用預(yù)選第三組設(shè)備對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行第三數(shù)據(jù)采集處理,確定所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù);

基于所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,基于所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,以及基于所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體;

基于所述目的露頭的地質(zhì)信息、所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體、所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體和所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體,確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

優(yōu)選方案中,對(duì)所述目的露頭進(jìn)行地質(zhì)剖面實(shí)測(cè),確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

優(yōu)選方案中,所述對(duì)目的露頭進(jìn)行地質(zhì)剖面實(shí)測(cè),獲取所述目的露頭的地質(zhì)信息,包括:

獲取所述目的露頭的巖相類型特征信息;

根據(jù)所述巖相類型特征信息,將所述目的露頭劃分為多個(gè)小層,以及確定各個(gè)小層的厚度;

在每個(gè)所述小層上至少選取一個(gè)樣品,確定所述樣品的孔隙度和滲透率;

基于所述樣品的孔隙度和滲透率,以及所述各個(gè)小層的厚度,確定所述目的露頭的實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息;

基于所述實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息,在所述小層上進(jìn)行側(cè)向追蹤處理,確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

優(yōu)選方案中,所述地質(zhì)信息包括:所述目的露頭的巖相界面信息、層序界面信息、巖相尖滅點(diǎn)位置信息、斷點(diǎn)位置信息以及層面產(chǎn)狀信息。

優(yōu)選方案中,所述預(yù)選第一組設(shè)備包括:光探測(cè)與測(cè)量掃描儀、全景拍攝儀器和動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)。

優(yōu)選方案中,所述利用預(yù)選第一組設(shè)備對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行第一數(shù)據(jù)采集處理,確定所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),包括:

獲取所述直立區(qū)露頭的露頭面的尺寸信息;

根據(jù)所述直立區(qū)露頭的露頭面尺寸信息,分別設(shè)定所述光探測(cè)與測(cè)量掃描儀的掃描次數(shù)和重疊范圍,以及設(shè)定所述全景拍攝儀器的掃描次數(shù)和重疊范圍;

基于所述光探測(cè)與測(cè)量掃描儀的掃描次數(shù)和重疊范圍對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行掃描操作,得到所述直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù);

基于所述全景拍攝儀器的掃描次數(shù)和重疊范圍對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行掃描操作,得到所述直立區(qū)露頭的照片信息;

利用所述動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)對(duì)所述直立區(qū)露頭的露頭面上至少三個(gè)預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)進(jìn)行空間定位,得到所述預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)的位置信息;

將所述直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù)、所述直立區(qū)露頭的照片信息以及所述預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)的位置信息,作為所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

優(yōu)選方案中,所述預(yù)選第二組設(shè)備包括:動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)和無人駕駛飛機(jī)。

優(yōu)選方案中,所述利用預(yù)選第二組設(shè)備對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行第二數(shù)據(jù)采集處理,確定所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),包括:

利用所述動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)對(duì)所述平躺區(qū)露頭上多個(gè)預(yù)設(shè)標(biāo)靶進(jìn)行空間定位,得到所述預(yù)設(shè)標(biāo)靶的標(biāo)靶位置信息;

獲取所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn),利用所述動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)對(duì)所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)進(jìn)行空間定位,得到所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)的位置信息;

利用所述無人駕駛飛機(jī)對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行拍攝操作,得到所述平躺區(qū)露頭的照片信息;

將所述預(yù)設(shè)標(biāo)靶的標(biāo)靶位置信息、所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)和所述平躺區(qū)露頭的照片信息,作為所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

優(yōu)選方案中,所述預(yù)選第三組設(shè)備包括:動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)和探地雷達(dá)。

優(yōu)選方案中,所述利用預(yù)選第三組設(shè)備對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行第三數(shù)據(jù)采集處理,確定所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù),包括:

設(shè)定所述地表淺層露頭的地表測(cè)線范圍和地表測(cè)線間隔;

利用所述動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)對(duì)所述地表淺層露頭的地表測(cè)線位置進(jìn)行空間定位,得到所述地表測(cè)線位置信息;

根據(jù)所述地表淺層露頭的地表測(cè)線范圍和地表測(cè)線間隔,利用所述探地雷達(dá)對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行探測(cè)操作,得到所述地表淺層露頭的地層位置信息;

將所述地表測(cè)線位置信息和所述地層位置信息,作為所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:露頭劃分模塊、地質(zhì)信息確定模塊、空間定位數(shù)據(jù)確定裝置、三維數(shù)據(jù)體確定模塊和露頭地質(zhì)模型確定模塊;其中,

所述露頭劃分模塊,用于獲取目的露頭的地形特征信息,根據(jù)所述地形特征信息,將所述目的露頭劃分為至少一個(gè)直立區(qū)露頭、至少一個(gè)平躺區(qū)露頭,以及地表淺層露頭;

所述地質(zhì)信息確定模塊,用于確定所述目的露頭的地質(zhì)信息;

所述空間定位數(shù)據(jù)確定裝置,包括:預(yù)選第一組設(shè)備、預(yù)選第二組設(shè)備和預(yù)選第三組設(shè)備;所述預(yù)選第一組設(shè)備用于對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行第一數(shù)據(jù)采集處理,確定所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù);所述預(yù)選第二組設(shè)備用于對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行第二數(shù)據(jù)采集處理,確定所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù);所述預(yù)選第三組設(shè)備用于對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行第三數(shù)據(jù)采集處理,確定所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù);

所述三維數(shù)據(jù)體確定模塊,用于基于所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,基于所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,以及基于所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體;

所述露頭地質(zhì)模型確定模塊,用于基于所述目的露頭的地質(zhì)信息、所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體、所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體和所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體,確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

優(yōu)選方案中,所述地質(zhì)信息確定模塊,包括:巖相類型特征信息獲取模塊、小層劃分模塊、樣品信息確定模塊、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息確定模塊和側(cè)向追蹤處理模塊;其中,

所述巖相類型特征信息獲取模塊,用于獲取所述目的露頭的巖相類型特征信息;

所述小層劃分確定模塊,用于根據(jù)所述巖相類型特征信息,將所述目的露頭劃分為多個(gè)小層,以及確定各個(gè)小層的厚度;

所述樣品信息確定模塊,用于在每個(gè)所述小層上至少選取一個(gè)樣品,確定所述樣品的孔隙度和滲透率;

所述實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息確定模塊,用于基于所述樣品的孔隙度和滲透率,以及所述各個(gè)小層的厚度,確定所述目的露頭的實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息;

所述側(cè)向追蹤處理模塊,用于基于所述地質(zhì)剖面數(shù)據(jù),在所述小層上進(jìn)行側(cè)向追蹤處理,確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng),根據(jù)目的露頭中不同類型的露頭區(qū)域,例如直立區(qū)露頭、平躺區(qū)露頭以及地表淺層露頭,選取相應(yīng)的設(shè)備對(duì)其進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。針對(duì)出露條件比較復(fù)雜的露頭,采用本申請(qǐng)方法不僅可以采集目的露頭中直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),還可以采集目的露頭中平躺區(qū)露頭和地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù),可以保證所采集的目的露頭的空間定位數(shù)據(jù)的完整性,進(jìn)而可以提高所確定的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的可靠性。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)中記載的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本申請(qǐng)一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法實(shí)施例的流程圖;

圖2是本申請(qǐng)確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng)實(shí)施例的組成結(jié)構(gòu)圖;

圖3是本申請(qǐng)確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng)實(shí)施例中地質(zhì)信息確定模塊的組成結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法及系統(tǒng)。

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本申請(qǐng)中的技術(shù)方案,下面將結(jié)合本申請(qǐng)實(shí)施例中的附圖,對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本申請(qǐng)一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本申請(qǐng)中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都應(yīng)當(dāng)屬于本申請(qǐng)保護(hù)的范圍。

圖1是本申請(qǐng)一種確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法實(shí)施例的流程圖。如圖1所示,所述確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法,包括以下步驟。

步驟S101:獲取目的露頭的地形特征信息,根據(jù)所述地形特征信息,將所述目的露頭劃分為至少一個(gè)直立區(qū)露頭、至少一個(gè)平躺區(qū)露頭,以及地表淺層露頭。

具體地,通過露頭地形考察的方式,可以獲取所述目的露頭的地形特征信息。所述地形特征信息可以包括:所述目的露頭的露頭面與地平面的角度。根據(jù)所述目的露頭的露頭面與地平面的角度,可以將所述目的露頭劃分為至少一個(gè)直立區(qū)露頭、至少一個(gè)平躺區(qū)露頭,以及與地表淺層露頭??梢詫⒙额^面與地平面的角度大于45度且位于地表以上的露頭劃分為所述直立區(qū)露頭??梢詫⒙额^面與地平面的角度小于45度且位于地表以上的露頭劃分為所述平躺區(qū)露頭??梢詫⒙额^面與地平面的角度小于45度且位于地表以下的露頭劃分為所述地表淺層露頭。所述地表淺層露頭的地下深度范圍可以為20米以內(nèi)。

步驟S102:確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

具體地,對(duì)所述目的露頭進(jìn)行地質(zhì)剖面實(shí)測(cè),可以確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。所述目的露頭的地質(zhì)信息可以包括:所述直立區(qū)露頭的地質(zhì)信息、所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息和所述地表淺層的地質(zhì)信息。所述地質(zhì)信息可以包括:所述目的露頭的巖相界面信息、層序界面信息、巖相尖滅點(diǎn)位置信息、斷點(diǎn)位置信息以及層面產(chǎn)狀信息。

在一種實(shí)施方式中,所述對(duì)目的露頭進(jìn)行地質(zhì)剖面實(shí)測(cè),獲取所述目的露頭的地質(zhì)信息,可以包括:可以獲取所述目的露頭的巖相類型特征信息;根據(jù)所述巖相類型特征信息,可以將所述目的露頭劃分為多個(gè)小層,以及可以確定各個(gè)小層的厚度;在每個(gè)所述小層上至少選取一個(gè)樣品,可以確定所述樣品的孔隙度和滲透率;基于所述樣品的孔隙度和滲透率,以及所述各個(gè)小層的厚度,可以確定所述目的露頭的實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息;基于所述實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息,在所述小層上進(jìn)行側(cè)向追蹤處理,可以確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

所述巖相類型特征信息可以包括:巖石結(jié)構(gòu)類型、礦物成分、沉積結(jié)構(gòu)、層厚、巖石顆粒類型與含量,以及巖石顆粒尺寸。所述實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息可以表示所述目的露頭中垂直地面的剖面地質(zhì)信息。

進(jìn)一步地,可以利用放大鏡對(duì)露頭面進(jìn)行觀察,獲取所述目的露頭的巖相類型特征信息。

進(jìn)一步地,所述根據(jù)巖相類型特征信息,將所述目的露頭劃分為多個(gè)小層,可以包括:根據(jù)所述巖相類型特征信息,可以確定所述目的露頭的多種巖相類型;可以將所述目的露頭的多種巖相類型中的一種巖相類型對(duì)應(yīng)的巖層劃分為一個(gè)小層。

需要說明的是,步驟S102可以在步驟S103之前或之后,也可以在步驟S104之前或之后,本申請(qǐng)對(duì)此并不作出限定。

步驟S103:利用預(yù)選第一組設(shè)備對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行第一數(shù)據(jù)采集處理,確定所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)。利用預(yù)選第二組設(shè)備對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行第二數(shù)據(jù)采集處理,確定所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)。利用預(yù)選第三組設(shè)備對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行第三數(shù)據(jù)采集處理,確定所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

光探測(cè)與測(cè)量(Ground-based light detection and ranging,Lidar)掃描儀的工作原理是利用激光雙程旅行時(shí)測(cè)距計(jì)算高程,結(jié)合激光激發(fā)儀坐標(biāo),通過激光束對(duì)露頭的露頭面進(jìn)行逐點(diǎn)逐層掃描,對(duì)露頭上的采樣點(diǎn)進(jìn)行空間定位。該設(shè)備通常放置于地表一支架上,僅能對(duì)前方物體進(jìn)行掃描,因此,可以用于對(duì)整個(gè)直立區(qū)露頭進(jìn)行掃描,無法用于對(duì)平躺區(qū)露頭的上表面進(jìn)行掃描,也無法用于對(duì)整個(gè)地表淺層露頭進(jìn)行掃描。

動(dòng)態(tài)全球衛(wèi)星定位系統(tǒng)(RTK-GPS)可以包括一個(gè)基站和一個(gè)移動(dòng)站,其工作原理是利用基站與衛(wèi)星的交互,校正移動(dòng)站的位置,可以用于對(duì)平躺區(qū)露頭的采樣點(diǎn)和典型界面進(jìn)行空間定位,也可以用于對(duì)直立區(qū)露頭的露頭面上的標(biāo)志點(diǎn)或預(yù)設(shè)標(biāo)靶進(jìn)行空間定位,還可以用于對(duì)地表淺層露頭的地表測(cè)線位置進(jìn)行空間定位。

探地雷達(dá)(Ground-penetrating radar,GPR)的工作原理是:所述GPR中的激發(fā)器激發(fā)出電磁波,所述GPR中的接收器接收所述電磁波。通過激發(fā)器和接收器的平移可以得到地表淺層露頭的二維或三維數(shù)據(jù)體。利用所述GPR可以對(duì)地下約20米范圍內(nèi)的地質(zhì)體的典型界面和采樣點(diǎn)空間定位。

全景拍攝儀器(Gigapan)和無人駕駛飛機(jī)(Unmanned Aerial Vehicle,UAV)都是高分辨率照片采集儀器,可以用于控制照相機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng),以實(shí)現(xiàn)對(duì)位于地表以上的露頭進(jìn)行照片采集。其中,所述Gigapan通常放置于地表一支架上,可以用于對(duì)直立區(qū)露頭的露頭面進(jìn)行拍攝。所述UAV可以用于在空中對(duì)平躺區(qū)露頭的露頭面進(jìn)行拍攝。

所述預(yù)選第一組設(shè)備可以包括:Lidar掃描儀、Gigapan和RTK-GPS。所述預(yù)選第二組設(shè)備可以包括:RTK-GPS和UAV。所述預(yù)選第三組設(shè)備可以包括:RTK-GPS和GPR。

所述利用預(yù)選第一組設(shè)備對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行第一數(shù)據(jù)采集處理,確定所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),具體可以包括:獲取所述直立區(qū)露頭的露頭面的尺寸信息;根據(jù)所述直立區(qū)露頭的露頭面尺寸信息,可以分別設(shè)定所述Lidar掃描儀的掃描次數(shù)和重疊范圍,以及設(shè)定所述Gigapan的掃描次數(shù)和重疊范圍?;谒鯨idar掃描儀的掃描次數(shù)和重疊范圍對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行掃描操作,可以得到所述直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù);基于所述Gigapan的掃描次數(shù)和重疊范圍對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行掃描操作,可以得到所述直立區(qū)露頭的照片信息;利用所述RTK-GPS對(duì)所述直立區(qū)露頭的露頭面上至少三個(gè)預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)進(jìn)行空間定位,可以得到所述預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)的位置信息;可以將所述直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù)、所述直立區(qū)露頭的照片信息以及所述預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)的位置信息,作為所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

所述至少三個(gè)預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)可以不在同一個(gè)平面上。所述預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)可以是所述直立區(qū)露頭的露頭面上具有標(biāo)識(shí)作用的巖石。

進(jìn)一步地,所述采集所述直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù)過程中,所述Lidar掃描儀的相鄰兩次掃描的露頭區(qū)域可以有重疊。所述采集所述直立區(qū)露頭的照片信息過程中,相鄰兩個(gè)照片可以有重疊。所述預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)可以表示所述直立區(qū)露頭的露頭面上具有標(biāo)識(shí)作用的控制點(diǎn)。

所述利用預(yù)選第二組設(shè)備對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行第二數(shù)據(jù)采集處理,確定所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),可以包括:利用所述RTK-GPS對(duì)所述平躺區(qū)露頭上多個(gè)預(yù)設(shè)標(biāo)靶進(jìn)行空間定位,可以得到所述預(yù)設(shè)標(biāo)靶的標(biāo)靶位置信息;可以獲取所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn),利用所述RTK-GPS對(duì)所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)進(jìn)行空間定位,可以得到所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)的位置信息;利用所述UAV對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行拍攝操作,可以得到所述平躺區(qū)露頭的照片信息;可以將所述預(yù)設(shè)標(biāo)靶的標(biāo)靶位置信息、所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)的位置信息和所述平躺區(qū)露頭的照片信息,作為所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)。所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)可以包括:所述平躺區(qū)露頭的取樣點(diǎn)、巖相界面點(diǎn)、層序界面點(diǎn)和斷點(diǎn)。

所述預(yù)設(shè)標(biāo)靶可以是所述平躺區(qū)露頭的露頭面上預(yù)先設(shè)置的具有標(biāo)識(shí)作用的標(biāo)靶。

進(jìn)一步地,可以通過露頭地質(zhì)勘探的方式,獲取所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息點(diǎn)。

所述利用預(yù)選第三組設(shè)備對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行第三數(shù)據(jù)采集處理,確定所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù),可以包括:可以設(shè)定所述地表淺層露頭的地表測(cè)線范圍和地表測(cè)線間隔;利用所述RTK-GPS對(duì)所述地表淺層露頭的地表測(cè)線位置進(jìn)行空間定位,可以得到所述地表測(cè)線位置信息;根據(jù)所述地表淺層露頭的地表測(cè)線范圍和地表測(cè)線間隔,利用所述GPR對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行探測(cè)操作,可以得到所述地表淺層露頭的地層位置信息;可以將所述地表測(cè)線位置信息和所述地層位置信息,作為所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

步驟S104:基于所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,基于所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,以及基于所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體。

具體地,所述基于直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,可以包括:可以對(duì)所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)中直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行第一拼接處理;可以對(duì)所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)中直立區(qū)露頭的照片信息進(jìn)行第二拼接處理;基于所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)中預(yù)設(shè)標(biāo)志點(diǎn)的位置信息、所述第一拼接處理后的掃描數(shù)據(jù)和所述第二拼接處理后的照片信息,可以確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體。所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體的坐標(biāo)系與所述RTK-GPS的坐標(biāo)系相同。

在一種實(shí)施方式中,所述第一拼接處理,可以包括:針對(duì)所述直立區(qū)露頭的掃描數(shù)據(jù),可以基于其相鄰兩次掃描的露頭重疊區(qū)域中三個(gè)特征點(diǎn)的掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行拼接處理。

在一種實(shí)施方式中,所述第二拼接處理,可以包括:針對(duì)所述直立區(qū)露頭的照片信息,可以基于其相鄰兩次拍攝的照片中重疊的照片信息進(jìn)行拼接處理。

所述基于平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,可以包括:可以對(duì)所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)中平躺區(qū)露頭的照片信息進(jìn)行第三拼接處理;基于所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)中預(yù)設(shè)標(biāo)靶的標(biāo)靶位置信息和所述第三拼接處理后的照片信息,可以確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體。所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體的坐標(biāo)系與所述RTK-GPS的坐標(biāo)系相同。

在一種實(shí)施方式中,所述第三拼接處理,可以包括:針對(duì)所述平躺區(qū)露頭的照片信息,可以基于其相鄰兩次拍攝的照片中重疊的照片信息進(jìn)行拼接處理。

所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)是利用GPR直接得到的,可以直接將所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)作為所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體。

步驟S105:基于所述目的露頭的地質(zhì)信息、所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體、所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體和所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體,確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

具體地,基于所述目的露頭的地質(zhì)信息中直立區(qū)露頭的地質(zhì)信息,可以對(duì)所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行第一地質(zhì)標(biāo)定處理,可以確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)?;谒瞿康穆额^的地質(zhì)信息中平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息,可以對(duì)所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行第二地質(zhì)標(biāo)定處理,可以確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)。基于所述目的露頭的地質(zhì)信息中地表淺層露頭的地質(zhì)信息,可以對(duì)所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行第三地質(zhì)標(biāo)定處理,可以確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)?;谒鲋绷^(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)、所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)和所述地表淺層露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù),可以確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

進(jìn)一步地,所述基于目的露頭的地質(zhì)信息中直立區(qū)露頭的地質(zhì)信息,對(duì)所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行第一地質(zhì)標(biāo)定處理,確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù),可以包括:基于所述直立區(qū)露頭的地質(zhì)信息中斷層位置信息和層面產(chǎn)狀信息,對(duì)所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行追蹤解釋處理,可以確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地,所述基于目的露頭的地質(zhì)信息中平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息,對(duì)所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行第二地質(zhì)標(biāo)定處理,確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù),可以包括:基于所述平躺區(qū)露頭的地質(zhì)信息中斷點(diǎn)位置信息和層面位置信息,對(duì)所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行匯編處理,可以確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地,所述基于所述目的露頭的地質(zhì)信息中地表淺層露頭的地質(zhì)信息,對(duì)所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行第三地質(zhì)標(biāo)定處理,確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù),可以包括:基于所述地表淺層露頭的地質(zhì)信息中巖相界面信息、層序界面信息和巖相尖滅點(diǎn)位置信息,對(duì)所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體進(jìn)行層面結(jié)構(gòu)解釋處理,可以確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地,所述基于直立區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)、平躺區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)和地表淺層露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù),確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型,可以包括:將所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)、所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)和所述地表淺層露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)數(shù)據(jù)進(jìn)行層面線整合處理,可以確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

所述確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法實(shí)施例,根據(jù)目的露頭中不同類型的露頭區(qū)域,例如直立區(qū)露頭、平躺區(qū)露頭以及地表淺層露頭,選取相應(yīng)的設(shè)備對(duì)其進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。針對(duì)出露條件比較復(fù)雜的露頭,采用本申請(qǐng)方法不僅可以采集目的露頭中直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù),還可以采集目的露頭中平躺區(qū)露頭和地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù),可以保證所采集的目的露頭的空間定位數(shù)據(jù)的完整性,進(jìn)而可以提高所確定的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的可靠性。

圖2是本申請(qǐng)確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng)實(shí)施例的組成結(jié)構(gòu)圖。如圖2所示,所述確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng),可以包括:露頭劃分模塊100、地質(zhì)信息確定模塊200、空間定位數(shù)據(jù)確定裝置300、三維數(shù)據(jù)體確定模塊400和露頭地質(zhì)模型確定模塊500。

所述露頭劃分模塊100,可以用于獲取目的露頭的地形特征信息,根據(jù)所述地形特征信息,可以將所述目的露頭劃分為至少一個(gè)直立區(qū)露頭、至少一個(gè)平躺區(qū)露頭,以及地表淺層露頭。

所述地質(zhì)信息確定模塊200,可以用于確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

所述空間定位數(shù)據(jù)確定裝置300,可以包括:預(yù)選第一組設(shè)備、預(yù)選第二組設(shè)備和預(yù)選第三組設(shè)備;所述預(yù)選第一組設(shè)備可以用于對(duì)所述直立區(qū)露頭進(jìn)行第一數(shù)據(jù)采集處理,可以確定所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù);所述預(yù)選第二組設(shè)備可以用于對(duì)所述平躺區(qū)露頭進(jìn)行第二數(shù)據(jù)采集處理,可以確定所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù);所述預(yù)選第三組設(shè)備可以用于對(duì)所述地表淺層露頭進(jìn)行第三數(shù)據(jù)采集處理,可以確定所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)。

所述三維數(shù)據(jù)體確定模塊400,可以用于基于所述直立區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)確定所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,基于所述平躺區(qū)露頭的空間定位數(shù)據(jù)可以確定所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體,以及基于所述地表淺層露頭的空間定位數(shù)據(jù)可以確定所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體。

所述露頭地質(zhì)模型確定模塊500,可以用于基于所述目的露頭的地質(zhì)信息、所述直立區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體、所述平躺區(qū)露頭的三維數(shù)據(jù)體和所述地表淺層露頭的三維數(shù)據(jù)體,確定所述目的露頭的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型。

圖3是本申請(qǐng)確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng)實(shí)施例中地質(zhì)信息確定模塊的組成結(jié)構(gòu)圖。如圖3所示,圖2中地質(zhì)信息確定模塊200,包括:巖相類型特征信息獲取模塊210、小層劃分模塊220、樣品信息確定模塊230、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息確定模塊240和側(cè)向追蹤處理模塊250。

所述巖相類型特征信息獲取模塊210,可以用于獲取所述目的露頭的巖相類型特征信息。

所述小層劃分確定模塊220,可以用于根據(jù)所述巖相類型特征信息,將所述目的露頭劃分為多個(gè)小層,以及確定各個(gè)小層的厚度。

所述樣品信息確定模塊230,可以用于在每個(gè)所述小層上至少選取一個(gè)樣品,確定所述樣品的孔隙度和滲透率。

所述實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息確定模塊240,可以用于基于所述樣品的孔隙度和滲透率,以及所述各個(gè)小層的厚度,確定所述目的露頭的實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面信息。

所述側(cè)向追蹤處理模塊250,可以用于基于所述地質(zhì)剖面數(shù)據(jù),在所述小層上進(jìn)行側(cè)向追蹤處理,可以確定所述目的露頭的地質(zhì)信息。

所述確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的系統(tǒng)實(shí)施例與所述確定三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的方法實(shí)施例相對(duì)應(yīng),可以保證所采集的目的露頭的空間定位數(shù)據(jù)的完整性,進(jìn)而可以提高所確定的三維數(shù)字露頭地質(zhì)模型的可靠性。

在20世紀(jì)90年代,對(duì)于一個(gè)技術(shù)的改進(jìn)可以很明顯地區(qū)分是硬件上的改進(jìn)(例如,對(duì)二極管、晶體管、開關(guān)等電路結(jié)構(gòu)的改進(jìn))還是軟件上的改進(jìn)(對(duì)于方法流程的改進(jìn))。然而,隨著技術(shù)的發(fā)展,當(dāng)今的很多方法流程的改進(jìn)已經(jīng)可以視為硬件電路結(jié)構(gòu)的直接改進(jìn)。設(shè)計(jì)人員幾乎都通過將改進(jìn)的方法流程編程到硬件電路中來得到相應(yīng)的硬件電路結(jié)構(gòu)。因此,不能說一個(gè)方法流程的改進(jìn)就不能用硬件實(shí)體模塊來實(shí)現(xiàn)。例如,可編程邏輯器件(Programmable Logic Device,PLD)(例如現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(Field Programmable Gate Array,F(xiàn)PGA))就是這樣一種集成電路,其邏輯功能由用戶對(duì)器件編程來確定。由設(shè)計(jì)人員自行編程來把一個(gè)數(shù)字系統(tǒng)“集成”在一片PLD上,而不需要請(qǐng)芯片制造廠商來設(shè)計(jì)和制作專用的集成電路芯片2。而且,如今,取代手工地制作集成電路芯片,這種編程也多半改用“邏輯編譯器(logic compiler)”軟件來實(shí)現(xiàn),它與程序開發(fā)撰寫時(shí)所用的軟件編譯器相類似,而要編譯之前的原始代碼也得用特定的編程語言來撰寫,此稱之為硬件描述語言(Hardware Description Language,HDL),而HDL也并非僅有一種,而是有許多種,如ABEL(Advanced Boolean Expression Language)、AHDL(Altera Hardware Description Language)、Confluence、CUPL(Cornell University Programming Language)、HDCal、JHDL(Java Hardware Description Language)、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL(Ruby Hardware Description Language)等,目前最普遍使用的是VHDL(Very-High-Speed Integrated Circuit Hardware Description Language)與Verilog2。本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該清楚,只需要將方法流程用上述幾種硬件描述語言稍作邏輯編程并編程到集成電路中,就可以很容易得到實(shí)現(xiàn)該邏輯方法流程的硬件電路。

控制器可以按任何適當(dāng)?shù)姆绞綄?shí)現(xiàn),例如,控制器可以采取例如微處理器或處理器以及存儲(chǔ)可由該(微)處理器執(zhí)行的計(jì)算機(jī)可讀程序代碼(例如軟件或固件)的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)、邏輯門、開關(guān)、專用集成電路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、可編程邏輯控制器和嵌入微控制器的形式,控制器的例子包括但不限于以下微控制器:ARC 625D、Atmel AT91SAM、Microchip PIC18F26K20以及Silicone Labs C8051F320,存儲(chǔ)器控制器還可以被實(shí)現(xiàn)為存儲(chǔ)器的控制邏輯的一部分。

本領(lǐng)域技術(shù)人員也知道,除了以純計(jì)算機(jī)可讀程序代碼方式實(shí)現(xiàn)控制器以外,完全可以通過將方法步驟進(jìn)行邏輯編程來使得控制器以邏輯門、開關(guān)、專用集成電路、可編程邏輯控制器和嵌入微控制器等的形式來實(shí)現(xiàn)相同功能。因此這種控制器可以被認(rèn)為是一種硬件部件,而對(duì)其內(nèi)包括的用于實(shí)現(xiàn)各種功能的裝置也可以視為硬件部件內(nèi)的結(jié)構(gòu)?;蛘呱踔?,可以將用于實(shí)現(xiàn)各種功能的裝置視為既可以是實(shí)現(xiàn)方法的軟件模塊又可以是硬件部件內(nèi)的結(jié)構(gòu)。

上述實(shí)施例闡明的系統(tǒng)、裝置、模塊或單元,具體可以由計(jì)算機(jī)芯片或?qū)嶓w實(shí)現(xiàn),或者由具有某種功能的產(chǎn)品來實(shí)現(xiàn)。

為了描述的方便,描述以上裝置時(shí)以功能分為各種單元分別描述。當(dāng)然,在實(shí)施本申請(qǐng)時(shí)可以把各單元的功能在同一個(gè)或多個(gè)軟件和/或硬件中實(shí)現(xiàn)。

通過以上的實(shí)施方式的描述可知,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本申請(qǐng)可借助軟件加必需的通用硬件平臺(tái)的方式來實(shí)現(xiàn)?;谶@樣的理解,本申請(qǐng)的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來,在一個(gè)典型的配置中,計(jì)算設(shè)備包括一個(gè)或多個(gè)處理器(CPU)、輸入/輸出接口、網(wǎng)絡(luò)接口和內(nèi)存。該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品可以包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī),服務(wù)器,或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本申請(qǐng)各個(gè)實(shí)施例或者實(shí)施例的某些部分所述的方法。該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品可以存儲(chǔ)在內(nèi)存中,內(nèi)存可能包括計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中的非永久性存儲(chǔ)器,隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)和/或非易失性內(nèi)存等形式,如只讀存儲(chǔ)器(ROM)或閃存(flash RAM)。內(nèi)存是計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)的示例。計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)包括永久性和非永久性、可移動(dòng)和非可移動(dòng)媒體可以由任何方法或技術(shù)來實(shí)現(xiàn)信息存儲(chǔ)。信息可以是計(jì)算機(jī)可讀指令、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、程序的模塊或其他數(shù)據(jù)。計(jì)算機(jī)的存儲(chǔ)介質(zhì)的例子包括,但不限于相變內(nèi)存(PRAM)、靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)、其他類型的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)、只讀存儲(chǔ)器(ROM)、電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)、快閃記憶體或其他內(nèi)存技術(shù)、只讀光盤只讀存儲(chǔ)器(CD-ROM)、數(shù)字多功能光盤(DVD)或其他光學(xué)存儲(chǔ)、磁盒式磁帶,磁帶磁磁盤存儲(chǔ)或其他磁性存儲(chǔ)設(shè)備或任何其他非傳輸介質(zhì),可用于存儲(chǔ)可以被計(jì)算設(shè)備訪問的信息。按照本文中的界定,計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)不包括短暫電腦可讀媒體(transitory media),如調(diào)制的數(shù)據(jù)信號(hào)和載波。

本說明書中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述,各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見即可,每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處。尤其,對(duì)于系統(tǒng)實(shí)施例而言,由于其基本相似于方法實(shí)施例,所以描述的比較簡(jiǎn)單,相關(guān)之處參見方法實(shí)施例的部分說明即可。

本申請(qǐng)可用于眾多通用或?qū)S玫挠?jì)算機(jī)系統(tǒng)環(huán)境或配置中。例如:個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器計(jì)算機(jī)、手持設(shè)備或便攜式設(shè)備、平板型設(shè)備、多處理器系統(tǒng)、基于微處理器的系統(tǒng)、置頂盒、可編程的消費(fèi)電子設(shè)備、網(wǎng)絡(luò)PC、小型計(jì)算機(jī)、大型計(jì)算機(jī)、包括以上任何系統(tǒng)或設(shè)備的分布式計(jì)算環(huán)境等等。

本申請(qǐng)可以在由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的一般上下文中描述,例如程序模塊。一般地,程序模塊包括執(zhí)行特定任務(wù)或?qū)崿F(xiàn)特定抽象數(shù)據(jù)類型的例程、程序、對(duì)象、組件、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)等等。也可以在分布式計(jì)算環(huán)境中實(shí)踐本申請(qǐng),在這些分布式計(jì)算環(huán)境中,由通過通信網(wǎng)絡(luò)而被連接的遠(yuǎn)程處理設(shè)備來執(zhí)行任務(wù)。在分布式計(jì)算環(huán)境中,程序模塊可以位于包括存儲(chǔ)設(shè)備在內(nèi)的本地和遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)中。

雖然通過實(shí)施例描繪了本申請(qǐng),本領(lǐng)域普通技術(shù)人員知道,本申請(qǐng)有許多變形和變化而不脫離本申請(qǐng)的精神,希望所附的權(quán)利要求包括這些變形和變化而不脫離本申請(qǐng)的精神。

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