技術(shù)特征：

1.一種測試高溫條件下光照強度的光強儀，其特征在于它包括測試電路、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和圖像處理系統(tǒng)，其中：

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)用于采集測試電路的輸出電壓值U并將該電壓值U傳送給圖像處理系統(tǒng)；

測試電路為兩端接測試探頭的層壓件單元，所述層壓件單元由層壓片和電阻R串聯(lián)而成，兩端的測試探頭輸出電壓值U；

圖像處理系統(tǒng)用于輸出光照強度隨時間變化的連續(xù)曲線。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光強儀，其特征在于測試電路裝置在透明恒溫箱中。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光強儀，其特征在于透明恒溫箱溫度保持25℃。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光強儀，其特征在于數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)還連接爐溫儀，用于采集實時溫度T。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的光強儀，其特征在于所述層壓件單元由至少三個層壓件子單元并聯(lián)而成，所述層壓件子單元由層壓片和電阻串聯(lián)而成；所述層壓片由156.75*156.75的單晶PERC電池片沿平行于細柵線方向切割而成，切割線與細柵線不重合。

6.一種測試高溫條件下光照強度的方法，基于權(quán)利要求1所述的光強儀，其特征在于它包括以下步驟：

S1：在標準測試條件下，測試出測試電路兩端的電壓值U₀，標準測試條件中的光照強度為I₀；

S2：將測試電路放置于待測環(huán)境中，測量測試電路兩端的實時電壓值U并輸出給圖像處理系統(tǒng)；

S3：圖像處理系統(tǒng)計算實時光照強度I＝I₀*U/U₀，并輸出光照強度隨時間變化的連續(xù)曲線。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所述標準測試條件中，I₀＝1000W/M²。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所述標準測試條件的溫度為25℃。

9.一種測試高溫條件下光照強度的方法，基于權(quán)利要求3所述的光強儀，其特征在于它包括以下步驟：

S1：測試在25°環(huán)境溫度下，不同光照強度I₀所對應(yīng)的測試電路兩端電壓U₀，并存儲于數(shù)據(jù)庫；

S2：測試電路保持環(huán)境溫度為25°，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集測試電路兩端電壓U并輸出給圖像處理系統(tǒng)；

S3：圖像處理系統(tǒng)將電壓U與數(shù)據(jù)庫中存儲數(shù)據(jù)進行比對，獲得實時光照強度I，并輸出光照強度隨時間變化的連續(xù)曲線。

10.一種測試高溫條件下光照強度的方法，基于權(quán)利要求4所述的光強儀，其特征在于它包括以下步驟：

S1：測試在不同環(huán)境溫度T₀下，不同光照強度I₀所對應(yīng)的測試電路兩端電壓U₀，并存儲于數(shù)據(jù)庫；

S2：通過爐溫儀采集測試電路的實時環(huán)境溫度T，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集測試電路兩端電壓U并輸出給圖像處理系統(tǒng)；

S3：圖像處理系統(tǒng)將電壓U、溫度T與數(shù)據(jù)庫中存儲數(shù)據(jù)進行比對，獲得實時光照強度I，并輸出光照強度隨時間變化的連續(xù)曲線。