技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種勢(shì)阱電壓可調(diào)的顆粒物粒徑譜測(cè)量裝置，包括顆粒物檢測(cè)腔、采樣氣體入口、絕緣塊、電離針、電離高壓源、勢(shì)阱電壓器、勢(shì)阱高壓源、法拉第杯、多孔金屬電極、出氣口、靜電計(jì)、真空泵、控制器、顯示器和存儲(chǔ)器，所述電離針接入電離高壓源的高壓后，形成電暈荷電區(qū)，所述勢(shì)阱電壓器接入勢(shì)阱高壓源的高壓后，形成顆粒物分級(jí)區(qū)，所述法拉第杯與靜電計(jì)構(gòu)成電流檢測(cè)區(qū)。本發(fā)明還提供一種勢(shì)阱電壓可調(diào)的顆粒物粒徑譜測(cè)量裝置的測(cè)量方法。本發(fā)明的測(cè)量裝置體積小、集成度高、數(shù)字化顯示，測(cè)量方法原理簡(jiǎn)單，為實(shí)現(xiàn)氣溶膠顆粒物粒徑譜的在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)提供了技術(shù)保障。

技術(shù)研發(fā)人員：王煥欽;曹陽(yáng)陽(yáng);秦飛虎;桂華僑;劉建國(guó);余同柱;孫強(qiáng);呂亮;王杰;程寅;楊義新;張礁石
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院
文檔號(hào)碼：201611052810
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.25
技術(shù)公布日：2017.05.31