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基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法與流程

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基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法與流程

本發(fā)明涉及一種輻射監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法。



背景技術(shù):

目前國(guó)內(nèi)外主要應(yīng)用的基準(zhǔn)電離室包括自由空氣電離室和石墨空腔電離室。在250kV~600kV X射線(xiàn)空氣比釋動(dòng)能基準(zhǔn)建立中,當(dāng)X射線(xiàn)管電壓超過(guò)400kV時(shí),次級(jí)電子間距的增加使得所需自由空氣電離室的電極距非常大,由于自由空氣電離室在測(cè)量較高能量段射線(xiàn)方面的局限性,現(xiàn)欲使用石墨空腔電離室作為基準(zhǔn)電離室。

電離室檢測(cè)系統(tǒng)是利用電離輻射的電離效應(yīng)測(cè)量電離輻射的探測(cè)器。在應(yīng)用電離室檢測(cè)系統(tǒng)的過(guò)程中,附加濾過(guò)片的作用是對(duì)入射的X射線(xiàn)進(jìn)行過(guò)濾,過(guò)濾后的X射線(xiàn)射入石墨電離室,使電離室內(nèi)空氣電離產(chǎn)生電離電流。石墨電離室的位置不能進(jìn)行精確調(diào)節(jié),從而導(dǎo)致現(xiàn)有電離室檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量精度較低。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法,通過(guò)多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置能夠?qū)﹄婋x室裝置的位置進(jìn)行精確調(diào)節(jié),從而提高了電離室檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量精度,可操控性高。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法,所述基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法包括:

將X光機(jī)設(shè)置于X光機(jī)平臺(tái)上;

將附加濾過(guò)片插接于濾過(guò)裝置上;

調(diào)節(jié)所述濾過(guò)裝置,使所述附加濾過(guò)片中心與X光機(jī)的X光出射位置在同一水平位置;

控制第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)第一底座在第一導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置;并且控制第二電機(jī)驅(qū)動(dòng)第二底座在第二導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置;

調(diào)節(jié)升降裝置和所述升降裝置上的旋轉(zhuǎn)臺(tái),使設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)上的電離室裝置的接收射線(xiàn)位置與所述附加濾過(guò)片中心、X光機(jī)的X光出射位置在同一條直線(xiàn)上;

所述X光機(jī)產(chǎn)生初始X射線(xiàn)束;

所述初始X射線(xiàn)束經(jīng)過(guò)附加濾過(guò)片后,對(duì)低于第一閾值能量的射線(xiàn)進(jìn)行濾除;

所述電離室裝置接收過(guò)濾后的X射線(xiàn)束,所述過(guò)濾后的X射線(xiàn)束使所述電離室裝置內(nèi)的空氣發(fā)生電離,產(chǎn)生電離電流;

靜電計(jì)對(duì)電離電流進(jìn)行檢測(cè),得到電離電流值。

優(yōu)選的,所述濾過(guò)裝置具有濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán),所述濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)有包括N個(gè)濾光孔,所述N為大于1的正整數(shù),所述附加濾過(guò)片插接于所述濾光孔中;所述濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)由濾過(guò)旋轉(zhuǎn)電機(jī)驅(qū)動(dòng);

所述調(diào)節(jié)所述濾過(guò)裝置具體為:所述濾過(guò)旋轉(zhuǎn)電機(jī)接收濾過(guò)旋轉(zhuǎn)信號(hào),驅(qū)動(dòng)所述濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)所述濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)的附加濾過(guò)片旋轉(zhuǎn)至工作位。

優(yōu)選的,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)電機(jī)、固定部和旋轉(zhuǎn)盤(pán);所述旋轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)置于所述固定部上;

所述調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臺(tái)具體為:所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)電機(jī)接收旋轉(zhuǎn)信號(hào),驅(qū)動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)盤(pán)在所述固定部上旋轉(zhuǎn)。

優(yōu)選的,所述第一導(dǎo)軌包括:固定平臺(tái)、兩條滑軌、第一滑塊和絲杠;

所述兩條滑軌平行設(shè)置于所述固定平臺(tái)上;所述絲杠設(shè)置于所述兩條滑軌中間,并平行于所述兩條滑軌;所述第一滑塊設(shè)置于所述絲杠上并與第一底座的底部相連;

所述控制第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述第一底座在第一導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置具體為:所述第一電機(jī)接收第一位移信號(hào),驅(qū)動(dòng)所述絲杠轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)所述第一滑塊沿所述絲杠運(yùn)動(dòng)至工作位置。

優(yōu)選的,在所述靜電計(jì)對(duì)電離電流進(jìn)行檢測(cè)之后,所述檢測(cè)方法還包括:改變所述初始X射線(xiàn)束的強(qiáng)度和平均能量,再次進(jìn)行檢測(cè)。

進(jìn)一步優(yōu)選的,在所述靜電計(jì)對(duì)電離電流進(jìn)行檢測(cè)之后,所述檢測(cè)方法還包括:旋轉(zhuǎn)所述濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán),更換處于工作位的附加濾過(guò)片,再次進(jìn)行檢測(cè)。

本發(fā)明實(shí)施例提供的基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法,通過(guò)多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置能夠?qū)﹄婋x室裝置的位置進(jìn)行精確調(diào)節(jié),從而提高了電離室檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量精度,可操控性高。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的電離室系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面通過(guò)附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

本發(fā)明實(shí)施例提供的基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法,執(zhí)行于電離室系統(tǒng)中,所述電離室系統(tǒng)包括多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置和濾過(guò)裝置,為了便于理解本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)方法,首先結(jié)合圖1,對(duì)發(fā)明檢測(cè)方法所基于的電離室系統(tǒng)進(jìn)行介紹。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的電離室系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示,本發(fā)明實(shí)施例的電離室系統(tǒng)包括:多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置、濾過(guò)裝置(圖中未示出)、X光機(jī)平臺(tái)(圖中未示出)、電離室裝置(圖中未示出)、附加濾過(guò)片(圖中未示出)和X光機(jī)(圖中未示出)。

下面首先對(duì)多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置進(jìn)行詳述:

多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置用于放置電離室裝置(圖中未示出),通過(guò)調(diào)節(jié)多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置能夠?qū)﹄婋x室裝置的位置進(jìn)行精確調(diào)整。

多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置包括:移動(dòng)基座1、升降裝置2、第一導(dǎo)軌3、第一底座4、第二導(dǎo)軌5、第二底座6和旋轉(zhuǎn)臺(tái)7。

移動(dòng)基座1包括基座平臺(tái)11和多個(gè)支撐柱12;其中,所述多個(gè)為大于等于四個(gè);基座平臺(tái)11架設(shè)在多個(gè)支撐柱12上,具體的,基座平臺(tái)11的底面與多個(gè)支撐柱12的一端固定連接,多個(gè)支撐柱12平行設(shè)置,且與基座平臺(tái)11垂直;為了保證移動(dòng)基座1的穩(wěn)定性,在相鄰兩個(gè)支撐柱12之間還設(shè)有連接板13,在連接板13的下方還安裝了滑輪15,可以實(shí)現(xiàn)移動(dòng)基座1的任意角度的旋轉(zhuǎn)和移動(dòng)。此外,每個(gè)支撐柱12的底部都設(shè)有固定部14,固定部14與支撐柱12之間通過(guò)伸縮部件(圖中未示出)連接,伸縮部件可以對(duì)固定部14和支撐柱12底部之間的距離進(jìn)行調(diào)節(jié),從而調(diào)節(jié)移動(dòng)基座1的高度。當(dāng)移動(dòng)基座1運(yùn)動(dòng)到合適位置的時(shí)候,可以通過(guò)伸縮部件調(diào)節(jié)移動(dòng)基座1的高度,使固定部14的底面低于滑輪15的地面,這樣滑輪15不在與地面接觸,不能進(jìn)行滑動(dòng),從而對(duì)移動(dòng)基座1的位置進(jìn)行固定;當(dāng)需要對(duì)移動(dòng)基座1的位置進(jìn)行調(diào)整時(shí),通過(guò)伸縮部件調(diào)節(jié)移動(dòng)基座1的高度,使固定部14的底面高于滑輪15的地面,這樣滑輪15與地面接觸,可以通過(guò)滑輪15的轉(zhuǎn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)移動(dòng)基座1任意方向上的旋轉(zhuǎn)和位移。

升降裝置2設(shè)置在移動(dòng)基座1上,包括第一固定座21、升降平臺(tái)22、第二固定座23、運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24、升降驅(qū)動(dòng)電機(jī)25和升降驅(qū)動(dòng)桿26;其中,第一固定座21與基座平臺(tái)11相接,第一固定座21上設(shè)有多個(gè)第一固定柱211,第二固定座23架設(shè)在多個(gè)第一固定柱211上,第一固定座21與第二固定座23之間的距離是固定的,即為第一固定柱211的長(zhǎng)度,因此第一固定座21與第二固定座23是相對(duì)靜止的。

升降平臺(tái)22設(shè)置在第一固定座21與第二固定座23之間,升降平臺(tái)22具有第一螺紋孔和多個(gè)第二通孔;其中,第二通孔的數(shù)量與第一固定柱211相同,且第二通孔的位置與第一固定柱211的位置相對(duì)應(yīng),升降平臺(tái)22通過(guò)第二通孔套接在第一固定柱211上;升降驅(qū)動(dòng)桿26通過(guò)第一螺紋孔穿設(shè)于升降平臺(tái)22;升降驅(qū)動(dòng)電機(jī)25驅(qū)動(dòng)升降驅(qū)動(dòng)桿26轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)升降平臺(tái)22在垂直于第一固定座21所在平面的方向運(yùn)動(dòng)。

運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24與升降平臺(tái)22同步運(yùn)動(dòng),具體的,在升降平臺(tái)22上設(shè)有多個(gè)第二固定柱221,第二固定座23上具有多個(gè)第三通孔,第三通孔的數(shù)量、位置與第二固定柱221相對(duì)應(yīng),多個(gè)第二固定柱221經(jīng)由多個(gè)第三通孔穿設(shè)于第二固定座23,運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24架設(shè)在第二固定柱221上,第二固定柱221的一端與升降平臺(tái)22的頂面相連,另一端與運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24的底面相連,因此運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24與升降平臺(tái)22之間的距離是固定的,即為第二固定柱221的長(zhǎng)度,運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24與升降平臺(tái)22是同步運(yùn)動(dòng)的。當(dāng)升降驅(qū)動(dòng)電機(jī)25驅(qū)動(dòng)升降驅(qū)動(dòng)桿26轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)升降平臺(tái)22在垂直于第一固定座21所在平面的方向運(yùn)動(dòng)時(shí),升降平臺(tái)22上的第二固定柱221隨升降平臺(tái)22運(yùn)動(dòng),從而帶動(dòng)運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24隨升降平臺(tái)22同步在垂直于第一固定座21所在平面的方向運(yùn)動(dòng),此時(shí)第一固定座21與第二固定座23仍是靜止?fàn)顟B(tài)。

第一導(dǎo)軌3安裝在運(yùn)動(dòng)平臺(tái)24上,包括固定平臺(tái)、兩條滑軌、第一滑塊和絲杠;兩條滑軌平行設(shè)置于固定平臺(tái)上;兩條滑軌中間設(shè)有絲杠,絲杠平行于兩條滑軌,由第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng);絲杠上設(shè)有第一滑塊,隨絲杠的轉(zhuǎn)動(dòng)沿絲杠運(yùn)動(dòng)。

第一底座4平行第一導(dǎo)軌3所在平面并滑設(shè)在第一導(dǎo)軌3上,沿第一導(dǎo)軌3方向運(yùn)動(dòng);具體的,第一底座4的底面兩側(cè)設(shè)有兩排第二滑塊,每排可以設(shè)有兩個(gè)第二滑塊,其中,第二滑塊的數(shù)量是根據(jù)第一底座4的大小進(jìn)行設(shè)定的;第二滑塊滑分別滑設(shè)在第一導(dǎo)軌3的兩條滑軌上,并且兩排第二滑塊之間的距離與兩條滑軌之間的距離相等;第一底座4的底面與第一滑塊固定連接,第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)絲杠運(yùn)動(dòng),帶動(dòng)第一滑塊沿絲杠運(yùn)動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)第一底座4沿第一導(dǎo)軌3運(yùn)動(dòng)。

第二導(dǎo)軌5,安裝在第一底座4上,與第一導(dǎo)軌3方向垂直。第二導(dǎo)軌5的結(jié)構(gòu)、工作原理與第一導(dǎo)軌3相同,此處不再贅述。

第二底座6,平行第一底座4滑設(shè)在第二導(dǎo)軌5上,由第二電機(jī)驅(qū)動(dòng),沿第二導(dǎo)軌5方向運(yùn)動(dòng)。第二底座6的結(jié)構(gòu)與第一底座4相同,此處不再贅述。

為了能夠進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)所述多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置的精確調(diào)節(jié),所述多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置還包括旋轉(zhuǎn)臺(tái)7,旋轉(zhuǎn)臺(tái)7固定在第二底座6上,旋轉(zhuǎn)臺(tái)7的具體實(shí)現(xiàn)可以包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)電機(jī)、旋轉(zhuǎn)底座和旋轉(zhuǎn)盤(pán)(圖中未示出);旋轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)置在旋轉(zhuǎn)底座上;旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)盤(pán)在旋轉(zhuǎn)底座上旋轉(zhuǎn)。

下面基于上述電離室系統(tǒng),介紹本發(fā)明實(shí)施例的電離室系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法,如圖2所示,本發(fā)明實(shí)施例的電離室系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法包括如下步驟:

步驟110,將X光機(jī)設(shè)置于X光機(jī)平臺(tái)上。

具體的,通過(guò)X光機(jī)平臺(tái)上的X光機(jī)夾具將X光機(jī)固定在X光機(jī)平臺(tái)上。

步驟120,將附加濾過(guò)片插接于濾過(guò)裝置上。

具體的,濾過(guò)裝置具有濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán),濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)有包括N個(gè)濾光孔,其中N為大于1的正整數(shù);在不同的濾光孔中將插接不同厚度的附加濾過(guò)片。

步驟130,調(diào)節(jié)濾過(guò)裝置,使附加濾過(guò)片中心與X光機(jī)的X光出射位置在同一水平位置。

在X光機(jī)平臺(tái)上設(shè)有第一激光發(fā)射器,濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)上設(shè)有第一標(biāo)記位置,第一標(biāo)記位置設(shè)置在相鄰兩個(gè)濾光孔中間,所述第一標(biāo)記位置是根據(jù)第一激光發(fā)射器的位置、X光機(jī)的X光出射位置的位置和附加濾過(guò)片位置進(jìn)行設(shè)計(jì)的,當(dāng)?shù)谝患す獍l(fā)射器發(fā)射的激光射在濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)的第一標(biāo)記位置時(shí),附加濾過(guò)片處于工作位,此時(shí)附加濾過(guò)片中心與的X光出射位置在同一水平位置。

具體的,濾過(guò)旋轉(zhuǎn)電機(jī)接收濾過(guò)旋轉(zhuǎn)信號(hào),驅(qū)動(dòng)濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)的附加濾過(guò)片旋轉(zhuǎn)至工作位,此時(shí)第一激光發(fā)射器發(fā)射的激光射在濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)的第一標(biāo)記位置,附加濾過(guò)片中心與的X光出射位置在同一水平位置。其中,其中,濾過(guò)旋轉(zhuǎn)信號(hào)可以是由操作人員通過(guò)計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)發(fā)出的。

步驟140,控制第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)第一底座在第一導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置;并且,控制第二電機(jī)驅(qū)動(dòng)第二底座在第二導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置。

當(dāng)X光機(jī)平臺(tái)和濾過(guò)裝置的位置確定之后,需要對(duì)電離室裝置的位置進(jìn)行調(diào)節(jié)。此時(shí),第一電機(jī)接收第一位移信號(hào),驅(qū)動(dòng)絲杠轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)絲杠上第一滑塊沿絲杠運(yùn)動(dòng)至工作位置,從而帶動(dòng)電離室裝置在第一導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置,實(shí)現(xiàn)電離室裝置在X軸方向(平行第一導(dǎo)軌方向)上的位置調(diào)節(jié);接著,第二電機(jī)接收第二位移信號(hào),驅(qū)動(dòng)絲杠轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)絲杠上第一滑塊沿絲杠運(yùn)動(dòng)至工作位置,從而帶動(dòng)電離室裝置在第二導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)至工作位置,實(shí)現(xiàn)電離室裝置在Y軸方向(平行第二導(dǎo)軌方向)上的位置調(diào)節(jié)。其中,第一位移信號(hào)和第二位移信號(hào)可以是由操作人員通過(guò)計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)發(fā)出的。

步驟150,調(diào)節(jié)升降裝置和升降裝置上的旋轉(zhuǎn)臺(tái),使設(shè)置于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上的電離室裝置的接收射線(xiàn)位置與附加濾過(guò)片中心、X光機(jī)的X光出射位置在同一條直線(xiàn)上。

具體的,升降驅(qū)動(dòng)電機(jī)接收升降驅(qū)動(dòng)信號(hào),驅(qū)動(dòng)升降驅(qū)動(dòng)桿轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)升降驅(qū)動(dòng)桿上升降平臺(tái)在垂直所述第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌所在平面運(yùn)動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)電離室裝置在Z軸方向(垂直第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌所在平面方向)上的位置調(diào)節(jié)。其中,升降驅(qū)動(dòng)信號(hào)可以是由操作人員通過(guò)計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)發(fā)出的。

其次,旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)電機(jī)接收旋轉(zhuǎn)信號(hào),控制旋轉(zhuǎn)盤(pán)在固定部上旋轉(zhuǎn),從帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)上的電離室裝置的旋轉(zhuǎn),使電離室裝置的接收射線(xiàn)位置與附加濾過(guò)片中心在同一條直線(xiàn)上。其中,旋轉(zhuǎn)信號(hào)可以是由操作人員通過(guò)計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)發(fā)出的。

具體的,旋轉(zhuǎn)臺(tái)上設(shè)有第二激光發(fā)射器,濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)上設(shè)有第二標(biāo)記位置,所述第二標(biāo)記位置是根據(jù)第二激光發(fā)射器的位置、電離室裝置的位置和附加濾過(guò)片的位置進(jìn)行設(shè)計(jì)的,當(dāng)?shù)诙す獍l(fā)射器發(fā)射的激光射在濾過(guò)轉(zhuǎn)盤(pán)的第二標(biāo)記位置時(shí),附加濾過(guò)片中心與電離室裝置的接收射線(xiàn)位置在同一水平位置,從而實(shí)現(xiàn)電離室裝置的接收射線(xiàn)位置與附加濾過(guò)片中心、X光機(jī)的X光出射位置在同一條直線(xiàn)上。

步驟160,X光機(jī)產(chǎn)生初始X射線(xiàn)束。

具體的,開(kāi)啟X光機(jī)平臺(tái)上的X光機(jī),發(fā)射初始X射線(xiàn)束,射向?yàn)V過(guò)裝置上的附加濾過(guò)片。

步驟170,初始X射線(xiàn)束經(jīng)過(guò)附加濾過(guò)片后,對(duì)低于第一閾值能量的射線(xiàn)進(jìn)行濾除。

其中,第一閾值是由所選附加濾過(guò)片決定的,不同附加濾過(guò)片所對(duì)應(yīng)的第一閾值不同。

具體的,附加濾過(guò)片對(duì)初始X射線(xiàn)束的低于第一閾值能量的射線(xiàn)進(jìn)行濾除,濾掉初始射線(xiàn)的低能部分,而對(duì)高能部分的光子分布影響不明顯,能譜被硬化,提高了X射線(xiàn)穿透能力,但是降低了光子強(qiáng)度。

步驟180,電離室裝置接收過(guò)濾后的X射線(xiàn)束,過(guò)濾后的X射線(xiàn)束使電離室裝置內(nèi)的空氣發(fā)生電離,產(chǎn)生電離電流。

電離室裝置可以為石墨電離室,包括石墨腔室和收集極,過(guò)濾后的X射線(xiàn)束射入石墨腔室內(nèi),使石墨腔室內(nèi)的空氣電離產(chǎn)生電子,石墨腔室內(nèi)的收集桿對(duì)電子進(jìn)行收集,再通過(guò)收集桿傳輸。

步驟190,靜電計(jì)對(duì)電離電流進(jìn)行檢測(cè),得到電離電流值。

靜電計(jì)與電離室裝置的收集桿進(jìn)行連接,經(jīng)靜電計(jì)檢測(cè)得到電離電流值。

旋轉(zhuǎn)濾過(guò)盤(pán),更換處于工作位的附加濾過(guò)片,應(yīng)用不同厚度的濾過(guò)片對(duì)初始X射線(xiàn)束進(jìn)行過(guò)濾,附加濾過(guò)片的厚度能夠改變對(duì)X射線(xiàn)低能部分的過(guò)濾程度,附加濾過(guò)片的厚度越厚相對(duì)于X射線(xiàn)高能部分過(guò)濾掉的低能部分越多,再重復(fù)上述步驟130至步驟190。直至完成所有所需附加濾過(guò)片的測(cè)量。

改變加載在X射線(xiàn)光管的電壓,使初始X射線(xiàn)束的強(qiáng)度和平均能量發(fā)生改變,再重復(fù)上述步驟130至步驟190,直至完成所有所需參數(shù)的測(cè)量。

本發(fā)明實(shí)施例提供的基于電離室系統(tǒng)的檢測(cè)方法,通過(guò)多維調(diào)節(jié)平臺(tái)裝置能夠?qū)﹄婋x室裝置的位置進(jìn)行精確調(diào)節(jié),從而提高了電離室檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量精度,可操控性高。

專(zhuān)業(yè)人員應(yīng)該還可以進(jìn)一步意識(shí)到,結(jié)合本文中所公開(kāi)的實(shí)施例描述的各示例的單元及算法步驟,能夠以電子硬件、計(jì)算機(jī)軟件或者二者的結(jié)合來(lái)實(shí)現(xiàn),為了清楚地說(shuō)明硬件和軟件的可互換性,在上述說(shuō)明中已經(jīng)按照功能一般性地描述了各示例的組成及步驟。這些功能究竟以硬件還是軟件方式來(lái)執(zhí)行,取決于技術(shù)方案的特定應(yīng)用和設(shè)計(jì)約束條件。專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員可以對(duì)每個(gè)特定的應(yīng)用來(lái)使用不同方法來(lái)實(shí)現(xiàn)所描述的功能,但是這種實(shí)現(xiàn)不應(yīng)認(rèn)為超出本發(fā)明的范圍。

結(jié)合本文中所公開(kāi)的實(shí)施例描述的方法或算法的步驟可以用硬件、處理器執(zhí)行的軟件模塊,或者二者的結(jié)合來(lái)實(shí)施。軟件模塊可以置于隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)、內(nèi)存、只讀存儲(chǔ)器(ROM)、電可編程ROM、電可擦除可編程ROM、寄存器、硬盤(pán)、可移動(dòng)磁盤(pán)、CD-ROM、或技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)所公知的任意其它形式的存儲(chǔ)介質(zhì)中。

以上所述的具體實(shí)施方式,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式而已,并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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