本發(fā)明涉及計算機技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種串行信號測試方法、示波器和系統(tǒng)。
背景技術(shù):
在主板和大量存儲設(shè)備如硬盤及光盤驅(qū)動器等之間進行數(shù)據(jù)傳輸時,常常通過SATA總線傳輸串行信號來完成。為了保證數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐暾?,常常需要對信號傳輸?shù)耐暾赃M行測試。
目前,信號傳輸?shù)耐暾詼y試的方式主要是一次測試只能針對一種規(guī)格的信號進行測試,在對不同規(guī)格的信號進行測試時,需要通過不停地變換參數(shù)來依次測試各個規(guī)格的信號?,F(xiàn)有的這種測試方式,導(dǎo)致串行信號的測試效率較低。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明實施例提供了一種串行信號測試方法、示波器和系統(tǒng),能夠有效地提高串行信號測試效率。
一種串行信號測試方法,包括:
獲取測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述測試目標(biāo)確定至少一個測試點;
為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);
根據(jù)所述測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號;
在每一個所述測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果。
優(yōu)選地,上述方法進一步包括:為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán);
所述對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果,包括:
通過所述鎖相環(huán),對每一種所述規(guī)格的測試信號中的時鐘信號進行恢復(fù),并構(gòu)建所述時鐘信號與測試信號的信號強度之間的對應(yīng)關(guān)系,以眼圖的形式輸出所述對應(yīng)關(guān)系,通過所述對應(yīng)關(guān)系,確定眼高、眼寬和抖動參數(shù)。
優(yōu)選地,所述為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù),包括:
在示波器上,為每一個所述測試點選定對應(yīng)的鎖相環(huán)類型,并為所述鎖相環(huán)類型設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán)帶寬和衰減度,并為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的信號傳輸速率。
優(yōu)選地,所述至少兩種規(guī)格的測試信號,包括:
1.5Gbit/s的串行測試信號、3Gbit/s的串行測試信號以及6Gbit/s的串行測試信號中的任意兩個或多個。
優(yōu)選地,所述測試點包括:硬盤的耦合電容端;主機芯片的耦合電容端;主機芯片的Via端。
一種示波器,包括:測試點確定單元、設(shè)置單元及測試單元,其中,
所述測試點確定單元,用于獲取外部測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述外部的測試目標(biāo)確定至少一個測試點;
所述設(shè)置單元,用于為每一個所述測試點確定單元確定出的測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);
所述測試單元,用于根據(jù)所述設(shè)置單元設(shè)置的測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點確定單元確定出的測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號,在每一個所述測試點確定單元確定出的測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果。
優(yōu)選地,所述測試單元,進一步用于獲取外部鎖相環(huán)恢復(fù)出的時鐘信號,構(gòu)建所述時鐘信號與測試信號的信號強度之間的對應(yīng)關(guān)系,以眼圖的形式輸出所述對應(yīng)關(guān)系,通過所述對應(yīng)關(guān)系,確定眼高、眼寬和抖動參數(shù)。
優(yōu)選地,所述設(shè)置單元,用于為每一個所述測試點選定對應(yīng)的鎖相環(huán)類型,并為所述鎖相環(huán)類型設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán)帶寬和衰減度,并為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的信號傳輸速率。
優(yōu)選地,所述至少兩種規(guī)格的測試信號,包括:
1.5Gbit/s的串行測試信號、3Gbit/s的串行測試信號以及6Gbit/s的串行測試信號中的任意兩個或多個。
一種串行信號測試系統(tǒng),包括:至少一個測試目標(biāo)和上述任一所述的示波器,其中,
所述至少一個測試目標(biāo)中,每一個所述測試目標(biāo),用于為所述示波器提供至少一個測試點。
本發(fā)明實施例提供了一種串行信號測試方法、示波器和系統(tǒng),通過獲取測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述測試目標(biāo)確定至少一個測試點;為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);根據(jù)所述測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號;在每一個所述測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果,由于能夠?qū)Σ煌?guī)格的測試信號進行測試,因此,能夠有效地提高串行信號測試效率。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發(fā)明一個實施例提供的一種串行信號測試方法的流程圖;
圖2是本發(fā)明另一個實施例提供的一種串行信號測試方法的流程圖;
圖3是本發(fā)明一個實施例提供的測試結(jié)果展示的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本發(fā)明一個實施例提供的一種示波器的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是本發(fā)明一個實施例提供的一種串行信號測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例,基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
如圖1所示,本發(fā)明實施例提供了一種串行信號測試方法,該方法可以包括以下步驟:
步驟101:獲取測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述測試目標(biāo)確定至少一個測試點;
步驟102:為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);
步驟103:根據(jù)所述測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號;
步驟104:在每一個所述測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果。
在圖1所示的實施例中,通過獲取測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述測試目標(biāo)確定至少一個測試點;為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);根據(jù)所述測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號;在每一個所述測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果,由于能夠?qū)Σ煌?guī)格的測試信號進行測試,因此,能夠有效地提高串行信號測試效率。
在本發(fā)明一個實施例中,為了使測試結(jié)果更加直觀,上述方法進一步包括:為所述每一個測試點設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán);所述對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果,包括:通過所述鎖相環(huán),對每一種所述規(guī)格的測試信號中的時鐘信號進行恢復(fù),并構(gòu)建所述時鐘信號與測試信號的信號強度之間的對應(yīng)關(guān)系,以眼圖的形式輸出所述對應(yīng)關(guān)系,通過所述對應(yīng)關(guān)系,確定眼高、眼寬和抖動參數(shù)。即通過恢復(fù)出時鐘信號,以眼圖的形式展示測試結(jié)果。
在本發(fā)明一個實施例中,為了實現(xiàn)測試,所述為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù),包括:在示波器上,為每一個所述測試點選定對應(yīng)的鎖相環(huán)類型,并為所述鎖相環(huán)類型設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán)帶寬和衰減度,并為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的信號傳輸速率。
在本發(fā)明一個實施例中,所述至少兩種規(guī)格的測試信號,包括:1.5Gbit/s的串行測試信號、3Gbit/s的串行測試信號以及6Gbit/s的串行測試信號中的任意兩個或多個。
在本發(fā)明一個實施例中,所述測試點包括:硬盤的耦合電容端;主機芯片的耦合電容端;主機芯片的Via端。
如圖2所示,本發(fā)明另一實施例提供一種串行信號測試方法,該方法可以包括如下步驟:
步驟201:獲取測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述測試目標(biāo)確定至少一個測試點;
所述測試點包括:硬盤的耦合電容端;主機芯片的耦合電容端;主機芯片的Via端。
步驟202:為每一個測試點設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán);
由于SATA串行信號傳輸使用嵌入式時鐘信號,具備了更強的糾錯能力,那么,通過該步驟設(shè)置的鎖相環(huán)能夠?qū)r鐘信號轉(zhuǎn)換出來,以為后續(xù)的測試提供時間參考。
步驟203:為每一個測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);
在示波器上,為每一個所述測試點選定對應(yīng)的鎖相環(huán)類型,并為所述鎖相環(huán)類型設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán)帶寬和衰減度(damping),并為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的信號傳輸速率如1.5Gbit/s、3Gbit/s或者6Gbit/s。
步驟204:根據(jù)所述測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號;
該步驟測試信號的規(guī)格主要是按照信號傳輸速率進行劃分,那么,該步驟提及的至少兩種規(guī)格的測試信號可以包括:1.5Gbit/s的串行測試信號、3Gbit/s的串行測試信號以及6Gbit/s的串行測試信號中的任意兩個或多個。
步驟205:在每一個所述測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測;
測試的過程主要是,示波器將測試信號通過輸出端發(fā)送給接收端測試信號,并在接收端檢測接收端接收到的測試信號。如:對硬盤進行讀寫測試的時候,則通過與硬盤連接的芯片的輸出端輸出測試信號,并在硬盤的接收端讀取該測試信號,確定出讀取到的測試信號的強度。
步驟206:通過所述鎖相環(huán),對每一種所述規(guī)格的測試信號中的時鐘信號進行恢復(fù);
步驟207:構(gòu)建所述時鐘信號與測試信號的信號強度之間的對應(yīng)關(guān)系,以眼圖的形式輸出所述對應(yīng)關(guān)系;
如圖3所示,從圖中可以直觀的從眼圖觀測到測試結(jié)果。那么,為了使眼圖的展示效果比較好,可以通過更改鎖相環(huán)帶寬得到不同的眼圖,以從不同的眼圖中選擇展示效果最好的眼圖作為測試結(jié)果。
步驟208:通過所述對應(yīng)關(guān)系,確定眼高、眼寬和抖動參數(shù)。
如圖4所示,本發(fā)明實施例提供一種示波器,包括:測試點確定單元401、設(shè)置單元402及測試單元403,其中,
所述測試點確定單元401,用于獲取外部測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述外部的測試目標(biāo)確定至少一個測試點;
所述設(shè)置單元402,用于為每一個所述測試點確定單元401確定出的測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);
所述測試單元403,用于根據(jù)所述設(shè)置單元402設(shè)置的測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點確定單元確定出的測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號,在每一個所述測試點確定單元確定出的測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果。
在本發(fā)明另一實施例中,所述測試單元403,進一步用于獲取外部鎖相環(huán)恢復(fù)出的時鐘信號,構(gòu)建所述時鐘信號與測試信號的信號強度之間的對應(yīng)關(guān)系,以眼圖的形式輸出所述對應(yīng)關(guān)系,通過所述對應(yīng)關(guān)系,確定眼高、眼寬和抖動參數(shù)。
在本發(fā)明又一實施例中,所述設(shè)置單元402,用于為每一個所述測試點選定對應(yīng)的鎖相環(huán)類型,并為所述鎖相環(huán)類型設(shè)置對應(yīng)的鎖相環(huán)帶寬和衰減度,并為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的信號傳輸速率。
在本發(fā)明另一實施例中,所述至少兩種規(guī)格的測試信號,包括:
1.5Gbit/s的串行測試信號、3Gbit/s的串行測試信號以及6Gbit/s的串行測試信號中的任意兩個或多個。
如圖5所示,本發(fā)明實施例提供一種串行信號測試系統(tǒng),包括:至少一個測試目標(biāo)501和上述任一所述的示波器502,其中,
所述至少一個測試目標(biāo)501中,每一個所述測試目標(biāo)501,用于為所述示波器提供至少一個測試點。
在本發(fā)明一個實施例中,上述串行信號測試系統(tǒng),進一步包括:
鎖相環(huán),與測試目標(biāo)相連,用于對每一種所述規(guī)格的測試信號中的時鐘信號進行恢復(fù)。
本發(fā)明還提供了一種計算機存儲介質(zhì),存儲用于使一機器執(zhí)行如本文所述的程序代碼的審核方法的指令。具體地,可以提供配有存儲介質(zhì)的系統(tǒng)或者裝置,在該存儲介質(zhì)上存儲著實現(xiàn)上述實施例中任一實施例的功能的軟件程序代碼,且使該系統(tǒng)或者裝置的計算機(或CPU或MPU)讀出并執(zhí)行存儲在存儲介質(zhì)中的程序代碼。
在這種情況下,從存儲介質(zhì)讀取的程序代碼本身可實現(xiàn)上述實施例中任何一項實施例的功能,因此程序代碼和存儲程序代碼的存儲介質(zhì)構(gòu)成了本發(fā)明的一部分。
用于提供程序代碼的存儲介質(zhì)實施例包括軟盤、硬盤、磁光盤、光盤(如CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD+RW)、磁帶、非易失性存儲卡和ROM。可選擇地,可以由通信網(wǎng)絡(luò)從服務(wù)器計算機上下載程序代碼。
此外,應(yīng)該清楚的是,不僅可以通過執(zhí)行計算機所讀出的程序代碼,而且可以通過基于程序代碼的指令使計算機上操作的操作系統(tǒng)等來完成部分或者全部的實際操作,從而實現(xiàn)上述實施例中任意一項實施例的功能。
此外,可以理解的是,將由存儲介質(zhì)讀出的程序代碼寫到插入計算機內(nèi)的擴展板中所設(shè)置的存儲器中或者寫到與計算機相連接的擴展單元中設(shè)置的存儲器中,隨后基于程序代碼的指令使安裝在擴展板或者擴展單元上的CPU等來執(zhí)行部分和全部實際操作,從而實現(xiàn)上述實施例中任一實施例的功能。
在本發(fā)明一個實施例中,上述測試目標(biāo)可以為硬盤或者主板上的各個芯片。
根據(jù)上述方案,本發(fā)明的各實施例,至少具有如下有益效果:
1.通過獲取測試目標(biāo)的線路圖,根據(jù)所述線路圖,為所述測試目標(biāo)確定至少一個測試點;為每一個所述測試點設(shè)置對應(yīng)的測試參數(shù);根據(jù)所述測試參數(shù),順序在所述每一個所述測試點的輸出端輸入至少兩種規(guī)格的測試信號;在每一個所述測試點的接收端,對每一種所述規(guī)格的測試信號進行檢測,生成測試結(jié)果,由于能夠?qū)Σ煌?guī)格的測試信號進行測試,因此,能夠有效地提高串行信號測試效率。
需要說明的是,在本文中,諸如第一和第二之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來,而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且,術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下,由語句“包括一個······”限定的要素,并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同因素。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成,前述的程序可以存儲在計算機可讀取的存儲介質(zhì)中,該程序在執(zhí)行時,執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟;而前述的存儲介質(zhì)包括:ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)中。
最后需要說明的是:以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例,僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案,并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進等,均包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。