本發(fā)明設(shè)計(jì)一種彎矩的測(cè)量方法和傳感器,特別是涉及一種基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量方法及傳感器。
背景技術(shù):
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彎矩是受力構(gòu)件截面上的內(nèi)力矩的一種,即垂直于橫截面的內(nèi)力系的合力偶矩,彎矩直接影響桿件的強(qiáng)度和變形,因此精確檢測(cè)彎矩對(duì)工程應(yīng)用有重要的意義。
工程上彎矩測(cè)量采用應(yīng)變片、壓電、壓磁等方式,其中應(yīng)用最廣泛的是測(cè)量應(yīng)變的方法。經(jīng)過對(duì)現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)和專利的檢索發(fā)現(xiàn),專利名稱《錨桿軸力和彎矩的檢測(cè)方法及其檢測(cè)錨桿》,申請(qǐng)公布號(hào)CN 103485811 A,以及文章名稱《電阻應(yīng)變計(jì)在彎矩測(cè)量中的應(yīng)用》,刊名:傳感器技術(shù),均采用是應(yīng)變測(cè)量方法,即將4個(gè)同型號(hào)的電阻應(yīng)變片按附圖1-圖3所示進(jìn)行布置:R1、R3布貼在梁的上表面,R2、R4布貼在梁的下表面。梁彎曲變形時(shí),電阻應(yīng)變片上產(chǎn)生的應(yīng)變與梁產(chǎn)生的應(yīng)變相同,并且在梁的同一截面上,上表面產(chǎn)生拉應(yīng)變,而下表面產(chǎn)生壓應(yīng)變,拉、壓應(yīng)變的絕對(duì)值相等,四個(gè)應(yīng)變片組合能夠全橋電路,通過全橋電路可獲得四個(gè)應(yīng)變片的應(yīng)變值,根據(jù)材料力學(xué)理論可通過應(yīng)變計(jì)算出彎矩值。此外,通過壓電效應(yīng)也可以測(cè)量彎矩,此時(shí)采用的是“力×力臂”法,測(cè)量中,力臂是固定不變的,力臂與剪力相乘得到彎矩,若想測(cè)量剪力,采用具有剪切效應(yīng)的Y0壓電石英晶片作為測(cè)力敏感元件,將所測(cè)量的力乘以力與晶片之間的距離計(jì)算得到力矩,如附圖4所示。該類型傳感器并不能直接測(cè)量彎矩,而是通過測(cè)量力的方式間接計(jì)算力矩,導(dǎo)致測(cè)試彎矩精度不高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
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本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種設(shè)計(jì)合理、簡化了中間環(huán)節(jié)、提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確度的基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量方法及傳感器。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量方法,利用具有彎曲效應(yīng)的壓電石英晶片組成彎矩測(cè)量敏感元件,當(dāng)受到彎矩作用時(shí),在晶片表面上產(chǎn)生的束縛電荷以光軸為分界線兩半平面上所產(chǎn)生的電量大小相等,符號(hào)相反,并且所施加的彎矩與產(chǎn)生的束縛電荷成線性關(guān)系,進(jìn)而準(zhǔn)確測(cè)出彎矩值;所述彎矩測(cè)量敏感元件通過分割電極電荷組合法組成彎矩測(cè)量晶組,所述彎矩測(cè)量晶組產(chǎn)生的輸出電荷經(jīng)過導(dǎo)線由輸出接頭引出體外,通過電荷放大器放大成電壓信號(hào),再由數(shù)字表或計(jì)算機(jī)記錄結(jié)果。
所述彎矩測(cè)量晶組包括三片X0切型石英晶片和四片檢測(cè)電極,四片檢測(cè)電極兩兩一組分別夾持在三片石英晶片之間,四片檢測(cè)電極依次標(biāo)注為電極A、電極B、電極C、電極D,當(dāng)僅有軸向力作用時(shí),在晶片表面產(chǎn)生剪切束縛電荷,電極A與電極C,電極B與電極D產(chǎn)生的電荷符號(hào)相同,大小相等,電極A與電極C并聯(lián)后輸出為零;當(dāng)僅有彎矩作用時(shí),電極A與電極C,電極B與電極D產(chǎn)生的電荷符號(hào)相同,大小相等,電極A與電極C并聯(lián)后輸出,輸出電荷為單電極的兩倍,提高了彎曲測(cè)量晶組的靈敏度。
所述彎矩測(cè)量晶組通過彈性變形環(huán)安裝在傳感器的基體內(nèi),所述基體上設(shè)置有連接孔,便于和結(jié)構(gòu)梁連接,所述基體上設(shè)置有輸出接頭,所述輸出接頭內(nèi)端通過導(dǎo)線與所述彎矩測(cè)量晶組連接。
一種基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量傳感器,包括基體,所述基體上設(shè)置有連接孔,所述基體內(nèi)設(shè)置有兩個(gè)彈性變形環(huán),兩個(gè)所述彈性變形環(huán)之間設(shè)置有彎矩測(cè)量晶組,所述基體上設(shè)置有輸出接頭,所述輸出接頭內(nèi)端通過導(dǎo)線與所述彎矩測(cè)量晶組連接,所述輸出接頭的外端通過電荷放大器放大成電壓信號(hào),再由數(shù)字表或計(jì)算機(jī)記錄結(jié)果。
所述彎矩測(cè)量晶組包括三片X0切型石英晶片和四片檢測(cè)電極,四片檢測(cè)電極兩兩一組分別夾持在三片石英晶片之間,四片檢測(cè)電極依次標(biāo)注為電極A、電極B、電極C、電極D,當(dāng)僅有軸向力作用時(shí),在晶片表面產(chǎn)生剪切束縛電荷,電極A與電極C,電極B與電極D產(chǎn)生的電荷符號(hào)相同,大小相等,電極A與電極C并聯(lián)后輸出為零;當(dāng)僅有彎矩作用時(shí),電極A與電極C,電極B與電極D產(chǎn)生的電荷符號(hào)相同,大小相等,電極A與電極C并聯(lián)后輸出,輸出電荷為單電極的兩倍,提高了彎曲測(cè)量晶組的靈敏度。
所述基體為長方形,其四角處分別設(shè)置有所述連接孔,所述彎矩測(cè)量晶組貼接在所述彈性變形環(huán)的內(nèi)腔凸臺(tái)中心上,壓電石英晶片與凸臺(tái)平面相平行的表面對(duì)稱貼上所述檢測(cè)電極。
本發(fā)明的有益效果是:
1、本發(fā)明采用壓電彎曲效應(yīng)直接測(cè)量彎矩,而不是利用傳統(tǒng)剪切效應(yīng),剪切力乘力臂的方法計(jì)算彎矩,簡化了中間環(huán)節(jié),提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確度。
2、本發(fā)明采用分割電極電荷法組建測(cè)量晶組,采用電荷法連接檢測(cè)電極避免了電壓法測(cè)量時(shí)要用兩部電荷放大器和一個(gè)電壓反相器,外接測(cè)量電路的引入必將導(dǎo)致測(cè)量誤差的增加和制作成本的提高。僅用一部電荷放大器無需電壓反相器直接檢測(cè)彎矩,具有結(jié)構(gòu)簡單、電荷靈敏度翻倍的優(yōu)點(diǎn)。
3、本發(fā)明彎矩傳感器具有結(jié)構(gòu)緊湊,工藝性好,降低了成本,易于調(diào)整,效率高,直接測(cè)量彎矩,測(cè)量精度高,克服了傳統(tǒng)壓電剪切效應(yīng)測(cè)量彎矩的缺點(diǎn)和不足,其適用范圍廣,易于推廣實(shí)施,經(jīng)濟(jì)效益明顯。
附圖說明:
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中應(yīng)變片彎矩測(cè)量的結(jié)構(gòu)圖;
圖2為圖1所示應(yīng)變片彎矩測(cè)量的俯視圖;
圖3為圖1所示應(yīng)變片彎矩測(cè)量的電路原理簡圖;
圖4是現(xiàn)有技術(shù)中壓電力矩測(cè)量原理簡圖;
圖5是本發(fā)明彎矩測(cè)量晶組受軸向力的極化圖;
圖6是本發(fā)明彎矩測(cè)量晶組受彎矩的極化圖;
圖7是本發(fā)明基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量傳感器的結(jié)構(gòu)圖;
圖8是圖7所示基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量傳感器的側(cè)視圖。
具體實(shí)施方式:
實(shí)施例:參見圖5—圖8,圖中,1-基體,2-連接孔,3-輸出接頭,4-導(dǎo)線,5-彈性變形環(huán),6-彎矩測(cè)量晶組。
基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量方法,技術(shù)方案是:利用具有彎曲效應(yīng)的壓電石英晶片組成彎矩測(cè)量敏感元件,當(dāng)受到彎矩作用時(shí),在晶片表面上產(chǎn)生的束縛電荷以光軸為分界線兩半平面上所產(chǎn)生的電量大小相等,符號(hào)相反,并且所施加的彎矩與產(chǎn)生的束縛電荷成線性關(guān)系,進(jìn)而準(zhǔn)確測(cè)出彎矩值;彎矩測(cè)量敏感元件通過分割電極電荷組合法組成彎矩測(cè)量晶組,彎矩測(cè)量晶組產(chǎn)生的輸出電荷經(jīng)過導(dǎo)線由輸出接頭引出體外,通過電荷放大器放大成電壓信號(hào),再由數(shù)字表或計(jì)算機(jī)記錄結(jié)果。
彎矩測(cè)量晶組包括三片X0切型石英晶片和四片檢測(cè)電極,四片檢測(cè)電極兩兩一組分別夾持在三片石英晶片之間,四片檢測(cè)電極依次標(biāo)注為電極A、電極B、電極C、電極D,當(dāng)僅有軸向力作用時(shí),在晶片表面產(chǎn)生剪切束縛電荷,電極A與電極C,電極B與電極D產(chǎn)生的電荷符號(hào)相同,大小相等,電極A與電極C并聯(lián)后輸出為零;當(dāng)僅有彎矩作用時(shí),電極A與電極C,電極B與電極D產(chǎn)生的電荷符號(hào)相同,大小相等,電極A與電極C并聯(lián)后輸出,輸出電荷為單電極的兩倍,提高了彎曲測(cè)量晶組的靈敏度。
彎矩測(cè)量晶組通過彈性變形環(huán)安裝在傳感器的基體內(nèi),基體上設(shè)置有連接孔,便于和結(jié)構(gòu)梁連接,基體上設(shè)置有輸出接頭,輸出接頭內(nèi)端通過導(dǎo)線與彎矩測(cè)量晶組連接。
基于壓電石英晶片彎曲效應(yīng)的彎矩測(cè)量傳感器,包括基體1,基體1上設(shè)置有連接孔2,基體1內(nèi)設(shè)置有兩個(gè)彈性變形環(huán)5,兩個(gè)彈性變形環(huán)5之間設(shè)置有彎矩測(cè)量晶組6,基體1上設(shè)置有輸出接頭3,輸出接頭3內(nèi)端通過導(dǎo)線4與彎矩測(cè)量晶組6連接,輸出接頭3的外端通過電荷放大器放大成電壓信號(hào),再由數(shù)字表或計(jì)算機(jī)記錄結(jié)果。
基體1為長方形,其四角處分別設(shè)置有連接孔2,彎矩測(cè)量晶組6貼接在彈性變形環(huán)5的內(nèi)腔凸臺(tái)中心上,壓電石英晶片與凸臺(tái)平面相平行的表面對(duì)稱貼上檢測(cè)電極。
使用時(shí),基體1通過連接孔2和連接件連接到結(jié)構(gòu)梁上,當(dāng)受到一個(gè)彎矩作用時(shí),夾在彈性變形環(huán)5之間的具有彎曲效應(yīng)的壓電石英晶片同時(shí)受到彎矩的作用,由于該種切型晶體具有彎曲效應(yīng),所以在晶片表面上產(chǎn)生束縛電荷,并且電荷量與彎矩成正比例關(guān)系,電極產(chǎn)生的電荷通過導(dǎo)線4與輸出接頭3相連,輸出的電荷量經(jīng)過電荷放大器將其轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)后,由電壓數(shù)字表讀出或通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行采集。
本發(fā)明采用壓電彎曲效應(yīng)直接測(cè)量彎矩,而不是利用傳統(tǒng)剪切效應(yīng),剪切力乘力臂的方法計(jì)算彎矩,簡化了中間環(huán)節(jié),提高了測(cè)量精度和準(zhǔn)確度。
以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制,凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。