1.一種配電裝置的電壓、電流采樣及采樣值角度校準(zhǔn)方法，其特征在于：其通過配電裝置的CPU、第一數(shù)模處理芯片ADC0、第二數(shù)模處理芯片ADC1、第一直接內(nèi)存存儲器DMA0、第二直接內(nèi)存存儲器DMA1、第三直接內(nèi)存存儲器DMA2、第四直接內(nèi)存存儲器DMA3及第一硬件定時器PIT0完成電壓、電流的采樣，其中：
所述第一數(shù)模處理芯片ADC0的采樣通道與所述配電裝置的饋線線路連接以執(zhí)行電壓采樣，所述第二數(shù)模處理芯片ADC1的采樣通道與所述配電裝置的饋線線路連接以執(zhí)行電流采樣；
所述第一硬件定時器PIT0按預(yù)定的第一時間間隔同步觸發(fā)所述第一直接內(nèi)存存儲器DMA0及所述第二直接內(nèi)存存儲器DMA0；
所述第一直接內(nèi)存存儲器DMA0基于所述第一時間間隔觸發(fā)所述第一數(shù)模處理芯片ADC0執(zhí)行電壓采樣并將電壓采樣值存儲至緩沖存儲器中，所述第二直接內(nèi)存存儲器DMA1基于所述第一時間間隔切換所述第一數(shù)模處理芯片ADC0的采樣通道；
所述第三直接內(nèi)存存儲器DMA2基于所述第一時間間隔觸發(fā)所述第二數(shù)模處理芯片ADC1執(zhí)行電流采樣并將電流采樣值存儲至緩沖存儲器中，所述第四直接內(nèi)存存儲器DMA3基于所述第一時間間隔切換所述第二數(shù)模處理芯片ADC1的采樣通道。
2.如權(quán)利要求1所述的配電裝置的電壓、電流采樣及采樣值角度校準(zhǔn)方法，其特征在于：
所述第一數(shù)模處理芯片ADC0的采樣通道與所述配電裝置的饋線線路之間連接有電壓互感器、運放電路及抗干擾電路；
所述第二數(shù)模處理芯片ADC1的采樣通道與所述配電裝置的饋線線路之間連接有電流互感器、運放電路及抗干擾電路。
3.如權(quán)利要求1所述的配電裝置的電壓、電流采樣及采樣值角度校準(zhǔn)方法，其特征在于：所述CPU采用型號為K60的處理器芯片。