1.一種高壓電氣設(shè)備的缺陷確定方法,其特征在于,包括:
獲取所述高壓電氣設(shè)備各個部位的紫外檢測圖像和檢測距離,所述紫外檢測圖像由紫外成像儀檢測得到;
由所述紫外檢測圖像確定紫外成像面積;
依據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式,計(jì)算與所述紫外成像面積相對應(yīng)的目標(biāo)紫外成像面積,所述目標(biāo)紫外成像面積對應(yīng)的檢測距離是與所述預(yù)設(shè)計(jì)算公式相對應(yīng)的預(yù)設(shè)檢測距離;
在預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系中,查找分別與所述部位和所述目標(biāo)紫外成像面積相對應(yīng)的缺陷,所述預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系包括,所述高壓電氣設(shè)備各個部位的每種缺陷,以及與所述缺陷相對應(yīng)的所述目標(biāo)紫外成像面積,所述缺陷包括缺陷類型和缺陷程度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述依據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式,計(jì)算與所述紫外成像面積相對應(yīng)的目標(biāo)紫外成像面積之前,還包括:
獲取所述預(yù)設(shè)檢測距離和所述第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述在預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系中,查找分別與所述部位和所述目標(biāo)紫外成像面積相對應(yīng)的缺陷之前,還包括:
獲取所述預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)檢測距離為10米,則所述第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式為:
s0=a·s·db;
其中,s0表示所述目標(biāo)紫外成像面積,s表示所述紫外成像面積,d表示所述檢測距離,a和b為預(yù)設(shè)常量。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述高壓電氣設(shè)備包括:
瓷絕緣子和/或玻璃絕緣子;
所述瓷絕緣子包括鐵帽、瓷絕緣子本體和鐵腳;
所述玻璃絕緣子包括鐵帽、玻璃絕緣子本體和鐵腳。
6.一種高壓電氣設(shè)備的缺陷確定裝置,其特征在于,包括:
第一獲取模塊,用于獲取所述高壓電氣設(shè)備各個部位的紫外檢測圖像和檢測距離,所述紫外檢測圖像由紫外成像儀檢測得到;
確定模塊,用于由所述紫外檢測圖像確定紫外成像面積;
計(jì)算模塊,用于依據(jù)第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式,計(jì)算與所述紫外成像面積相對應(yīng)的目標(biāo)紫外成像面積,所述目標(biāo)紫外成像面積對應(yīng)的檢測距離是與所述預(yù)設(shè)計(jì)算公式相對應(yīng)的預(yù)設(shè)檢測距離;
查找模塊,用于在預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系中,查找分別與所述部位和所述目標(biāo)紫外成像面積相對應(yīng)的缺陷,所述預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系包括,所述高壓電氣設(shè)備各個部位的每種缺陷,以及與所述缺陷相對應(yīng)的所述目標(biāo)紫外成像面積,所述缺陷包括缺陷類型和缺陷程度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,還包括:
第二獲取模塊,用于獲取所述預(yù)設(shè)檢測距離和所述第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,還包括:
第三獲取模塊,用于獲取所述預(yù)設(shè)對應(yīng)關(guān)系。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置,其特征在于,所述計(jì)算模塊中所述預(yù)設(shè)檢測距離為10米,則所述計(jì)算模塊中所依據(jù)的第一預(yù)設(shè)計(jì)算公式為:
s0=a·s·db;
其中,s0表示所述目標(biāo)紫外成像面積,s表示所述紫外成像面積,d表示所述檢測距離,a和b為預(yù)設(shè)常量。