本申請(qǐng)涉及片上系統(tǒng)(system-on-chip，soc)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

隨著集成電路工藝的進(jìn)步和人們對(duì)集成電路性能以及上市時(shí)間要求的不斷提高，片上系統(tǒng)技術(shù)已經(jīng)成為當(dāng)今集成電路的發(fā)展趨勢(shì)和技術(shù)主流。整個(gè)soc芯片的測(cè)試開(kāi)發(fā)需要各個(gè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)(intellectualproperty，ip)核的測(cè)試信息，這要求ip提供者向soc集成者提供關(guān)于ip的內(nèi)部可測(cè)性設(shè)計(jì)(designfortest，dft)策略、測(cè)試模式和相應(yīng)的測(cè)試協(xié)議、故障覆蓋率及測(cè)試圖形等。在基于掃描鏈的測(cè)試圖形中，測(cè)試數(shù)據(jù)按規(guī)定的測(cè)試協(xié)議完成相應(yīng)的測(cè)試建立、測(cè)試數(shù)據(jù)加載、卸載、捕獲等操作。

如圖1所示，ip核測(cè)試圖形包括測(cè)試時(shí)鐘clk、測(cè)試復(fù)位rstn、ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能(scanenable，se)、ip核內(nèi)部掃描鏈掃描輸入(scaninput，si)、ip核內(nèi)部掃描鏈掃描輸出(scanoutput，so)、ip核初級(jí)輸入(primaryinput，pi)、ip核初級(jí)輸出(primaryoutput，po)等測(cè)試數(shù)據(jù)。階段(1)掃描輸入即進(jìn)行測(cè)試圖形的掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)裝載，階段(5)掃描輸出即進(jìn)行測(cè)試圖形的掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)卸載，此時(shí)掃描使能信號(hào)有效，對(duì)于第一個(gè)測(cè)試圖形，不存在掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)卸載，對(duì)于第二個(gè)直至最后一個(gè)測(cè)試圖形，在掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)的移入的同時(shí)進(jìn)行對(duì)上次掃描鏈捕獲的測(cè)試結(jié)果輸出和測(cè)量過(guò)程，對(duì)于最后一個(gè)測(cè)試圖形，僅進(jìn)行掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)的卸載；階段(2)并行測(cè)量指在所有初級(jí)輸入施加測(cè)試圖形的輸入，同時(shí)在所有初級(jí)輸出進(jìn)行測(cè)試圖形的輸出及測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)量對(duì)比；階段(3)并行捕獲是指將內(nèi)部邏輯的測(cè)試結(jié)果捕獲(capture)到掃描鏈中，從而方便在下次的移位操作中將捕獲的測(cè)試數(shù)據(jù)卸載，此時(shí)，掃描使能信號(hào)無(wú)效，對(duì)于第一個(gè)測(cè)試圖形，不存在寄存器對(duì)內(nèi)部邏輯輸出的捕獲過(guò)程；階段(4)鏈?zhǔn)纵敵黾磳?duì)測(cè)試殼掃描鏈掃描輸出的第一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量對(duì)比(圖1中所有測(cè)量操作發(fā)生在測(cè)試時(shí)鐘脈沖之后，因此，在下一個(gè)測(cè)試圖形掃描輸入開(kāi)始之前應(yīng)先進(jìn)行鏈?zhǔn)纵敵?。

在ip核外圍環(huán)繞基于ieee1500標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試殼后，所有初級(jí)輸入和初級(jí)輸出都對(duì)應(yīng)一個(gè)wbr單元(cell)，無(wú)法在初級(jí)輸入和初級(jí)輸出直接控制和觀測(cè)ip核，因此，原本由ip核初級(jí)輸入端口施加的測(cè)試數(shù)據(jù)將改由測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行端口(wrapperserialport，wsp)或測(cè)試殼并行端口(wrapperparallelport，wpp)施加，同樣，原本由ip核初級(jí)輸出端口輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)也改由wsp或wpp輸出，并進(jìn)行測(cè)量對(duì)比。因此，圖1所示的測(cè)試協(xié)議以及測(cè)試數(shù)據(jù)的次序?qū)l(fā)生變化，可見(jiàn)，如何使用ip核的測(cè)試圖形，對(duì)設(shè)置有測(cè)試殼的ip核進(jìn)行測(cè)試，成為目前亟待解決的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，目的在于解決如何使用ip核的測(cè)試圖形，對(duì)設(shè)置有測(cè)試殼的ip核進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘韵录夹g(shù)方案：

一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，包括：

從ip核測(cè)試圖形中提取掃描鏈掃描輸入si測(cè)試數(shù)據(jù)和初級(jí)輸入pi；

根據(jù)測(cè)試指令，通過(guò)測(cè)試殼輸入端口裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，其中，所述si測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)所述輸入端口后進(jìn)入所述ip核的掃描鏈，所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)所述輸入端口后，被所述測(cè)試殼的wbr單元施加到所述ip核的輸入端口；

根據(jù)所述測(cè)試指令，通過(guò)所述測(cè)試殼的輸出端口，卸載so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)，所述so測(cè)試數(shù)據(jù)由所述si測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)所述ip核的內(nèi)部邏輯電路后轉(zhuǎn)換得到，所述po測(cè)試數(shù)據(jù)由所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)所述ip核的內(nèi)部邏輯電路后轉(zhuǎn)換得到；

將所述so測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的so圖形進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，并將所述po測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的po圖形進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，其中，所述so測(cè)試數(shù)據(jù)由所述ip核的掃描鏈輸出到所述輸出端口，所述po測(cè)試數(shù)據(jù)被所述wbr單元從所述ip核的輸出端口捕獲到所述測(cè)試殼的輸出端口。

可選地，在所述通過(guò)測(cè)試殼輸入端口裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)之前，還包括：

向所述測(cè)試殼中移入測(cè)試指令；

所述測(cè)試指令為串行測(cè)試存取，所述通過(guò)測(cè)試殼輸入端口裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

通過(guò)所述測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸入wsi輸入所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸入wsi輸入所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼寄存器移位控制信號(hào)shiftwr有效，其他測(cè)試殼串行控制信號(hào)無(wú)效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼串行輸出wso的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先裝載，靠近測(cè)試殼串行輸入wsi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后裝載，裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：noutput個(gè)無(wú)關(guān)值、nff個(gè)所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和ninput個(gè)所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，其中，noutput為ip核功能輸出端口的數(shù)目，nff為ip核內(nèi)部掃描鏈掃描單元的數(shù)目，ninput為ip核功能輸入端口的數(shù)目。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸入wsi輸入所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼寄存器移位控制信號(hào)shiftwr有效，其他測(cè)試殼串行控制信號(hào)無(wú)效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼串行輸出wso的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先裝載，靠近測(cè)試殼串行輸入wsi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后裝載，裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：(nmax-nimax)個(gè)無(wú)關(guān)值、nff個(gè)所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和ninput個(gè)所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，其中，nmax為所述ip核最長(zhǎng)掃描鏈的長(zhǎng)度，為所述ip核最長(zhǎng)輸入掃描鏈的長(zhǎng)度。

可選地，所述通過(guò)所述測(cè)試殼的輸出端口，卸載so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

如果所述測(cè)試指令為串行測(cè)試存取，通過(guò)所述測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸出wso卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸出wso卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼寄存器移位控制信號(hào)shiftwr有效，其他測(cè)試殼串行控制信號(hào)無(wú)效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼串行輸出wso的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先卸載，靠近測(cè)試殼串行輸入wsi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后卸載，卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：(noutput-1)個(gè)所述po測(cè)試數(shù)據(jù)、nff個(gè)所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和ninput個(gè)無(wú)關(guān)值。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸出wso卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼寄存器移位控制信號(hào)shiftwr有效，其他測(cè)試殼串行控制信號(hào)無(wú)效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼串行輸出wso的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先卸載，靠近測(cè)試殼串行輸入wsi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后卸載，卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：(noutput-1)個(gè)所述po測(cè)試數(shù)據(jù)、nff個(gè)所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和個(gè)無(wú)關(guān)值，其中，為所述ip核最長(zhǎng)輸出掃描鏈的長(zhǎng)度。

可選地，在所述通過(guò)測(cè)試殼輸入端口裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)之前，還包括：

向所述測(cè)試殼中移入測(cè)試指令；

所述測(cè)試指令為并行測(cè)試存取，所述通過(guò)測(cè)試殼輸入端口裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

通過(guò)所述測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸入wpi輸入所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸入wpi輸入所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼并行掃描使能信號(hào)wpse有效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼并行輸出wpo的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先裝載，靠近測(cè)試殼并行輸入wpi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后裝載，第n條并行掃描鏈裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)無(wú)關(guān)值和個(gè)所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)/所述si測(cè)試數(shù)據(jù)，其中，nwpp-max為最長(zhǎng)并行掃描鏈的長(zhǎng)度，為第n條并行掃描鏈輸入掃描鏈的長(zhǎng)度。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸入wpi輸入所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼并行掃描使能信號(hào)wpse有效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼并行輸出wpo的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先裝載，靠近測(cè)試殼并行輸入wpi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后裝載，第n條并行掃描鏈裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)無(wú)關(guān)值和個(gè)所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)和所述si測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選地，所述通過(guò)所述測(cè)試殼的輸出端口，卸載so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

如果所述測(cè)試指令為并行測(cè)試存取，通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸出wpo卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸出wpo卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼并行掃描使能信號(hào)wpse有效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼并行輸出wpo的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先卸載，靠近測(cè)試殼并行輸入wpi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后卸載，第n條并行掃描鏈卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)、所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和個(gè)無(wú)關(guān)值，其中，為第n條并行掃描鏈輸出掃描鏈的長(zhǎng)度。

可選地，所述通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸出wpo卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)包括：

在ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能se信號(hào)和測(cè)試殼并行掃描使能wpse信號(hào)有效的情況下，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼并行輸出wpo的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先卸載，靠近測(cè)試殼并行輸入wpi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后卸載，第n條并行掃描鏈卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)所述po測(cè)試數(shù)據(jù)和所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和個(gè)無(wú)關(guān)值。

本申請(qǐng)所述的基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，從ip核測(cè)試圖形中提取掃描鏈掃描輸入si和初級(jí)輸入pi，根據(jù)測(cè)試指令，通過(guò)測(cè)試殼輸入端口裝載將所述si測(cè)試數(shù)據(jù)裝載到ip核的掃描鏈，將所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)所述測(cè)試殼的wbr單元施加到所述ip核的輸入端口，并根據(jù)測(cè)試指令，卸載由所述si測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)所述ip核的內(nèi)部邏輯電路后轉(zhuǎn)換得到的so測(cè)試數(shù)據(jù)以及po測(cè)試數(shù)據(jù)，將所述so測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的so圖形進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，并將所述po測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的po圖形進(jìn)行測(cè)量比較，其中，所述so測(cè)試數(shù)據(jù)由所述ip核的掃描鏈輸出到所述輸出端口，所述po測(cè)試數(shù)據(jù)被所述wbr單元從所述ip核的輸出端口捕獲到所述測(cè)試殼的輸出端口。可見(jiàn)，本申請(qǐng)所述的方法，能夠使用ip核的測(cè)試圖形，得到基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試數(shù)據(jù)，并與測(cè)試圖形中的相應(yīng)圖形進(jìn)行比對(duì)。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為ip核測(cè)試圖形的示意圖；

圖2為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法的流程圖；

圖3為一種ip核測(cè)試殼的示意圖；

圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的又一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法的流程圖；

圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的通過(guò)wsp向wir移入測(cè)試指令的測(cè)試協(xié)議的圖；

圖6a)為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的根據(jù)ip核測(cè)試圖形轉(zhuǎn)換得到的加裝測(cè)試殼后的ip核測(cè)試圖形的示意圖；

圖6b)為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的ip核測(cè)試圖形的示意圖；

圖7為又一種ip核測(cè)試殼的示意圖；

圖8為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的又一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試的流程圖；

圖9為從ip核測(cè)試圖形轉(zhuǎn)換為測(cè)試殼的測(cè)試圖形的示意圖；

圖10為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的產(chǎn)生使能信號(hào)的電路的示意圖；

圖11為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的方法反映的信號(hào)示意圖；

圖12為本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的方法反映的信號(hào)示意圖。

具體實(shí)施方式

ieeestd1500標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的ip核測(cè)試殼結(jié)構(gòu)由測(cè)試殼邊界寄存器(wrapperboundaryregister，wbr)、測(cè)試殼旁路寄存器(wrapperbypassregister，wby)、測(cè)試殼指令寄存器(wrapperinstructionregister，wir)、測(cè)試殼串行端口(wrapperserialport，wsp)和可選的測(cè)試殼并行端口(wrapperparallelport，wpp)組成。

其中，wbr是數(shù)據(jù)寄存器，用于提供測(cè)試激勵(lì)和接收測(cè)試響應(yīng)。wbr由串行連接的測(cè)試殼邊界寄存器單元(wbrcell)組成，wbrcell能實(shí)現(xiàn)測(cè)試激勵(lì)的施加和測(cè)試響應(yīng)的捕獲，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)嵌入式ip核的控制和觀察。嵌入式ip核的每一個(gè)輸入及輸出端口都有一個(gè)wbrcell，但測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制(testaccessmechanism，tam)端口和模擬端口可以不設(shè)置wbrcell。ieeestd1500只定義了兩種類型的wbrcell：輸入wbrcell和輸出wbrcell。wbrcell提供4個(gè)輸入輸出端口：測(cè)試輸入端口(celltestinput，cti)、測(cè)試輸出端口(celltestoutput，cto)、功能輸入端口(cellfunctionalinput，cfi)、功能輸出端口(cellfunctionaloutput，cfo)cti和cto組成移位路徑(cti→cto)，cfi和cfo組成功能路徑(cfi→cfo)。每個(gè)wbrcell至少包括一個(gè)存儲(chǔ)單元。所有wbrcell的移位路徑首尾相連組成測(cè)試殼掃描鏈，連接在測(cè)試殼串行輸入(wrapperserialinput，wsi)和測(cè)試殼串行輸出(wrapperserialoutput，wso)之間。對(duì)于輸入單元(inputcell)，cfi和測(cè)試殼功能輸入相連，cfo和ip核輸入相連，對(duì)于輸出單元(outputcell)，cfi和ip核輸出相連，cfo和測(cè)試殼功能輸出相連。wbrcell只要達(dá)到ieee1500規(guī)定的模式及行為即可，因而沒(méi)有固定的結(jié)構(gòu)。

wby是數(shù)據(jù)寄存器，在測(cè)試殼串行輸入wsi和測(cè)試殼串行輸出wso之間提供一條支路。當(dāng)沒(méi)有其他數(shù)據(jù)寄存器可選的時(shí)候，它可以由當(dāng)前的測(cè)試殼指令選擇充當(dāng)默認(rèn)的數(shù)據(jù)寄存器，為其他ip核的測(cè)試提供一條測(cè)試數(shù)據(jù)快速通過(guò)的路徑。

wir用于控制測(cè)試殼的操作，wir通過(guò)測(cè)試殼串行輸入wsi和測(cè)試封裝殼串行控制(wrapperserialcontrol，wsc)將指令串行地送入測(cè)試殼電路。并根據(jù)載入的指令決定當(dāng)前的測(cè)試模式是核外測(cè)試還是內(nèi)部測(cè)試，決定訪問(wèn)方式是串行訪問(wèn)還是并行訪問(wèn)，決定被連接在測(cè)試殼串行輸入wsi與測(cè)試殼串行輸出wso之間的寄存器是wir、wbr還是wby，最后，指令寄存器負(fù)責(zé)根據(jù)載入的指令產(chǎn)生測(cè)試殼控制信號(hào)來(lái)控制wby的移位、wbrcell的移位、捕獲、更新、傳輸操作、以及選通器的選擇。

wsp是測(cè)試殼基本端口，用于測(cè)試殼寄存器中指令和數(shù)據(jù)輸入輸出，除了測(cè)試殼串行輸入輸出(wsi、wso)以外，它還包含控制所有測(cè)試殼寄存器的測(cè)試封裝殼串行控制(wsc)，wsc由6條強(qiáng)制信號(hào)線和2條可選信號(hào)線組成，包括：復(fù)位信號(hào)(wrstn)、時(shí)鐘信號(hào)(wrck)、指令寄存器選擇信號(hào)(selectwir)、寄存器移位控制信號(hào)(shiftwr)、寄存器捕獲信號(hào)(capturewr)、寄存器更新信號(hào)(updatewr)、寄存器變換信號(hào)(transferdr，可選)、輔助時(shí)鐘信號(hào)(auxck，可選)。當(dāng)selectwir有效時(shí)，wir連接在wsi和wso之間。當(dāng)selectwir無(wú)效時(shí)，wbr或wby連接在wsi和wso之間。

可選wpp提供對(duì)測(cè)試殼的并行訪問(wèn)，它由測(cè)試殼并行輸入(wrapperparallelinput，wpi)、測(cè)試殼并行輸出(wrapperparalleloutput，wpo)和測(cè)試殼并行控制(wrapperparallelcontrol，wpc)組成。它可以將串行測(cè)試殼掃描鏈分割成多條并行掃描鏈，節(jié)約測(cè)試時(shí)間。wpp寬度越大，測(cè)試時(shí)間越短，但是所需的測(cè)試管腳資源也越多，所以應(yīng)該在測(cè)試時(shí)間和測(cè)試資源折中考慮。

本實(shí)施例所述的測(cè)試圖形的轉(zhuǎn)換方法，目的在于將ip核級(jí)的測(cè)試圖形轉(zhuǎn)換為測(cè)試殼級(jí)的測(cè)試圖形，以對(duì)嵌入測(cè)試殼中的ip核進(jìn)行測(cè)試。

下面將結(jié)合本申請(qǐng)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本申請(qǐng)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒旧暾?qǐng)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本申請(qǐng)保護(hù)的范圍。

本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，如圖2所示，包括以下步驟：

s201：從ip核測(cè)試圖形中提取si和pi測(cè)試數(shù)據(jù)；

如圖1所示，ip核測(cè)試圖形包括測(cè)試時(shí)鐘clk、測(cè)試復(fù)位rstn、ip核內(nèi)部掃描鏈掃描使能(scanenable，se)、ip核內(nèi)部掃描鏈掃描輸入(scaninput，si)、ip核內(nèi)部掃描鏈掃描輸出(scanoutput，so)、初級(jí)輸入(primaryinput，pi)、初級(jí)輸出(primaryoutput，po)等測(cè)試數(shù)據(jù)。而加裝測(cè)試殼后，原本用于訪問(wèn)si、so、pi、po信號(hào)的端口被嵌入測(cè)試殼內(nèi)部不能訪問(wèn)，只有用于clk、rstn、se的輸入端能被訪問(wèn)。另外，ieee1500測(cè)試殼強(qiáng)制支持串行端口(wsp)訪問(wèn)，可選支持并行端口(wpp)訪問(wèn)。因此，基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試首先要從ip核測(cè)試圖形中提取si和pi測(cè)試數(shù)據(jù)，然后根據(jù)測(cè)試協(xié)議將ip核測(cè)試圖形轉(zhuǎn)換為包含clk、rstn、se、wsp和wpp的測(cè)試圖形。

s202：根據(jù)測(cè)試指令，向測(cè)試殼中裝載si測(cè)試數(shù)據(jù)和pi測(cè)試數(shù)據(jù)；

其中，所述si測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)所述輸入端口后進(jìn)入所述ip核的掃描鏈，所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)所述輸入端口后，被所述測(cè)試殼的wbr單元施加到所述ip核的輸入端口。

s203：根據(jù)所述測(cè)試指令，通過(guò)所述測(cè)試殼的輸出端口，卸載so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)；

其中，所述so測(cè)試數(shù)據(jù)由所述si測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)所述ip核的內(nèi)部邏輯電路后轉(zhuǎn)換得到，所述po測(cè)試數(shù)據(jù)由所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)所述ip核的內(nèi)部邏輯電路后轉(zhuǎn)換得到。

s204：通過(guò)卸載獲取到so測(cè)試數(shù)據(jù)后，將所述so測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的so圖形進(jìn)行測(cè)量比對(duì)；

其中，所述so測(cè)試數(shù)據(jù)由所述ip核的掃描鏈輸出到所述輸出端口。需要說(shuō)明的是，在實(shí)際應(yīng)用中，從輸出端口捕獲到so測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，即執(zhí)行與ip核測(cè)試圖形中的so圖形的比對(duì)。

s205：通過(guò)卸載獲取到po測(cè)試數(shù)據(jù)后，將所述po測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的po圖形進(jìn)行測(cè)量比對(duì)。

其中，所述po測(cè)試數(shù)據(jù)被所述wbr單元從所述ip核的輸出端口捕獲到所述測(cè)試殼的輸出端口。需要說(shuō)明的是，在實(shí)際應(yīng)用中，從輸出端口捕獲到po測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，即執(zhí)行與ip核測(cè)試圖形中的po圖形的比對(duì)。

具體地，測(cè)試指令的不同，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試殼裝載及卸載測(cè)試數(shù)據(jù)的端口的不同，下面從串行和并行測(cè)試指令，分別對(duì)上述步驟進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。

本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的又一種基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，本實(shí)施例中，以串行測(cè)試指令、并以圖3所示的ip核測(cè)試殼為例進(jìn)行說(shuō)明，圖3中，該ip核功能輸入端口的數(shù)目為ninput＝4(不含時(shí)鐘clk、復(fù)位rstn、掃描輸入si、掃描使能se)，ip核功能輸出端口的數(shù)目為noutput＝4(不含掃描輸出so)，ip核內(nèi)部有2條掃描鏈，其中，掃描鏈0上掃描寄存器的數(shù)目為掃描鏈1上掃描寄存器的數(shù)目為因此，ip核內(nèi)部掃描鏈掃描單元的數(shù)目為nff＝8。ip核內(nèi)部掃描鏈和測(cè)試殼掃描鏈串聯(lián)后的長(zhǎng)度為nwsp-max＝noutput+nff+ninput。(圖3中粗線代表串行內(nèi)部測(cè)試的數(shù)據(jù)通路，圖3中未畫(huà)出并行外部測(cè)試的數(shù)據(jù)通路。)

如圖4所示，本實(shí)施例所述方法包括以下步驟：

s401：從ip核測(cè)試圖形中提取si、pi測(cè)試數(shù)據(jù)、so和po待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)；

其中，so和po待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)即為ip核測(cè)試圖形中的so和po測(cè)試圖形，這里可以先提取出來(lái)，用于后續(xù)的比對(duì)使用。為了避免混淆，將這里提取出來(lái)的so測(cè)試數(shù)據(jù)稱為so待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)，po測(cè)試數(shù)據(jù)稱為po待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)。

s402：向測(cè)試殼中移入測(cè)試指令；

本實(shí)施例中，通過(guò)測(cè)試殼串行端口(wrapperserialport，wsp)向wir移入測(cè)試指令。通過(guò)wsp向wir移入測(cè)試指令的測(cè)試協(xié)議如圖5所示。圖5中，ip核信號(hào)包括：時(shí)鐘信號(hào)(clk)、復(fù)位信號(hào)(rstn)、掃描使能信號(hào)(se)，測(cè)試殼信號(hào)包括：復(fù)位信號(hào)(wrstn)、時(shí)鐘信號(hào)(wrck)、指令寄存器選擇信號(hào)(selectwir)、寄存器移位控制信號(hào)(shiftwr)、寄存器捕獲控制信號(hào)(capturewr)、寄存器更新控制信號(hào)(updatewr)、測(cè)試殼串行輸入信號(hào)(wsi)。在向wir移入測(cè)試指令期間，ip核信號(hào)均無(wú)效。在第1個(gè)wrck下降沿，selectwir有效，表示選中wir連接在wsi和wso之間；在第2個(gè)wrck下降沿，shiftwr有效，表示下一個(gè)wrck上升沿可以開(kāi)始wir移位操作；在第3個(gè)wrck上升沿到第6個(gè)wrck上升沿，測(cè)試指令從wsi向wso移位，wir移位操作過(guò)程中，selectwir和shiftwr保持為1，測(cè)試指令寬度由用戶自定義，本實(shí)施例中，測(cè)試指令寬度為4；在第7個(gè)wrck上升沿，updatewr有效，表示下一個(gè)wrck下降沿開(kāi)始wir更新操作，更新后的測(cè)試指令可以確定當(dāng)前測(cè)試存取機(jī)制；在第8個(gè)wrck下降沿，selectwir無(wú)效，表示選中wbr或wby連接在wsi和wso之間，測(cè)試指令移入過(guò)程結(jié)束。

s403：確定所述測(cè)試指令為串行測(cè)試存??；

s404：通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼串行輸入(wrapperserialinput，wsi)，向測(cè)試殼中裝載si測(cè)試數(shù)據(jù)和pi測(cè)試數(shù)據(jù)；

具體地，在掃描輸入階段，se和shiftwr有效，selectwir、capturewr和updatewr無(wú)效，在每個(gè)wrck上升沿，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼串行輸出wso的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先裝載，靠近測(cè)試殼串行輸入wsi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后裝載。裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：noutput個(gè)無(wú)關(guān)值(可以是0，也可以是1，下同)、nff個(gè)掃描輸入測(cè)試數(shù)據(jù)和ninput個(gè)初級(jí)輸入測(cè)試數(shù)據(jù)，其中，noutput為ip核功能輸出端口的數(shù)目，nff為ip核內(nèi)部掃描鏈掃描單元的數(shù)目，ninput為ip核功能輸入端口的數(shù)目。該階段完成測(cè)試圖形的掃描輸入測(cè)試數(shù)據(jù)和初級(jí)輸入測(cè)試數(shù)據(jù)裝載。

本實(shí)施例中，掃描輸入階段即圖6b)中第3周期到第18周期，裝置的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：noutput個(gè)無(wú)關(guān)值個(gè)si0測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)si1測(cè)試數(shù)據(jù)→ninput個(gè)pi測(cè)試數(shù)據(jù)。其中，si0為ip核內(nèi)部掃描鏈0的掃描輸入，si1為ip核內(nèi)部掃描鏈1的掃描輸入，pi為初級(jí)輸入。

s405：將ip核的初級(jí)輸出捕獲到測(cè)試殼掃描鏈；

具體地，在并行測(cè)量階段，selectwir、shiftwr、se和updatewr無(wú)效，capturewr信號(hào)有效，表示在wrck上升沿可以開(kāi)始捕獲操作，將ip核的初級(jí)輸出捕獲到測(cè)試殼掃描鏈輸出wbr單元，從而在下次移位操作中將捕獲的初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)沿掃描鏈移出，但是clk無(wú)時(shí)鐘脈沖，從而保證初級(jí)輸出值在捕獲過(guò)程中保持不變。

本實(shí)施例中，并行測(cè)量階段即圖6b)中第19周期。

s406：將ip核的內(nèi)部邏輯輸出捕獲到ip核的內(nèi)部掃描鏈；

具體地，在并行捕獲階段，selectwir、shiftwr、se、capturewr和updatewr無(wú)效，在clk上升沿，ip核內(nèi)部邏輯輸出被捕獲到掃描鏈中，從而在下次的移位操作中將捕獲的測(cè)試數(shù)據(jù)沿掃描鏈移出。

本實(shí)施例中，并行捕獲階段即圖6b)中第20周期。

s407：輸出并測(cè)量測(cè)試殼掃描鏈鏈?zhǔn)祝?/p>

具體地，在測(cè)試殼掃描鏈鏈?zhǔn)纵敵鲭A段，selectwir、capturewr、updatewr無(wú)效，se和shiftwr有效，clk和wrck無(wú)時(shí)鐘脈沖，保證鏈?zhǔn)纵敵鲞^(guò)程中不進(jìn)行移位操作，只通過(guò)wso對(duì)串行掃描鏈第一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行輸出，并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量操作應(yīng)發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后。

本實(shí)施例中，測(cè)試殼掃描鏈鏈?zhǔn)纵敵鲭A段即圖6b)中的第2周期。

s408：通過(guò)測(cè)試殼中的wso，在測(cè)試殼中卸載并測(cè)量so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)。

s409：在測(cè)量到so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)后，分別將so測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的so圖形即so待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，并將所述po測(cè)試數(shù)據(jù)與所述ip核測(cè)試圖形中的po圖形即po待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，以得到對(duì)于ip核的測(cè)量結(jié)果。

具體地，在掃描輸出階段，即圖6b)中第3周期到第18周期，控制信號(hào)狀態(tài)與s407一致，在每個(gè)wrck下降沿，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼串行輸出wso的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先卸載，靠近測(cè)試殼串行輸入wsi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后卸載。卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：(noutput-1)個(gè)初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)、nff個(gè)掃描輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和ninput個(gè)無(wú)關(guān)值。移出過(guò)程中對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量(無(wú)關(guān)值不用測(cè)量)，測(cè)量操作應(yīng)發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后。該階段完成測(cè)試圖形的掃描輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)卸載。

本實(shí)施例中，掃描輸出階段即圖6b)中第3周期到第18周期，卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：(noutput-1)個(gè)po測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)so0測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)so1測(cè)試數(shù)據(jù)→ninput個(gè)無(wú)關(guān)值。其中，so0為ip核內(nèi)部掃描鏈0的掃描輸出，so1為ip核內(nèi)部掃描鏈1的掃描輸出，po為初級(jí)輸出。

需要注意的是，測(cè)試殼級(jí)測(cè)試圖形與ip核級(jí)測(cè)試圖形一致，在進(jìn)行第二個(gè)直至最后一個(gè)測(cè)試圖形的施加過(guò)程中，同時(shí)進(jìn)行上一次掃描鏈捕獲測(cè)試結(jié)果的輸出和測(cè)量，即當(dāng)前測(cè)試圖形的掃描輸入階段和上一次測(cè)試圖形的掃描輸出階段同時(shí)進(jìn)行。對(duì)于第一個(gè)測(cè)試圖形的施加過(guò)程，不存在上一次測(cè)試結(jié)果的輸出，同樣，對(duì)于最后一個(gè)測(cè)試結(jié)果的輸出和測(cè)量過(guò)程，也不存在下一次測(cè)試圖形的施加過(guò)程。圖6a)所示的ip核測(cè)試圖形中，掃描輸入輸出階段花費(fèi)的測(cè)試時(shí)鐘周期等于ip核內(nèi)部最長(zhǎng)掃描鏈的長(zhǎng)度，即其中，代表ip核內(nèi)部每條掃描鏈的長(zhǎng)度，n代表ip核內(nèi)部掃描鏈數(shù)目。加裝測(cè)試殼后，串行測(cè)試存取機(jī)制下，該階段花費(fèi)的測(cè)試時(shí)鐘周期等于連接在wsi和wso之間的掃描鏈長(zhǎng)度，即nwsp-max，圖6中nwsp-max＝16。

串行測(cè)試存取機(jī)制下，轉(zhuǎn)換后的測(cè)試圖形如圖6所示(圖6中所有測(cè)量操作發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后)。圖6a)為ip核測(cè)試圖形，它的各個(gè)階段與圖1一一對(duì)應(yīng)，唯一不同的是圖1給出兩個(gè)連續(xù)的掃描階段，第一掃描階段包括第n-1測(cè)試圖形掃描輸出和第n測(cè)試圖形掃描輸入，第二掃描階段包括第n測(cè)試圖形掃描輸出和第n+1測(cè)試圖形掃描輸入，而圖6a)只給出一個(gè)掃描階段，該掃描階段包括第n-1測(cè)試圖形掃描輸出和第n測(cè)試圖形掃描輸入。為了保持鏈?zhǔn)纵敵雠c掃描輸出的連貫性，圖6a)將鏈?zhǔn)纵敵鲭A段放在掃描階段之前。圖6b)為根據(jù)ip核測(cè)試圖形轉(zhuǎn)換得到的加裝測(cè)試殼后的ip核測(cè)試圖形。注意，圖中并未畫(huà)出測(cè)試復(fù)位端口(rstn和wrstn)和測(cè)試殼并行端口wpp，這是因?yàn)闇y(cè)試復(fù)位不需要轉(zhuǎn)換，而wpp在該機(jī)制下無(wú)效。可以看出，串行測(cè)試存取機(jī)制下，基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法的重點(diǎn)在于把并行pi和po測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行，并根據(jù)測(cè)試殼掃描鏈連接方式將它們串行移入或移出，具體地，圖6b)中，第n測(cè)試圖形的pi[3]、pi[2]、pi[1]、pi[0]在第15周期到第18周期依次串行移入，第n-1測(cè)試圖形的po[0]、po[1]、po[2]、po[3]在第2周期到第6周期依次串行移出。

本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)的又一種測(cè)試圖形的轉(zhuǎn)換方法，本實(shí)施例中，以并行測(cè)試指令、并以圖7所示的ip核測(cè)試殼為例進(jìn)行說(shuō)明，圖7中，ip核功能輸入端口的數(shù)目為ninput＝4(不含時(shí)鐘clk、復(fù)位rstn、掃描輸入si、掃描使能se)，ip核功能輸出端口數(shù)目為noutput＝4(不含掃描輸出so)，ip核內(nèi)部有2條掃描鏈，其中，掃描鏈0上掃描寄存器的數(shù)目為掃描鏈1上掃描寄存器的數(shù)目為因此，ip核內(nèi)部掃描鏈掃描單元的數(shù)目為nff＝8。測(cè)試殼并行端口的寬度為wwpp＝3。(圖7中粗線代表并行內(nèi)部測(cè)試的數(shù)據(jù)通路，圖7中未畫(huà)出并行外部測(cè)試的數(shù)據(jù)通路?？梢钥闯觯⑿袃?nèi)部測(cè)試時(shí)，3條并行掃描鏈的長(zhǎng)度分別為ip核內(nèi)部2條掃描鏈長(zhǎng)度以及輸入端口鏈長(zhǎng)度和輸出端口鏈長(zhǎng)度之和(ninput+noutput)。)

用nwpp-max表征連接在測(cè)試殼并行輸入和測(cè)試殼并行輸出之間最長(zhǎng)的掃描鏈(圖7中nwpp-max＝8)，其中，代表ip核內(nèi)部掃描鏈的長(zhǎng)度，n代表ip核內(nèi)部掃描鏈數(shù)目。如圖8所示，本實(shí)施例所述方法包括以下步驟：

s801：從ip核測(cè)試圖形中提取si、pi測(cè)試數(shù)據(jù)、so和po待對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)；

s802：向測(cè)試殼中移入測(cè)試指令；

s803：確定所述測(cè)試指令為并行測(cè)試存??；

s804：通過(guò)測(cè)試殼中的測(cè)試殼并行輸入，向測(cè)試殼中裝載si測(cè)試數(shù)據(jù)和pi測(cè)試數(shù)據(jù)；

具體地，在掃描輸入階段，wpse和se有效，在每個(gè)wrck上升沿，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路裝載所述si測(cè)試數(shù)據(jù)和所述pi測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼并行輸出wpo的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先裝載，靠近測(cè)試殼并行輸入wpi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后裝載。第n條并行掃描鏈裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)無(wú)關(guān)值和個(gè)初級(jí)輸入測(cè)試數(shù)據(jù)、掃描輸入測(cè)試數(shù)據(jù)。其中，nwpp-max為最長(zhǎng)并行掃描鏈的長(zhǎng)度，為第n條并行掃描鏈輸入掃描鏈的長(zhǎng)度。該階段完成測(cè)試圖形的掃描輸入測(cè)試數(shù)據(jù)和初級(jí)輸入測(cè)試數(shù)據(jù)裝載。

本實(shí)施例中，掃描輸入階段即圖9中的第3周期到第10周期，各條并行掃描鏈裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)為：

a)wpi[2]：個(gè)無(wú)關(guān)值個(gè)si0測(cè)試數(shù)據(jù)；

b)wpi[1]：個(gè)無(wú)關(guān)值個(gè)si1測(cè)試數(shù)據(jù)；

c)wpi[0]：(nwpp-max-ninput)個(gè)無(wú)關(guān)值→ninput個(gè)pi測(cè)試數(shù)據(jù)。

s805：將ip核的初級(jí)輸出捕獲到測(cè)試殼掃描鏈；

具體地，在并行測(cè)量階段，wpse和se無(wú)效，表示在wrck上升沿可以開(kāi)始捕獲操作，將ip核的初級(jí)輸出捕獲到測(cè)試殼掃描鏈輸出wbr單元，從而在下次移位操作中將捕獲的初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)沿掃描鏈移出，但是clk無(wú)時(shí)鐘脈沖，從而保證初級(jí)輸出值在捕獲過(guò)程中保持不變。

本實(shí)施例中，并行測(cè)量階段即圖9中的第11周期。

s806：將ip核的內(nèi)部邏輯輸出捕獲到ip核的內(nèi)部掃描鏈；

具體地，在并行捕獲階段，wpse和se無(wú)效，在clk上升沿，ip核內(nèi)部邏輯輸出被捕獲到掃描鏈中，從而在下次的移位操作中將捕獲的測(cè)試數(shù)據(jù)沿掃描鏈移出。

本實(shí)施例中，并行捕獲階段即圖9中的第12周期。

s807：輸出并測(cè)量測(cè)試殼掃描鏈鏈?zhǔn)祝?/p>

具體地，在測(cè)試殼掃描鏈鏈?zhǔn)纵敵鲭A段，wpse和se有效，clk和wrck無(wú)脈沖，保證鏈?zhǔn)纵敵鲞^(guò)程中不進(jìn)行移位操作，只通過(guò)wpo對(duì)并行掃描鏈第一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行輸出，并在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定后進(jìn)行測(cè)量。

本實(shí)施例中，測(cè)試殼掃描鏈鏈?zhǔn)纵敵鲭A段即圖9中的第2周期。

s808：通過(guò)測(cè)試殼中的wpo卸載并測(cè)量so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)。

s809：在測(cè)量到so測(cè)試數(shù)據(jù)和po測(cè)試數(shù)據(jù)后，分別將so測(cè)試數(shù)據(jù)與so待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，并將所述po測(cè)試數(shù)據(jù)與po待比對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量比對(duì)，以得到對(duì)于ip核的測(cè)量結(jié)果。

具體地，在掃描輸出階段，即圖9中的第3周期到第10周期，控制信號(hào)狀態(tài)與s807一致，在每個(gè)wrck下降沿，根據(jù)wbr的數(shù)據(jù)通路卸載所述so測(cè)試數(shù)據(jù)和所述po測(cè)試數(shù)據(jù)，靠近測(cè)試殼并行輸出wpo的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最先卸載，靠近測(cè)試殼并行輸入wpi的wbr單元的測(cè)試數(shù)據(jù)最后卸載。第n條并行掃描鏈卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)、掃描輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和個(gè)無(wú)關(guān)值。移出過(guò)程中對(duì)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量(無(wú)關(guān)值不用測(cè)量)，測(cè)量操作應(yīng)發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后。該階段完成測(cè)試圖形的掃描輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)卸載。

本實(shí)施例中，掃描輸出階段即圖9中的第3周期到第10周期，各條并行掃描鏈卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)為：

a)wpo[2]：個(gè)so0測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)無(wú)關(guān)值；

b)wpo[1]：個(gè)so1測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)無(wú)關(guān)值；

c)wpo[0]：(noutput-1)個(gè)po測(cè)試數(shù)據(jù)→(nwpp-max-noutput)個(gè)無(wú)關(guān)值。

需要注意的是，測(cè)試殼級(jí)測(cè)試圖形與ip核級(jí)測(cè)試圖形一致，在進(jìn)行第二個(gè)直至最后一個(gè)測(cè)試圖形的施加過(guò)程中，同時(shí)進(jìn)行上一次掃描鏈捕獲測(cè)試結(jié)果的輸出和測(cè)量，即當(dāng)前測(cè)試圖形的掃描輸入階段和上一次測(cè)試圖形的掃描輸出階段同時(shí)進(jìn)行。對(duì)于第一個(gè)測(cè)試圖形的施加過(guò)程，不存在上一次測(cè)試結(jié)果的輸出，同樣，對(duì)于最后一個(gè)測(cè)試結(jié)果的輸出和測(cè)量過(guò)程，也不存在下一次測(cè)試圖形的施加過(guò)程。ip核測(cè)試圖形中，掃描輸入輸出階段花費(fèi)的測(cè)試時(shí)鐘周期等于ip核內(nèi)部最長(zhǎng)掃描鏈的長(zhǎng)度，即nip-max(＝4)，加裝測(cè)試殼后，該階段花費(fèi)的的測(cè)試時(shí)鐘周期等于連接在wpi和wpo之間最長(zhǎng)的掃描鏈長(zhǎng)度，nwpp-max。圖7中nwpp-max＝8。

并行測(cè)試存取機(jī)制下，轉(zhuǎn)換后的測(cè)試圖形如圖9所示(注意：圖中所有測(cè)量操作發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后)。為了保持鏈?zhǔn)纵敵雠c掃描輸出的連貫性，圖9將鏈?zhǔn)纵敵鲭A段放在掃描輸入輸出階段之前。注意，圖中并未畫(huà)出測(cè)試復(fù)位端口(rstn和wrstn)和測(cè)試殼串行端口wsp，這是因?yàn)闇y(cè)試復(fù)位不需要轉(zhuǎn)換，而wsp在該機(jī)制下無(wú)效。可以看出，并行測(cè)試存取機(jī)制下，測(cè)試圖形翻譯的重點(diǎn)在于把pi和po的測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行，并根據(jù)測(cè)試殼掃描鏈連接方式將它們串行移入或移出，具體地，圖9中，第n測(cè)試圖形的pi[3]、pi[2]、pi[1]、pi[0]在第7周期到第10周期依次串行移入，第n-1測(cè)試圖形的po[0]、po[1]、po[2]、po[3]在第2周期到第6周期依次串行移出。

需要注意的是，與wsp相比，wpp沒(méi)有專門的捕獲操作使能信號(hào)capturewr，因此，本方案在測(cè)試殼裝置內(nèi)部，采用圖10電路產(chǎn)生并行測(cè)試存取機(jī)制下輸出wbr單元的捕獲操作使能信號(hào)wp_capturewr。圖10中所示的電路包括1個(gè)寄存器和1個(gè)2輸入與非門，電路捕獲操作使能信號(hào)wp_capturewr產(chǎn)生的過(guò)程為：先將wpse信號(hào)寄存一拍后輸出，然后將wpse取反后與寄存器輸出相與得到wp_capturewr。

從圖6b)和圖9可以看出，掃描鏈掃入無(wú)關(guān)值和掃出無(wú)關(guān)值所占用的周期數(shù)較多，導(dǎo)致第n測(cè)試圖形有效測(cè)試數(shù)據(jù)的掃描輸入和第n-1測(cè)試圖形有效測(cè)試數(shù)據(jù)的掃描輸出不能完全同時(shí)進(jìn)行。為了節(jié)約測(cè)試時(shí)間，本申請(qǐng)實(shí)施例中，對(duì)上述實(shí)施例所述方法進(jìn)行優(yōu)化，提出優(yōu)化后的基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法。該優(yōu)化方法能最大限度減少掃描鏈掃入無(wú)關(guān)值和掃出無(wú)關(guān)值的周期數(shù)，從而降低測(cè)試時(shí)間，具體方案描述如下。

將ip核輸入掃描鏈定義為測(cè)試殼輸入端口鏈加上ip核內(nèi)部掃描鏈，假設(shè)輸入掃描鏈集合為定義ip核最長(zhǎng)輸入掃描鏈長(zhǎng)度為串行測(cè)試存取機(jī)制下并行測(cè)試存取機(jī)制下

將ip核輸出掃描鏈定義為測(cè)試殼輸出端口鏈加上ip核內(nèi)部掃描鏈，假設(shè)輸出掃描鏈集合為定義ip核最長(zhǎng)輸出掃描鏈長(zhǎng)度為串行測(cè)試存取機(jī)制下并行測(cè)試存取機(jī)制下

因此，定義ip核最長(zhǎng)掃描鏈長(zhǎng)度掃描輸入輸出階段所花費(fèi)的測(cè)試周期數(shù)為nmax，則：

串行測(cè)試存取機(jī)制下，ip核輸入掃描鏈掃入無(wú)關(guān)值的周期數(shù)為ip核輸出掃描鏈掃出無(wú)關(guān)值的周期數(shù)為掃描輸入輸出階段節(jié)約的測(cè)試周期數(shù)為nwsp-max-nmax；

并行測(cè)試存取機(jī)制下，各條ip核輸入掃描鏈掃入無(wú)關(guān)值的周期數(shù)分別為…；各條ip核輸出掃描鏈掃出無(wú)關(guān)值的周期數(shù)為…；掃描輸入輸出階段節(jié)約的測(cè)試周期數(shù)為nwpp-max-nmax。

以圖3所示的某ip核測(cè)試殼為例闡述優(yōu)化后串行測(cè)試存取機(jī)制下基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，該ip核功能輸入端口數(shù)目為ninput＝4(不含時(shí)鐘clk、復(fù)位rstn、掃描輸入si、掃描使能se)，ip核功能輸出端口數(shù)目為noutput＝4(不含掃描輸出so)，ip核內(nèi)部有2條掃描鏈，其中，掃描鏈0上掃描寄存器的數(shù)目為掃描鏈1上掃描寄存器的數(shù)目為ip核最長(zhǎng)輸入掃描鏈長(zhǎng)度為ip核最長(zhǎng)輸出掃描鏈的長(zhǎng)度為ip核最長(zhǎng)掃描鏈的長(zhǎng)度為優(yōu)化的基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法如圖11所示(圖11中所有測(cè)量操作發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后)，它在掃描輸入輸出階段與圖6所述的方法不同，其他階段的處理與圖6所示的方法相同，不同之處具體描述如下：

1)在掃描輸入階段，裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)無(wú)關(guān)值、nff個(gè)掃描輸入測(cè)試數(shù)據(jù)和ninput個(gè)初級(jí)輸入測(cè)試數(shù)據(jù)。本實(shí)施例中，掃描輸入階段即圖11中的第3周期到第14周期，裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)為：個(gè)無(wú)關(guān)值個(gè)si0測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)si1測(cè)試數(shù)據(jù)→ninput個(gè)pi測(cè)試數(shù)據(jù)；

2)在掃描輸出階段，卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：(noutput-1)個(gè)初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)、nff個(gè)掃描輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和個(gè)無(wú)關(guān)值。本實(shí)施例中，掃描輸出階段即圖11中的第3周期到第14周期，卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)為：(noutput-1)個(gè)po測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)so0測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)so1測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)無(wú)關(guān)值；

按照上述輸入及輸出方法，節(jié)約的測(cè)試周期數(shù)為nwsp-max-nmax＝16-12＝4。

以圖7所示的某ip核測(cè)試殼為例闡述優(yōu)化后并行測(cè)試存取機(jī)制下基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法，該ip核功能輸入端口數(shù)目為ninput＝4(不含時(shí)鐘clk、復(fù)位rstn、掃描輸入si、掃描使能se)，ip核功能輸出端口數(shù)目為noutput＝4(不含掃描輸出so)，ip核內(nèi)部有2條掃描鏈，其中，掃描鏈0上掃描寄存器的數(shù)目為掃描鏈1上掃描寄存器的數(shù)目為測(cè)試殼并行端口寬度為wwpp＝3。3條ip核輸入掃描鏈的長(zhǎng)度分別為：ip核最長(zhǎng)輸入掃描鏈的長(zhǎng)度為3條ip核輸出掃描鏈長(zhǎng)度分別為：ip核最長(zhǎng)輸出掃描鏈長(zhǎng)度為ip核最長(zhǎng)掃描鏈長(zhǎng)度為nmax＝4。優(yōu)化的基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法如圖12所示(圖12中所有測(cè)量操作發(fā)生在測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后)，它在掃描輸入輸出階段的處理與圖9所示的方法不同，其他階段的處理與圖9所示的方法相同，不同之處具體描述如下：

1)在掃描輸入階段，測(cè)試殼并行輸入端口同時(shí)進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)裝載，第n條并行掃描鏈裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：個(gè)無(wú)關(guān)值和個(gè)初級(jí)輸入測(cè)試數(shù)據(jù)、掃描輸入測(cè)試數(shù)據(jù)。本實(shí)施例中，掃描輸入階段即圖12中的第3周期到第6周期，各條并行掃描鏈裝載的測(cè)試數(shù)據(jù)為：

a)wpi[2]：個(gè)無(wú)關(guān)值個(gè)si0測(cè)試數(shù)據(jù)；

b)wpi[1]：個(gè)無(wú)關(guān)值個(gè)si1測(cè)試數(shù)據(jù)；

c)wpi[0]：個(gè)無(wú)關(guān)值→ninput個(gè)pi測(cè)試數(shù)據(jù)；

2)在掃描輸出階段，測(cè)試殼并行輸出端口同時(shí)進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)卸載，第n條并行掃描鏈卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)包括個(gè)初級(jí)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)、掃描輸出測(cè)試數(shù)據(jù)和個(gè)無(wú)關(guān)值。本實(shí)施例中，掃描輸出階段即圖12中的第3周期到第6周期，各條并行掃描鏈卸載的測(cè)試數(shù)據(jù)為：

a)wpo[2]：個(gè)so0測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)無(wú)關(guān)值；

b)wpo[1]：個(gè)so1測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)無(wú)關(guān)值；

c)wpo[0]：(noutput-1)個(gè)po測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)無(wú)關(guān)值；

按照上述輸入及輸出方法，節(jié)約的測(cè)試周期數(shù)為nwpp-max-nmax＝8-4＝4。

優(yōu)化的基于測(cè)試殼的ip核測(cè)試方法減少了輸入掃描鏈掃入無(wú)關(guān)值的周期數(shù)和輸出掃描鏈掃出無(wú)關(guān)值的周期數(shù)，以此達(dá)到節(jié)約測(cè)試周期、優(yōu)化測(cè)試方法的目的。

本說(shuō)明書(shū)中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其它實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同或相似部分互相參見(jiàn)即可。

對(duì)所公開(kāi)的實(shí)施例的上述說(shuō)明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本申請(qǐng)。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本申請(qǐng)的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本申請(qǐng)將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。