技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
根據(jù)本發(fā)明的光線路測試儀，作為至少用于檢測光線路的截斷位置光線路測試儀，其特征在于包括：包括：第一波長可調(diào)激光器源(TOS1)，其產(chǎn)生多個波長交替性地按周期出現(xiàn)的第一光信號，其中將一個波長反復出現(xiàn)的周期稱為“波長反復周期”；第二波長可調(diào)激光器源(TOS2)，其產(chǎn)生與第一光信號相同、且具有能夠被調(diào)節(jié)的延遲時間的第二光信號；以及干涉儀(IFM)，其使射出至光線路的第一光信號中返回的反射光信號與上述第二光信號產(chǎn)生干涉，從而輸出干涉信號。

技術(shù)研發(fā)人員：羅基云
受保護的技術(shù)使用者：株式會社秀利得
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.22
技術(shù)公布日：2017.08.29