本發(fā)明涉及x射線衍射測試領(lǐng)域，具體涉及一種大樣品物相分析擴展支架。

背景技術(shù)：

一般的商業(yè)多功能x射線衍射儀(常見的生產(chǎn)廠家有日本理學，德國布魯克，荷蘭帕納科)所配備的物相分析標準樣品臺其原理如圖1所示。該標準樣品臺使用彈簧片將樣品和旋轉(zhuǎn)軸的下表面(測試基準平面)壓合，確保測試面與測試基準平面齊平。測試時，彈簧片的彈力保持樣品的固定，與旋轉(zhuǎn)軸一起運動。但是，受限于樣品的固定方式，標準樣品臺對測試樣品的尺寸重量有嚴格的要求：一般φ40以下，厚度在4mm以下，質(zhì)量不超過100g。這極大的限制了x射線衍射儀應用的范圍。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

大樣品x射線衍射物相分析擴展支架由固定端、樣品支撐臺和高度調(diào)節(jié)機構(gòu)三個部分組成(如圖2所示)。在進行大樣品的物相分析時，將擴展支架的固定端插入標準樣品臺的旋轉(zhuǎn)軸，將樣品放置于樣品支撐臺，使用高度調(diào)節(jié)機構(gòu)調(diào)節(jié)樣品測試面與測試基準面齊平，用以保證樣品測試表面與測試基準平面一致。隨后即可開始x射線衍射儀所設定的標準測試程序。因此，本發(fā)明主要包括以下四項技術(shù)特征：

1、大樣品x射線衍射物相分析支架，包括用于與x射線衍射儀自帶的平面樣品臺旋轉(zhuǎn)軸相連接的固定端、樣品支撐臺和高度調(diào)節(jié)機構(gòu)；固定端和高度調(diào)節(jié)機構(gòu)的下端均與一固定架相連接，樣品支撐臺置于一高度調(diào)節(jié)機構(gòu)上方，樣品支撐臺可通過高度調(diào)節(jié)機構(gòu)進行上下移動。

所述高度調(diào)節(jié)機構(gòu)為下述結(jié)構(gòu)中的一種或二種以上，

a、為一通過液泵與一液源相連的液缸，液缸兩端分別與固定架和樣品支撐臺相連；

b、為一下端帶有螺紋的絲杠，絲杠下端與固定架上帶內(nèi)螺紋的通孔相螺合；絲杠上端與樣品支撐臺下方連接。

所述固定端上帶有一盲孔或通孔，旋轉(zhuǎn)軸穿套于盲孔或通孔內(nèi)，固定端通過與x射線衍射儀自帶的平面樣品臺旋轉(zhuǎn)軸套接來固定并定位整個支架。

使用樣品支撐臺放置樣品使用高度調(diào)節(jié)機構(gòu)調(diào)節(jié)樣品支撐臺的高度，用以保證樣品測試表面與測試基準平面一致

本發(fā)明所涉及的x射線衍射儀用大樣品物相分析擴展支架是對x射線衍射儀標準平面樣品臺的擴展，利用標準平面樣品臺的旋轉(zhuǎn)軸為支撐，極大的提高了支架的承重能力，使得x射線衍射儀能夠?qū)Υ髽悠愤M行物相分析。使用擴展支架后，樣品的尺寸僅受限于x射線入射光路段與衍射光路段之間的距離，樣品重量則以不能造成測角儀的旋轉(zhuǎn)軸變形為限制。

附圖說明：

圖1現(xiàn)有標準樣品臺對樣品的固定方式

圖2大樣品x射線衍射物相分析支架組成原理圖

圖3帕納科瑞影標準樣品臺旋轉(zhuǎn)軸橫截面尺寸；

圖4固定支架段；

圖5帶高度調(diào)節(jié)螺桿的樣品支撐臺；

圖6金屬塊測試結(jié)果。

具體實施方式

實施例：

直徑為φ70mm*4mm不明金屬片做物相分析，以確定金屬塊的成分。

為在帕納科瑞影多功能x射線衍射儀上測試上述金屬塊，我們制造了如下規(guī)格的擴展樣品臺。瑞影標準樣品臺旋轉(zhuǎn)軸橫截面尺寸為圖3所示：圖3帕納科瑞影標準樣品臺旋轉(zhuǎn)軸橫截面尺寸；

本實施例的的擴展支架各個部分的設計方案如下：

1、固定支架(圖4)：固定支架通過直徑為25mm的通孔與xrd設備的通用樣品臺咬合，通過m6的螺紋通孔與高度調(diào)節(jié)機構(gòu)螺合。

2、高度調(diào)節(jié)機構(gòu)與樣品支撐臺：本實施例采用較為簡單的螺紋調(diào)節(jié)，使用m6的螺桿一端與直徑70mm的樣品支撐臺固定連接，一端與固定支架螺合。通過旋轉(zhuǎn)樣品臺即可調(diào)節(jié)樣品臺的高度(圖5帶高度調(diào)節(jié)螺桿的樣品支撐臺)。

測試時將金屬塊置于樣品支撐臺上，旋轉(zhuǎn)樣品支撐臺使得金屬塊測試平面與測試標準面齊平，進行標準的物相掃描，測試出大金屬塊為mo(圖6金屬塊測試結(jié)果)。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種大樣品X射線衍射物相分析支架。商用的X射線衍射儀所配備的物相分析用標準平面樣品臺使用簧片對樣品進行定位，由于簧片彈力和尺寸的限制，其能測試的樣品大小一般在φ40以下，厚度在4mm以下，質(zhì)量不超過100g。本發(fā)明所涉及的X射線衍射儀用大樣品物相分析擴展支架是對X射線衍射儀標準平面樣品臺的擴展，利用標準平面樣品臺的旋轉(zhuǎn)軸為支撐，極大的提高了支架的承重能力，使得X射線衍射儀能夠?qū)Υ髽悠愤M行物相分析。使用擴展支架后，樣品的尺寸僅受限于X射線入射光路段與衍射光路段之間的距離，樣品重量則以不能造成測角儀的旋轉(zhuǎn)軸變形為限制。

技術(shù)研發(fā)人員：鄧淞文;李剛;潘艷偉
受保護的技術(shù)使用者：中國科學院大連化學物理研究所
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.24
技術(shù)公布日：2017.07.04