本發(fā)明涉及一種鏡片疵病的檢測方法，屬于光學領域。

背景技術：

目前，鏡片疵病檢測依然全部采用人工檢測的方式完成，而人工檢測很大程度上依賴于檢測人員的經驗和技術，且易受主觀因素、個體差異等因素影響，誤檢率較高。專利號為201310543428.6和201310543198.3的發(fā)明專利均對鏡片視覺檢測系統(tǒng)進行了深入研究，但未提及鏡片疵病的自動檢測系統(tǒng)。

技術實現要素：

針對人工檢測存在的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種鏡片疵病的檢測方法，用于提高檢測準確率和效率，為鏡片在線檢測提供基礎。

本發(fā)明的一種鏡片疵病的檢測方法技術方案為：

1）、采用光柵對背光源進行調制，可增強鏡片表面疵病與完好區(qū)域的對比度；

2）、通過直線絲杠滑臺帶動光柵運動，其移動距離與光柵條紋間隔相等，通過對鏡片圖像采集兩次即可采集鏡片所有位置的明、暗場圖像；

3）、檢測過程中，鏡片與相機之間相對位置不發(fā)生改變，根據圖像保序性原則對所采集的兩幅圖像中的明、暗場進行拼接；

4）、在暗場圖像中，通過灰度閾值分割方式提取灰度值高于暗場條紋區(qū)域，所提取的疵病主要包括基片點、加硬點、亮斑、氣泡、劃傷等缺陷，并連接同線和八鄰域內的特征點，綜合灰度和形態(tài)特征將疵病點進行分類；

5）、在明場圖像中，通過灰度閾值分割方式提取灰度值低于暗場條紋區(qū)域，所提取的疵病主要包括點顆粒、雜質等缺陷，并連接同線和八鄰域內的特征點，綜合灰度和形態(tài)特征將疵病點進行分類。

本發(fā)明，可實現對鏡片疵病的在線檢測以及信息的實時處理與共享。

附圖說明

以下結合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作進一步詳細說明。

圖1是本發(fā)明檢測流程圖。

具體實施方案

以下結合附圖介紹本發(fā)明詳細技術方案：如圖1所示，一種鏡片疵病的檢測方法，其具體實施步驟如下：

1）采用光柵對背光源進行調制，可增強鏡片表面疵病與完好區(qū)域的對比度；

2）通過直線絲杠滑臺帶動光柵運動，其移動距離與光柵條紋間隔相等，通過對鏡片圖像采集兩次即可采集鏡片所有位置的明、暗場圖像；

3）檢測過程中，鏡片與相機之間相對位置不發(fā)生改變，根據圖像保序性原則對所采集的兩幅圖像中的明、暗場進行拼接；

4）在暗場圖像中，通過灰度閾值分割方式提取灰度值高于暗場條紋區(qū)域，所提取的疵病主要包括基片點、加硬點、亮斑、氣泡、劃傷等缺陷，并連接同線和八鄰域內的特征點，綜合灰度和形態(tài)特征將疵病點進行分類；

5）在明場圖像中，通過灰度閾值分割方式提取灰度值低于暗場條紋區(qū)域，所提取的疵病主要包括點顆粒、雜質等缺陷，并連接同線和八鄰域內的特征點，綜合灰度和形態(tài)特征將疵病點進行分類。