一種測試裝置及包括其的測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供一種測試裝置，其包括：多個測試點、多個反饋點、基座及信號發(fā)生器。多個測試點與多個反饋點均位于TFT基板上?；O置有多個反饋探針和多個測試探針，多個反饋探針與多個測試探針分別與多個反饋點和多個測試點一一對應。信號發(fā)生器包括測試信號輸出端、判斷信號輸出端及信號接收端，判斷信號輸出端、多個反饋探針、多個反饋點及信號接收端組成了反饋回路。本實用新型還提供一種測試系統(tǒng)。本實用新型的測試裝置及包括其的測試系統(tǒng)，根據反饋回路的導通來判斷多個測試探針與多個測試點是否一一準確對位，避免了TFT基板電極燒壞，成本低。
【專利說明】一種測試裝置及包括其的測試系統(tǒng)

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及液晶顯示【技術領域】，尤其涉及一種測試裝置及包括其的測試系統(tǒng)。

【背景技術】
[0002]由于液晶顯示器(Liquid Crystal Display, LCD)，相較于傳統(tǒng)的陰極射線管具有節(jié)能、輕薄等優(yōu)點，IXD被廣泛應用于監(jiān)視面板、手機面板等電子領域。
[0003]通常IXD的TFT基板上設置有像素電極，且隨著用戶對顯示畫面高清晰度的要求，TFT基板上設置的像素電極分布密集，因此各像素電極之間容易發(fā)生短路或者斷路。
[0004]現(xiàn)有技術中采用Cell手動點燈方法來檢測TFT基板上的像素電極之間是否短路或者斷路。Cell手動點燈方法指的是工作人員將要測試的TFT基板放置在工作臺上，將機臺上的測試探針下壓使其與TFT基板上的測試點接觸，然后信號發(fā)生器向測試探針發(fā)射測試信號，測試探針接收測試信號，并將其輸送至TFT基板，此時觀察LCD面板的顯示畫面，若LCD面板顯示畫面異常，則TFT基板的像素電極之間存在短路或是斷路。但是在Cell手動點燈方法中，由于探針的磨損以及工作人員在放置TFT基板過程中不小心造成的TFT基板偏移，將導致TFT基板的測試點與測試探針不能準確對位，進而將TFT基板的像素電極燒壞。此外，由于在探針下壓過程中需要特殊機臺進行操作，因此制作成本高。
[0005]因此，需要提供一種TFT基板電極的測試裝置，其可以解決測試過程中TFT基板的測試點與測試探針能準確對位以及制作成本高的問題。
實用新型內容
[0006]鑒于以上問題，本實用新型提供一種測試裝置，用于測試TFT基板上的電極，所述測試裝置包括多個測試點、多個反饋點、基座及信號發(fā)生器。所述多個測試點均位于所述TFT基板上。所述多個反饋點均設置在所述TFT基板上。所述基座設置有多個反饋探針和多個測試探針，所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應，所多個測試探針與所述多個測試點一一對應，且所述多個反饋探針和所述多個測試探針通過基座聯(lián)動的。所述信號發(fā)生器包括測試信號輸出端、判斷信號輸出端及信號接收端，所述判斷信號輸出端、所述多個反饋探針、所述多個反饋點及所述信號接收端組成了反饋回路。其中，所述判斷信號輸出端用于輸出判斷信號至一個反饋探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應電連接，所述反饋回路導通，所述測試信號輸出端輸出測試信號至所述多個測試探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點未一一對應電連接，所述反饋回路斷開，所述測試信號輸出端停止輸出所述測試信號至所述多個測試探針。
[0007]本實用新型還提供一種測試系統(tǒng)，包括上述的測試裝置，所述測試裝置用于測試TFT基板上的電極，所述測試裝置包括多個測試點、多個反饋點、基座及信號發(fā)生器。所述多個測試點均位于所述TFT基板上。所述多個反饋點均設置在所述TFT基板上。所述基座設置有多個反饋探針和多個測試探針，所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應，所多個測試探針與所述多個測試點一一對應。所述信號發(fā)生器包括測試信號輸出端、判斷信號輸出端及信號接收端，所述判斷信號輸出端、所述多個反饋探針、所述多個反饋點及所述信號接收端組成了反饋回路。其中，所述判斷信號輸出端用于輸出判斷信號至一個反饋探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應電連接，所述反饋回路導通，所述測試信號輸出端輸出測試信號至所述多個測試探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點未一一對應電連接，所述反饋回路斷開，所述測試信號輸出端停止輸出所述測試信號至所述多個測試探針。
[0008]本實用新型的測試裝置及包括其的測試系統(tǒng)，根據多個反饋點、多個反饋探針及信號發(fā)生器組成的反饋回路是否導通來判斷多個測試探針與多個測試點是否一一準確對位，若反饋回路斷開，則多個測試點與多個測試探針對位不準確，信號發(fā)生器停止發(fā)送測試信號至多個測試探針，進而避免了 TFT基板電極燒壞，且成本低。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的測試裝置的結構示意圖。

【具體實施方式】
[0010]為使本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結合附圖對本實用新型的【具體實施方式】做詳細的說明。
[0011]圖1為本實用新型的測試裝置的結構示意圖。如圖1所示，測試裝置包括多個并聯(lián)的測試點10 (圖中僅示出6個)、多個串聯(lián)的反饋點12 (圖中僅示出2個)、基座14及信號發(fā)生器16。多個測試點10與多個反饋點12均位于TFT基板(圖中未示出)上，且基座14設置有聯(lián)動的多個反饋探針18(圖中僅示出2個)和多個測試探針20(圖中僅示出6個)，且多個反饋探針18與多個反饋點12 —一對應，多個測試探針20與多個測試點10 —一對應。
[0012]信號發(fā)生器16包括測試信號輸出端161、判斷信號輸出端162及信號接收端163，并且判斷信號輸出端162、多個反饋探針18、多個反饋點12及信號接收端163組成了反饋回路。其中，判斷信號輸出端162用于輸出判斷信號至一個反饋探針18，當多個反饋探針18與多個反饋點12 —一對應電連接，反饋回路導通，測試信號輸出端161輸出測試信號至多個測試探針20，當多個反饋探針18與多個反饋點12未一一對應電連接，反饋回路斷開，測試信號輸出端161停止輸出測試信號至多個測試探針20。
[0013]基座14上設置有多個反饋探針18和多個測試探針20，反饋探針18和測試探針20是聯(lián)動的，也就是說，當對TFT基板進行測試時，由于反饋探針18和測試探針20都分別嵌入在基座14上，只要基座14整體上與TFT基板沒有精確對位，導致基座上的反饋探針18和測試探針20都會偏離TFT基板上的反饋點12和測試點10，從而保證測試探針10和反饋探針12的位置聯(lián)動性。
[0014]在本實用新型的一實施方式中，多個反饋點12之間用導線120相互串聯(lián)連接。
[0015]在本實用新型的一實施方式中，為了分別使得多個反饋點12與多個反饋探針18及多個測試點10與多個測試探針20之間的電連接性能好，因此多個反饋點12及多個測試點10均由金屬材料構成。當然本領域技術人員可以理解的是多個反饋點12及多個測試點10也可以由具有導電性的其他材料構成，如氧化銦錫(Indium Tin Oxide, ITO))。
[0016]在本實用新型一實施方式中，測試裝置還包括觸發(fā)開關22，觸發(fā)開關22位于信號發(fā)生器16的判斷信號輸出端162與反饋探針18之間，用以控制判斷信號輸出端162輸出的判斷信號是否傳輸至反饋探針18。
[0017]在本實用新型一實施方式中，多個反饋點12均為圓形，多個測試點10均為正方形，且多個反饋點12的面積均小于多個測試點10的面積，且多個反饋點12與多個測試點10位于同一水平線上，多個反饋探針18與多個測試探針20亦位于同一水平線上。當反饋點12的面積小于測試點10的面積時，由于多個反饋點12與多個測試點20位于同一水平面，且多個反饋探針18與多個測試探針20亦位于同一水平線上，則可以從多個反饋點12是否與多個反饋探針18接觸來簡單快速的判斷出多個測試點10與多個測試探針20是否對位準確。當然本領域技術人員可以理解的是，多個反饋點12的形狀也可以為正方形，多個反饋點12與多個測試點10不在同一水平線上，多個反饋探針18與多個測試探針20亦不在同一水平線上。
[0018]具體的，現(xiàn)以多個反饋點12與多個反饋探針18的數(shù)目均為兩個為例來具體說明本實用新型的實施原理。
[0019]當信號發(fā)生器16的判斷信號輸出端162輸出判斷信號至多個反饋探針18中的一個反饋探針18，由于兩個反饋點12之間用導線120連接，若兩個反饋探針18分別與兩個反饋點12對應電連接，則反饋回路導通，此時另一反饋探針18向信號發(fā)生器16的信號接收端163發(fā)送一個反饋信號，信號發(fā)生器16根據接收到的反饋信號控制測試信號輸出端161輸出測試信號至多個測試探針20。由于多個反饋點12與所述多個測試點10位于同一水平線上，且多個反饋探針18與多個測試探針20亦位于同一水平線上，當測試探針20發(fā)生偏移時，反饋探針18亦發(fā)生偏移，此時若兩個反饋探針18沒有與兩個反饋點12對應電連接，則反饋回路斷開，此時反饋探針18無法向信號發(fā)生器16發(fā)送反饋信號，信號發(fā)生器16的測試信號輸出端161停止輸出測試信號至多個測試探針20。
[0020]本實用新型還提供一種測試系統(tǒng)，其包括上述的測試裝置，測試裝置包括多個測試點10 (圖中僅示出6個)、多個反饋點12 (圖中僅示出2個)、基座14及信號發(fā)生器16。多個測試點10與多個反饋點12均位于TFT基板(圖中未示出)上，且基座14設置有多個反饋探針18 (圖中僅示出2個)和多個測試探針20 (圖中僅示出6個)，且多個反饋探針18與多個反饋點12——對應，多個測試探針20與多個測試點10——對應。信號發(fā)生器16包括測試信號輸出端161、判斷信號輸出端162及信號接收端163，并且判斷信號輸出端162、多個反饋探針18、多個反饋點12及信號接收端163組成了反饋回路。其中，判斷信號輸出端162用于輸出判斷信號至一個反饋探針18，當多個反饋探針18與多個反饋點12 —一對應電連接，反饋回路導通，測試信號輸出端161輸出測試信號至多個測試探針20，當多個反饋探針18與多個反饋點12未--對應電連接，反饋回路斷開，測試信號輸出端161停止輸出測試信號至多個測試探針20。
[0021]本實用新型的測試裝置及包括其的測試系統(tǒng)，根據多個反饋點12、多個反饋探針18及信號發(fā)生器16組成的反饋回路是否導通來判斷多個測試探針20與多個測試點10是否一一準確對位，若反饋回路斷開，則多個測試點10與多個測試探針20對位不準確，信號發(fā)生器16停止發(fā)送測試信號至多個測試探針20，進而避免了 TFT基板電極燒壞，且成本低。
[0022]本文中應用了具體個例對本實用新型的測試裝置及實施方式進行了闡述，以上實施方式的說明只是用于幫助理解本實用新型的方法及其核心思想；同時，對于本領域的一般技術人員，依據本實用新型的思想，在【具體實施方式】及應用范圍上均會有改變之處，綜上，本說明書內容不應理解為對本實用新型的限制，本實用新型的保護范圍應以所附的權利要求為準。
【權利要求】
1.一種測試裝置，用于測試TFT基板上的電極，其特征在于，所述測試裝置包括: 多個測試點，所述多個測試點均位于所述TFT基板上； 多個反饋點，所述多個反饋點均設置在所述TFT基板上； 基座，所述基座設置有多個反饋探針和多個測試探針，且所述多個反饋探針和所述多個測試探針通過基座聯(lián)動的，同時所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應，所多個測試探針與所述多個測試點一一對應；以及 信號發(fā)生器，包括測試信號輸出端、判斷信號輸出端及信號接收端，所述判斷信號輸出端、所述多個反饋探針、所述多個反饋點及所述信號接收端組成了反饋回路； 其中，所述判斷信號輸出端用于輸出判斷信號至一個反饋探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點一一對應電連接，所述反饋回路導通，所述測試信號輸出端輸出測試信號至所述多個測試探針，當所述多個反饋探針與所述多個反饋點未一一對應電連接，所述反饋回路斷開，所述測試信號輸出端停止輸出所述測試信號至所述多個測試探針。
2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括觸發(fā)開關，所述觸發(fā)開關位于所述信號發(fā)生器的判斷信號輸出端與反饋探針之間。
3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋探針和所述多個反饋點一一對應，所述多個反饋點位于同一水平線上，所述多個反饋探針也位于同一水平線上。
4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個測試探針和所述多個測試點一一對應，所述多個測試點位于同一水平線上，所述多個測試探針也位于同一水平線上。
5.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點之間利用導線相互串聯(lián)連接。
6.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括兩組反饋點，所述兩組反饋點分別位于多個測試點兩端。
7.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點和多個測試點均可為圓形、方形、三角形、多邊形任意其一的幾何形狀。
8.如權利要求7所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點的面積均小于所述多個測試點的面積。
9.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述多個反饋點和多個測試點均由導電材料構成。
10.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，包括如權利要求1至9任意一項所述的測試裝置。
【文檔編號】G01R31/02GK204214983SQ201420711275
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2014年11月24日 優(yōu)先權日:2014年11月24日
【發(fā)明者】呂建奇 申請人:昆山龍騰光電有限公司