一種密封面深度檢具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種密封面深度檢具，包括標(biāo)準(zhǔn)盤、檢測儀和百分表，標(biāo)準(zhǔn)盤包括底座以及設(shè)置在底座上的標(biāo)準(zhǔn)柱和標(biāo)準(zhǔn)塊和預(yù)定位柱，標(biāo)準(zhǔn)柱與標(biāo)準(zhǔn)塊的垂直高度差值與被檢密封面的深度相同；檢測儀包括檢測頭、套筒、輪廓盤、壓簧、安裝孔和手柄，檢測頭設(shè)置在套筒內(nèi)，檢測頭的一端伸出套筒，套筒垂直設(shè)置在輪廓盤上，輪廓盤的下端面能夠與被檢器件的貼合面配合；輪廓盤置于標(biāo)準(zhǔn)柱上，檢測頭與標(biāo)準(zhǔn)塊位置對應(yīng)。本實用新型的一種密封面深度檢具可以快速準(zhǔn)確地測量密封面深度，具有結(jié)構(gòu)簡單，方便實用的特點。
【專利說明】
一種密封面深度檢具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及檢具領(lǐng)域，尤其涉及一種密封面深度檢具。

【背景技術(shù)】
[0002]密封面是泵類或發(fā)動機(jī)等設(shè)備常見的結(jié)構(gòu)，密封面的加工精密度直接影響泵或發(fā)動機(jī)的工作情況。因此，在將泵類或發(fā)動機(jī)組裝前，需要對各個密封面進(jìn)行測量并與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，以此判斷此密封面是否符合精度要求。密封面深度檢測屬于密封面檢測的一種?，F(xiàn)有的密封面深度檢測多為直接用尺子量取密封面與基準(zhǔn)面的差值，但是這種測量方法受外界客觀因素干擾太多，人讀數(shù)的偏差、手的晃動或者其他因素都可能導(dǎo)致測量不準(zhǔn)的情況發(fā)生，因此，需要一種可靠性高又簡單實用的密封面深度檢具。
實用新型內(nèi)容
[0003]為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點和不足，本實用新型提供了一種密封面深度檢具。
[0004]本實用新型是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:一種密封面深度檢具，包括標(biāo)準(zhǔn)盤和檢測儀，所述標(biāo)準(zhǔn)盤包括底座以及設(shè)置在底座上的標(biāo)準(zhǔn)柱和標(biāo)準(zhǔn)塊，所述標(biāo)準(zhǔn)柱與標(biāo)準(zhǔn)塊的垂直高度差值與被檢密封面的深度相同；檢測儀包括檢測頭、套筒和輪廓盤，所述檢測頭設(shè)置在套筒內(nèi)，檢測頭的一端伸出套筒，套筒垂直設(shè)置在輪廓盤上，所述輪廓盤的下端面能夠與被檢器件的貼合面配合；所述輪廓盤置于所述標(biāo)準(zhǔn)柱上，所述檢測頭與所述標(biāo)準(zhǔn)塊位置對應(yīng)。
[0005]相對于現(xiàn)有技術(shù)，本實用新型的密封面深度檢具它通過將標(biāo)準(zhǔn)柱與標(biāo)準(zhǔn)塊的垂直高度差設(shè)計為與被檢密封面的深度相同，實現(xiàn)密封面深度測量的簡單化和標(biāo)準(zhǔn)化，便于快速準(zhǔn)確地測量密封面深度，具有結(jié)構(gòu)簡單，方便實用的特點。
[0006]進(jìn)一步地，所述檢測儀還包括壓簧，所述壓簧設(shè)置在套筒內(nèi)，所述檢測頭設(shè)置在套筒內(nèi)的一端將壓簧頂緊在套筒內(nèi)。
[0007]進(jìn)一步地，還包括百分表，所述壓簧所在的套筒的一端設(shè)置有一百分表的安裝孔，所述百分表通過所述安裝孔與壓簧頂緊。
[0008]進(jìn)一步地，所述標(biāo)準(zhǔn)盤上還設(shè)置有預(yù)定位柱，所述預(yù)定位柱的高度高于所述標(biāo)準(zhǔn)柱的高度，所述檢測儀的輪廓盤上設(shè)置有相對應(yīng)的預(yù)定位孔。
[0009]進(jìn)一步地，所述標(biāo)準(zhǔn)柱為三個，三個標(biāo)準(zhǔn)柱呈環(huán)形等距離分布。
[0010]進(jìn)一步地，所述檢測儀還包括一手柄，所述手柄垂直設(shè)置在與套筒相對的輪廓盤的另一面上。
[0011]為了更好地理解和實施，下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本實用新型。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是本實用新型的密封面深度檢具示意圖。
[0013]圖2是圖1所示的密封面深度檢具的主視圖。
[0014]圖3是圖1所示的密封面深度檢具俯視圖。

【具體實施方式】
[0015]請同時參閱圖1-圖3，圖1是本實用新型的密封面深度檢具示意圖，圖2是圖1所示的密封面深度檢具的主視圖，圖3是圖1所的示密封面深度檢具俯視圖。本實用新型的密封面深度檢具，包括標(biāo)準(zhǔn)盤10、檢測儀20和百分表30。百分表30安裝在檢測儀20上，檢測儀20放置在標(biāo)準(zhǔn)盤10上，通過標(biāo)準(zhǔn)盤10對百分表30進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)后，將檢測儀20移至被檢密封面上進(jìn)行檢測。
[0016]具體地，標(biāo)準(zhǔn)盤10包括底座11以及設(shè)置在底座上的標(biāo)準(zhǔn)柱12、標(biāo)準(zhǔn)塊13和預(yù)定位柱14。標(biāo)準(zhǔn)柱12用于承放檢測儀20，標(biāo)準(zhǔn)柱12的數(shù)量和分布可以根據(jù)測量需求設(shè)置，本實施例優(yōu)選地設(shè)置三個標(biāo)準(zhǔn)柱12，三個標(biāo)準(zhǔn)柱12呈環(huán)形等距離分布。標(biāo)準(zhǔn)塊13用于對百分表30進(jìn)行校準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)塊13設(shè)置在三個標(biāo)準(zhǔn)柱12之間。標(biāo)準(zhǔn)柱12與標(biāo)準(zhǔn)塊13的垂直高度差值與被檢密封面的深度相同。預(yù)定位柱14用于對檢測儀29進(jìn)行預(yù)訂位，本實施例優(yōu)選地設(shè)置兩個預(yù)定位柱14，兩個預(yù)定位柱14位于標(biāo)準(zhǔn)柱12之間。預(yù)定位柱14的高度高于標(biāo)準(zhǔn)柱13的高度。
[0017]進(jìn)一步地，檢測儀20包括檢測頭21、套筒22、輪廓盤23、壓簧24和手柄26，套筒的頂端設(shè)置有安裝孔25。套筒22垂直設(shè)置在輪廓盤23上，檢測頭21和壓簧24設(shè)置在套筒22內(nèi)，檢測頭21與標(biāo)準(zhǔn)塊13位置對應(yīng)，檢測頭21的一端伸出套筒22，檢測頭21設(shè)置在套筒內(nèi)的一端將壓簧24頂緊在套筒22內(nèi)。輪廓盤23的下端面能夠與被檢器件的貼合面配合，檢測儀20的輪廓盤23上設(shè)置有與預(yù)定位柱14相對應(yīng)的預(yù)定位孔。手柄26垂直設(shè)置在與套筒22相對的輪廓盤23的另一面上。
[0018]在對檢測儀20校準(zhǔn)時，將百分表30安裝在安裝孔25上，將輪廓盤23置于標(biāo)準(zhǔn)柱12上，這樣，檢測頭21與標(biāo)準(zhǔn)塊13上表面貼合，通過調(diào)整套筒22內(nèi)的壓簧24的變形來校準(zhǔn)百分表30，校準(zhǔn)百分表30刻度為零后便可將檢測儀20從標(biāo)準(zhǔn)盤10上移至被檢器件上。由于標(biāo)準(zhǔn)柱12與標(biāo)準(zhǔn)塊13的垂直高度差值設(shè)置為與被檢密封面的深度相同，因此校準(zhǔn)以后的檢測頭21的頂端與輪廓盤23的下端面的距離就是被檢密封面的深度。
[0019]本實用新型的密封面深度檢具具體工作過程為:首先，將百分表30安裝在檢測儀20的安裝孔25上，把檢測儀20置于標(biāo)準(zhǔn)盤10上，輪廓盤23上的預(yù)訂位孔穿過預(yù)定位柱14，輪廓盤23放置在三個標(biāo)準(zhǔn)柱13上，檢測頭21的頂端與標(biāo)準(zhǔn)塊13接觸，通過百分表30的螺紋旋轉(zhuǎn)調(diào)整壓簧24的變形，壓簧24將檢測頭21向下頂緊，檢測頭21便于標(biāo)準(zhǔn)塊13的上表面緊密接觸，通過旋轉(zhuǎn)百分表30直至其刻度顯示為零，這樣就完成了對百分表30的校準(zhǔn)工作。將檢測儀20從標(biāo)準(zhǔn)板10上取出，移至被檢器件上，輪廓盤23的下表面與被檢器件的貼合面配合接觸，檢測頭21的頂端深入并與被檢密封面接觸，由于檢測頭21的頂端與輪廓盤23的下端面的距離就是被檢密封面的深度，因此，可以直接通過看百分表30的讀數(shù)來判斷被檢密封面的深度是否符合設(shè)計要求，可以根據(jù)實際情況來設(shè)定百分表的偏差范圍，在某偏差范圍內(nèi)可以認(rèn)定產(chǎn)品是符合設(shè)計要求的。
[0020]相對于現(xiàn)有技術(shù)，本實用新型的密封面深度檢具它通過將標(biāo)準(zhǔn)柱與標(biāo)準(zhǔn)塊的垂直高度差設(shè)計為與被檢密封面的深度相同，實現(xiàn)密封面深度測量的簡單化和標(biāo)準(zhǔn)化，便于快速準(zhǔn)確地測量密封面深度，具有結(jié)構(gòu)簡單，方便實用的特點。
[0021]本實用新型并不局限于上述實施方式，如果對本實用新型的各種改動或變形不脫離本實用新型的精神和范圍，倘若這些改動和變形屬于本實用新型的權(quán)利要求和等同技術(shù)范圍之內(nèi)，則本實用新型也意圖包含這些改動和變形。
【權(quán)利要求】
1.一種密封面深度檢具，其特征在于:包括標(biāo)準(zhǔn)盤和檢測儀，所述標(biāo)準(zhǔn)盤包括底座以及設(shè)置在底座上的標(biāo)準(zhǔn)柱和標(biāo)準(zhǔn)塊，所述標(biāo)準(zhǔn)柱與標(biāo)準(zhǔn)塊的垂直高度差值與被檢密封面的深度相同；檢測儀包括檢測頭、套筒和輪廓盤，所述檢測頭設(shè)置在套筒內(nèi)，檢測頭的一端伸出套筒，套筒垂直設(shè)置在輪廓盤上，所述輪廓盤的下端面能夠與被檢器件的貼合面配合；所述輪廓盤置于所述標(biāo)準(zhǔn)柱上，所述檢測頭與所述標(biāo)準(zhǔn)塊位置對應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封面深度檢具，其特征在于:所述檢測儀還包括壓簧，所述壓簧設(shè)置在套筒內(nèi)，所述檢測頭設(shè)置在套筒內(nèi)的一端將壓簧頂緊在套筒內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的密封面深度檢具，其特征在于:還包括百分表，所述壓簧所在的套筒的一端設(shè)置有一百分表的安裝孔，所述百分表通過所述安裝孔與壓簧頂緊。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的密封面深度檢具，其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)盤上還設(shè)置有預(yù)定位柱，所述預(yù)定位柱的高度高于所述標(biāo)準(zhǔn)柱的高度，所述檢測儀的輪廓盤上設(shè)置有相對應(yīng)的預(yù)定位孔。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的密封面深度檢具，其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)柱為三個，三個標(biāo)準(zhǔn)柱呈環(huán)形等距離分布。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5所述的任意一種密封面深度檢具，其特征在于:所述檢測儀還包括一手柄，所述手柄垂直設(shè)置在與套筒相對的輪廓盤的另一面上。
【文檔編號】G01B5/18GK204228081SQ201420679679
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年11月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月13日
【發(fā)明者】李維明 申請人:廣東肇慶動力技研有限公司