一種測(cè)試樣品支架的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試樣品支架，該測(cè)試樣品支架包括底座組件和設(shè)置在底座組件上的樣品平臺(tái)組件，進(jìn)一步地還包括設(shè)置在底座組件上的用于使樣品平臺(tái)組件相對(duì)于底座組件運(yùn)動(dòng)的滑動(dòng)組件。根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架可以用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的樣品測(cè)試，能夠?qū)崿F(xiàn)樣品取放過程中的平滑的軌道運(yùn)動(dòng)，簡(jiǎn)化樣品取放步驟、提高樣品取放效率。該測(cè)試樣品支架不僅能夠在不對(duì)太赫茲發(fā)生器件以及太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行斷電的情況下實(shí)現(xiàn)待檢測(cè)樣品的更換，而且能夠大大地延長采用這種測(cè)試樣品支架的樣品測(cè)試系統(tǒng)的使用壽命。
【專利說明】一種測(cè)試樣品支架

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及光電特性產(chǎn)品檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種測(cè)試樣品支架，比如為一種用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架。

【背景技術(shù)】
[0002]以下對(duì)本實(shí)用新型的相關(guān)技術(shù)背景進(jìn)行說明，但這些說明并不一定構(gòu)成本實(shí)用新型的現(xiàn)有技術(shù)。
[0003]太赫茲波是指頻率在0.1THz到1THz范圍的電磁波，波段介于微波和紅外之間。該波段包含著非常豐富的光譜信息，其波譜頻域范圍覆蓋了生物大分子和凝聚態(tài)物質(zhì)振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的寬電磁波范圍。大多數(shù)物質(zhì)在此波段范圍內(nèi)具有非常豐富的吸收和色散性，即特征指紋譜。這些振動(dòng)所反映的分子結(jié)構(gòu)及其它相關(guān)信息都可以在其吸收峰位和吸收強(qiáng)度上有所反映。通過測(cè)量并分析這些物質(zhì)的太赫茲信號(hào)，可以獲得關(guān)于其物質(zhì)成分、理化信息及生物學(xué)信息。太赫茲安全檢測(cè)的原理是通過采集各種待檢物品在太赫茲波段的特征指紋譜，將待檢物品的太赫茲頻段吸收譜與數(shù)據(jù)庫內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)指紋吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)并做出判別報(bào)警。近年來，太赫茲波安全監(jiān)測(cè)技術(shù)在各類有機(jī)物和違禁物質(zhì)(包括各類炸藥、毒品等)的檢測(cè)和分析領(lǐng)域得到了廣泛的研究和應(yīng)用。
[0004]樣品在太赫茲安全檢測(cè)過程中有著重要的作用，樣品參數(shù)直接影響各種檢測(cè)參數(shù)和檢測(cè)結(jié)果。在太赫茲安全檢測(cè)過程中，樣品制備好以后一般被放置在位于太赫茲光路聚焦中心的固定樣品支架上。在多個(gè)樣品連續(xù)測(cè)量過程中，取放樣品步驟繁瑣、效率低，也容易造成樣品損壞，進(jìn)而影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0005]因此，現(xiàn)有技術(shù)中需要一種能夠解決由于取放樣品步驟繁瑣而導(dǎo)致檢測(cè)效率低、準(zhǔn)確性差的問題的技術(shù)方案。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]本實(shí)用新型的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題提供一種用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架。
[0007]根據(jù)本實(shí)用新型的優(yōu)選的實(shí)施例，提供一種測(cè)試樣品支架，其包括底座組件和設(shè)置在底座組件上的樣品平臺(tái)組件。該測(cè)試樣品支架還包括設(shè)置在底座組件上的用于使樣品平臺(tái)組件相對(duì)于底座組件運(yùn)動(dòng)的滑動(dòng)組件。
[0008]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架可以用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的樣品測(cè)試，能夠?qū)崿F(xiàn)樣品取放過程中的平滑的軌道運(yùn)動(dòng)，簡(jiǎn)化樣品取放步驟、提高樣品取放效率。該測(cè)試樣品支架不僅能夠在不對(duì)太赫茲發(fā)生器件以及太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行斷電的情況下實(shí)現(xiàn)待檢測(cè)樣品的更換，而且能夠大大地延長采用這種測(cè)試樣品支架的樣品測(cè)試系統(tǒng)的使用壽命O
[0009]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，滑動(dòng)組件包括固定地設(shè)置在底座組件上的導(dǎo)軌和能夠相對(duì)于導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)的滑塊組件。
[0010]在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的再一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，滑塊組件包括與導(dǎo)軌滑動(dòng)地配合的滑塊和固定地設(shè)置在滑塊上的平臺(tái)。
[0011]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的又一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，在平臺(tái)的端部上設(shè)置有手柄，以便于手動(dòng)操作。
[0012]在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的還一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，在底座組件與滑動(dòng)組件之間設(shè)置有定位組件，用于限制所述滑塊組件的運(yùn)動(dòng)以及定位樣品平臺(tái)組件的位置。
[0013]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，定位組件包括設(shè)置在底座組件或滑塊組件上的第一定位部件以及設(shè)置在底座組件和滑塊組件中的另一個(gè)上的第二定位部件。
[0014]在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的再一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，第一定位部件和第二定位部件是磁性接合部件，兩者通過彼此之間的作用力而接合在一起。通過磁性接合部件能夠以非常簡(jiǎn)單的方式實(shí)現(xiàn)第一定位部件和第二定位部件之間的接合。
[0015]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的又一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，第一定位部件以能夠移位的方式設(shè)置在滑塊組件上，第二定位部件固定地設(shè)置在底座組件上。通過調(diào)節(jié)第一定位部件在滑塊組件上的位置可以使得設(shè)置在滑塊組件上的樣品臺(tái)與激光光束對(duì)準(zhǔn)，從而提高樣品的測(cè)試精度和準(zhǔn)確度。
[0016]在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的還一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，在導(dǎo)軌的第一部分的兩側(cè)設(shè)置有用于限制滑塊組件的運(yùn)動(dòng)的限位塊。限位塊的設(shè)置可以限制滑塊組件在導(dǎo)軌上的過渡滑動(dòng)，從而防止滑塊組件與導(dǎo)軌的破壞。
[0017]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，樣品平臺(tái)組件包括固定地設(shè)置在滑塊組件上的樣品增高架和旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在樣品增高架上的樣品臺(tái)。
[0018]在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的還一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，樣品臺(tái)能夠通過相對(duì)于樣品增高架旋轉(zhuǎn)以實(shí)現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)?？梢酝ㄟ^使樣品臺(tái)相對(duì)于樣品增高架旋轉(zhuǎn)來實(shí)現(xiàn)樣品臺(tái)相對(duì)于樣品增高架的高度的調(diào)節(jié)，從而實(shí)現(xiàn)整個(gè)樣品平臺(tái)組件的高度的調(diào)節(jié)，由此調(diào)節(jié)樣品臺(tái)及其內(nèi)的樣品的高度。
[0019]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例，樣品臺(tái)的頂部設(shè)置有凹形結(jié)構(gòu)。通過凹形結(jié)構(gòu)對(duì)待檢測(cè)樣品進(jìn)行盛放和支承。
[0020]根據(jù)本實(shí)用新型的太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架，由透波性能較好的聚四氟乙烯作材料經(jīng)精加工成型制作而成，以有效減小支架本身對(duì)太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的干擾。
[0021]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架，滑動(dòng)組件能提高樣品取放的精確性、簡(jiǎn)化測(cè)試過程中樣品取放的步驟，提高測(cè)試效率，從而保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。此外，根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架能有效減小支架本身對(duì)太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的干擾。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]通過以下參照附圖而提供的【具體實(shí)施方式】部分，本實(shí)用新型的特征和優(yōu)點(diǎn)將變得更加容易理解，在附圖中:
[0023]圖1是根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的主視圖；
[0024]圖2是圖1中的根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架沿線A-A截取的截面圖；
[0025]圖3是根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的俯視圖。

【具體實(shí)施方式】
[0026]下面參照附圖對(duì)本實(shí)用新型的示例性實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)描述。對(duì)示例性實(shí)施方式的描述僅僅是出于示范目的，而絕不是對(duì)本實(shí)用新型及其應(yīng)用或用法的限制。
[0027]如圖1所示，根據(jù)本實(shí)用新型的優(yōu)選的實(shí)施例，提供一種測(cè)試樣品支架，其包括底座組件和設(shè)置在底座組件上的樣品平臺(tái)組件，其中，該測(cè)試樣品支架還包括設(shè)置在底座組件上的用于使樣品平臺(tái)組件相對(duì)于底座組件運(yùn)動(dòng)的滑動(dòng)組件。根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架可以用作太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架，當(dāng)然其也可以用作其他樣品檢測(cè)過程中的樣品支架。在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架中，測(cè)試樣品支架由透波性能較好的聚四氟乙烯作材料經(jīng)精加工成型制作而成。
[0028]以下參照附圖1、2和3詳細(xì)地說明根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的具體結(jié)構(gòu)。測(cè)試樣品支架的底座組件包括底座I和用于對(duì)底座I進(jìn)行支承和/或固定的底座支腳14。如圖3所示，底座I包括位于第一側(cè)的第一底座部分1-1和位于第二側(cè)的第二底座部分1-2，其中，第二底座部分1-2的寬度大于第一底座部分1-1的寬度。底座I的如上所述形式的結(jié)構(gòu)不僅能夠確保底座I具有牢固的結(jié)構(gòu)，而且能夠使得底座組件具有較小的質(zhì)量，從而節(jié)省底座組件的制作材料，相應(yīng)地降低了底座組件的制造成本。此外，還能夠使底座組件具有較小的體積，由此使得根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架能夠用于具有較小安裝空間的環(huán)境下。
[0029]測(cè)試樣品支架的滑動(dòng)組件包括導(dǎo)軌3和滑塊組件，其中，滑塊組件包括滑塊11和平臺(tái)10。在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的實(shí)施例中，導(dǎo)軌3為直線導(dǎo)軌，其也可以根據(jù)實(shí)際情況設(shè)計(jì)成其他形狀，比如可以為半圓形導(dǎo)軌、曲線形導(dǎo)軌以及其他形狀的導(dǎo)軌。如圖3所示，導(dǎo)軌3固定地設(shè)置在底座組件的底座I上，比如導(dǎo)軌3可以通過螺釘15安裝在底座I上，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解到，導(dǎo)軌3和底座I也可以通過焊接、鉚接以及其他固定方式進(jìn)行安裝。如圖2和圖3所示，滑塊組件的滑塊11通過螺釘13與平臺(tái)10連接在一起，在此滑塊11也可以通過焊接、鉚接等本領(lǐng)域已知的其他方式與平臺(tái)10進(jìn)行連接。
[0030]如圖2所不,導(dǎo)軌3包括位于下部的導(dǎo)軌基部34和位于導(dǎo)軌基部34的上部的導(dǎo)軌部32。在導(dǎo)軌部32的外周上形成有與滑塊11接合的凹槽，比如可以為半圓形凹槽。同時(shí)，在滑塊11內(nèi)形成有凸起，比如可以為半圓形凸起。當(dāng)然，也可以在滑塊11的內(nèi)側(cè)設(shè)置有滾珠，從而能夠大大地減小導(dǎo)軌3的導(dǎo)軌部32與滑塊之間的摩擦力?；瑝K11內(nèi)的凸起或滾珠與導(dǎo)軌3的外周上的凹槽相互配合，從而保證滑塊11沿著導(dǎo)軌3運(yùn)動(dòng)的精確性。在導(dǎo)軌3的一側(cè)的端部設(shè)置有限位塊2，用于限制滑塊11沿著導(dǎo)軌3運(yùn)動(dòng)的極限位置。從圖1中可以看出，限位塊2設(shè)置在導(dǎo)軌3的靠近底座I的第二底座部分1-2的端部上。進(jìn)一步地，固定地設(shè)置在滑塊11上并且與滑塊11 一起運(yùn)動(dòng)的平臺(tái)10為長形結(jié)構(gòu)，在平臺(tái)10的遠(yuǎn)離限位塊2 —側(cè)設(shè)置有手柄102，手柄102可以用于對(duì)平臺(tái)10施加作用力，從而使得平臺(tái)10和滑塊11沿著導(dǎo)軌3往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
[0031]以下結(jié)合附圖詳細(xì)說明測(cè)試樣品支架的樣品平臺(tái)組件的結(jié)構(gòu)。如圖1所示，樣品平臺(tái)組件包括與平臺(tái)10螺紋地連接在一起的樣品增高架7和可旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在樣品增高架7上的樣品臺(tái)6。在樣品增高架7的與平臺(tái)10接合的端部上形成有螺紋部，比如在樣品增高架7的端部上設(shè)置有螺桿，在平臺(tái)10上設(shè)置有通孔或螺紋孔，然后利用與螺桿配合的螺母8將樣品增高架7固定在平臺(tái)10上。根據(jù)本實(shí)用新型的優(yōu)選的實(shí)施例，在樣品增高架7的螺桿的端部設(shè)置有限制螺母8的運(yùn)動(dòng)的限位片9，從而能夠使螺母8牢固地固定在樣品增高架7的螺桿上。樣品臺(tái)6能夠相對(duì)固定地設(shè)置在樣品增高架7上，同時(shí)，樣品臺(tái)6能夠圍繞自身的軸線旋轉(zhuǎn)，比如，樣品臺(tái)6可以以能夠旋轉(zhuǎn)的方式設(shè)置在樣品增高架7上，通過樣品臺(tái)6相對(duì)于樣品增高架7的旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)樣品臺(tái)6相對(duì)于樣品增高架7的高度的調(diào)節(jié)。比如在需要對(duì)樣品臺(tái)6進(jìn)行高度調(diào)整時(shí)，可以使樣品臺(tái)6相對(duì)于樣品增高架7旋轉(zhuǎn)，從而使樣品臺(tái)6相對(duì)于樣品增高架7產(chǎn)生高度方向的相對(duì)運(yùn)動(dòng)，由此能夠?qū)崿F(xiàn)樣品平臺(tái)組件的整體高度的調(diào)節(jié)。
[0032]樣品臺(tái)6的下部部分64可以為柱體結(jié)構(gòu)，比如可以為長方體或圓柱體結(jié)構(gòu)，樣品臺(tái)6的上部部分62為半球體或其他類似的結(jié)構(gòu)。樣品臺(tái)6的半球體形狀的上部部分62的球面坐置在下部部分64的上部。樣品臺(tái)6的上部部分62的頂部設(shè)置有凹部結(jié)構(gòu)66，比如可以根據(jù)上部部分62的具體形狀形成為半圓形凹部結(jié)構(gòu)66，或者其他形狀的凹部結(jié)構(gòu)66。根據(jù)本領(lǐng)域技術(shù)人員所能夠理解的，樣品臺(tái)6的上部部分62和下部部分64可以設(shè)置成其他形狀，類似地，設(shè)置在上部部分62的頂部的凹部結(jié)構(gòu)66也可以設(shè)置成具有其他形狀。在根據(jù)本實(shí)用新型的優(yōu)選的實(shí)施例中，樣品增高架7可以包括套置在一起的第一主體部74和第二主體部72，如圖1所示，樣品增高架7的第一主體部74的尺寸大于第二主體部72的尺寸。有利地，第二主體部72可以以能夠相對(duì)于第一主體部74滑動(dòng)的方式設(shè)置在第一主體部74中。在此，樣品增高架7也可以采用一體式結(jié)構(gòu)，其高度是不能調(diào)節(jié)的。在需要調(diào)節(jié)樣品臺(tái)6的高度時(shí)，可以通過調(diào)節(jié)第二主體部72在第一主體部74內(nèi)的位置進(jìn)行。當(dāng)然，也可以通過旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)6來實(shí)現(xiàn)樣品臺(tái)高度的調(diào)節(jié)。
[0033]以下結(jié)合附圖1詳細(xì)說明根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的定位組件。定位組件包括設(shè)置在底座組件或滑塊組件上的第一定位部件4以及設(shè)置在底座組件和滑塊組件中的另一個(gè)上的第二定位部件5，優(yōu)選地，第一定位部件4和第二定位部件5是磁性接合部件，兩者通過彼此之間的作用力而接合在一起。根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架，第一定位部件4的上部部分42通過螺釘12與平臺(tái)10連接。有利地，第一定位部件4以能夠相對(duì)于平臺(tái)10運(yùn)動(dòng)的方式設(shè)置在平臺(tái)10上。比如，可以在平臺(tái)10的與第一定位部件4相接合的位置處設(shè)置有長形孔，而在第一定位部件4上固定地設(shè)置螺桿，可以通過使螺桿在平臺(tái)10的長形孔內(nèi)運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)第一定位部件4相對(duì)于平臺(tái)10的位置的調(diào)節(jié)。類似地，也可以在第一定位部件4的上部部分42上設(shè)置長形孔，而將螺桿相對(duì)固定地設(shè)置在平臺(tái)10上，通過使平臺(tái)10上的螺桿在第一定位部件4的上部部分42中的長形孔內(nèi)往復(fù)運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)第一定位部件4與平臺(tái)10之間的相對(duì)位置的調(diào)節(jié)。
[0034]第二定位部件5固定地設(shè)置在底座I的與限位塊2相反的端部上，第二定位部件5與第一定位部件4的下部部分44相對(duì)，并且與該下部部分44形成配合關(guān)系，從而使平臺(tái)10和滑塊11相對(duì)于底座組件進(jìn)行定位。第一定位部件4的下部部分44和第二定位部件5在平臺(tái)10的移動(dòng)過程中可以實(shí)現(xiàn)接合與分離，進(jìn)而對(duì)測(cè)試樣品支架的樣品平臺(tái)組件進(jìn)行限位和定位。另外，雖然在此以將第二定位部件5設(shè)置在底座組件上為例進(jìn)行了說明，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的，第二定位部件5也可以設(shè)置在導(dǎo)軌3的端部，同樣能夠與設(shè)置在平臺(tái)10的端部上的第一定位部件4實(shí)現(xiàn)接合，從而對(duì)平臺(tái)10進(jìn)行定位和限位。
[0035]以下將參照附圖詳細(xì)說明根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的組裝步驟。首先，底座組件為整個(gè)測(cè)試樣品支架的安裝基礎(chǔ)，因此需要將底座組件設(shè)置就位，使得底座I的第一底座部分1-1面向樣品取用艙的艙門方向；然后，通過螺釘15將導(dǎo)軌3安裝在底座I上，并與底座I的限位基準(zhǔn)對(duì)齊，從而使得導(dǎo)軌3高精度地定位在底座I上；隨后，在底座I或?qū)к?上安裝限位塊2，并且在底座I或?qū)к?上設(shè)置第二定位部件5 ;接著，將樣品臺(tái)6安裝在樣品增高架7的上端部上，樣品增高架7的下端部與平臺(tái)10連接，在此，將設(shè)置在樣品增高架7的端部的螺桿插入到形成在平臺(tái)10中的通孔內(nèi)，并且利用螺母8將螺桿鎖緊，接著安裝限位片9，從而將樣品增高架7牢固地設(shè)置在平臺(tái)10上；隨后，在平臺(tái)10的與限位塊2相反的端部上安裝第一定位部件4 ;最后，將滑塊11從導(dǎo)軌3的與限位塊2相反的端部滑動(dòng)地設(shè)置在導(dǎo)軌3上，從而使得滑塊11能夠在導(dǎo)軌3上自由地滑動(dòng)。
[0036]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的調(diào)整方法如下，首先使太赫茲聚焦光束的空間位置用可見激光光束替換，在樣品臺(tái)6的凹部?jī)?nèi)放置與待檢樣品相同尺寸的圓形樣片，旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)6使圓形樣片的中心達(dá)到與激光光束等高的位置，調(diào)節(jié)平臺(tái)10與導(dǎo)軌3的相對(duì)位置，使圓形樣片中心與激光光束重合，稍微地旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)6，使得圓形樣片與激光光束垂直，調(diào)節(jié)第一定位部件4的位置使得第一定位部件4的下部部分44與第二定位部件5緊密地接合，然后用螺釘12將第二定位部件4鎖緊；通過手柄102來回抽拉平臺(tái)10數(shù)次，檢查每次第一定位部件4的下部部分44與第二定位部件5緊密接合時(shí)，激光光束與圓形樣片中心的偏差，將該偏差調(diào)整到小于1_。由此，完成了根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的組裝操作。
[0037]根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的使用方法為，在太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)操作過程中需要取放樣品時(shí)，無需斷電或關(guān)閉太赫茲產(chǎn)生器件，直接打開太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的光學(xué)艙的樣品取用艙門，通過手柄102拉動(dòng)平臺(tái)10直至樣品臺(tái)6露出取樣艙的艙門外，將樣品臺(tái)6的凹部結(jié)構(gòu)66內(nèi)的樣品取出并進(jìn)行更換，然后將平臺(tái)10推回至第一定位部件4的下部部分44完全接合第二定位部件5。最后，關(guān)閉取樣艙的艙門，查看溫度和濕度是否狀態(tài)正常，如果處于正常狀態(tài)，即可開始新樣品的檢測(cè)操作。如此往復(fù)使用，由此快速高效地利用用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架。
[0038]雖然在本文中以用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架為例進(jìn)行了說明，但是，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架可以用于其他領(lǐng)域的樣品測(cè)試，比如可以用于化學(xué)領(lǐng)域的某些樣品的測(cè)試操作，其可以通過在不為系統(tǒng)斷電的情況下實(shí)現(xiàn)化學(xué)樣品的更換，能夠?qū)崿F(xiàn)樣品的連續(xù)檢測(cè)。
[0039]根據(jù)本實(shí)用新型的用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架能夠以抽拉的方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試樣品的更換，從而能夠在無需斷電或關(guān)閉太赫茲產(chǎn)生器件的情況下，通過直接打開太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的光學(xué)艙的樣品取用艙門來實(shí)現(xiàn)樣品的更換，由此通過非常高效的方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試樣品的更換。另外，由于無需對(duì)太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行斷電操作或者關(guān)閉太赫茲產(chǎn)生器件，因此能夠大大延長太赫茲產(chǎn)生器件以及太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的使用壽命O
[0040]雖然參照示例性實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了描述，但是應(yīng)當(dāng)理解，本實(shí)用新型并不局限于文中詳細(xì)描述和示出的【具體實(shí)施方式】，在不偏離權(quán)利要求書所限定的范圍的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對(duì)所述示例性實(shí)施方式做出各種改變。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試樣品支架，包括底座組件和設(shè)置在底座組件上的樣品平臺(tái)組件，其特征在于，所述測(cè)試樣品支架還包括設(shè)置在所述底座組件上的用于使所述樣品平臺(tái)組件相對(duì)于所述底座組件運(yùn)動(dòng)的滑動(dòng)組件。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述滑動(dòng)組件包括固定地設(shè)置在底座組件上的導(dǎo)軌(3)和能夠相對(duì)于導(dǎo)軌(3)運(yùn)動(dòng)的滑塊組件。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述滑塊組件包括與所述導(dǎo)軌(3)滑動(dòng)地配合的滑塊(11)和固定地設(shè)置在滑塊(11)上的平臺(tái)(10)。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，在所述平臺(tái)(10)的端部上設(shè)置有手柄(102) ο
5.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，在所述底座組件與所述滑動(dòng)組件之間設(shè)置有定位組件。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述定位組件包括設(shè)置在所述底座組件或所述滑塊組件上的第一定位部件(42)以及設(shè)置在所述底座組件和所述滑塊組件中的另一個(gè)上的第二定位部件(44)。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述第一定位部件(42)和所述第二定位部件(44)是磁性接合部件，兩者通過彼此之間的作用力而接合在一起。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述第一定位部件(42)以能夠移位的方式設(shè)置在所述滑塊組件上，所述第二定位部件(44)固定地設(shè)置在所述底座組件上。
9.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，在所述導(dǎo)軌(3)的一側(cè)的端部設(shè)置有用于限制所述滑塊組件的運(yùn)動(dòng)的限位塊(2)。
10.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述樣品平臺(tái)組件包括固定地設(shè)置在所述滑塊組件上的樣品增高架(7)和旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在所述樣品增高架(7)上的樣品臺(tái)(6)。
11.如權(quán)利要求10所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述樣品臺(tái)(6)能夠通過相對(duì)于所述樣品增高架(7)旋轉(zhuǎn)以實(shí)現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)。
12.如權(quán)利要求10或11所述的測(cè)試樣品支架，其特征在于，所述樣品臺(tái)(6)的頂部設(shè)置有凹形結(jié)構(gòu)。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK204154628SQ201420489607
【公開日】2015年2月11日 申請(qǐng)日期:2014年8月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月27日
【發(fā)明者】鄭巖, 孫金海 申請(qǐng)人:北京環(huán)境特性研究所