多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，所述裝置包括：檢測(cè)速度控制電路，所述檢測(cè)速度控制電路與檢測(cè)時(shí)序控制電路連接，所述檢測(cè)時(shí)序控制電路與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路連接，所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路與故障判斷告警電路連接；所述檢測(cè)時(shí)序控制電路還與取樣比較放大電路連接，所述取樣比較放大電路與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接，所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路和CPU處理單元連接，所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路分別與CPU處理單元和液晶顯示模塊連接，所述CPU處理單元和液晶顯示模塊連接。本實(shí)用新型的有益效果：能夠?qū)?芯線以上的多芯線電纜壓接端子后的開路、錯(cuò)位、壓接電阻超標(biāo)準(zhǔn)等故障進(jìn)行自動(dòng)精密檢測(cè)判定。
【專利說(shuō)明】多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，國(guó)內(nèi)已有的電纜端子壓接質(zhì)量主要依據(jù)壓接頭的壓力大小進(jìn)行控制，通過(guò)檢測(cè)壓力判斷端子壓接質(zhì)量。對(duì)于大電流電力電纜端子壓接質(zhì)量檢測(cè)，則采用光學(xué)成像技術(shù)分析壓接后的端子與線接合部的斷面圖像進(jìn)行人工分析判斷。這些質(zhì)量檢測(cè)方法適合于I?4芯粗線徑的電纜端子壓接質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。而對(duì)于8?128芯的數(shù)字通信電纜端子壓接質(zhì)量的檢測(cè)，采用壓力檢測(cè)、斷面圖像檢測(cè)實(shí)行起來(lái)效率非常低，且由于數(shù)字通信電纜中線徑很細(xì)(0.4_或0.5_)，壓力檢測(cè)和斷面圖像檢測(cè)誤差較大。為此，針對(duì)用量較多的32芯0.4_線徑的數(shù)字通信電纜端子壓接質(zhì)量問(wèn)題，進(jìn)行分析研究，設(shè)計(jì)開發(fā)了一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)儀器。
[0003]根據(jù)國(guó)家汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《QC/T29106-2004汽車低壓電線束技術(shù)條件》規(guī)定端子壓接部位電壓降指標(biāo):電壓降=3mV (導(dǎo)線截面積0.5_2，試驗(yàn)電流5A)、f 5mV (導(dǎo)線截面積0.75mm2,試驗(yàn)電流10A)和蘭8mV(導(dǎo)線截面積1.0mm2,試驗(yàn)電流15A)等7種情況，可以估算出通信電纜端子壓接部位電壓降應(yīng)=2mV(導(dǎo)線截面積0.125mm2，線徑0.4mm，試驗(yàn)電流
0.2A)，相當(dāng)于壓接電阻蘭1.5ι?Ω。
[0004]國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)《GJB1216-91電連接器接觸件總規(guī)范》中規(guī)定，A型鍍銀銅導(dǎo)線的接觸電壓降蘭54mV(28線規(guī)號(hào)線徑0.376mm，試驗(yàn)電流1.5A)，相當(dāng)于接觸電阻蘭36m Ω。
[0005]線徑0.4mm的銅導(dǎo)線的電阻理論計(jì)算值為139.33mΩ/m。由于銅材純度、線徑一致性等技術(shù)因素影響，通信電纜廠家出廠標(biāo)準(zhǔn)一般規(guī)定為=148mQ/m。
[0006]現(xiàn)有的多芯線電纜端子壓接質(zhì)量快速檢測(cè)裝置和方法中，由于給端子壓接質(zhì)量留下0.102V的波動(dòng)空間，S卩:當(dāng)電纜長(zhǎng)度為最大值(40m)時(shí)，端子壓接后的等效電阻Rt超出標(biāo)準(zhǔn)值8Ω而小于10.2Ω時(shí)，仍可能被判定為合格品，且不能測(cè)量每一根芯線的具體等效電阻數(shù)值。如果由于電纜用途要求而需要精確測(cè)量每根芯線的等效電阻值，以此判定是否存在質(zhì)量故障時(shí)，快速檢測(cè)方法就無(wú)法滿足要求。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0007]本實(shí)用新型的目的就是為了解決上述問(wèn)題，提供一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，它具有能夠?qū)?芯線以上的多芯線電纜壓接端子后的開路、錯(cuò)位、壓接電阻超標(biāo)準(zhǔn)等故障進(jìn)行自動(dòng)快速檢測(cè)判定的優(yōu)點(diǎn)。
[0008]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0009]一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，包括:檢測(cè)速度控制電路，所述檢測(cè)速度控制電路與檢測(cè)時(shí)序控制電路連接，所述檢測(cè)時(shí)序控制電路與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路連接，所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路與故障判斷告警電路連接；所述檢測(cè)時(shí)序控制電路還與取樣比較放大電路連接，所述取樣比較放大電路與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接，所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路和CPU處理單元連接，所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路分別與CPU處理單元和液晶顯示模塊連接，所述CPU處理單元和液晶顯示模塊連接。
[0010]所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路包括:恒流源Is，所述恒流源Is的一端與電源V。連接，所述恒流源恒流源Is的另外一端通過(guò)滑動(dòng)變阻器R1與32條芯線連接，所述每一條與滑動(dòng)變阻器R1連接的芯線上均依次設(shè)有電阻R?！焙桶l(fā)光二極管Dcd，所述發(fā)光二極管Dcd的正極與電阻Rcd連接，所述發(fā)光二極管Dcd的負(fù)極均通過(guò)依次連接的與門ICli和發(fā)光二極管Dtji與電阻R2的一端連接，所述電阻R2的另外一端與故障判斷告警電路中三極管T2的基極T2b端連接在一起，以控制三極管T2導(dǎo)通或截止，所述發(fā)光二極管Dtji的正極與與門ICli的輸出端連接，所述與門ICli的兩個(gè)輸入端分別與Qi和發(fā)光二極管Dcd的負(fù)極連接，其中，i =
I,2,......，32 ;檢測(cè)時(shí),被檢測(cè)電纜一端的壓接端子插入電纜插座Connecter-A中形成牢固連接。
[0011]所述檢測(cè)時(shí)序控制電路包括:檢測(cè)時(shí)，被檢測(cè)電纜另一端的壓接端子插入電纜插座Connecter-B中形成牢固連接，電纜32條芯線中的每一個(gè)芯線通過(guò)三極管TBi和D觸發(fā)器IC3tli連接，D觸發(fā)器IC3tli與的輸入端ID與與非門IC21的輸出端連接，所述與非門IC21的輸入端Tle與故障判斷告警電路中三極管T1的發(fā)射極Tle連接，所述三極管Tm的基極通過(guò)電阻Rbi與D觸發(fā)器IC3tli的輸出端連接，所述三極管TBi的基極還通過(guò)電阻Rbi與二極管Dbi的正極連接，二極管Dbi的負(fù)極與故障判斷告警電路中三極管T1的基極Tlb連接，所述二極管Dbi的正極與通過(guò)電阻Rbi與三極管TBi的基極連接，所述三極管Tm的集電極通過(guò)電纜插座Connecter-B與電纜的每一個(gè)芯線連接,所述三極管TBi的發(fā)射極通過(guò)電阻Rei與地連接;第32個(gè)三極管Tb32的集電極還電阻R3與發(fā)光二極管D1的負(fù)極連接，發(fā)光二極管D1的正極連接電源V。。；所述D觸發(fā)器IC3tll的輸出端和D觸發(fā)器IC3tl2輸入端ID連接，32個(gè)D觸發(fā)器的非輸出端連在一起，32個(gè)D觸發(fā)器的脈沖控制端CP連接在一起與檢測(cè)速度控制電路中IC7的輸出端CP連接。
[0012]所述故障判斷告警電路包括:三極管T1、三極管T2、三極管T3,電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7，電容C1、電容C2，蜂鳴器HA，與非門IC22、與非門IC23、與非門IC24 ;所述三極管T1的基極Tlb與檢測(cè)時(shí)序控制電路中二極管Dm的負(fù)極Tlb連接，所述三極管T1的發(fā)射極Tle與檢測(cè)時(shí)序控制電路中與非門IC21的輸入端Tle連接，所述三極管T1的集電極與電源V。。連接，所述三極管T1的發(fā)射極T16還通過(guò)電阻R7接地；
[0013]三極管T2的基極T2b端通過(guò)電容C2接地，三極管T2的基極T2b端還與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路中電阻R2的T2b端連接；三極管T2的集電極連接電源V。。；三極管T2的發(fā)射極通過(guò)電阻R6接地；電阻R5的第一端分別接三極管T2的發(fā)射極和與非門IC22的兩個(gè)輸入端；電阻R5的另外一端連接三極管T3的基極；蜂鳴器HA的一端連接電源V。。；蜂鳴器HA的另外一端連接三極管T3的集電極，三極管T3的發(fā)射極接地；電阻R4的一端接電源V。。，電阻R4的另一端通過(guò)電容C1接地；
[0014]所述與非門IC22的兩個(gè)輸入端并聯(lián)后與三極管T2的發(fā)射極連接,與非門IC22的輸出端與與非門IC23的一個(gè)輸入端連接，與非門IC23的另一個(gè)輸入端和與非門IC24的輸出端連接，與非門IC23的輸出端和與非門IC24的一個(gè)輸入端連接，與非門IC24的另一輸入端分別和電阻R4、電容C1連接；與非門IC24的輸出端Rd與檢測(cè)速度控制電路中IC7的Rd連接。
[0015]所述取樣比較放大電路包括:32個(gè)運(yùn)算放大器IC2qq-1C231,每個(gè)運(yùn)算放大器的同相輸入端分別通過(guò)電阻Rac1-Ra31按順序?qū)?yīng)連接到開路錯(cuò)位檢測(cè)電路中電纜插座Connecter-A的A1-A32端，每個(gè)運(yùn)算放大器的反相輸入端分別通過(guò)電阻Rbc1-Rb31按順序?qū)?yīng)連接到檢測(cè)時(shí)序控制電路中電纜插座Connecter-B的B1-B32端,每個(gè)運(yùn)算放大器的輸出端分別通過(guò)電容Cltl-C131接地，每個(gè)運(yùn)算放大器的輸出端還分別通過(guò)電阻Rftl-Rf31與自身的反向輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的同相輸入端還分別通過(guò)電阻Ric1-R131接地；運(yùn)算放大器IC200-1C207的輸出端Vtl-V7分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC208-1C215的輸出端V8-V15分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC216-1C223的輸出端V16-V23分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC224-1C231的輸出端V24-V31分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接。
[0016]所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路與所述CPU處理單元包括:模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2、單片機(jī)芯片IC3、非門IC4、與非門IC5、與非門IC6組成。
[0017]所述單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端分別和與非門IC5的一個(gè)輸入端及與非門IC6的一個(gè)輸入端連接，單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端還與檢測(cè)速度控制電路中IC7的輸出端CP連接，與非門IC5的另一個(gè)輸入端分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的START端和ALE端連接，與非門IC5的輸出端與單片機(jī)芯片的@端連接，與非門IC6的另一個(gè)輸入端與單片機(jī)芯片IC3的冗,?連接，與非門IC6輸出端與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的OUT端連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的EOC端和非門IC4的輸入端連接，非門IC4的輸出端與單片機(jī)芯片的/MO端連接;
[0018]所述單片機(jī)芯片IC3的XTALl端分別與電容C5的一端和晶體振子X的一端連接，單片機(jī)芯片IC3的XTAL2端分別與電容C4的一端和晶體振子X的另一端連接，電容C4的另一端和電容C5的另一端相連并接地；單片機(jī)芯片IC3的Pl.7端與電阻R8的一端連接，所述電阻R8的另外一端通過(guò)電容C3接電源Ncc,所述電阻R8的另外一端還接地，單片機(jī)芯片IC3的互i/ EPP端通過(guò)電阻R9接電源單片機(jī)芯片IC3的Ncc端接電源，單片機(jī)芯片IC3的GND
端接地，單片機(jī)芯片IC3 ^ALE/PROG端與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC9的ALE端連接；
[0019]所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的Vcc和VREF+端口均接電源，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的GND端口接地，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的VREF-接0V，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的ADDA、ADDB, ADDC分別對(duì)應(yīng)與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC8的Q0、Q1、Q2端口連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的2^-2.8端分別與單片機(jī)芯片IC3的P0.0-P0.7對(duì)應(yīng)連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的Fj—8端分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC9的D0-D7對(duì)應(yīng)連接。
[0020]所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2中的IN0-1N7端分別與所述取樣比較放大電路中運(yùn)算放大器的輸出端Vtl-V7連接，將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為8位數(shù)字輸出信號(hào)，并通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2中的2^-2.8端分別對(duì)應(yīng)傳送給單片機(jī)芯片IC3的D0-D7端口和存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC9的D0-D7端口。32路模擬輸出信號(hào)共需要4塊模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口接收模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片輸出的8位數(shù)字信號(hào)后進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果輸出到存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中鎖存器IC9內(nèi)備用。
[0021 ] 所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路包括:計(jì)數(shù)器IC8和鎖存器IC9,鎖存器IC9的D0-D7端口分別與單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口和模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的D0-D7對(duì)應(yīng)連接，計(jì)數(shù)器IC8的CP端與檢測(cè)速度控制電路中IC7的OUT端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDA、ADDB和ADDC分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的ADDA、ADDB和ADDC對(duì)應(yīng)連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDA與鎖存器IC9的QO端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDB與鎖存器IC9的Ql端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDC與鎖存器IC9的Q2端連接，在CP脈沖信號(hào)控制下計(jì)數(shù)器IC8通過(guò)Q0-Q2端輸出二進(jìn)制8位計(jì)數(shù)信號(hào)。
[0022]所述檢測(cè)速度控制電路包括:555電路IC7、電阻Rltl、可變電阻Rn、電容C6和電容C7;
[0023]555電路IC7的VCC端接電源，555電路IC7的Vcq端通過(guò)電容C7接地，555電路IC7的Disc端分別與電阻Rltl和可變電阻R11的一端連接，電阻Rltl的另一端接電源，可變電阻R11的另一端分別與電容C6的一端、555電路IC7的TR端和555電路IC7的TH端連接，電容C6的另一端接地，555電路IC7的END端接地；
[0024]555電路IC7中的Rd端與故障判斷告警電路中的與非門IC24的輸出端連接，555電路IC7的OUT端分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC8的CP端、A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端口、檢測(cè)時(shí)序控制電路中D觸發(fā)器的CP端連接，提供同步時(shí)鐘控制信號(hào)。
[0025]所述液晶顯示模塊包括:12864型液晶顯示模塊Jl、電阻R12和電阻R13。
[0026]液晶顯示模塊Jl的VDD接系統(tǒng)電源\c，液晶顯示模塊Jl的Vss接系統(tǒng)地。液晶顯示模塊Jl的BD0-BD7與單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口對(duì)應(yīng)連接，液晶顯示模塊Jl的CS1、CS2、RSTB分別與單片機(jī)芯片IC3的Pl.2,Pl.3和Pl.4端口連接，液晶顯示模塊Jl的D/1、R/W、E端分別與單片機(jī)芯片IC3的Pl.5、Pl.6和Pl.7端口連接，液晶顯示模塊Jl的BLE端與單片機(jī)IC3的P3.7端口連接，液晶顯示模塊Jl的VO端分別與電阻R12、電阻R13的一端連接，電阻R13的另一端接地，電阻R12的另一端與液晶顯示模塊Jl的VOUT端連接。
[0027]在片選信號(hào)CS1、CS2、讀寫信號(hào)R/W、數(shù)據(jù)方向信號(hào)D/Ι的協(xié)調(diào)控制下，液晶顯示模塊Jl接收來(lái)自單片機(jī)芯片的8位并行傳輸?shù)闹噶罴皵?shù)字信號(hào)。液晶顯示模塊Jl的BLE腳接背光電源，液晶顯示模塊按照單片機(jī)芯片IC3的指令要求分別顯示32路電纜芯線的等效電阻值，以及是否滿足設(shè)置的規(guī)范要求狀態(tài)。
[0028]本實(shí)用新型的有益效果:
[0029]1、能夠?qū)?芯線以上的多芯線電纜壓接端子后的開路、錯(cuò)位、壓接電阻超標(biāo)準(zhǔn)等故障進(jìn)行自動(dòng)快速檢測(cè)判定。
[0030]2、能檢測(cè)每根芯線的實(shí)際等效電阻值，并通過(guò)液晶顯示屏顯示。
[0031]3、每個(gè)芯線的檢測(cè)時(shí)間可在0.05?0.5秒之間進(jìn)行設(shè)定。
[0032]4、檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)質(zhì)量故障時(shí)停止檢測(cè)并發(fā)光電顯示告警，光電顯示告警與發(fā)生質(zhì)量故障的芯線對(duì)應(yīng)，同時(shí)液晶屏顯示檢測(cè)的芯線等效電阻值。
[0033]5、適用于電纜端子壓接質(zhì)量相對(duì)不穩(wěn)定、新產(chǎn)品試驗(yàn)、對(duì)芯線壓接等效電阻值精度要求較高的情況下進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)速度相對(duì)較慢。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0034]圖1為測(cè)試回路的等效電阻；
[0035]圖2為檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)圖；
[0036]圖3為開路錯(cuò)位檢測(cè)電路示意圖；
[0037]圖4為檢測(cè)時(shí)序控制電路示意圖；
[0038]圖5為故障判斷告警電路示意圖；
[0039]圖6為取樣放大電路示意圖；
[0040]圖7為A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路圖；
[0041 ] 圖8為檢測(cè)速度控制電路；
[0042]圖9為存儲(chǔ)與計(jì)數(shù)控制電路電路圖；
[0043]圖10為液晶顯不|旲塊不電路圖；
[0044]其中，1、檢測(cè)速度控制電路，2、檢測(cè)時(shí)序控制電路，3、開路錯(cuò)位檢測(cè)電路，4、取樣比較放大電路，5、CPU處理單元，6、故障判斷告警電路，7、A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，8、存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路，9、液晶顯不|旲塊。

【具體實(shí)施方式】
[0045]下面結(jié)合附圖與實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0046]如圖2所示，一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，包括:檢測(cè)速度控制電路1，所述檢測(cè)速度控制電路I與檢測(cè)時(shí)序控制電路2連接，所述檢測(cè)時(shí)序控制電路2與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路3連接，所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路3與故障判斷告警電路6連接；所述檢測(cè)時(shí)序控制電路2還與取樣比較放大電路4連接，所述取樣比較放大電路4與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7連接，所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8和CPU處理單元5連接，所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8分別與CPU處理單元5和液晶顯示模塊9連接，所述CPU處理單元5和液晶顯示模塊9連接。
[0047]如圖3所示，所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路3包括:恒流源Is，所述恒流源Is的一端與電源V。連接，所述恒流源恒流源Is的另外一端通過(guò)滑動(dòng)變阻器R1與32條芯線連接，所述每一條與滑動(dòng)變阻器R1連接的芯線上均依次設(shè)有電阻R?！焙桶l(fā)光二極管Dcd，所述發(fā)光二極管Dci的正極與電阻Rcd連接，所述發(fā)光二極管Dcd的負(fù)極均通過(guò)依次連接的與門ICli和發(fā)光二極管Dtji與電阻R2的一端連接，所述電阻R2的另外一端與故障判斷告警電路6中三極管T2的基極T2b端連接在一起，以控制三極管T2導(dǎo)通或截止，所述發(fā)光二極管Dtji的正極與與門ICli的輸出端連接，所述與門ICli的兩個(gè)輸入端分別與Qi和發(fā)光二極管Dcd的負(fù)極連接，
其中，i = 1，2，......，32 ;檢測(cè)時(shí)，被檢測(cè)電纜一端的壓接端子插入電纜插座Connecter-A中形成牢固連接。
[0048]如圖4所示，所述檢測(cè)時(shí)序控制電路2包括:檢測(cè)時(shí)，被檢測(cè)電纜另一端的壓接端子插入電纜插座Connecter-B中形成牢固連接，電纜32條芯線中的每一個(gè)芯線通過(guò)三極管TBi和D觸發(fā)器IC3tli連接，D觸發(fā)器IC3tli與的輸入端ID與與非門IC21的輸出端連接，所述與非門IC21的輸入端Tle與故障判斷告警電路6中三極管T1的發(fā)射極Tle連接，所述三極管TBi的基極通過(guò)電阻Rbi與D觸發(fā)器IC3tli的輸出端連接，所述三極管TBi的基極還通過(guò)電阻Rbi與二極管Dbi的正極連接，二極管Dbi的負(fù)極與故障判斷告警電路6中三極管T1的基極Tlb連接，所述二極管Dbi的正極與通過(guò)電阻Rbi與三極管Tm的基極連接，所述三極管TBi的集電極通過(guò)電纜插座Connecter-B與電纜的每一個(gè)芯線連接,所述三極管TBi的發(fā)射極通過(guò)電阻Rei與地連接；第32個(gè)三極管Tb32的集電極還電阻R3與發(fā)光二極管D1的負(fù)極連接，發(fā)光二極管D1的正極連接電源V。。；所述D觸發(fā)器IC3tll的輸出端和D觸發(fā)器IC3tl2輸入端ID連接，32個(gè)D觸發(fā)器的非輸出端連在一起，32個(gè)D觸發(fā)器的脈沖控制端CP連接在一起與檢測(cè)速度控制電路I中IC7的輸出端CP連接。
[0049]如圖5所示，所述故障判斷告警電路6包括:三極管T1、三極管T2、三極管T3,電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7，電容C1、電容C2，蜂鳴器HA，與非門IC22、與非門IC23、與非門IC24 ；所述三極管T1的基極Tlb與檢測(cè)時(shí)序控制電路2中二極管Dm的負(fù)極Tlb連接，所述三極管T1的發(fā)射極Tle與檢測(cè)時(shí)序控制電路2中與非門IC21的輸入端Tle連接，所述三極管T1的集電極與電源V。。連接，所述三極管T1的發(fā)射極T16還通過(guò)電阻R7接地；
[0050]三極管T2的基極T2b端通過(guò)電容C2接地，三極管T2的基極T2b端還與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路3中電阻R2的T2b端連接；三極管T2的集電極連接電源V。。；三極管T2的發(fā)射極通過(guò)電阻R6接地；電阻R5的第一端分別接三極管T2的發(fā)射極和與非門IC22的兩個(gè)輸入端；電阻R5的另外一端連接三極管T3的基極；蜂鳴器HA的一端連接電源V。。；蜂鳴器HA的另外一端連接三極管T3的集電極，三極管T3的發(fā)射極接地；電阻R4的一端接電源V。。，電阻R4的另一端通過(guò)電容C1接地；
[0051]所述與非門IC22的兩個(gè)輸入端并聯(lián)后與三極管T2的發(fā)射極連接,與非門IC22的輸出端與與非門IC23的一個(gè)輸入端連接，與非門IC23的另一個(gè)輸入端和與非門IC24的輸出端連接，與非門IC23的輸出端和與非門IC24的一個(gè)輸入端連接，與非門IC24的另一輸入端分別和電阻R4、電容C1連接；與非門IC24的輸出端Rd與檢測(cè)速度控制電路I中IC7的Rd連接。
[0052]如圖6所示，所述取樣比較放大電路4包括:32個(gè)運(yùn)算放大器IC2citl-1C231，每個(gè)運(yùn)算放大器的同相輸入端分別通過(guò)電阻Rac1-Ra31按順序?qū)?yīng)連接到開路錯(cuò)位檢測(cè)電路3中電纜插座Connecter-A的A1-A32端，每個(gè)運(yùn)算放大器的反相輸入端分別通過(guò)電阻Rbc1-Rb31按順序?qū)?yīng)連接到檢測(cè)時(shí)序控制電路2中電纜插座Connecter-B的B1-B32端，每個(gè)運(yùn)算放大器的輸出端分別通過(guò)電容Cltl-C131接地，每個(gè)運(yùn)算放大器的輸出端還分別通過(guò)電阻Rftl-Rf31與自身的反向輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的同相輸入端還分別通過(guò)電阻Rltl-Rm接地；運(yùn)算放大器IC2cic1-1C2tl7的輸出端Vtl-V7分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC2tl8-1C215的輸出端V8-V15分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC216-1C223的輸出端V16-V23分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC224-1C231的輸出端V24-V31分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7中IC2的Vtl-V7端口連接。
[0053]如圖7所示,所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7與所述CPU處理單元5包括:模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2、單片機(jī)芯片IC3、非門IC4、與非門IC5、與非門IC6組成。
[0054]所述單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端分別和與非門IC5的一個(gè)輸入端及與非門IC6的一個(gè)輸入端連接，單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端還與檢測(cè)速度控制電路I中IC7的輸出端CP連接，與非門IC5的另一個(gè)輸入端分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的START端和ALE端連接，與非門
IC5的輸出端與單片機(jī)芯片的M ,彳連接，與非門IC6的另一個(gè)輸入端與單片機(jī)芯片IC3的而:端連接，與非門IC6輸出端與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的OUT端連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的EOC
端和非門IC4的輸入端連接，非門IC4的輸出端與單片機(jī)芯片的端連接；
[0055]所述單片機(jī)芯片IC3的XTALl端分別與電容C5的一端和晶體振子X的一端連接，單片機(jī)芯片IC3的XTAL2端分別與電容C4的一端和晶體振子X的另一端連接，電容C4的另一端和電容C5的另一端相連并接地；單片機(jī)芯片IC3的Pl.7端與電阻R8的一端連接，所述電阻R8的另外一端通過(guò)電容C3接電源Ncc,所述電阻R8的另外一端還接地，單片機(jī)芯片IC3
的石/EPP端通過(guò)電阻R9接電源V。。，單片機(jī)芯片IC3的Vcc端接電源，單片機(jī)芯片IC3的6冊(cè)端接地，單片機(jī)芯片IC3的|￡7而^.端與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8中IC9的ALE端連接；
[0056]所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的Ncc和VREF+端口均接電源，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的GND端口接地，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的VREF-接0V，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的ADDA、ADDB, ADDC分別對(duì)應(yīng)與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8中IC8的Q0、Q1、Q2端口連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的2^-2.8端分別與單片機(jī)芯片IC3的P0.0-P0.7對(duì)應(yīng)連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的Fj—8端分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8中IC9的D0-D7對(duì)應(yīng)連接。
[0057]所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2中的IN0-1N7端分別與所述取樣比較放大電路4中運(yùn)算放大器的輸出端Vtl-V7連接，將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為8位數(shù)字輸出信號(hào)，并通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2中的2_L2_8端分別對(duì)應(yīng)傳送給單片機(jī)芯片IC3的D0-D7端口和存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8中IC9的D0-D7端口。32路模擬輸出信號(hào)共需要4塊模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口接收模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片輸出的8位數(shù)字信號(hào)后進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果輸出到存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8中鎖存器IC9內(nèi)備用。
[0058]如圖9所示，所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8包括:計(jì)數(shù)器IC8和鎖存器IC9,鎖存器IC9的D0-D7端口分別與單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口和模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的D0-D7對(duì)應(yīng)連接，計(jì)數(shù)器IC8的CP端與檢測(cè)速度控制電路I中IC7的OUT端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDA、ADDB和ADDC分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的ADDA、ADDB和ADDC對(duì)應(yīng)連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDA與鎖存器IC9的QO端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDB與鎖存器IC9的Ql端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDC與鎖存器IC9的Q2端連接，在CP脈沖信號(hào)控制下計(jì)數(shù)器IC8通過(guò)Q0-Q2端輸出二進(jìn)制8位計(jì)數(shù)信號(hào)。
[0059]如圖8所示，所述檢測(cè)速度控制電路I包括:555電路IC7、電阻Rltl、可變電阻Rn、電容C6和電容C7 ；
[0060]555電路IC7的VCC端接電源，555電路IC7的Vcq端通過(guò)電容C7接地，555電路IC7的Disc端分別與電阻Rltl和可變電阻R11的一端連接，電阻Rltl的另一端接電源，可變電阻R11的另一端分別與電容C6的一端、555電路IC7的TR端和555電路IC7的TH端連接，電容C6的另一端接地，555電路IC7的END端接地；
[0061]555電路IC7中的Rd端與故障判斷告警電路6中的與非門IC24的輸出端連接，555電路IC7的OUT端分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路8中IC8的CP端、A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路7中單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端口、檢測(cè)時(shí)序控制電路2中D觸發(fā)器的CP端連接，提供同步時(shí)鐘控制信號(hào)。
[0062]如圖10所示,所述液晶顯示模塊9包括:12864型液晶顯示模塊J1、電阻R12和電阻 R13。
[0063]液晶顯示模塊Jl的VDD接系統(tǒng)電源\c,液晶顯示模塊Jl的Vss接系統(tǒng)地。液晶顯示模塊Jl的BD0-BD7與單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口對(duì)應(yīng)連接，液晶顯示模塊Jl的CS1、CS2、RSTB分別與單片機(jī)芯片IC3的Pl.2,Pl.3和Pl.4端口連接，液晶顯示模塊Jl的D/1、R/W、E端分別與單片機(jī)芯片IC3的Pl.5、Pl.6和Pl.7端口連接，液晶顯示模塊Jl的BLE端與單片機(jī)IC3的P3.7端口連接，液晶顯示模塊Jl的VO端分別與電阻R12、電阻R13的一端連接，電阻R13的另一端接地，電阻R12的另一端與液晶顯示模塊Jl的VOUT端連接。
[0064]在片選信號(hào)CS1、CS2、讀寫信號(hào)R/W、數(shù)據(jù)方向信號(hào)D/Ι的協(xié)調(diào)控制下，液晶顯示模塊Jl接收來(lái)自單片機(jī)芯片的8位并行傳輸?shù)闹噶罴皵?shù)字信號(hào)。液晶顯示模塊Jl的BLE腳接背光電源，液晶顯示模塊按照單片機(jī)芯片IC3的指令要求分別顯示32路電纜芯線的等效電阻值，以及是否滿足設(shè)置的規(guī)范要求狀態(tài)。
[0065]通信電纜端子壓接后阻抗分析
[0066]在企業(yè)實(shí)際工藝設(shè)計(jì)中，按照需求電纜長(zhǎng)度的2倍進(jìn)行裁剪，然后在兩端分別壓接端子，要求端子編號(hào)一一對(duì)應(yīng)。端子壓接后，兩個(gè)端子分別插接到端子座上進(jìn)行測(cè)量。其測(cè)試回路的等效電阻如下圖1所示:
[0067]圖1中，Rn是端子與插座插接后的接觸電阻，Rt2是端子與銅線壓接后的壓接電阻，Rt3是電纜銅線的電阻，Rt是測(cè)試回路總等效電阻。
[0068]由于32芯數(shù)字通信電纜通常在數(shù)字程控交換機(jī)機(jī)房?jī)?nèi)使用，根據(jù)不同機(jī)房布局要求，其單根電纜長(zhǎng)度常用在2?20m范圍內(nèi)，則兩倍長(zhǎng)度為4?40m。因此，在壓接端子后測(cè)試電纜允許的最大電阻值如表所示。
[0069]
電纜長(zhǎng)度/m Rn/mQRt2/mQRt3/mQRT/mQ
4 36X21.5X2592667
30 36X21.5X244404515
40 36X21.5X259206670
[0070]通過(guò)上述分析可知，需要檢測(cè)的電纜等效阻抗范圍較寬，在667?6670πιΩ之間，而設(shè)計(jì)檢測(cè)儀器時(shí)根據(jù)電纜芯線壓接設(shè)備、工藝技術(shù)水平和電纜在數(shù)字信號(hào)通信中的損耗要求，我們確定以等效電阻8Ω為基準(zhǔn)。超過(guò)8Ω為不合格，通常芯線開路、錯(cuò)位時(shí)期等效電阻為30ΜΩ以上,遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于8Ω。
[0071]壓接后電纜的質(zhì)量缺陷
[0072]電纜端子壓接后的質(zhì)量缺陷分為電特性缺陷和外觀缺陷兩大類。電特性缺陷包括電阻值Rt超出標(biāo)準(zhǔn)要求，產(chǎn)生的原因有一下三個(gè)方面:
[0073](I)端子插接后接觸電阻超標(biāo)準(zhǔn)。由于每天測(cè)量的電纜數(shù)量很多，端子插座經(jīng)過(guò)反復(fù)多次插拔后，彈性金屬片產(chǎn)生機(jī)械疲勞，彈性系數(shù)降低，引起接觸電阻超標(biāo)準(zhǔn)。
[0074](2)端子壓接電阻超標(biāo)準(zhǔn)。一是因?yàn)閴航訒r(shí)的壓力不夠，沒有將導(dǎo)線壓緊導(dǎo)致壓接端子超標(biāo)準(zhǔn)。二是由于導(dǎo)線或端子的壓接部位缺陷(氧化、變形、污物等)導(dǎo)致。
[0075](3)電纜銅導(dǎo)線電阻超標(biāo)準(zhǔn)。電纜中銅導(dǎo)線純度達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求、線徑小于標(biāo)稱值或局部損傷等都會(huì)引起導(dǎo)線電阻增大。
[0076]所以，僅僅采取壓力檢測(cè)或光學(xué)檢測(cè)，很難將全部電特性缺陷檢查出來(lái)。
[0077]壓接后的外觀缺陷對(duì)質(zhì)量相對(duì)影響較小，一般采取目視或用放大器進(jìn)行檢查即可，這類缺陷在工藝保障情況下一般不會(huì)發(fā)生。
[0078]圖2中，速度檢測(cè)控制、檢測(cè)時(shí)序控制、開路錯(cuò)位檢測(cè)、基準(zhǔn)選擇控制、故障判斷告警電路6構(gòu)成快速檢測(cè)單元。取樣比較放大、A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換、CPU處理、存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制、液晶顯示模塊構(gòu)成精密檢測(cè)單元。
[0079]根據(jù)圖3至圖10電路工作原理可知，將壓接后的電纜兩端子(公)分別插于測(cè)試儀的A插座和B插座。
[0080]可靠性設(shè)計(jì)分析
[0081]在快速檢測(cè)過(guò)程中，決定檢測(cè)可靠性的關(guān)鍵元器件有兩組。其中，Rbl?Rb32、Rel?Re32> Tbi?TB32、IC301?IC332的相關(guān)參數(shù)誤差大小對(duì)三極管Tb的基極在高電平時(shí)能否進(jìn)入飽和狀態(tài)，保證Vces ^ 0.1V至關(guān)重要，R1^ Is^Rcl?Re32Jel?De32、IC101?IC132相關(guān)參數(shù)誤差決定了 ICltll?IC132的輸入端A1?A32低電平能否可靠。
[0082]設(shè)計(jì)恒流源Is提供10±0.5mA的工作電流，三極管Tb選用2N9014，其Vces ^ 0.1±0.05V 時(shí)基極輸入電流應(yīng)芎 1mA。Rbl ?Rb32 = 2.1KΩ ±5 %，Rel ?Re32 =33 Ω ±5%，IC3tll?IC332選擇TTL結(jié)構(gòu)的D觸發(fā)器，其輸出最小高電平為3.8V，輸出電流為I?6mA。則Ib電流由計(jì)算下列公式可得到。
V -V -1R
[0083]Ib = ^Λ.Rb
[0084]應(yīng)用最壞情況設(shè)計(jì)法和上述公式可得到基極電流最小值Ibmin為:
「 ?3.8— 0.7 -10.5 X 34.65 χ 1,._r m、卞曰
[0085]A,,,,in =--= 1.24υ?ζ/1 > 可見 Ibniin 大于 1mA，g匕夠保證在珉

2.205x10
低高電平電壓時(shí)三極管Tbi?Tb32處在飽和狀態(tài)且V_ ^ 0.1V，飽和壓降測(cè)試條件為Ic =10mA, Ib = 1mA, Hfe = 80。
[0086]在檢測(cè)電路與端子導(dǎo)通時(shí)應(yīng)保證ICltll?IC132的輸入端A1?A32電平\ ^ 0.7V,如果超過(guò)0.7V可能引起ICltll?IC132輸出端為高電平而產(chǎn)生誤判。Va由下列公式可計(jì)算出。
[0087]Va = Vces+Ie.(Re+RT)
[0088]應(yīng)用最壞情況設(shè)計(jì)法和公式可得到Va的最大值VAmax為:
[0089]Vaiiim = 0.15+10.5 X (34.65+8) X I(T3 = 0.598 (V)Vitaiax 小于 0.7V,能夠保證電纜端子壓接質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)要求前提下被檢測(cè)通過(guò)。
[0090]精密檢測(cè)解決誤判問(wèn)題。根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求，針對(duì)不同長(zhǎng)度電纜設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)等效電阻Rt，在圖1中的A1?A32和圖2中的B1?B32點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)取樣，分析計(jì)算Rt數(shù)值，以此判定是否合格。如果點(diǎn)VA>0.7V則按照快速檢測(cè)程序直接判定不合格。根據(jù)國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和電纜長(zhǎng)度、線徑等可確定允許的最大直流等效電阻可用下列公式進(jìn)行計(jì)算:
[0091 ] Rt = 2 X (RT1+RT2) +Rt3
[0092]對(duì)線徑為0.4mm銅芯線電纜而言，Rn = 36mΩ , Rt2 = 1.5ηιΩ，4m?40m對(duì)應(yīng)的Rt3 = 592?5920m Ω。通過(guò)上述公式可知，Rt的取值范圍是667?6670m Ω。設(shè)計(jì)時(shí)按照500 ?8000m Ω 考慮。
[0093]精密檢測(cè)取樣電路由圖3、圖4和圖6共同構(gòu)成。
[0094]在圖2、圖3中，當(dāng)電纜沒有開路、錯(cuò)位質(zhì)量故障時(shí)，Atl?A31端的電纜等效電阻Rt含8000m Ω時(shí)，對(duì)Atl?A31端分別取樣進(jìn)行精密測(cè)量。在綜合考慮ICltltl?IC131輸入端低電平應(yīng)S 0.7V和圖2中運(yùn)算放大放大器輸入靈敏度兼容情況下，取恒流源Is的輸出電流為 10±0.5mA, Rel ?Re32 = 33 Ω ±5%，Vces ^ 0.1±0.05V。由圖 2、圖 3 分析可知:
[0095]Va = Is.(RT+Re) +Vces
[0096]Vb = Is.Re+Vces
[0097]因此可以計(jì)算出Va采樣取值范圍是0.353?0.598V，Vb的采樣取值范圍是0.348?0.384V。為此圖6中選用0PA335運(yùn)算放大器，其輸入電壓范圍是O?3V(單電源供電時(shí))，最大輸入失調(diào)電壓5 μ V。圖6中運(yùn)算放大器輸出電壓Vtl?V31可由下列公式計(jì)笪
ο
Rb +Rf R..ν, K,
[0098]V =」~^(」~上—~~
Rb R 丨+ 尺' Rb + R,
[0099]由于0PA335的最大輸入失調(diào)電流是70pA，在設(shè)計(jì)中控制最大輸入電流在0.1?ImA之間，選擇Ra = Rb = 2k Ω ±5% ,R1 = Rf = 33k Ω ±5%，電壓增益為16.5，輸出電壓范圍O?3.6V。
[0100]在圖7中，A/D轉(zhuǎn)換電路模數(shù)轉(zhuǎn)換的輸入端IN0-1N7分別與圖6中運(yùn)算放大器的輸出端\?V7連接，將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為8位數(shù)字輸出信號(hào)，并傳送給單片機(jī)的DO?D7端口，由單片機(jī)進(jìn)行分析運(yùn)算。32路模擬輸出信號(hào)共需要4塊模數(shù)轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換。單片機(jī)P0.0?P0.7端口接收模數(shù)轉(zhuǎn)換輸出的8位數(shù)字信號(hào)后進(jìn)行分析運(yùn)算，并將運(yùn)算結(jié)果輸出到74LS373鎖存器中備用。
[0101]存儲(chǔ)與計(jì)數(shù)控制電路設(shè)計(jì)如圖9所示。圖中，74LS373鎖存器的D0-D7端口分別與圖7中單片機(jī)和模數(shù)轉(zhuǎn)換的D0-D7對(duì)應(yīng)連接，74LS163構(gòu)成8位計(jì)數(shù)器，其輸出端ADDA?ADDC分別與圖7中模數(shù)轉(zhuǎn)換的ADDA?ADDC對(duì)應(yīng)連接。通過(guò)計(jì)數(shù)器同步控制模數(shù)轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和分析計(jì)算。
[0102]標(biāo)準(zhǔn)等效電阻值確定
[0103]端子壓接后電纜等效電阻的標(biāo)準(zhǔn)值因電纜長(zhǎng)度不同而有差異?？刹捎妙A(yù)先設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值和自動(dòng)確定標(biāo)準(zhǔn)值兩種方法。對(duì)線徑為0.4mm銅芯線電纜，預(yù)先設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)值可按照下列公式進(jìn)行計(jì)算:
[0104]Rt 標(biāo)準(zhǔn)=75+148.L
[0105]式中L是電纜長(zhǎng)度，單位m，Rt?的單位是πιΩ。
[0106]自動(dòng)確定標(biāo)準(zhǔn)值方法是以正常工藝在質(zhì)量穩(wěn)定情況下，將首根檢驗(yàn)的壓接端子的電纜作為樣品，對(duì)32個(gè)芯線等效電阻進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)對(duì)比，選取其中的最少值，然后進(jìn)行乘以系數(shù)1.05作為標(biāo)準(zhǔn)值。
[0107]批量檢測(cè)結(jié)果
[0108]分別對(duì)6米和20米壓接端子的電纜共238根進(jìn)行精密檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果如表所示。
[0109]
長(zhǎng)度/m 數(shù)量/根標(biāo)準(zhǔn)值/mQ 平均值/mQ 最大值/mQ 不合格數(shù)/豐艮 68596396120838
2015330353032452121
[0110]通過(guò)精密檢測(cè)發(fā)現(xiàn)，Rt平均符合標(biāo)準(zhǔn)要求。6m電纜的不合格率為9.41%，20m電纜的不合格率為13.73%, 0對(duì)超標(biāo)準(zhǔn)不合格的29根電纜進(jìn)行解剖分析，發(fā)現(xiàn)接觸電阻超標(biāo)14根，壓接電阻超標(biāo)9根，纜線電阻超標(biāo)6根。通過(guò)對(duì)等效電阻超標(biāo)產(chǎn)生的原因進(jìn)行分析，針對(duì)性制定工藝改進(jìn)措施后，經(jīng)過(guò)精密檢測(cè)不合格率小于1.1 %，能夠滿足生產(chǎn)質(zhì)量要求。
[0111]上述雖然結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行了描述，但并非對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制，所屬領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白，在本實(shí)用新型的技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性勞動(dòng)即可做出的各種修改或變形仍在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，包括:檢測(cè)速度控制電路，所述檢測(cè)速度控制電路與檢測(cè)時(shí)序控制電路連接，所述檢測(cè)時(shí)序控制電路與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路連接，所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路與故障判斷告警電路連接；所述檢測(cè)時(shí)序控制電路還與取樣比較放大電路連接，所述取樣比較放大電路與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接，所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路和CPU處理單元連接，所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路分別與CPU處理單元和液晶顯示模塊連接，所述CPU處理單元和液晶顯示模塊連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述開路錯(cuò)位檢測(cè)電路包括:恒流源Is，所述恒流源Is的一端與電源V。連接，所述恒流源恒流源Is的另外一端通過(guò)滑動(dòng)變阻器R1與32條芯線連接，所述每一條與滑動(dòng)變阻器R1連接的芯線上均依次設(shè)有電阻R?！焙桶l(fā)光二極管Dcd，所述發(fā)光二極管Dcd的正極與電阻Rcd連接，所述發(fā)光二極管Dcd的負(fù)極均通過(guò)依次連接的與門ICli和發(fā)光二極管Dtji與電阻R2的一端連接，所述電阻R2的另外一端與故障判斷告警電路中三極管T2的基極T2b端連接在一起，以控制三極管T2導(dǎo)通或截止，所述發(fā)光二極管Dtji的正極與與門ICli的輸出端連接，所述與門ICli的兩個(gè)輸入端分別與Qi和發(fā)光二極管Dcd的負(fù)極連接，其中，i = 1，2，……，32 ;檢測(cè)時(shí)，被檢測(cè)電纜一端的壓接端子插入電纜插座Connecter-A中形成牢固連接。
3.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述檢測(cè)時(shí)序控制電路包括:檢測(cè)時(shí)，被檢測(cè)電纜另一端的壓接端子插入電纜插座Connecter-B中形成牢固連接，電纜32條芯線中的每一個(gè)芯線通過(guò)三極管TBi和D觸發(fā)器IC30i連接，D觸發(fā)器IC3tli與的輸入端ID與與非門IC21的輸出端連接，所述與非門IC21的輸入端Tle與故障判斷告警電路中三極管T1的發(fā)射極Tle連接，所述三極管Tm的基極通過(guò)電阻Rbi與D觸發(fā)器IC3tli的輸出端連接，所述三極管TBi的基極還通過(guò)電阻Rbi與二極管Dbi的正極連接，二極管Dbi的負(fù)極與故障判斷告警電路中三極管T1的基極Tlb連接，所述二極管Dbi的正極與通過(guò)電阻Rbi與三極管TBi的基極連接，所述三極管Tm的集電極通過(guò)電纜插座Connecter-B與電纜的每一個(gè)芯線連接,所述三極管TBi的發(fā)射極通過(guò)電阻Rei與地連接；第32個(gè)三極管Tb32的集電極還電阻R3與發(fā)光二極管D1的負(fù)極連接，發(fā)光二極管D1的正極連接電源V。。；所述D觸發(fā)器IC3tll的輸出端和D觸發(fā)器IC3tl2輸入端ID連接，32個(gè)D觸發(fā)器的非輸出端連在一起，32個(gè)D觸發(fā)器的脈沖控制端CP連接在一起與檢測(cè)速度控制電路中IC7的輸出端CP連接。
4.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述故障判斷告警電路包括:三極管T1、三極管T2、三極管T3,電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7,電容C1、電容C2，蜂鳴器HA，與非門IC22、與非門IC23、與非門IC24;所述三極管T1的基極Tlb與檢測(cè)時(shí)序控制電路中二極管Dw的負(fù)極Tlb連接，所述三極管T1的發(fā)射極Tle與檢測(cè)時(shí)序控制電路中與非門IC21的輸入端Tle連接，所述三極管T1的集電極與電源V。。連接，所述三極管T1的發(fā)射極T16還通過(guò)電阻R7接地； 三極管T2的基極T2b端通過(guò)電容C2接地，三極管T2的基極T2b端還與開路錯(cuò)位檢測(cè)電路中電阻R2的T2b端連接；三極管T2的集電極連接電源V。。；三極管T2的發(fā)射極通過(guò)電阻R6接地；電阻R5的第一端分別接三極管T2的發(fā)射極和與非門IC22的兩個(gè)輸入端；電阻R5的另外一端連接三極管T3的基極；蜂鳴器HA的一端連接電源V。。；蜂鳴器HA的另外一端連接三極管T3的集電極，三極管T3的發(fā)射極接地；電阻R4的一端接電源V。。，電阻R4的另一端通過(guò)電容C1接地； 所述與非門IC22的兩個(gè)輸入端并聯(lián)后與三極管T2的發(fā)射極連接,與非門IC22的輸出端與與非門IC23的一個(gè)輸入端連接，與非門IC23的另一個(gè)輸入端和與非門IC24的輸出端連接，與非門IC23的輸出端和與非門IC24的一個(gè)輸入端連接,與非門IC24的另一輸入端分別和電阻R4、電容C1連接；與非門IC24的輸出端Rd與檢測(cè)速度控制電路中IC7的Rd連接。
5.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述取樣比較放大電路包括:32個(gè)運(yùn)算放大器IC2citl-1C231，每個(gè)運(yùn)算放大器的同相輸入端分別通過(guò)電阻RActRA31按順序?qū)?yīng)連接到開路錯(cuò)位檢測(cè)電路中電纜插座Connecter-A的A1-A32端，每個(gè)運(yùn)算放大器的反相輸入端分別通過(guò)電阻Rbc1-Rb31按順序?qū)?yīng)連接到檢測(cè)時(shí)序控制電路中電纜插座Connecter-B的B1-B32端，每個(gè)運(yùn)算放大器的輸出端分別通過(guò)電容Cltl-C131接地，每個(gè)運(yùn)算放大器的輸出端還分別通過(guò)電阻Rftl-Rf31與自身的反向輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的同相輸入端還分別通過(guò)電阻Rltl-R131接地；運(yùn)算放大器IC2tic1-1C2ci7的輸出端Vtl-V7分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC2tl8-1C215的輸出端V8-V15分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC216-1C223的輸出端V16-V23分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接，運(yùn)算放大器IC224-1C231的輸出端V24-V31分別與A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中IC2的Vtl-V7端口連接。
6.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路與所述CPU處理單元包括:模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2、單片機(jī)芯片IC3、非門IC4,與非門IC5、與非門IC6組成； 所述單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端分別和與非門IC5的一個(gè)輸入端及與非門IC6的一個(gè)輸入端連接，單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端還與檢測(cè)速度控制電路中IC7的輸出端CP連接，與非門IC5的另一個(gè)輸入端分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的START端和ALE端連接，與非門IC5的輸出端與單片機(jī)芯片日端連接，與非門IC6的另一個(gè)輸入端與單片機(jī)芯片IC3的端連接，與非門IC6輸出端與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的OUT端連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的EOC端和非門IC4的輸入端連接，非門IC4的輸出端與單片機(jī)芯片的//V7'6>端連接; 所述單片機(jī)芯片IC3的XTALl端分別與電容C5的一端和晶體振子X的一端連接，單片機(jī)芯片IC3的XTAL2端分別與電容C4的一端和晶體振子X的另一端連接，電容C4的另一端和電容C5的另一端相連并接地；單片機(jī)芯片IC3的Pl.7端與電阻R8的一端連接，所述電阻R8的另外一端通過(guò)電容C3接電源\c，所述電阻R8的另外一端還接地，單片機(jī)芯片IC3的石/i//5/3端通過(guò)電阻R9接電源單片機(jī)芯片IC3的Ncc端接電源，單片機(jī)芯片IC3的GND端接地，單片機(jī)芯片IC3的/IL￡/f^OG端與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC9的ALE端連接； 所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的V。。和VREF+端口均接電源，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的GND端口接地，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的VREF-接0V，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的ADDA、ADDB, ADDC分別對(duì)應(yīng)與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC8的Q0、Q1、Q2端口連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的fj—8端分別與單片機(jī)芯片IC3的P0.0-P0.7對(duì)應(yīng)連接，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的2^-2.8端分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC9的D0-D7對(duì)應(yīng)連接； 所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2中的IN0-1N7端分別與所述取樣比較放大電路中運(yùn)算放大器的輸出端％17連接，將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為8位數(shù)字輸出信號(hào)，并通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2中的2^-2^8端分別對(duì)應(yīng)傳送給單片機(jī)芯片IC3的D0-D7端口和存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC9的D0-D7端口 ；32路模擬輸出信號(hào)共需要4塊模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換；單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口接收模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片輸出的8位數(shù)字信號(hào)后進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果輸出到存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中鎖存器IC9內(nèi)備用。
7.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路包括:計(jì)數(shù)器IC8和鎖存器IC9，鎖存器IC9的D0-D7端口分別與單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口和模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的D0-D7對(duì)應(yīng)連接，計(jì)數(shù)器IC8的CP端與檢測(cè)速度控制電路中IC7的OUT端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDA、ADDB和ADDC分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片IC2的ADDA、ADDB和ADDC對(duì)應(yīng)連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDA與鎖存器IC9的QO端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDB與鎖存器IC9的Ql端連接，計(jì)數(shù)器IC8的輸出端ADDC與鎖存器IC9的Q2端連接，在CP脈沖信號(hào)控制下計(jì)數(shù)器IC8通過(guò)Q0-Q2端輸出二進(jìn)制8位計(jì)數(shù)信號(hào)。
8.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述檢測(cè)速度控制電路包括:555電路IC7、電阻Rltl、可變電阻Rn、電容C6和電容C7 ； 555電路IC7的VCC端接電源，555電路IC7的Vro端通過(guò)電容C7接地，555電路IC7的Disc端分別與電阻Rltl和可變電阻R11的一端連接，電阻Rltl的另一端接電源，可變電阻R11的另一端分別與電容C6的一端、555電路IC7的TR端和555電路IC7的TH端連接，電容C6的另一端接地，555電路IC7的END端接地； 555電路IC7中的Rd端與故障判斷告警電路中的與非門IC24的輸出端連接，555電路IC7的OUT端分別與存儲(chǔ)/計(jì)數(shù)控制電路中IC8的CP端、A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路中單片機(jī)芯片IC3的Pl.0端口、檢測(cè)時(shí)序控制電路中D觸發(fā)器的CP端連接，提供同步時(shí)鐘控制信號(hào)。
9.如權(quán)利要求1所述的一種多芯線電纜端子壓接質(zhì)量精密檢測(cè)裝置，其特征是，所述液晶顯示模塊包括:12864型液晶顯示模塊Jl、電阻R12和電阻R13 ； 液晶顯示模塊Jl的VDD接系統(tǒng)電源\c,液晶顯示模塊Jl的Vss接系統(tǒng)地；液晶顯示模塊Jl的BD0-BD7與單片機(jī)芯片IC3的P0.0?P0.7端口對(duì)應(yīng)連接，液晶顯示模塊Jl的CS1、CS2、RSTB分別與單片機(jī)芯片IC3的Pl.2,Pl.3和Pl.4端口連接，液晶顯示模塊Jl的D/1、R/W、E端分別與單片機(jī)芯片IC3的Pl.5,Pl.6和Pl.7端口連接，液晶顯示模塊Jl的BLE端與單片機(jī)IC3的P3.7端口連接，液晶顯示模塊Jl的VO端分別與電阻R12、電阻R13的一端連接，電阻R13的另一端接地，電阻R12的另一端與液晶顯示模塊Jl的VOUT端連接。
【文檔編號(hào)】G01R27/02GK204008941SQ201420342062
【公開日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年6月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月24日
【發(fā)明者】叢迎九, 魯鳳蓮, 吳希杰, 王亞盛 申請(qǐng)人:威海職業(yè)學(xué)院, 王亞盛