高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，包括一設(shè)備主體，所述設(shè)備主體的上端面上設(shè)置有復(fù)數(shù)通孔，每個所述通孔內(nèi)設(shè)有一試驗(yàn)基座，所述試驗(yàn)基座上設(shè)置有三個供三極管/二極管的引腳插入用的插入孔，所述復(fù)數(shù)個試驗(yàn)基座均與電線電性連接，并與所述設(shè)備主體固定連接。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，成本低，體積小，可以方便快捷的得知三極管/二極管在設(shè)定溫度下的最長工作時間，便于試驗(yàn)使用，可以分析產(chǎn)品性能，提高產(chǎn)品可靠性。
【專利說明】高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，尤其涉及一種可以分析產(chǎn)品性能的試驗(yàn)設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的用于測試二極管、三極管的高溫反偏試驗(yàn)裝置由高溫烘箱、偏置板、反偏電源、及其控制系統(tǒng)、顯示系統(tǒng)等部分組成，該裝置包括電源、主控制系統(tǒng)、輔助控制系統(tǒng)、計算機(jī)、顯示器、接插件、偏置板、恒溫室，集中一起，設(shè)備體積龐大，價格昂貴，對于安裝場所要求進(jìn)門大小和高度有特殊要求，所以該裝置使用條件受到很大限制。
[0003]但是由于高溫反偏性能是評估半導(dǎo)體產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)設(shè)備，且產(chǎn)品在具體使用之前，不知道其能在承受設(shè)定溫度和電流下工作下多長時間，這給產(chǎn)品的使用帶來很大不便。
[0004]所以市場上急需一種高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，其可以分析產(chǎn)品性能，提高產(chǎn)品可靠性。實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本實(shí)用新型的目的在于提供一種高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，其體積小、便于試驗(yàn)使用，可以分析產(chǎn)品性能，提高產(chǎn)品可靠性。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:
[0007]—種高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，包括一設(shè)備主體，所述設(shè)備主體的上端面上設(shè)置有復(fù)數(shù)通孔，每個所述通孔內(nèi)設(shè)有一試驗(yàn)基座，所述試驗(yàn)基座上設(shè)置有三個供三極管/ 二極管的引腳插入用的插入孔，所述復(fù)數(shù)個試驗(yàn)基座均與電線電性連接，并與所述設(shè)備主體固定連接。
[0008]作為本實(shí)用新型的優(yōu)選方案之一，所述插入孔的兩側(cè)均設(shè)置有支撐塊。
[0009]作為本實(shí)用新型的優(yōu)選方案之一，所述試驗(yàn)基座包括一凸出部及一固定片，所述凸出部通過通孔凸出設(shè)備主體的上端面，所述固定部設(shè)置于設(shè)備主體上端面的下方，并與設(shè)備主體用螺絲固定連接。
[0010]作為本實(shí)用新型的優(yōu)選方案之一，所述設(shè)備主體為一長方體，為中空結(jié)構(gòu)。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是:
[0012]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，成本低，體積小，可以方便快捷的得知三極管/ 二極管在承受設(shè)定溫度、設(shè)定電流下的最長工作時間，便于試驗(yàn)使用，可以分析產(chǎn)品性能，提高產(chǎn)品可靠性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]為了更清楚地說明本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征和技術(shù)要點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0014]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例公開的高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例公開的試驗(yàn)基座的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]附圖標(biāo)記說明:1-設(shè)備主體,2-通孔，3-試驗(yàn)基座，31-凸出部,31a-插入孔，31a-支撐塊，33-螺絲。

【具體實(shí)施方式】
[0017]下面將結(jié)合本實(shí)施例中的附圖，對實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行具體、清楚、完整地描述。
[0018]參見圖1所示,為本實(shí)施例的高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備,它包括一設(shè)備主體I,所述設(shè)備主體I為一長方體，為中空結(jié)構(gòu)。
[0019]所述設(shè)備主體I的上端面上設(shè)置有復(fù)數(shù)通孔2，每個所述通孔2內(nèi)設(shè)有一試驗(yàn)基座3，所述試驗(yàn)基座3均與電線電性連接，并與所述設(shè)備主體I通過螺絲33固定連接。
[0020]所述試驗(yàn)基座3包括一凸出部31及一固定部(圖中未顯示)，所述凸出部31通過通孔2凸出設(shè)備主體I的上端面，所述固定部設(shè)置于設(shè)備主體I上端面的下方，并與設(shè)備主體I用螺絲33固定連接。該試驗(yàn)基座3的凸出部31上設(shè)置有三個供三極管/ 二極管的引腳插入用的插入孔31a，所述插入孔31a的兩側(cè)均設(shè)置有支撐塊31b。
[0021]試驗(yàn)時，先設(shè)定好工作的溫度、電流，接通電源，將待試驗(yàn)的若干個三極管/ 二極管分別插入插入孔31a，加溫，調(diào)節(jié)電流，就可得知該三極管/ 二極管能在承受設(shè)定溫度、電流通電情況下，能工作多長時間，在同電一定時間后，斷掉電源，統(tǒng)計在該工作情況下，該些三極管/ 二極管的不良率，如此便可分析產(chǎn)品性能，從而提高產(chǎn)品可靠性。
[0022]綜上所述，本實(shí)施例結(jié)構(gòu)簡單，成本低，體積小，可以方便快捷的得知三極管/ 二極管在承受設(shè)定溫度、設(shè)定電流下的最長工作時間，便于試驗(yàn)使用，可以分析產(chǎn)品性能，提聞廣品可罪性。
[0023]上述【具體實(shí)施方式】，僅為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思和結(jié)構(gòu)特征，目的在于讓相關(guān)人士能夠據(jù)以實(shí)施，但以上所述內(nèi)容并不限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的精神實(shí)質(zhì)所作的任何等效變化或修飾，均應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，其特征在于，所述該高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備包括一設(shè)備主體，所述設(shè)備主體的上端面上設(shè)置有復(fù)數(shù)通孔，每個所述通孔內(nèi)設(shè)有一試驗(yàn)基座，所述試驗(yàn)基座上設(shè)置有三個供三極管/ 二極管的引腳插入用的插入孔，所述復(fù)數(shù)個試驗(yàn)基座均與電線電性連接，并與所述設(shè)備主體固定連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，其特征在于，所述插入孔的兩側(cè)均設(shè)置有支撐塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，其特征在于，所述試驗(yàn)基座包括一凸出部及一固定片，所述凸出部通過通孔凸出設(shè)備主體的上端面，所述固定部設(shè)置于設(shè)備主體上端面的下方，并與設(shè)備主體用螺絲固定連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的高溫反偏試驗(yàn)設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備主體為一長方體，為中空結(jié)構(gòu)。
【文檔編號】G01R31/26GK203929991SQ201420239087
【公開日】2014年11月5日 申請日期:2014年5月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月9日
【發(fā)明者】陸軍, 馬永利, 李秀青 申請人:南通華隆微電子有限公司