一種雙pcb板同時(shí)電測(cè)模具的制作方法
【專利摘要】一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具，包括上模和下模；其特征在于：所述下模上設(shè)有兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)，以正常的操作視角來分則分別為左測(cè)試區(qū)和右測(cè)試區(qū)；所述左測(cè)試區(qū)的上邊沿和右邊沿共設(shè)有至少三個(gè)限位柱，所述右測(cè)試區(qū)的上邊沿和左邊沿亦共設(shè)有至少三個(gè)限位柱；所述上模和下模上對(duì)應(yīng)所述PCB板的電路設(shè)有若干測(cè)試針點(diǎn)。本實(shí)用新型對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)而言，放板更準(zhǔn)確快速，因此具有便于操作、生產(chǎn)可靠性高和效率高的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)由于在一個(gè)下模上測(cè)試兩個(gè)PCB板的設(shè)計(jì)，還使得本實(shí)用新型節(jié)約了模具成本并減少了擺放空間。
【專利說明】—種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本實(shí)用新型涉及PCB板制造工藝中的電測(cè)工序，具體涉及一種PCB板的電測(cè)模具?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]在PCB板制造工藝中，會(huì)有一道電測(cè)工序，主要檢測(cè)PCB裸板(即無元件的PCB板)上的電路是否存在短路和斷路，此電測(cè)工序涉及使用一種電測(cè)模具。
[0003]如圖廣2所示，所述電測(cè)模具包括上模I和下模2，其中，所述下模2上設(shè)有PCB板測(cè)試區(qū)，該P(yáng)CB板測(cè)試區(qū)的作用是定位和檢測(cè)所述PCB板3 ;所述PCB板測(cè)試區(qū)中凸設(shè)有多個(gè)定位針4，所述上模I對(duì)應(yīng)下模2上的定位針4設(shè)有等數(shù)量的定位孔5 ;所述上模I和下模2上對(duì)應(yīng)PCB板3上的電路設(shè)有若干測(cè)試針點(diǎn)6，該測(cè)試針點(diǎn)6與一檢測(cè)電路電連接(當(dāng)PCB板雙面都有電路時(shí)，上模和下模均設(shè)有所述測(cè)試針點(diǎn)；而當(dāng)PCB板為單面有電路時(shí)，則通常僅上?；蛳履ＴO(shè)所述測(cè)試針點(diǎn)。本案以單面為例，即僅PCB板的下表面設(shè)有電路，對(duì)應(yīng)的，僅下模設(shè)測(cè)試針點(diǎn)。)。當(dāng)需要對(duì)PCB板進(jìn)行電測(cè)時(shí)，首先，對(duì)準(zhǔn)所述PCB板測(cè)試區(qū)中的定位針，將PCB板置入該P(yáng)CB板測(cè)試區(qū)中，并通過所述定位針將PCB板定位在下模上；其次，將所述上模下壓，通過對(duì)PCB板產(chǎn)生一向下的壓力以將PCB板上的各電路測(cè)試點(diǎn)與所述測(cè)試針點(diǎn)接觸；最后，通過檢測(cè)電路通電檢測(cè)PCB板上的電路是否存在短路和斷路的問題。
[0004]存在的問題是:1、由于是人工將PCB板置入PCB板測(cè)試區(qū)中，因此需要格外注意將PCB板對(duì)準(zhǔn)所述定位針緩慢置入，PCB板一旦放斜或?qū)Σ粶?zhǔn)定位孔里，則造成PCB板壓壞報(bào)廢；2、一次只能測(cè)試一塊PCB板，置入時(shí)又必須小心置入，因此電測(cè)效率較低，難以滿足生產(chǎn)需要。
[0005]因此，如何解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足便成本實(shí)用新型所要解決的課題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本實(shí)用新型的目的是提供一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具。
[0007]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具，包括上模和下模；其中:
[0008]所述下模上設(shè)有兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)，以正常的操作視角來分則分別為左測(cè)試區(qū)和右測(cè)試區(qū)；
[0009]所述左測(cè)試區(qū)的上邊沿和右邊沿共設(shè)有至少三個(gè)限位柱，所述右測(cè)試區(qū)的上邊沿和左邊沿亦共設(shè)有至少三個(gè)限位柱；
[0010]所述上模和下模上對(duì)應(yīng)所述PCB板的電路設(shè)有若干測(cè)試針點(diǎn)。
[0011]上述技術(shù)方案中的有關(guān)內(nèi)容解釋如下:
[0012]1.上述方案中，所述左測(cè)試區(qū)的上邊沿設(shè)有至少兩個(gè)限位柱，左測(cè)試區(qū)的右邊沿則設(shè)有至少一個(gè)限位柱；所述右測(cè)試區(qū)的上邊沿設(shè)有至少兩個(gè)限位柱，右測(cè)試區(qū)的左邊沿則設(shè)有至少一個(gè)限位柱；或者，所述左測(cè)試區(qū)的上邊沿設(shè)有至少一個(gè)限位柱，左測(cè)試區(qū)的右邊沿則設(shè)有至少兩個(gè)限位柱；所述右測(cè)試區(qū)的上邊沿設(shè)有至少一個(gè)限位柱，右測(cè)試區(qū)的左邊沿則設(shè)有至少兩個(gè)限位柱。最佳方案是左測(cè)試區(qū)的上邊沿和右邊沿以及右測(cè)試區(qū)的上邊沿和左邊沿均設(shè)若干個(gè)限位柱，甚至多點(diǎn)成面，直接通過限位面來進(jìn)行限位。
[0013]2.上述方案中，兩所述PCB板測(cè)試區(qū)中還凸設(shè)有多個(gè)定位針，所述上模對(duì)應(yīng)下模上的定位針設(shè)有等數(shù)量的定位孔。
[0014]本實(shí)用新型的工作原理及優(yōu)點(diǎn)如下:
[0015]本實(shí)用新型一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具，通過在所述下模上設(shè)兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)，并在兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)邊沿分別設(shè)置至少三個(gè)限位柱的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)；使得本實(shí)用新型對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)而言，放板更準(zhǔn)確快速，因此具有便于操作、生產(chǎn)可靠性高和效率高的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)由于在一個(gè)下模上測(cè)試兩個(gè)PCB板的設(shè)計(jì)，還使得本實(shí)用新型節(jié)約了模具成本并減少了擺放空間。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]附圖1為現(xiàn)有技術(shù)的側(cè)視角度結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]附圖2為現(xiàn)有技術(shù)的俯視角度結(jié)構(gòu)示意圖(除去上模)；
[0018]附圖3為本實(shí)用新型的側(cè)視角度結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]附圖4為本實(shí)用新型的俯視角度結(jié)構(gòu)示意圖(除去上模)。
[0020]以上附圖中:1.上模；2.下模；3.PCB板；4.定位針；5.定位孔；6.測(cè)試針點(diǎn)；
7.上模；8.下模；9.左測(cè)試區(qū)；10.右測(cè)試區(qū)；11.左測(cè)試區(qū)的上邊沿；12.限位柱；13.左測(cè)試區(qū)的右邊沿；14.右測(cè)試區(qū)的上邊沿；15.右測(cè)試區(qū)的左邊沿；16.測(cè)試針點(diǎn)；17.定位針；18.定位孔。
【具體實(shí)施方式】
[0021]下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述:
[0022]實(shí)施例:參見附圖3、4所不,一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具,包括上模7和下模8 ;其中:
[0023]所述下模8上設(shè)有兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)，以正常的操作視角來分則分別為左測(cè)試區(qū)9和右測(cè)試區(qū)10 ；
[0024]所述左測(cè)試區(qū)9的上邊沿11設(shè)有至少兩個(gè)限位柱12，左測(cè)試區(qū)9的右邊沿13則設(shè)有至少一個(gè)限位柱12 ;所述右測(cè)試區(qū)10的上邊沿14設(shè)有至少兩個(gè)限位柱12，右測(cè)試區(qū)10的左邊沿15則設(shè)有至少一個(gè)限位柱12 ；
[0025]所述上模7和下模8上對(duì)應(yīng)所述PCB板3的電路設(shè)有若干測(cè)試針點(diǎn)16 ；
[0026]兩所述PCB板測(cè)試區(qū)中還凸設(shè)有多個(gè)定位針17，所述上模7對(duì)應(yīng)下模8上的定位針17設(shè)有等數(shù)量的定位孔18。
[0027]其中，左測(cè)試區(qū)9的上邊沿11和右邊沿13以及右測(cè)試區(qū)10的上邊沿14和左邊沿15可均設(shè)若干個(gè)限位柱12，甚至多點(diǎn)成面，直接通過限位面來進(jìn)行限位(未附圖示)。
[0028]其中，當(dāng)PCB板3雙面都有電路時(shí)，則上模7和下模8均設(shè)有所述測(cè)試針點(diǎn)16 ;而當(dāng)PCB板3為單面有電路時(shí)，則通常僅上模7或下模8設(shè)所述測(cè)試針點(diǎn)16。本實(shí)施例以單面為例，即僅PCB板3的下表面設(shè)有電路，對(duì)應(yīng)的，僅下模7設(shè)測(cè)試針點(diǎn)16。
[0029]先就本實(shí)施例的使用情況說明如下:[0030]當(dāng)需要對(duì)PCB板進(jìn)行電測(cè)時(shí)，首先，將兩塊PCB板由操作者左右手各持一塊快速抵靠于左測(cè)試區(qū)的限位柱和右測(cè)試區(qū)的限位柱(如圖4中箭頭)，由于限位柱的位置和PCB板測(cè)試區(qū)中定位針的位置固定，因此當(dāng)左右兩塊PCB板分別抵靠定位于左、右兩測(cè)試區(qū)時(shí)，直接松手靠PCB板的自重便可直接將PCB板與所述定位針定位，省去了將PCB板與定位針進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)定位的步驟；其次，將所述上模下壓，通過對(duì)PCB板產(chǎn)生一向下的壓力以將PCB板上的各電路測(cè)試點(diǎn)與所述測(cè)試針點(diǎn)接觸；最后，通過檢測(cè)電路通電檢測(cè)PCB板上的電路是否存在短路和斷路的問題。
[0031 ] 本實(shí)用新型一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具，通過在所述下模上設(shè)兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)，并在兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)邊沿分別設(shè)置至少三個(gè)限位柱的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)；使得本實(shí)用新型對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)而言，放板更準(zhǔn)確快速，因此具有便于操作、生產(chǎn)可靠性高和效率高的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)由于在一個(gè)下模上測(cè)試兩個(gè)PCB板的設(shè)計(jì)，還使得本實(shí)用新型節(jié)約了模具成本并減少了擺放空間。
[0032]上述實(shí)施例只為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種雙PCB板同時(shí)電測(cè)模具,包括上模和下模；其特征在于: 所述下模上設(shè)有兩個(gè)PCB板測(cè)試區(qū)，以正常的操作視角來分則分別為左測(cè)試區(qū)和右測(cè)試區(qū)； 所述左測(cè)試區(qū)的上邊沿和右邊沿共設(shè)有至少三個(gè)限位柱，所述右測(cè)試區(qū)的上邊沿和左邊沿亦共設(shè)有至少三個(gè)限位柱； 所述上模和下模上對(duì)應(yīng)所述PCB板的電路設(shè)有若干測(cè)試針點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模具，其特征在于:所述左測(cè)試區(qū)的上邊沿設(shè)有至少兩個(gè)限位柱，左測(cè)試區(qū)的右邊沿則設(shè)有至少一個(gè)限位柱；所述右測(cè)試區(qū)的上邊沿設(shè)有至少兩個(gè)限位柱，右測(cè)試區(qū)的左邊沿則設(shè)有至少一個(gè)限位柱。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模具，其特征在于:兩所述PCB板測(cè)試區(qū)中還凸設(shè)有多個(gè)定位針，所述上模對(duì)應(yīng)下模上的定位針設(shè)有等數(shù)量的定位孔。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK203825136SQ201420169568
【公開日】2014年9月10日 申請(qǐng)日期:2014年4月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月9日
【發(fā)明者】王小妹 申請(qǐng)人:高德(蘇州)電子有限公司