一種同步測試光纖衰減系數(shù)和截止波長的測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種同步測試光纖衰減系數(shù)和截止波長的測試方法，采用彎曲參考法或多模參考法測試光纖衰減系數(shù)和截止波長。彎曲參考法包括以下步驟：測量待測長光纖出纖光功率；截取短光纖；測量短光纖在小圈和大圈狀態(tài)下的出纖光功率；放開所述小圈，測量短光纖僅在大圈狀態(tài)下的出纖光功率；計算截止波長和衰減系數(shù)。多模參考法包括以下步驟：測量待測長光纖出纖光功率；截取短光纖；測量短光纖的出纖光功率；調(diào)用系統(tǒng)中已有的多模光纖輸出端處的出纖光功率；擬合短光纖在大圈狀態(tài)下的傳輸功率譜，計算截止波長和衰減系數(shù)。本發(fā)明通過彎曲參考法或多模參考法可實現(xiàn)同步測量光纖衰減系數(shù)和截止波長，從而減少測試步驟，縮短測試時間，有效提高測試效率。
【專利說明】一種同步測試光纖衰減系數(shù)和截止波長的測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種光纖參數(shù)測試方法，特別是涉及一種同步測試光纖衰減系數(shù)和截 止波長的測試方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 光纖衰減系數(shù)（也稱衰耗系數(shù)）是指每公里光纖對光信號功率的衰減值，其是多 模光纖和單模光纖最重要的特性參數(shù)之一，在很大程度上決定了單模和多模光纖通信的中 繼距離。另外，截止波長的定義為：單模光纖通常存在某一波長，當(dāng)所傳輸?shù)墓獠ㄩL超過該 波長時，光纖只能傳播一種模式（基模）的光，而在該波長之下，光纖可傳播多種模式（包 含高階模）的光。因此，在光纖實際應(yīng)用時，經(jīng)常需要對光纖衰減系數(shù)和截止波長進行測 試，以為光纖生產(chǎn)中控制光纖拉絲張力、制造光纜和敷設(shè)光纜時控制其在工作波長有效單 模傳輸?shù)忍峁┲匾囊罁?jù)。
[0003]目前，光纖衰減系數(shù)和截止波長的測試是分開單獨進行的，同時，光纖截止波長的 測試有彎曲參考法和多模參考法兩種測試方式，故在對光纖衰減系數(shù)和截止波長進行測試 時，測試步驟繁多，過程繁雜，測試時間過長，從而導(dǎo)致測試效率低。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種同步測試光纖衰減系 數(shù)和截止波長的測試方法，有效提高測試效率，縮短測試時間。
[0005] 為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種同步測試光纖衰減系數(shù)和截止波長的測試方 法，采用彎曲參考法或多模參考法測試光纖衰減系數(shù)和截止波長，所述彎曲參考法包括以 下步驟：
[0006]A1、將一段長為L的待測長光纖裝入光功率測試設(shè)備中，測量待測長光纖輸出端 處的出纖光功率Pl(λ);
[0007]Α2、在離所述待測長光纖輸入端的2m處截斷待測長光纖，得到一段長為2m的短光 纖；
[0008]A3、將所述短光纖折彎裝入光功率測試設(shè)備中，折彎后的短光纖上設(shè)有并排分布 的一小圈和一大圈，保持步驟Al中測量待測長光纖時的注入條件，測量短光纖在小圈和大 圈狀態(tài)下、短光纖輸出端處的出纖光功率Ρ2(λ);
[0009]Α4、放開所述小圈，保持步驟A3中測量短光纖時的注入條件，測量短光纖僅在大 圈狀態(tài)下、短光纖輸出端處的出纖光功率Ρ3(λ);
[0010] Α5、擬合短光纖在小圈和大圈狀態(tài)下的出纖光功率Ρ2(λ)與短光纖僅在大圈狀 態(tài)下的出纖光功率Ρ3(λ)之間的對數(shù)比R(A):
[0011]

【權(quán)利要求】
1. 一種同步測試光纖衰減系數(shù)和截止波長的測試方法，采用彎曲參考法或多模參考法 測試光纖衰減系數(shù)和截止波長，其特征在于： 所述彎曲參考法包括以下步驟： A1、將一段長為L的待測長光纖裝入光功率測試設(shè)備中，測量待測長光纖輸出端處的 出纖光功率Pl(λ); Α2、在離所述待測長光纖輸入端的2m處截斷待測長光纖，得到一段長為2m的短光纖； A3、將所述短光纖折彎裝入光功率測試設(shè)備中，折彎后的短光纖上設(shè)有并排分布的一 小圈和一大圈，保持步驟Al中測量待測長光纖時的注入條件，測量短光纖在小圈和大圈狀 態(tài)下、短光纖輸出端處的出纖光功率Ρ2(λ); Α4、放開所述小圈，保持步驟A3中測量短光纖時的注入條件，測量短光纖僅在大圈狀 態(tài)下、短光纖輸出端處的出纖光功率Ρ3(λ); Α5、擬合短光纖在小圈和大圈狀態(tài)下的出纖光功率Ρ2(λ)與短光纖僅在大圈狀態(tài)下 的出纖光功率Ρ3(λ)之間的對數(shù)比R(A):
待測長光纖的截止波長λ。為：在Ι?(λ)-λ曲線上，當(dāng)R(A) =〇.IdB處的最大波長；
待測長光纖的衰減系數(shù)α(λ)為 所述多模參考法包括以下步驟： Β1、將一段長為L的待測長光纖裝入光功率測試設(shè)備中，測量待測長光纖輸出端處的 出纖光功率Pl(λ); Β2、在離所述待測長光纖輸入端的2m處截斷待測長光纖，得到一段長為2m的短光纖； B3、將所述短光纖折彎裝入光功率測試設(shè)備中，折彎后的短光纖上設(shè)有一大圈，保持步 驟Bl中測量待測長光纖時的注入條件，測量短光纖輸出端處的出纖光功率Ρ4(λ); Β4、調(diào)用系統(tǒng)中已有的多模光纖的參考光功率Pm(λ); Β5、擬合短光纖在大圈狀態(tài)下的傳輸功率譜Am(λ):

待測長光纖的截止波長λ。為：將Απι(λ)-λ曲線的長波長部分?jǐn)M合一條直線，將該 直線向上平移〇.IdB后得到一條參考直線，該參考直線與Am(λ)-λ曲線相交處的最大波 長； 待測長光纖的衰減系數(shù)α(λ)為：
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：所述步驟A3中，所述小圈的直徑為 60mm〇
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：所述步驟A3和步驟B3中，所述大圈 的直徑為280mm;所述步驟M中，所述第一大圈的直徑為280mm。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：所述光功率測試設(shè)備為一光功率計。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：所述步驟M中，多模光纖的參考光 功率Pm(λ)的測試步驟為：取一段長度小于IOm的多模光纖，將該多模光纖折彎裝入光功 率測試設(shè)備中，折彎后的多模光纖上設(shè)有一與大圈直徑相同的第一大圈，保持步驟Β3中測 量短光纖時的注入條件，測量多模光纖輸出端處的出纖光功率Ρ5(λ)，Ρ5(λ)記為所述多 模光纖的參考光功率Pm(λ)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：所述步驟Α5中，在R(λ)-λ曲線上， 當(dāng)λ=λ。時，R(Ae)與R(max)之間的差值八1?不小于2(18。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于：所述步驟B5中，在Απι(λ)-λ曲線 上，當(dāng)λ=λ。時，Am(λ。）與Am(max)之間的差值A(chǔ)Am不小于2dB。
【文檔編號】G01M11/02GK104458217SQ201410852007
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月31日
【發(fā)明者】胡姊娟, 黃琦凱, 沈奶連, 涂建坤, 龔江疆 申請人:上海電纜研究所, 上海賽克力光電纜有限責(zé)任公司