物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處理方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處理方法，采集一系列的供電極距ABi以及每個ABi對應(yīng)的供電電流強(qiáng)度Ii、視電阻率ρsi、視極化率ηsi，得到探測深度Hi以及與Hi對應(yīng)的電阻率ρi、極化率ηi如下：其中，i為正整數(shù)，各參數(shù)與單位之間對應(yīng)關(guān)系為H-米、ρ-歐姆·米、η-％、I-安培、AB-米。本發(fā)明中的物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處理方法結(jié)果準(zhǔn)確、適用范圍廣。
【專利說明】物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處理方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及地質(zhì)勘查【技術(shù)領(lǐng)域】，具體而言，設(shè)及一種物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處 理方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著經(jīng)濟(jì)社會的快速發(fā)展，對礦產(chǎn)資源需求量在急劇增加，而當(dāng)前眾多金屬礦產(chǎn) 的保有資源儲量在快速衰減或枯竭，可持續(xù)發(fā)展矛盾日益突顯，于是化解矛盾的有效途徑 和辦法就落在了地質(zhì)找礦的重大突破上?，F(xiàn)階段找礦形勢也越來越嚴(yán)峻，地表露頭礦、淺部 埋藏礦體日漸稀少，中深部地質(zhì)找礦勢在必行，但中深部找礦難度卻成倍增加。
[0003] 中深部地質(zhì)找礦中物探方法必不可少，其作用越來越重要。物探激電法勘查是目 前用得最多、較為有效的方法手段之一，對其勘測數(shù)據(jù)的分析研究與處理解釋，即資料的反 演處理技術(shù)（求解礦體的形態(tài)、規(guī)模、埋深、產(chǎn)狀等），多年來一直是眾多物探工作者不斷研 究和深入探索的難點(diǎn)問題。
[0004] 目前的電測深數(shù)據(jù)資料的反演處理方法，如；量板法、經(jīng)驗(yàn)法、逐次遞推法、反射系 數(shù)法、電磁類比法等等，該些方法有的是針對水平層狀電性介質(zhì)，有的在計(jì)算過程中存在誤 差傳遞積累，會放大誤差，有的只是簡單的視角變換，沒有本質(zhì)性分離和改變，有的因?yàn)閼?yīng) 用條件過于苛刻，實(shí)際地質(zhì)情況復(fù)雜多變、很難滿足。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種結(jié)果準(zhǔn)確、適用范圍廣的物探激電測 深數(shù)據(jù)層析法處理方法。
[0006] 因此，本發(fā)明的技術(shù)方案如下：
[0007] 一種物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處理方法，采集一系列的供電極距ABiW及每個ABi 對應(yīng)的供電電流強(qiáng)度li、視電阻率P d、視極化率n^，得到探測深度HiW及與Hi對應(yīng)的電 阻率P 1、極化率n;如下：

【權(quán)利要求】
1. 一種物探激電測深數(shù)據(jù)層析法處理方法，其特征在于，采集一系列的供電極距AB^ 及每個ABi對應(yīng)的供電電流強(qiáng)度Ii、視電阻率Psi、視極化率nsi，得到探測深度氏以及與 Hi對應(yīng)的電阻率Pp極化率Hi如下：
【文檔編號】G01V3/38GK104502986SQ201410746156
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年12月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月9日
【發(fā)明者】蔡運(yùn)勝, 夏訓(xùn)銀, 楊學(xué)明, 李小永, 范劍, 王茜 申請人:天津華勘集團(tuán)有限公司