一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，包括主控板、插拔模擬測試電路和電容沖擊模擬測試電路。主控板包括微處理器、顯示模塊電路、調(diào)節(jié)控制電路和控制輸出電路。微處理器，其輸入端與調(diào)節(jié)控制電路的輸出端相連，其輸出端分別與顯示模塊電路、控制輸出電路的輸入端相連。插拔模擬測試電路包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件。電容沖擊模擬測試模塊包括開關(guān)器件、沖擊電容和放電電阻。開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件和用于控制放電電阻通斷的第三開關(guān)器件。該儀器能夠?qū)﹄娖髟O(shè)備進行模擬電源插拔及電容沖擊性試驗，保證電器設(shè)備成品的工作穩(wěn)定性。
【專利說明】一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀
[0001]

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明涉及電器設(shè)備測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種用于對電器設(shè)備進行電源插拔及電容沖擊性模擬試驗的測試儀。
[0003]

【背景技術(shù)】
[0004]隨著國家電力電子科技的發(fā)展，各種電器設(shè)備，尤其是家電設(shè)備的種類及數(shù)量也在不斷增加。電器設(shè)備往往需要頻繁的接插電源，而每次接插電源的瞬間會產(chǎn)生過壓過流等干擾，電器設(shè)備在一定的接插次數(shù)后，其電源及系統(tǒng)穩(wěn)定性會大大降低甚至出現(xiàn)損壞。
[0005]另外，在復雜多樣的電網(wǎng)系統(tǒng)下，存在各種沖擊性負載，沖擊性負載會對系統(tǒng)電壓電流帶來諧波污染，干擾電器設(shè)備的電源系統(tǒng)，影響其正常工作。
[0006]針對這些問題，電器設(shè)備制造企業(yè)需要對產(chǎn)品進行充分的試驗，以保證其工作穩(wěn)定性。
[0007]


【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于提供一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，該儀器能夠?qū)﹄娖髟O(shè)備進行模擬電源插拔及電容沖擊性試驗，以保證電器設(shè)備成品的工作穩(wěn)定性。
[0009]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案:
一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，包括主控板、插拔模擬測試電路和電容沖擊模擬測試電路。
[0010]所述的主控板包括微處理器、顯示模塊電路、調(diào)節(jié)控制電路和控制輸出電路。所述的微處理器，其輸入端與調(diào)節(jié)控制電路的輸出端相連，其輸出端分別與顯示模塊電路、控制輸出電路的輸入端相連。
[0011]所述的插拔模擬測試電路包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件。
[0012]所述的電容沖擊模擬測試電路包括開關(guān)器件、沖擊電容和放電電阻。所述的開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件和用于控制放電電阻通斷的第三開關(guān)器件。
[0013]進一步的，所述的調(diào)節(jié)控制電路包括用于控制投入時間的第一調(diào)節(jié)控制電路和用于控制斷開時間的第二調(diào)節(jié)控制電路。所述的第一調(diào)節(jié)控制電路和第二調(diào)節(jié)控制電路的結(jié)構(gòu)相同，均包括旋鈕開關(guān)Keyl、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C2和電容C3。
[0014]進一步的，所述的控制輸出電路包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一控制輸出電路、用于控制沖擊電容通斷的第二控制輸出電路和用于控制放電電阻通斷的第三控制輸出電路； 所述的第一控制輸出電路、第二控制輸出電路和第三控制輸出電路的結(jié)構(gòu)相同，均包括電子繼電器、二極管、電容、晶體三極管和電阻。
[0015]由以上技術(shù)方案可知，本發(fā)明能夠通過插拔模擬測試電路與電容沖擊模擬測試電路，對電器設(shè)備在電源插拔及受電容沖擊時的電源及系統(tǒng)穩(wěn)定性進行測試驗證。
[0016]

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1是本發(fā)明的系統(tǒng)原理圖；
圖2是主控板的原理圖；
圖3是調(diào)節(jié)控制電路的電路原理圖；
圖4是第一控制輸出電路的電路原理圖；
圖5是第二控制輸出電路的電路原理圖；
圖6是第三控制輸出電路的電路原理圖。
[0018]其中:
1、主控板，2、插拔模擬測試電路，3、電容沖擊模擬測試電路，4、被測設(shè)備，5、微處理器，6、顯示模塊電路，7、調(diào)節(jié)控制電路，8、控制輸出電路。
[0019]

【具體實施方式】
[0020]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步說明:
如圖1所示，一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，包括主控板1、插拔模擬測試電路2和電容沖擊模擬測試電路3。插拔模擬測試電路2，用于對被測設(shè)備4的電源插拔進行測試。電容沖擊模擬測試電路3，用于對被測設(shè)備4的抗電容沖擊性能進行測試。在本發(fā)明使用過程中，本發(fā)明與被測設(shè)備4采用兩個獨立的電源單獨供電，用圖1中所示的測試儀工作電源為本發(fā)明供電，用圖1中所示的被測設(shè)備工作電源為被測設(shè)備單獨供電。
[0021]如圖2所示，所述的主控板I包括微處理器5、顯示模塊電路6、調(diào)節(jié)控制電路7和控制輸出電路8。所述的微處理器5，其輸入端與調(diào)節(jié)控制電路7的輸出端相連，其輸出端分別與顯不模塊電路6、控制輸出電路8的輸入端相連。微處理器5的型號為瑞薩R5F101。顯示模塊電路6，用于顯示本發(fā)明的投入時間、斷開時間及試驗次數(shù)。調(diào)節(jié)控制電路7，用于調(diào)整本發(fā)明的功能模式、投入時間、斷開時間及啟停操作?？刂戚敵鲭娐?，用于控制Relayl-Relay3三個開關(guān)設(shè)備的通斷，以對被測設(shè)備4進行不同性能測試。
[0022]如圖3所示，所述的調(diào)節(jié)控制電路7包括用于控制投入時間的第一調(diào)節(jié)控制電路和用于控制斷開時間的第二調(diào)節(jié)控制電路。所述的第一調(diào)節(jié)控制電路和第二調(diào)節(jié)控制電路的結(jié)構(gòu)相同，均包括旋鈕開關(guān)Keyl、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C2和電容C3。圖3中的引腳Keyl_l和引腳Keyl_2為調(diào)節(jié)控制電路7的輸出端，兩個引腳分別與微處理器5的輸入端相連。旋鈕開關(guān)Keyl，其引腳I經(jīng)電阻R2接5V電源信號，其引腳3經(jīng)電阻R3接5V電源信號，其引腳2接地。電阻R4兩端分別連接旋鈕開關(guān)Keyl的引腳I和微處理器引腳Keyl_l。電容C2兩端分別連接引腳Key 1_1和地。電阻R5兩端分別連接旋鈕開關(guān)Keyl的引腳3和微處理器引腳Key 1_2。電容C3兩端分別連接引腳Key 1_2和地。此外，還可以用滑動變阻器等其他調(diào)節(jié)元件來替代旋鈕開關(guān)Keyl。通過旋鈕開關(guān)Keyl和各個電阻、各個電容的相互配合，能夠?qū)Ρ景l(fā)明使用時的通斷時間進行調(diào)節(jié)。
[0023]如圖1所示，主控板I包括3個信號輸出接口 K1、K2和K3，以及與3個信號輸出接口相對應(yīng)的公共端COM。其中，0(1、0)1)，用于控制被測設(shè)備的電源通斷；(1(2、0)1)，用于控制沖擊電容Cl的通斷；(K3、COM)，用于控制放電電阻Rl的通斷。如圖4 一圖6所示，所述的控制輸出電路8包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一控制輸出電路、用于控制沖擊電容通斷的第二控制輸出電路和用于控制放電電阻通斷的第三控制輸出電路。所述的第一控制輸出電路、第二控制輸出電路和第三控制輸出電路的結(jié)構(gòu)相同，均包括電子繼電器、二極管、電容、晶體三極管和電阻?？刂戚敵鲭娐?，通過電子繼電器將弱電控制信號轉(zhuǎn)換為強電信號，進而控制插拔模擬測試電路與電容沖擊模擬測試電路的工作狀態(tài)。
[0024]具體地說，如圖4所示，第一控制輸出電路包括二極管Dl1、電子繼電器Relay4、電容XC2、電阻R34、電阻R35和晶體三極管Q18。二極管D11，其陰極接12V電源信號，其陽極接晶體管Q18集電極。電子繼電器Relay4，其輸入端并聯(lián)在二極管Dll的兩端，其輸出端并聯(lián)在電容XC2的兩端。晶體三極管Q18，其基極經(jīng)電阻R35接微處理器的輸出端Koutl，其發(fā)射極接地，其基極與發(fā)射極之間連有電阻R34。電容XC2，其上端連接測試儀工作電源的火線L，其下端連接主控板的第一輸出接口 Kl。第一輸出接口 Kl對應(yīng)的公共端口 COM接測試儀工作電源的零線N。
[0025]如圖5所示，第二控制輸出電路包括二極管D12、電子繼電器Relay5、電容XC3、電阻R43、電阻R42和晶體三極管Q19。二極管D12，其陰極接12V電源信號，其陽極接晶體管Q19的集電極。電子繼電器Relay5，其輸入端并聯(lián)在二極管D12的兩端，其輸出端并聯(lián)在電容XC3的兩端。晶體三極管Q19，其基極經(jīng)電阻R43接微處理器的輸出端Kout2，其發(fā)射極接地，其基極與發(fā)射極之間連有電阻R42。電容XC3，其上端連接測試儀工作電源的火線L，其下端連接主控板的第二輸出接口 K2。第二輸出接口 K2對應(yīng)的公共端口 COM接測試儀工作電源的零線N。
[0026]如圖6所示，第三控制輸出電路包括二極管D13、電子繼電器Relay6、電容XC4、電阻R50、電阻R48和晶體三極管Q20。二極管D13，其陰極接12V電源信號，其陽極接晶體管Q20的集電極。電子繼電器Relay6，其輸入端并聯(lián)在二極管D13的兩端，其輸出端并聯(lián)在電容XC4的兩端。晶體三極管Q20，其基極經(jīng)電阻R50接微處理器的輸出端BreakPower，其發(fā)射極接地，其基極與發(fā)射極之間連有電阻R48。電容XC4，其上端連接測試儀工作電源的火線L，其下端連接主控板的第三輸出接口 K3。第二輸出接口 K3對應(yīng)的公共端口 COM接測試儀工作電源的零線N。
[0027]進一步的，如圖1所示，所述的插拔模擬測試電路2包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件Relayl。第一開關(guān)器件Relayl,其控制端接主控板的第一輸出接口 Kl和公共端COM ;其輸入端接被測設(shè)備工作電源的火線L-EUT與零線N-EUT ;其輸出端分別與被測設(shè)備4、電容沖擊模擬測試電路3的輸入端相連。在實際使用過程中，要根據(jù)被測設(shè)備的電壓及功率等級來確定第一開關(guān)器件Relayl的參數(shù)。
[0028]進一步的，如圖1所示，所述的電容沖擊模擬測試電路3包括開關(guān)器件、沖擊電容Cl和放電電阻R1。根據(jù)需要的沖擊電流大小確定沖擊電容的參數(shù)，根據(jù)放電快慢確定放電電阻的阻值及功率大小。所述的開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件Relay2和用于控制放電電阻通斷的第二開關(guān)器件Relay3。第二開關(guān)器件Relay2,其控制端接主控板的第二輸出接口 K2和公共端COM ;其輸入端分別與第一開關(guān)器件Relayl的輸出端、被測設(shè)備的輸入端相連；其輸出端并聯(lián)在沖擊電容Cl兩端。如圖1所示，放電電阻Rl與第三開關(guān)器件Relay3串聯(lián)后，再并聯(lián)在放電電容Cl的兩端。第三開關(guān)器件Relay3的控制端與主控板的第三輸出接口 K3及公共端COM相連。
[0029]本發(fā)明的工作原理為:
當本發(fā)明進行電源插拔模擬測試時，通過第一控制輸出電路使第一開關(guān)器件Relayl通斷，同時通過第二控制輸出電路使第二開關(guān)器件Relay2保持關(guān)斷，從而實現(xiàn)被測設(shè)備的模擬電源插拔的測試。
[0030]當本發(fā)明進行電容沖擊模擬測試時，通過第一控制輸出電路使第一開關(guān)器件Relayl始終為閉合狀態(tài)，再通過第二控制輸出電路控制沖擊電容Cl的投入與切除，同時通過第三控制輸出電路控制放電電阻的通斷。當沖擊電容Cl投入時，放電電阻Rl關(guān)斷；當沖擊電容Cl切除時，放電電阻Rl閉合,保證電容沖擊效果。
[0031]當本發(fā)明未進行任何模擬測試時，通過第三控制輸出電路使第三開關(guān)器件Relay3始終為閉合狀態(tài)，使沖擊電容Cl的充電量為0，從而保證本發(fā)明及被測設(shè)備的安全。
[0032]以上所述的實施例僅僅是對本發(fā)明的優(yōu)選實施方式進行描述，并非對本發(fā)明的范圍進行限定，在不脫離本發(fā)明設(shè)計精神的前提下，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員對本發(fā)明的技術(shù)方案作出的各種變形和改進，均應(yīng)落入本發(fā)明權(quán)利要求書確定的保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，其特征在于:包括主控板(1)、插拔模擬測試電路(2 )和電容沖擊模擬測試電路(3 ); 所述的主控板(1)包括微處理器(5)、顯示模塊電路(6)、調(diào)節(jié)控制電路(7)和控制輸出電路(8);所述的微處理器(5)，其輸入端與調(diào)節(jié)控制電路(7)的輸出端相連，其輸出端分別與顯不模塊電路(6)、控制輸出電路(8)的輸入端相連； 所述的插拔模擬測試電路(2)包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件； 所述的電容沖擊模擬測試電路(3)包括開關(guān)器件、沖擊電容和放電電阻；所述的開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件和用于控制放電電阻通斷的第三開關(guān)器件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，其特征在于:所述的調(diào)節(jié)控制電路(7)包括用于控制投入時間的第一調(diào)節(jié)控制電路和用于控制斷開時間的第二調(diào)節(jié)控制電路；所述的第一調(diào)節(jié)控制電路和第二調(diào)節(jié)控制電路的電路結(jié)構(gòu)相同，均包括旋鈕開關(guān)Key 1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C2和電容C3。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗的測試儀，其特征在于:所述的控制輸出電路(8)包括用于控制被測設(shè)備電源通斷的第一控制輸出電路、用于控制沖擊電容通斷的第二控制輸出電路和用于控制放電電阻通斷的第三控制輸出電路； 所述的第一控制輸出電路、第二控制輸出電路和第三控制輸出電路的電路結(jié)構(gòu)相同，均包括電子繼電器、二極管、電容、晶體三極管和電阻。
【文檔編號】G01R31/00GK104345240SQ201410712090
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2014年12月1日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月1日
【發(fā)明者】陳君, 張寶玉, 蔣大勇 申請人:合肥市航嘉電子技術(shù)有限公司