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一種測(cè)量尺的制作方法

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一種測(cè)量尺的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種測(cè)量尺,其包括平行設(shè)置的面光源和透光板;所述面光源用于向所述透光板發(fā)射平行光線;所述透光板上設(shè)有刻度,所述刻度區(qū)域的透光率不等于所述刻度區(qū)域外的透光板其他區(qū)域的透光率。上述測(cè)量尺可以在保持與待檢測(cè)物之間的安全距離的位置上,準(zhǔn)確地檢測(cè)待檢測(cè)物的相應(yīng)尺寸值。
【專利說(shuō)明】
一種測(cè)量尺

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及尺寸測(cè)量的【技術(shù)領(lǐng)域】,具體地,涉及一種能在保持與待檢測(cè)物之間的安全距離的位置上,對(duì)待檢測(cè)物的尺寸進(jìn)行精確檢測(cè)的測(cè)量尺。

【背景技術(shù)】
[0002]在工業(yè)生產(chǎn)及日常生活中,人們經(jīng)常需要測(cè)量一些物體的尺寸;其測(cè)量方法一般是將具有刻度的測(cè)量尺貼在待檢測(cè)物的表面,并根據(jù)測(cè)量尺表面的刻度,讀取所需的物體的尺寸。但在一些特殊情況下,將測(cè)量尺直接貼在待檢測(cè)物的表面,會(huì)帶來(lái)一些不良后果,這時(shí)就需要在與待檢測(cè)物保持安全距離的情況下測(cè)量待檢測(cè)物的尺寸。
[0003]例如,在薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay,以下簡(jiǎn)稱為TFT LCD)領(lǐng)域,利用取向膜印刷機(jī)制備取向膜時(shí),需要檢測(cè)聚酰亞胺(Polyimide,簡(jiǎn)稱為PI)液被勻膠輥(Anilox Roller)和印刷感光樹(shù)脂版(APR版)擠壓,以及被APR版和玻璃基板擠壓時(shí)所形成PI膜的寬度(NIP值)來(lái)確定勻膠輥和印刷感光樹(shù)脂版之間,以及印刷感光樹(shù)脂版和玻璃基板之間的壓力是否合適。并且,由于APR版和玻璃基板易損壞,且造價(jià)較高,在檢測(cè)NIP值時(shí),測(cè)量尺不能與APR版和玻璃基板接觸;具體地,檢測(cè)NIP值的方法一般如下:將測(cè)量尺貼近PI膜,根據(jù)測(cè)量尺表面的刻度,估讀出檢測(cè)結(jié)果。
[0004]在根據(jù)上述方法檢測(cè)NIP值時(shí),由于測(cè)量尺不能與APR版及玻璃基板接觸,從而會(huì)導(dǎo)致:在測(cè)量尺與其的距離較近時(shí),測(cè)量尺容易意外碰到APR版及玻璃基板,造成APR版及玻璃基板的損壞;在測(cè)量尺與其的距離較遠(yuǎn)時(shí),估讀出的檢測(cè)結(jié)果會(huì)不準(zhǔn)確。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一,提出了一種測(cè)量尺,其可以在保持與待檢測(cè)物之間的安全距離的位置上,準(zhǔn)確地檢測(cè)待檢測(cè)物的尺寸值。
[0006]為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種測(cè)量尺,包括平行層疊設(shè)置的面光源和透光板;所述面光源用于向所述透光板發(fā)射平行光線;所述透光板上設(shè)有刻度,所述刻度區(qū)域的透光率大于所述刻度區(qū)域外的透光板其他區(qū)域的透光率。
[0007]其中,所述測(cè)量尺還包括框架,所述面光源和透光板設(shè)置在所述框架上。
[0008]其中,所述測(cè)量尺還包括開(kāi)關(guān),所述開(kāi)關(guān)用于開(kāi)啟和關(guān)閉所述面光源。
[0009]其中,所述面光源包括多個(gè)子光源。
[0010]其中,所述子光源為條狀光源,多個(gè)所述條狀光源平行設(shè)置。
[0011]其中,所述子光源為點(diǎn)光源或貼片光源,多個(gè)所述點(diǎn)光源或貼片光源排列成矩陣。
[0012]優(yōu)選地,所述子光源為貼片光源,所述貼片光源的厚度小于2mm。
[0013]其中,所述子光源為發(fā)光二極管。
[0014]其中,所述發(fā)光二極管的發(fā)光角度小于30度。
[0015]其中,所述面光源的發(fā)光顏色為黃色或紅色。
[0016]其中,所述刻度區(qū)域的透光率和所述刻度區(qū)域外的透光板其他區(qū)域的透光率的差值大于50%。
[0017]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0018]本發(fā)明提供的測(cè)量尺,其透光板上設(shè)有刻度,并且刻度區(qū)域的透光率大于刻度區(qū)域外的透光板其他區(qū)域的透光率,從而在面光源向透光板發(fā)射光線時(shí),透光板上的刻度被投影到光線到達(dá)的物體上;并且,由于面光源和透光板平行設(shè)置,投影到物體上的刻度不會(huì)產(chǎn)生變形;從而使待檢測(cè)物置于光線傳播的路徑上,并保持待檢測(cè)物和測(cè)量尺之間具有安全距離,通過(guò)讀取投影到待檢測(cè)物上的刻度,即可獲得待檢測(cè)物的相應(yīng)尺寸的準(zhǔn)確值;與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供的測(cè)量尺在不與待檢測(cè)物接觸,從而不會(huì)導(dǎo)致不良后果的情況下,可以準(zhǔn)確地檢測(cè)待檢測(cè)物的尺寸。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0019]附圖是用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解,并且構(gòu)成說(shuō)明書的一部分,與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明,但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0020]圖1為本發(fā)明提供的測(cè)量尺的實(shí)施方式的示意圖;
[0021]圖2為圖1所示測(cè)量尺的結(jié)構(gòu)圖;
[0022]圖3為圖1所示測(cè)量尺測(cè)量時(shí)的狀態(tài)圖。
[0023]其中,附圖標(biāo)記:
[0024]1:測(cè)量尺;10:面光源;11:透光板;12:框架;13:開(kāi)關(guān);100:子光源。

【具體實(shí)施方式】
[0025]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解的是,此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明。
[0026]請(qǐng)參看圖1和圖2,圖1為本發(fā)明提供的測(cè)量尺的實(shí)施方式的示意圖;圖2為圖1所示測(cè)量尺的結(jié)構(gòu)圖。在本實(shí)施方式中,測(cè)量尺1包括平行層疊設(shè)置的面光源10和透光板11;所述面光源10用于向所述透光板11發(fā)射平行光線;所述透光板11上設(shè)有刻度,所述刻度區(qū)域的透光率大于所述刻度區(qū)域外的透光板11其他區(qū)域的透光率。
[0027]在本實(shí)施方式中,透光板11的刻度區(qū)域的透光率大于刻度區(qū)域外的其他區(qū)域的透光率,在與透光板11平行層疊設(shè)置的面光源10向透光板11發(fā)射平行光線時(shí),透光板11上的刻度會(huì)被投影到光線到達(dá)的物體上;從而在將待檢測(cè)物放置到透光板11與面光源10所在一側(cè)相對(duì)的另一側(cè),或者將透光板11與面光源10所在一側(cè)相對(duì)的另一側(cè)對(duì)準(zhǔn)待檢測(cè)物,透光板11上的刻度被投影到待檢測(cè)物上,如圖3所示;進(jìn)而,可以理解,在將待檢測(cè)物的需要測(cè)量的尺寸置于與面光源10及透光板11平行的平面內(nèi)時(shí),通過(guò)讀取投影到待檢測(cè)物上的刻度,可以獲得待檢測(cè)物的需要檢測(cè)的尺寸的準(zhǔn)確值。
[0028]具體地,所述測(cè)量尺1還包括框架12,所述面光源10和透光板11設(shè)置在所述框架12上;這樣設(shè)置不僅可以實(shí)現(xiàn)面光源10和透光板11的固定,還可以使面光源10與透光板11之間穩(wěn)定地保持相互平行的位置關(guān)系,從而避免在每次測(cè)量前校正面光源10和透光板11之間的位置關(guān)系。
[0029]所述測(cè)量尺還包括開(kāi)關(guān)13,所述開(kāi)關(guān)13用于開(kāi)啟和關(guān)閉所述面光源10 ;在進(jìn)行檢測(cè)時(shí),開(kāi)關(guān)13開(kāi)啟面光源10,而在檢測(cè)結(jié)束后,關(guān)閉面光源10。
[0030]具體地,所述面光源10可以包括多個(gè)子光源100,所述多個(gè)子光源100可以為條狀光源,多個(gè)所述條狀光源平行設(shè)置,所述條狀光源的尺寸相同。此外,所述子光源100還可以為點(diǎn)光源或貼片光源,多個(gè)所述點(diǎn)光源或貼片光源排列成矩陣。優(yōu)選地,所述子光源100為貼片光源,其的厚度小于2mm,以減小測(cè)量尺1的厚度。
[0031]優(yōu)選地,子光源100為發(fā)光二極管。進(jìn)一步優(yōu)選地,所述發(fā)光二極管的發(fā)光角度小于30度,這樣可以使每個(gè)子光源100發(fā)出的光線盡可能地近似于平行光,從而在投影過(guò)程中,盡可能避免投影到待檢測(cè)物上的刻度發(fā)生變形。
[0032]優(yōu)選地,所述面光源的發(fā)光顏色為黃色或紅色;由于黃色和紅色光容易被人眼辨另IJ,這樣設(shè)置可以提高投影到待檢測(cè)物上的刻度的精確度,從而使刻度更容易被讀取,以及提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0033]優(yōu)選地,所述刻度區(qū)域的透光率和所述刻度區(qū)域外的透光板11其他區(qū)域的透光率的差值大于50% ;這樣可以提高投影到待檢測(cè)物上的刻度的對(duì)比度,從而使投影到待檢測(cè)物上的刻度更容易被讀取。
[0034]綜上所述,本發(fā)明實(shí)施方式提供的測(cè)量尺1,透光板11上設(shè)有刻度,并且刻度區(qū)域的透光率大于刻度區(qū)域外的透光板11其他區(qū)域的透光率,從而在面光源10向透光板11發(fā)射光線時(shí),透光板11上的刻度被投影到光線到達(dá)的物體上;并且,由于面光源10和透光板11平行設(shè)置,投影到物體上的刻度不會(huì)產(chǎn)生變形;從而使待檢測(cè)物置于光線傳播的路徑上,并保持待檢測(cè)物和測(cè)量尺1之間具有安全距離,通過(guò)讀取投影到待檢測(cè)物上的刻度,即可獲得待檢測(cè)物的相應(yīng)尺寸的準(zhǔn)確值;與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)施方式提供的測(cè)量尺1在不與待檢測(cè)物接觸,從而不會(huì)導(dǎo)致不良后果的情況下,可以準(zhǔn)確地檢測(cè)待檢測(cè)物的尺寸。
[0035]可以理解的是,以上實(shí)施方式僅僅是為了說(shuō)明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式,然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言,在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下,可以做出各種變型和改進(jìn),這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)量尺,其特征在于,包括平行層疊設(shè)置的面光源和透光板;所述面光源用于向所述透光板發(fā)射平行光線;所述透光板上設(shè)有刻度,所述刻度區(qū)域的透光率大于所述刻度區(qū)域外的透光板其他區(qū)域的透光率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述測(cè)量尺還包括框架,所述面光源和透光板設(shè)置在所述框架上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述測(cè)量尺還包括開(kāi)關(guān),所述開(kāi)關(guān)用于開(kāi)啟和關(guān)閉所述面光源。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述面光源包括多個(gè)子光源。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述子光源為條狀光源,多個(gè)所述條狀光源平行設(shè)置,所述條狀光源的尺寸相同。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述子光源為點(diǎn)光源或貼片光源,多個(gè)所述點(diǎn)光源或貼片光源排列成矩陣。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述子光源為貼片光源,所述貼片光源的厚度小于2mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述子光源為發(fā)光二極管。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述發(fā)光二極管的發(fā)光角度小于30度。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述面光源的發(fā)光顏色為黃色或紅色。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量尺,其特征在于,所述刻度區(qū)域的透光率和所述刻度區(qū)域外的透光板其他區(qū)域的透光率的差值大于50%。
【文檔編號(hào)】G01B3/04GK104296611SQ201410609657
【公開(kāi)日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2014年10月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月31日
【發(fā)明者】劉崇業(yè), 李行, 張文, 孟凡昊 申請(qǐng)人:合肥鑫晟光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司
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