一種厚度測量方法及厚度測量系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種厚度測量方法及厚度測量系統(tǒng)，厚度測量方法采用至少2組測量裝置對被測產(chǎn)品進行厚度測量，各組測量裝置的量程范圍互不相同，至少采用1組X射線測量裝置進行小量程測量。一種厚度測量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，其中至少有1組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量裝置。本發(fā)明采用至少2組測量裝置，其中至少1組是X射線測量裝置，既保證了最終產(chǎn)品的測量精度，也降低了X射線測量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒有測量量程的限制，對產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。
【專利說明】一種厚度測量方法及厚度測量系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計量技術(shù)，特別是涉及一種厚度測量方法及厚度測量系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的厚度測量方式之一是采用X射線測厚儀，由于X射線的輸出功率和穿透力是成正比的，所以要想穿透比重密度越大的被測物質(zhì)其輸出功率也就越大，這就導(dǎo)致在一些被測物比重很大的情況下，需要使用輸出功率大的X射線才能夠穿透被測物從而有效的進行數(shù)據(jù)采集和測量。
[0003]X射線的輸出功率過大時會對操作者產(chǎn)生危害，因為長時間大劑量的X照射生物死亡率可以達到100%，但是如果為了安全降低其輸出功率(國家環(huán)保局有相關(guān)規(guī)定)則無法達到正常檢測量程的目地。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種新的厚度測量方法和測量設(shè)備，既能達到測量要求，又減少了 X射線的輻射。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種厚度測量方法，采用至少2組測量裝置對被測產(chǎn)品進行厚度測量，各組測量裝置的量程范圍互不相同，至少采用1組X射線測量裝置進行小量程測量。
[0006]采用1組X射線測量裝置進行小量程測量。
[0007]所述小量程測量的厚度范圍為0.8?0.01毫米。
[0008]所述非X射線測量裝置采用電磁測量裝置或激光測量裝置。
[0009]所述被測產(chǎn)品是在加工過程中厚度逐漸降低的產(chǎn)品。成品的厚度低于原料厚度。
[0010]所述X射線測量裝置的輸出功率與被測產(chǎn)品的最終厚度相匹配。
[0011]至少兩組測量裝置根據(jù)被測產(chǎn)品厚度范圍的變換進行切換，當被測產(chǎn)品的厚度進入一組測量裝置的測量范圍時，獲取該組測量裝置的測量值為確定測定值，其余測量裝置的測量值放棄。
[0012]本發(fā)明還提供一種厚度測量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，其中至少有1組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量傳感器。
[0013]所述厚度測量系統(tǒng)具有1組X射線測量裝置。
[0014]所述非X射線測量傳感器采用電磁測量裝置或激光測量裝置。
[0015]所述X射線測量裝置的輸出功率與最終產(chǎn)品的厚度相匹配。
[0016]所述厚度測量系統(tǒng)還包括控制器和顯示裝置，控制器根據(jù)不同測量裝置的測量范圍選取相應(yīng)落入測量范圍的測量值顯示在顯示裝置。由于X射線測量裝置的量程范圍較小，因此在加工過程中，控制器根據(jù)加工產(chǎn)品的厚度范圍確定該范圍落入哪一組測量裝置的測量范圍，從而選取該組測量裝置測量的數(shù)值進行顯示。保證了顯示的測量數(shù)值的精度。
[0017]本發(fā)明采用至少2組測量裝置，其中至少I組是X射線測量裝置(X射線測量裝置是現(xiàn)有技術(shù)中用于厚度測量的裝置，包括X光管，高壓電源以及X射線強度感應(yīng)器等(X射線強度感應(yīng)器是指電離室、固態(tài)電離室或者能夠感應(yīng)X射線強度的相關(guān)傳感器)，X射線測量裝置的精度較高，但被測材料厚度越大，需要功率越大)。由于采用了至少I組X射線測量裝置，就保證了最終產(chǎn)品測量的精度，因為該組X射線測量裝置的作用是專門針對測量的厚度值以及測量的范圍比較小時，這個時候可以滿足很高的測量精度；其X射線測量裝置的工作原理就是利用X光管工作在一個固定的輸出功率下其最佳測量范圍也是相對固定的這一個特性，而本發(fā)明利用了該特性，只使用X射線測量裝置測量其最佳測量范圍的厚度，其輸出功率也就較小，減少了輻射，同時保證了成品的精度。而較大厚度范圍則采用其它厚度測量裝置進行測量。本發(fā)明在整個產(chǎn)品加工過程，比如軋鋼過程中，既保證了最終產(chǎn)品的測量精度，也降低了 X射線測量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒有測量量程的限制，對產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。
[0018]本發(fā)明測量厚度的方法，當被測物的厚度在較大量程裝置的測量范圍時，切換到較大量程測量裝置測量獲得一組數(shù)據(jù)，當被測物的厚度變化到較大量程裝置的測量下限但又進入較小量程測量裝置的量程上限時，切換到較小量程裝置測量獲得一組數(shù)據(jù)。如果實際需要測量范圍更大可以采用更多組的測量裝置進行多段測量以完成實際測量需求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]圖1是本發(fā)明實施例中的厚度測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0020]下面結(jié)合附圖并以實施例的方式對本發(fā)明作進一步詳細描述。
[0021]如圖1所示，本發(fā)明的厚度測量系統(tǒng)包括兩組厚度測量裝置，一組由高壓電源1、X射線傳感器光管2、電力室3等構(gòu)成的X射線測量裝置，一組為電磁傳感器4和電磁傳感器5組成的電磁測量裝置，電磁測量裝置的原理是采用相對安裝的電磁傳感器測量被測金屬表面到上下兩個電磁傳感器的距離，再用一個已知厚度的金屬樣片做標定，從而獲得測量數(shù)據(jù)。X射線測量裝置的測量量程小于電磁測量裝置的測量量程。X射線測量裝置的輸出功率與被測產(chǎn)品的最終厚度相匹配，也就是以產(chǎn)品最終厚度的范圍來確定X射線測量裝置的最佳測量量程范圍。電磁測量裝置也可以更換為激光測量裝置。
[0022]被測產(chǎn)品6在實際生產(chǎn)環(huán)節(jié)中是由厚變薄的，比如軋鋼，因此本發(fā)明為了降低X射線測量裝置的輻射，采用了兩組或兩組以上的測量裝置，其實際測量過程是由厚(既大量程大變化量)到薄(小量程微變化量)轉(zhuǎn)變的，首先用電磁測量裝置或激光測量裝置作為大量程測量使用，兩組測量裝置采用控制器來連接并控制切換，當加工過程中被測產(chǎn)品的厚度還在一個大量程范圍時，獲取電磁測量裝置的測量數(shù)據(jù)并用顯示裝置顯示厚度讀數(shù)；當加工到被測產(chǎn)品的厚度進入X射線測量裝置的量程范圍時，控制器獲取X射線測量裝置的測量數(shù)值并顯示該厚度讀數(shù)。本發(fā)明能夠保證其最終被測產(chǎn)品的測量精度更高的同時而且不會受到厚度上限的影響，還大大降低了輻射強度即做到了超低的輻射標準又做到了不管被測物被測厚度多厚其上限是多少都不影響最終成品的測量精度(圖中控制器和顯示裝置未顯示)。
【權(quán)利要求】
1.一種厚度測量方法，其特征在于，采用至少2組測量裝置對被測產(chǎn)品進行厚度測量，各組測量裝置的量程范圍互不相同，至少采用I組X射線測量裝置進行小量程測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量方法，其特征在于，采用I組X射線測量裝置進行小量程測量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量方法，其特征在于，所述非X射線測量裝置采用電磁測量裝置或激光測量裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測量方法，其特征在于，所述被測產(chǎn)品是在加工過程中厚度逐漸降低的產(chǎn)品。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的厚度測量方法，其特征在于，所述X射線測量裝置的輸出功率與被測產(chǎn)品的最終厚度相匹配。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的厚度測量方法，其特征在于，至少兩組測量裝置根據(jù)被測產(chǎn)品厚度范圍的變換進行切換，當被測產(chǎn)品的厚度進入一組測量裝置的測量范圍時，獲取該組測量裝置的測量值為確定測定值，其余測量裝置的測量值放棄。
7.一種厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括至少兩組具有不同量程范圍的測量裝置，其中至少有I組測量裝置為X射線測量裝置，X射線測量裝置為小量程測量裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述厚度測量系統(tǒng)具有I組X射線測量裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述非X射線測量裝置采用電磁測量裝置或激光測量裝置。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的厚度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述X射線測量裝置的輸出功率與最終產(chǎn)品的厚度相匹配。
【文檔編號】G01B7/06GK104330063SQ201410566354
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年10月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月22日
【發(fā)明者】趙剛 申請人:北京市東方瀚釔科技有限公司