致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法及裝置，涉及致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)表征【技術(shù)領(lǐng)域】，方法包括：通過壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式將三個具有相同孔隙度和滲透率的貝雷巖心進(jìn)行孔喉結(jié)構(gòu)表征，并生成一致密砂巖孔喉分布函數(shù)；獲取致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)，并根據(jù)致密砂巖孔喉分布函數(shù)和致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)生成致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的分布特征；致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)為通過壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式處理真實盆地的致密砂巖得到的。本發(fā)明能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中各種實驗方法對同一致密儲層微觀孔喉的表征結(jié)果的范圍不同，或存在范圍重疊，難以反映致密儲層微觀孔喉的孔喉大小分布特征的問題。
【專利說明】致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)表征【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是一種致密砂巖微觀孔喉 數(shù)據(jù)的處理方法及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 在石油天然氣開發(fā)【技術(shù)領(lǐng)域】中，非常規(guī)油氣逐漸成為全球油氣勘探的新領(lǐng)域。非 常規(guī)油氣的致密砂巖儲層的孔喉結(jié)構(gòu)復(fù)雜，當(dāng)前致密儲層微觀孔喉表征技術(shù)有很多，如納 米材料科學(xué)、物理化學(xué)以及分析化學(xué)等。
[0003]目前，具體的致密儲層微觀孔喉表征方式有二維場發(fā)射掃描電鏡等圖像直接觀測 孔吼的方式、氣體吸附等間接數(shù)值測定孔喉結(jié)構(gòu)的方式以及X-CT三維數(shù)值重構(gòu)模擬孔喉 結(jié)構(gòu)的方式。上述方式在孔喉大小、分布方面獲取了納米、微米、毫米多尺度測試數(shù)據(jù)，提高 了納米級微觀孔喉結(jié)構(gòu)的表征精度。
[0004] 然而，當(dāng)前各種試驗方法對同一致密儲層微觀孔喉的表征結(jié)果的測量范圍不同， 例如二氧化碳吸附方式得到的測試結(jié)果范圍一般為0. 5nm至1. 5nm，氮氣吸附方式得到的 測試結(jié)果范圍一般為lnm至100nm，壓汞方式得到的測試結(jié)果范圍一般為小于950ym。當(dāng) 前各種實驗方法對同一致密儲層微觀孔喉的表征結(jié)果的范圍不同，或存在范圍重疊，難以 反映致密儲層微觀孔喉的孔喉大小分布特征。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明實施例提供一種致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法及裝置，以解決現(xiàn)有技 術(shù)中各種實驗方法對同一致密儲層微觀孔喉的表征結(jié)果的范圍不同，或存在范圍重疊，難 以反映致密儲層微觀孔喉的孔喉大小分布特征的問題。
[0006] 為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：
[0007] -種致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，包括：
[0008] 通過壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式將三個具有相同孔隙度 和滲透率的貝雷巖心進(jìn)行孔喉結(jié)構(gòu)表征，分別得到壓汞方式所對應(yīng)的第一孔喉分布數(shù)組、 二氧化碳?xì)怏w吸附方式所對應(yīng)的第二孔喉分布數(shù)組和氮氣吸附方式所對應(yīng)的第三孔喉分 布數(shù)組；
[0009]確定所述第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三孔喉分布數(shù)組分別對應(yīng)的 第一測試范圍、第二測試范圍以及第三測試范圍；
[0010] 根據(jù)所述第一測試范圍、第二測試范圍、第三測試范圍以及概率分布函數(shù)分別確 定第一孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第二統(tǒng)計分布函 數(shù)和第三孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第三統(tǒng)計分布函數(shù)；
[0011] 根據(jù)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計分布函數(shù)確定一第一 參數(shù)；
[0012] 根據(jù)所述第一參數(shù)、概率分布函數(shù)、第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三 孔喉分布數(shù)組、第一測試范圍、第二測試范圍和第三測試范圍生成致密砂巖孔喉分布函 數(shù)；
[0013] 獲取致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述致密砂巖孔喉分布函數(shù)和所述致密砂巖 微觀孔喉數(shù)據(jù)生成致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的分布特征；所述致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)為通過 壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式處理真實盆地的致密砂巖得到的。
[0014] 具體的，所述根據(jù)所述第一測試范圍、第二測試范圍、第三測試范圍以及概率分布 函數(shù)分別確定第一孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第二 統(tǒng)計分布函數(shù)和第三孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第三統(tǒng)計分布函數(shù)，包括：
[0015] 根據(jù)所述第一測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)g(na，0):
[0016]G(Na,e) =F(A1)-F(A〇)
[0017] 其中，NA為所述第一孔喉分布數(shù)組；0為所述第一參數(shù)；&為所述第一測試范圍中 的最大值;&為所述第一測試范圍中的最小值；F(Ai)和為所述概率分布函數(shù)；
[0018] 根據(jù)所述第二測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第二統(tǒng)計分布函數(shù)g(nb，0):
[0019]G(Nb,e) =F(B1)-F(B〇)
[0020] 其中，NB為所述第二孔喉分布數(shù)組辦為所述第二測試范圍中的最大值；為所述 第二測試范圍中的最小值；F(Bi)和為所述概率分布函數(shù)；
[0021] 根據(jù)所述第三測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第三統(tǒng)計分布函數(shù)G(N。，0):
[0022] G(NC，0 ) =F^J-F%)
[0023] 其中，N。為所述第三孔喉分布數(shù)組；(^為所述第三測試范圍中的最大值；Q為所述 第三測試范圍中的最小值；F(Ci)和FKJ為所述概率分布函數(shù)。
[0024] 另外，所述根據(jù)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計分布函數(shù) 確定一第一參數(shù)，用公式表不為：
[0025] 0:Max[logG(NA，0)+logG(NB，0)+logG(Nc，0 )]。
[0026] 此外，所述根據(jù)所述第一參數(shù)、概率分布函數(shù)、第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布 數(shù)組、第三孔喉分布數(shù)組、第一測試范圍、第二測試范圍和第三測試范圍生成致密砂巖孔喉 分布函數(shù)，用公式表示為：
[0027]

【權(quán)利要求】
1. 一種致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，包括： 通過壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式將三個具有相同孔隙度和滲 透率的貝雷巖心進(jìn)行孔喉結(jié)構(gòu)表征，分別得到壓汞方式所對應(yīng)的第一孔喉分布數(shù)組、二氧 化碳?xì)怏w吸附方式所對應(yīng)的第二孔喉分布數(shù)組和氮氣吸附方式所對應(yīng)的第三孔喉分布數(shù) 組； 確定所述第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三孔喉分布數(shù)組分別對應(yīng)的第一 測試范圍、第二測試范圍以及第三測試范圍； 根據(jù)所述第一測試范圍、第二測試范圍、第三測試范圍以及概率分布函數(shù)分別確定第 一孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第二統(tǒng)計分布函數(shù)和 第三孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第三統(tǒng)計分布函數(shù)； 根據(jù)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計分布函數(shù)確定一第一參 數(shù)； 根據(jù)所述第一參數(shù)、概率分布函數(shù)、第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三孔喉 分布數(shù)組、第一測試范圍、第二測試范圍和第三測試范圍生成致密砂巖孔喉分布函數(shù)； 獲取致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述致密砂巖孔喉分布函數(shù)和所述致密砂巖微觀 孔喉數(shù)據(jù)生成致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的分布特征；所述致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)為通過壓汞 方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式處理真實盆地的致密砂巖得到的。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述根據(jù) 所述第一測試范圍、第二測試范圍、第三測試范圍以及概率分布函數(shù)分別確定第一孔喉分 布數(shù)組對應(yīng)的第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三孔喉 分布數(shù)組對應(yīng)的第三統(tǒng)計分布函數(shù)，包括： 根據(jù)所述第一測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)G(NA，0): G (Na, 0) = F(A1)-F(A0) 其中，Na為所述第一孔喉分布數(shù)組；0為所述第一參數(shù)A1為所述第一測試范圍中的最 大值;Atl為所述第一測試范圍中的最小值；F(A1)和F(Atl)為所述概率分布函數(shù)； 根據(jù)所述第二測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第二統(tǒng)計分布函數(shù)G(NB，0): G (Nb, 0) = F(B1)-F(B0) 其中，Nb為所述第二孔喉分布數(shù)組辦為所述第二測試范圍中的最大值；Btl為所述第二 測試范圍中的最小值；F(B1)和F(Btl)為所述概率分布函數(shù)； 根據(jù)所述第三測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第三統(tǒng)計分布函數(shù)G(N。，0): G (Nc, 0) = F(C1)-F(C0) 其中，Nc為所述第三孔喉分布數(shù)組A為所述第三測試范圍中的最大值；Ctl為所述第三 測試范圍中的最小值；F(C1)和F(Ctl)為所述概率分布函數(shù)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述根據(jù) 所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計分布函數(shù)確定一第一參數(shù)，用公式 表示為： 0. Max [log G (NA，0)+log G (NB，0)+log G (Nc, 0)]。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述根 據(jù)所述第一參數(shù)、概率分布函數(shù)、第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三孔喉分布數(shù) 組、第一測試范圍、第二測試范圍和第三測試范圍生成致密砂巖孔喉分布函數(shù)，用公式表示 為：
其中，N為所述致密砂巖孔喉分布函數(shù)；Nx表示第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組 或第三孔喉分布數(shù)組；F(Xp 0)和Ffttl, 0)為所述概率分布函數(shù)J1表示第一測試范圍、 第二測試范圍或第三測試范圍中的最大值；Xtl表示第一測試范圍、第二測試范圍或第三測 試范圍中的最小值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，還包括： 獲取介孔標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、微孔標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或者不同配比的混合標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉 數(shù)據(jù)； 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)生成標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)的第一分布特征； 獲取所述標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)中的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)孔喉分布數(shù)組、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測試范圍中的 最大值和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測試范圍中的最小值； 根據(jù)所述第一參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)孔喉分布數(shù)組、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測試范圍中的最大值和標(biāo)準(zhǔn)物 質(zhì)測試范圍中的最小值計算得到標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)的第二分布特征； 將所述第二分布特征與所述第一分布特征進(jìn)行比較，形成第一比較結(jié)果，并根據(jù)所述 第一比較結(jié)果，確定所述第一參數(shù)是否準(zhǔn)確。
6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，還包括： 將真實盆地的致密砂巖進(jìn)行二維電鏡掃描，獲取得到二維電鏡掃描圖像； 對所述二維電鏡掃描圖像進(jìn)行圖像分析，獲取得到致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的第三分布 特征； 將所述致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的分布特征與所述第三分布特征進(jìn)行比較，形成第二比 較結(jié)果，并根據(jù)所述第二比較結(jié)果，確定所述第一參數(shù)是否準(zhǔn)確。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，還包 括： 若所述第一參數(shù)不準(zhǔn)確，調(diào)節(jié)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計 分布函數(shù)，以調(diào)整所述第一參數(shù)。
8. -種致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，包括： 貝雷巖心處理單元，用于通過壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮氣吸附方式將 三個具有相同孔隙度和滲透率的貝雷巖心進(jìn)行孔喉結(jié)構(gòu)表征，分別得到壓汞方式所對應(yīng)的 第一孔喉分布數(shù)組、二氧化碳?xì)怏w吸附方式所對應(yīng)的第二孔喉分布數(shù)組和氮氣吸附方式所 對應(yīng)的第三孔喉分布數(shù)組； 測試范圍確定單元，用于確定所述第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三孔喉分 布數(shù)組分別對應(yīng)的第一測試范圍、第二測試范圍以及第三測試范圍； 統(tǒng)計分布函數(shù)生成單元，用于根據(jù)所述第一測試范圍、第二測試范圍、第三測試范圍以 及概率分布函數(shù)分別確定第一孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二孔喉分布數(shù)組 對應(yīng)的第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三孔喉分布數(shù)組對應(yīng)的第三統(tǒng)計分布函數(shù)； 第一參數(shù)生成單元，用于根據(jù)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計 分布函數(shù)確定一第一參數(shù)； 致密砂巖孔喉分布函數(shù)生成單元，用于根據(jù)所述第一參數(shù)、概率分布函數(shù)、第一孔喉分 布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組、第三孔喉分布數(shù)組、第一測試范圍、第二測試范圍和第三測試 范圍生成致密砂巖孔喉分布函數(shù)； 致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的分布特征生成單元，用于獲取致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)，并根 據(jù)所述致密砂巖孔喉分布函數(shù)和所述致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)生成致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù) 的分布特征；所述致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)為通過壓汞方式、二氧化碳?xì)怏w吸附方式以及氮 氣吸附方式處理真實盆地的致密砂巖得到的。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述統(tǒng)計 分布函數(shù)生成單元，具體用于： 根據(jù)所述第一測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)G(NA，0): G (Na, 0) = F(A1)-F(A0) 其中，Na為所述第一孔喉分布數(shù)組；0為所述第一參數(shù)A1為所述第一測試范圍中的最 大值;Atl為所述第一測試范圍中的最小值；F(A1)和F(Atl)為所述概率分布函數(shù)； 根據(jù)所述第二測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第二統(tǒng)計分布函數(shù)G(NB，0): G (Nb, 0) = F(B1)-F(B0) 其中，Nb為所述第二孔喉分布數(shù)組辦為所述第二測試范圍中的最大值；Btl為所述第二 測試范圍中的最小值；F(B1)和F(Btl)為所述概率分布函數(shù)； 根據(jù)所述第三測試范圍以及概率分布函數(shù)確定所述第三統(tǒng)計分布函數(shù)G(N。，0): G (Nc, 0) = F(C1)-F(C0) 其中，Nc為所述第三孔喉分布數(shù)組A為所述第三測試范圍中的最大值；Ctl為所述第三 測試范圍中的最小值；F(C1)和F(Ctl)為所述概率分布函數(shù)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述第一 參數(shù)生成單元根據(jù)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計分布函數(shù)確定一 第一參數(shù)，用公式表不為： 0. Max [log G (NA，0)+log G (NB，0)+log G (Nc, 0)]。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述致 密砂巖孔喉分布函數(shù)生成單元根據(jù)所述第一參數(shù)、概率分布函數(shù)、第一孔喉分布數(shù)組、第二 孔喉分布數(shù)組、第三孔喉分布數(shù)組、第一測試范圍、第二測試范圍和第三測試范圍生成致密 砂巖孔喉分布函數(shù)，用公式表示為：
其中，N為所述致密砂巖孔喉分布函數(shù)；Nx表示第一孔喉分布數(shù)組、第二孔喉分布數(shù)組 或第三孔喉分布數(shù)組；F(Xp 0)和Ffttl, 0)為所述概率分布函數(shù)J1表示第一測試范圍、 第二測試范圍或第三測試范圍中的最大值；Xtl表示第一測試范圍、第二測試范圍或第三測 試范圍中的最小值。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，還包括： 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)獲取單元，用于獲取介孔標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、微孔標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或者不同配 比的混合標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)，并獲取所述標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)中的標(biāo)準(zhǔn) 物質(zhì)孔喉分布數(shù)組、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測試范圍中的最大值和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測試范圍中的最小值； 第一分布特征生成單元，用于根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)生成標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù) 的第一分布特征； 第二分布特征生成單元，用于根據(jù)所述第一參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)孔喉分布數(shù)組、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測 試范圍中的最大值和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)測試范圍中的最小值計算得到標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)微觀孔喉數(shù)據(jù)的第 二分布特征； 第一比較單元，用于將所述第二分布特征與所述第一分布特征進(jìn)行比較，形成第一比 較結(jié)果，并根據(jù)所述第一比較結(jié)果，確定所述第一參數(shù)是否準(zhǔn)確。
13. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，還包括： 二維電鏡掃描單元，用于將真實盆地的致密砂巖進(jìn)行二維電鏡掃描，獲取得到二維電 鏡掃描圖像； 第三分布特征獲取單元，用于對所述二維電鏡掃描圖像進(jìn)行圖像分析，獲取得到致密 砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的第三分布特征； 第二比較單元，用于將所述致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的分布特征與所述第三分布特征進(jìn) 行比較，形成第二比較結(jié)果，并根據(jù)所述第二比較結(jié)果，確定所述第一參數(shù)是否準(zhǔn)確。
14. 根據(jù)權(quán)利要求12或13所述的致密砂巖微觀孔喉數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，還 包括： 第一參數(shù)調(diào)整單元，用于在所述第一參數(shù)不準(zhǔn)確時，調(diào)節(jié)所述第一統(tǒng)計分布函數(shù)、第二 統(tǒng)計分布函數(shù)和第三統(tǒng)計分布函數(shù)，以調(diào)整所述第一參數(shù)。
【文檔編號】G01N15/08GK104330343SQ201410557722
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年10月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月20日
【發(fā)明者】白斌, 鄒才能, 朱如凱, 羅忠, 吳松濤, 蘇玲, 李婷婷, 崔景偉, 毛治國 申請人:中國石油天然氣股份有限公司