一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測試方法
【專利摘要】本發(fā)明適用于電磁屏測試【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測試方法，所述方法包括：上位機(jī)通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令，下位機(jī)通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令；控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試簽批，上位機(jī)通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的反饋結(jié)果；對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是，則所述待測電磁屏的性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果，本發(fā)明，通過上位機(jī)、下位機(jī)和電磁屏構(gòu)成一個(gè)測試閉環(huán)，實(shí)現(xiàn)了自動化測試，減少人工成本。
【專利說明】一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于電磁屏測試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測 試方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 目前，信息化建設(shè)程度正在不斷加深，相關(guān)法律法規(guī)也正在逐步完善，各個(gè)行業(yè)和 各個(gè)領(lǐng)域的無紙化應(yīng)用越來越廣泛，在低碳、減排、綠色經(jīng)濟(jì)的號召下，傳統(tǒng)辦公領(lǐng)域的眾 多場景都面臨著向無紙化、電子化轉(zhuǎn)變，隨著《電子簽名法》的頒布實(shí)施，信息化技術(shù)的發(fā)展 成熟，無紙化簽批將成為必然的發(fā)展趨勢。
[0003] 無紙化簽批盛行的同時(shí)，衍生出一系列關(guān)于無紙化簽批硬件一電磁屏的品質(zhì)性 能檢驗(yàn)問題。目前，對電磁屏的性能測試仍然沒有一個(gè)統(tǒng)一、完善的測試標(biāo)準(zhǔn)和系統(tǒng)，相關(guān) 電磁屏廠商只對電磁屏做簡單的人工測試，測試項(xiàng)目僅僅停留在是否能夠書寫、書寫時(shí)是 否有不同的壓感級別的階段，同時(shí)，存在人工測試的主觀性，測試不全面，測試成本較高的 問題，而對電磁屏的其它各項(xiàng)性能譬如壓感線性度、坐標(biāo)準(zhǔn)確性、盲區(qū)檢測等全方位的品質(zhì) 測試則為了節(jié)儉成本不進(jìn)行測試，因此，現(xiàn)有電磁屏的測試方法不能自動、全面地測試電磁 屏進(jìn)而難以保證簽批使用過程中的唯一性、可靠性。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測試方法，旨在解決現(xiàn)有 電磁屏的測試方法不能自動、全面地測試電磁屏進(jìn)而難以保證使用過程中簽批的唯一性、 可靠性，同時(shí)測試成本高的問題。
[0005] 第一方面，提供一種電磁屏的測試方法，所述方法包括：
[0006] 通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令；
[0007] 通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的反饋結(jié)果；
[0008] 對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是，則所述待測電磁屏的 性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果。
[0009] 第二方面，提供一種電磁屏的測試方法，所述方法包括：
[0010] 通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令；
[0011] 控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試簽批。
[0012] 第三方面，提供一種用于電磁屏測試的上位機(jī)，所述上位機(jī)包括：
[0013] 指令發(fā)送單元，用于通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令；
[0014] 結(jié)果接收單元，用于通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的反 饋結(jié)果；
[0015] 結(jié)果對比單元，用于對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是，則 所述待測電磁屏的性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果。
[0016] 最后一方面，提供一種用于電磁屏測試的下位機(jī)，所述下位機(jī)包括：
[0017] 指令接收單元，用于通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指 令；
[0018] 簽批控制單元，用于控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行 測試簽批。
[0019] 在本發(fā)明實(shí)施例，上位機(jī)通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指 令，下位機(jī)通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令；控制所述電磁筆 在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試簽批，上位機(jī)通過與待測電磁屏連接的 USB接口接收所述待測電磁屏的反饋結(jié)果；對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一 致，如果是，則所述待測電磁屏的性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié) 果，本發(fā)明，通過上位機(jī)、下位機(jī)、電磁筆和待測電磁屏構(gòu)成一個(gè)測試閉環(huán)，實(shí)現(xiàn)了自動化測 試，減少人工成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020] 圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的電磁屏的測試方法的實(shí)現(xiàn)流程圖；
[0021] 圖2是本發(fā)明實(shí)施例二提供的電磁屏的測試方法的實(shí)現(xiàn)流程圖；
[0022] 圖3是本發(fā)明實(shí)施例三提供的用于電磁屏測試的上位機(jī)和下位機(jī)的具體結(jié)構(gòu)框 圖。

【具體實(shí)施方式】
[0023] 為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對 本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并 不用于限定本發(fā)明。
[0024] 以下結(jié)合具體實(shí)施例對本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)描述：
[0025] 實(shí)施例一
[0026] 圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例一提供的電磁屏的測試方法的實(shí)現(xiàn)流程，以上位機(jī)為執(zhí) 行主體，詳述如下：
[0027] 需要說明的是，本發(fā)明尤其適用于包括上位機(jī)、下位機(jī)、電磁筆和待測電磁屏的測 試系統(tǒng)中，其中，所述上位機(jī)與下位機(jī)通過串口連接通訊，所述待測電磁屏通過USB接口與 所述上位機(jī)進(jìn)行通訊，其中下位機(jī)用于控制電磁筆移動以及定位，所述待測電磁屏用于將 所述電磁屏接收到電磁筆簽批的坐標(biāo)值和壓感值上傳至所述上位機(jī)。
[0028] 在步驟S101中，通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令。
[0029] 在本實(shí)施例中，所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)包括拷機(jī)、電磁天線板品質(zhì)測試、電磁筆品質(zhì)測 試等各類數(shù)據(jù)，是上位機(jī)根據(jù)測試類型設(shè)定測試數(shù)據(jù)，具體如電磁筆需達(dá)的坐標(biāo)值和移動 過程中的壓感值，其中，壓感值用于檢測電磁筆的壓感線性度、坐標(biāo)值用于檢測電磁屏的坐 標(biāo)準(zhǔn)確性，以及盲區(qū)等。所述控制指令是上位機(jī)通過串口發(fā)送至下位機(jī)以控制下位機(jī)以不 同的壓感值移動電磁筆并按照坐標(biāo)值進(jìn)行簽批的指令。上位機(jī)通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送 攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令。
[0030] 在步驟S102中，通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的反饋結(jié) 果。
[0031] 在本實(shí)施例中，所述反饋結(jié)果是電磁屏通過USB接口反饋的，包括所述下位機(jī)控 制的電磁筆簽批的實(shí)際坐標(biāo)值和實(shí)際壓感值。上位機(jī)通過與待測電磁屏連接的USB接口接 收所述待測電磁屏的反饋結(jié)果。
[0032] 在步驟S103中，對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是，則所 述待測電磁屏的性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果。
[0033] 在本實(shí)施例中，上位機(jī)對比所述電磁筆需達(dá)的坐標(biāo)值和實(shí)際坐標(biāo)值、移動過程中 的壓感值和實(shí)際壓感值是否一致，如果兩者均一致，則所述待測電磁屏的性能正常，如果 否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果，上位機(jī)實(shí)時(shí)記錄良品與不良品數(shù)據(jù)，在檢測到 不良品時(shí)實(shí)時(shí)警示并記錄相關(guān)的不良數(shù)據(jù)，比如壓感誤差值、坐標(biāo)誤差值、問題原因、產(chǎn)生 問題的時(shí)間。優(yōu)選的，所述記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果之后，啟動蜂鳴器報(bào)警，顯 示所述待測電磁屏有不良測試結(jié)果。
[0034] 優(yōu)選地，還包括已測試次數(shù)加1，判斷所述已測試次數(shù)是否達(dá)預(yù)設(shè)測試總次數(shù)，如 果是，則停止測試，如果否，則發(fā)送下一個(gè)控制指令。其中，已測試次數(shù)初始為0。對電磁屏的 測試次數(shù)可以在上位機(jī)上根據(jù)需要設(shè)置，每次測試一次即執(zhí)行一次步驟S101-步驟S103， 已測試次數(shù)加1，上位機(jī)判斷所述已測試次數(shù)是否達(dá)預(yù)設(shè)測試總次數(shù)，如果是，則停止測試， 待測電磁屏復(fù)位，已測試次數(shù)設(shè)置為0,如果否，則發(fā)送下一個(gè)控制指令。
[0035] 本實(shí)施例，通過上位機(jī)、下位機(jī)、電磁筆和待測電磁屏構(gòu)成一個(gè)閉環(huán)的控制方法， 使上位機(jī)能夠?qū)崟r(shí)檢測對比電磁筆的壓感線性度、電磁屏的坐標(biāo)準(zhǔn)確性，并檢測出是否存 在盲區(qū)，達(dá)到對電磁屏進(jìn)行全方位的品質(zhì)測試，從而按照客戶對電磁屏的品質(zhì)要求標(biāo)準(zhǔn)，檢 驗(yàn)出合格的電磁屏并篩選出不良品，實(shí)現(xiàn)了自動化測試，減少人工成本，確保產(chǎn)品品質(zhì)的優(yōu) 勢。
[0036] 實(shí)施例二
[0037] 圖2示出了本發(fā)明實(shí)施例二提供的電磁屏的測試方法的實(shí)現(xiàn)流程，以下位機(jī)為執(zhí) 行主體，詳述如下：
[0038] 在步驟S201中，通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令。
[0039] 本實(shí)施例，所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)包括拷機(jī)、電磁天線板品質(zhì)測試、電磁筆品質(zhì)測試等 各類數(shù)據(jù)，是上位機(jī)根據(jù)測試類型設(shè)定測試數(shù)據(jù)，具體如電磁筆需達(dá)的坐標(biāo)值和移動過程 中的壓感值，其中，壓感值用于檢測電磁筆的壓感線性度、坐標(biāo)值用于檢測電磁屏的坐標(biāo)準(zhǔn) 確性，以及盲區(qū)等。下位機(jī)通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令。
[0040] 在步驟S202中，控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測 試簽批。
[0041] 在本實(shí)施例中，下位機(jī)控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述電磁筆需達(dá)的坐 標(biāo)值和移動過程中的壓感值進(jìn)行測試簽批。
[0042] 本實(shí)施例，通過上位機(jī)、下位機(jī)、電磁筆和待測電磁屏構(gòu)成一個(gè)閉環(huán)的控制方法， 使上位機(jī)能夠?qū)崟r(shí)檢測對比電磁筆的壓感線性度、電磁屏的坐標(biāo)準(zhǔn)確性，并檢測出是否存 在盲區(qū)，達(dá)到對電磁屏進(jìn)行全方位的品質(zhì)測試，從而按照客戶對電磁屏的品質(zhì)要求標(biāo)準(zhǔn)，檢 驗(yàn)出合格的電磁屏并篩選出不良品，實(shí)現(xiàn)了自動化測試，減少人工成本，確保產(chǎn)品品質(zhì)的優(yōu) 勢。
[0043] 實(shí)施例三
[0044] 圖3示出了本發(fā)明實(shí)施例三提供的用于電磁屏測試的上位機(jī)的具體結(jié)構(gòu)框圖，為 了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。在本實(shí)施例中，該用于電磁屏測試的上 位機(jī)1包括：指令發(fā)送單元11，結(jié)果接收單元12,結(jié)果對比單元13。
[0045] 其中，指令發(fā)送單元11，用于通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控 制指令；
[0046] 結(jié)果接收單元12,用于通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的 反饋結(jié)果；
[0047] 結(jié)果對比單元13,用于對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是， 則所述待測電磁屏的性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果。
[0048] 進(jìn)一步地，所述上位機(jī)還包括：
[0049] 次數(shù)控制單元14,用于已測試次數(shù)加1，判斷所述已測試次數(shù)是否達(dá)預(yù)設(shè)測試總 次數(shù)，如果是，則停止測試，如果否，則發(fā)送下一個(gè)控制指令。
[0050] 進(jìn)一步地，所述上位機(jī)還包括：
[0051 ] 不良提醒單元15，用于啟動蜂鳴器報(bào)警，顯示所述待測電磁屏有不良測試結(jié)果。
[0052] 本發(fā)明實(shí)施例提供的用于電磁屏測試的上位機(jī)可以應(yīng)用在前述對應(yīng)的方法實(shí)施 例一中，詳情參見上述實(shí)施例一的描述，在此不再贅述。
[0053] 實(shí)施例四
[0054] 圖3示出了本發(fā)明實(shí)施例四提供的用于電磁屏測試的下位機(jī)的具體結(jié)構(gòu)框圖，為 了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。在本實(shí)施例中，該用于電磁屏測試的下 位機(jī)2包括：指令接收單元21和簽批控制單元22。
[0055] 其中，指令接收單元21，用于通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的 控制指令；
[0056] 簽批控制單元22，用于控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn) 行測試簽批。
[0057] 在此之后，所述待測電磁屏通過所述待測電磁屏的電磁天線板與所述電磁筆產(chǎn)生 電磁感應(yīng)，所述電磁筆反饋電磁信號給所述電磁天線板，所述電磁天線板接收所述電磁信 號，獲取電磁筆的簽批，所述簽批包括實(shí)際坐標(biāo)值和實(shí)際壓感值；接收所述下位機(jī)控制的 電磁筆的簽批，并將所述反饋結(jié)果通過USB接口發(fā)送至所述上位機(jī)以實(shí)現(xiàn)待測電磁屏的測 試。
[0058] 本發(fā)明實(shí)施例提供的用于電磁屏測試的下位機(jī)可以應(yīng)用在前述對應(yīng)的方法實(shí)施 例二中，詳情參見上述實(shí)施例二的描述，在此不再贅述。
[0059] 值得注意的是，上述系統(tǒng)實(shí)施例中，所包括的各個(gè)單元只是按照功能邏輯進(jìn)行劃 分的，但并不局限于上述的劃分，只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可；另外，各功能單元的具體 名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0060] 另外，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述各實(shí)施例方法中的全部或部分步驟 是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，相應(yīng)的程序可以存儲于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲介 質(zhì)中，所述的存儲介質(zhì)，如R0M/RAM、磁盤或光盤等。
[0061] 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精 神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測試方法，其特征在于，所述方法包括： 通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令； 通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的反饋結(jié)果； 對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是，則所述待測電磁屏的性能 正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測電磁屏的性能正常之后還包括： 已測試次數(shù)加1，判斷所述已測試次數(shù)是否達(dá)預(yù)設(shè)測試總次數(shù)，如果是，則停止測試，如 果否，則發(fā)送下一個(gè)控制指令。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果 之后還包括： 啟動蜂鳴器報(bào)警，顯示所述待測電磁屏測試不良的信息。
4. 一種基于上位機(jī)和下位機(jī)的電磁屏測試方法，其特征在于，所述方法包括： 通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令； 控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試簽批。
5. -種用于電磁屏測試的上位機(jī)，其特征在于，所述上位機(jī)包括： 指令發(fā)送單元，用于通過連接下位機(jī)的串口發(fā)送攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令； 結(jié)果接收單元，用于通過與待測電磁屏連接的USB接口接收所述待測電磁屏的反饋結(jié) 果； 結(jié)果對比單元，用于對比所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)和所述反饋結(jié)果是否一致，如果是，則所述 待測電磁屏的性能正常，如果否，則記錄所述待測電磁屏的不良測試結(jié)果。
6. 如權(quán)利要求5所述的上位機(jī)，其特征在于，所述上位機(jī)還包括： 次數(shù)控制單元，用于已測試次數(shù)加1，判斷所述已測試次數(shù)是否達(dá)預(yù)設(shè)測試總次數(shù)，如 果是，則停止測試，如果否，則發(fā)送下一個(gè)控制指令。
7. 如權(quán)利要求5所述的上位機(jī)，其特征在于，所述上位機(jī)還包括： 不良提醒單元，用于啟動蜂鳴器報(bào)警，顯示所述待測電磁屏有不良測試結(jié)果。
8. -種用于電磁屏測試的下位機(jī)，其特征在于，所述下位機(jī)包括： 指令接收單元，用于通過與上位機(jī)連接的串口接收攜帶預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的控制指令； 簽批控制單元，用于控制所述電磁筆在待測電磁屏上按照所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測試 簽批。
【文檔編號】G01R31/00GK104215845SQ201410419820
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2014年8月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月22日
【發(fā)明者】張少林, 肖正強(qiáng) 申請人:深圳市威富多媒體有限公司