檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種通過簡(jiǎn)單構(gòu)成能檢測(cè)出絕緣檢測(cè)時(shí)發(fā)生的電火花和部分放電的檢測(cè)裝置。所述檢測(cè)裝置包括：電流源，向正極側(cè)圖形供給電流，所述正極側(cè)圖形是檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中的一個(gè)；電流測(cè)定部，測(cè)定流過所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形的電流；以及判定部，基于所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流的時(shí)間變化，判定所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中是否發(fā)生了電火花或部分放電。
【專利說(shuō)明】檢測(cè)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明主要涉及電路基板的檢測(cè)裝置。具體來(lái)說(shuō)，涉及一種用于檢測(cè)出在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形間發(fā)生的電火花以及部分放電的構(gòu)成。

【背景技術(shù)】
[0002]通過檢測(cè)形成在電路基板的多個(gè)配線圖形間的絕緣狀態(tài)(是否確保充分的絕緣性)來(lái)判斷該電路基板是否為良品的檢測(cè)裝置已被周知。通過向檢測(cè)對(duì)象的一組配線圖形施加所定的電壓進(jìn)而測(cè)定該配線圖形間的電阻值來(lái)進(jìn)行絕緣狀態(tài)的檢測(cè)。
[0003]由于在上述絕緣檢測(cè)時(shí)向配線圖形施加電壓，因此在該配線圖形間會(huì)發(fā)生電火花。當(dāng)這種電火花發(fā)生時(shí)，電路基板上發(fā)生某種損傷的可能性則高。因此，優(yōu)選地，將在檢測(cè)中發(fā)生電火花的電路基板區(qū)別為不良品。
[0004]與此相關(guān)，專利文獻(xiàn)I揭示了一種在檢測(cè)出向配線圖形所施加電壓波形的下降(當(dāng)前電壓相比前次電壓變小的部位)時(shí)，檢測(cè)出電火花發(fā)生的構(gòu)成。據(jù)專利文獻(xiàn)1，由此能確實(shí)防止因絕緣檢測(cè)而發(fā)生電火花的電路基板所混入。
[0005]但近來(lái)，印刷基板的圖形間隙(pitch)逐年變窄，且鑒于此，絕緣檢測(cè)時(shí)配線圖形間發(fā)生部分放電的情況逐漸增多。發(fā)生部分放電時(shí)電路基板也會(huì)發(fā)生損傷。因此，優(yōu)選地，與檢測(cè)中發(fā)生電火花的電路基板一樣，也應(yīng)將發(fā)生部分放電的電路基板區(qū)別為不良品。
[0006]但，部分放電時(shí)，由于配線圖形間流動(dòng)的電流小，因此不能觀測(cè)到如同電火花發(fā)生時(shí)的電壓下降。因此，按專利文獻(xiàn)I的構(gòu)成不能檢測(cè)出絕緣檢測(cè)時(shí)發(fā)生的部分放電。
[0007]與此相關(guān)，專利文獻(xiàn)2揭示了一種通過檢測(cè)出發(fā)生了部分放電時(shí)所產(chǎn)生的電磁波來(lái)計(jì)算部分放電發(fā)生次數(shù)的構(gòu)成。但由于專利文獻(xiàn)2的構(gòu)成需要用于接收上述電磁波的天線等，因此存在裝置復(fù)雜化的問題。
[0008]【現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)】
[0009]【專利文獻(xiàn)I】日本專利第3546046號(hào)公報(bào)
[0010]【專利文獻(xiàn)2】日本專利公開第2010-32457號(hào)公報(bào)


【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]本發(fā)明提供了一種按簡(jiǎn)單構(gòu)成可檢測(cè)出絕緣檢測(cè)時(shí)發(fā)生的電火花和部分放電的檢測(cè)裝置。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)觀點(diǎn)，如下提供了一種檢測(cè)裝置的構(gòu)成，以用于檢測(cè)形成在電路基板上的配線圖形的絕緣性，所述檢測(cè)裝置包括:電流源，向正極側(cè)圖形供給電流，所述正極側(cè)圖形是檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中的一個(gè)；電流測(cè)定部，測(cè)定流過所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形的電流；以及判定部，基于所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流的時(shí)間變化，判定所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中是否發(fā)生了電火花或部分放電。
[0013]優(yōu)選地，在所述的檢測(cè)裝置中，所述電流測(cè)定部測(cè)定流過負(fù)極側(cè)圖形的電流，所述負(fù)極側(cè)圖形是所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中的另一個(gè)。
[0014]優(yōu)選地，所述的檢測(cè)裝置按如下進(jìn)行構(gòu)成。即，所述檢測(cè)裝置包括用于測(cè)定結(jié)束時(shí)間的結(jié)束時(shí)間測(cè)定部，所述結(jié)束時(shí)間是自開始向所述正極側(cè)圖形供給電流后，所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流直至小于預(yù)設(shè)的第一閾值時(shí)為止所需的時(shí)間。所述判定部，在所述結(jié)束時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間時(shí)，判定發(fā)生了電火花或部分放電。
[0015]優(yōu)選地，所述的檢測(cè)裝置包括控制部，以用于自開始向所述正極側(cè)圖形供給電流后，當(dāng)所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流在不小于預(yù)設(shè)的第二閾值的狀態(tài)下超過預(yù)設(shè)的限定期限時(shí)，判定所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形間的絕緣性為不充分。
[0016]根據(jù)本發(fā)明，在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形間發(fā)生電火花或部分放電時(shí)，流過該配線圖形的電流的時(shí)間變化比正常時(shí)變慢。因此，基于流過配線圖形的電流的時(shí)間變化，可判定電火花和部分放電的發(fā)生與否。
[0017]通過測(cè)定負(fù)極側(cè)圖形的電流，由于不容易受到正極側(cè)各構(gòu)成的影響，因此能高精密度地測(cè)定流過配線圖形的電流。從而能高精密度地檢測(cè)出電火花或部分放電。
[0018]在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形間發(fā)生電火花或部分放電時(shí)，流過負(fù)極側(cè)圖形的電流的時(shí)間變化變慢而造成的結(jié)果是，該電流直至變穩(wěn)定為止所需的時(shí)間變長(zhǎng)。因此，如上所述，當(dāng)結(jié)束時(shí)間長(zhǎng)于規(guī)定時(shí)間時(shí)，可判定發(fā)生了電火花或部分放電。
[0019]基于流過負(fù)極側(cè)圖形的電流，可檢測(cè)配線圖形間的絕緣性。因此，根據(jù)上述構(gòu)成的檢測(cè)裝置，可使用共同的構(gòu)成(電流源、電流測(cè)定部等)來(lái)實(shí)現(xiàn)絕緣檢測(cè)、電火花和部分放電的檢測(cè)，從而可簡(jiǎn)化檢測(cè)裝置。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1是示出本發(fā)明一個(gè)實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置整體構(gòu)成的模式電路圖。
[0021]圖2是示出根據(jù)檢測(cè)裝置檢測(cè)配線圖形之狀態(tài)的簡(jiǎn)略化電路圖。
[0022]圖3是基于檢測(cè)裝置的絕緣檢測(cè)的流程圖。
[0023]圖4A是示出正常時(shí)的正極側(cè)圖形的電壓V之時(shí)間變化的圖表，圖4B是示出正常時(shí)的流過負(fù)極側(cè)圖形的電流I之時(shí)間變化的圖表。
[0024]圖5A是示出發(fā)生電火花時(shí)的正極側(cè)圖形的電壓V之時(shí)間變化的圖表，圖5B是示出發(fā)生電火花時(shí)的流過負(fù)極側(cè)圖形的電流I之時(shí)間變化的圖表。
[0025]圖6A是示出發(fā)生部分放電時(shí)的正極側(cè)圖形的電壓V之時(shí)間變化的圖表，圖6B是示出發(fā)生部分放電時(shí)的流過負(fù)極側(cè)圖形的電流I之時(shí)間變化的圖表。
[0026]圖7A是示出充電期間結(jié)束后發(fā)生部分放電時(shí)的正極側(cè)圖形的電壓V之時(shí)間變化的圖表，圖7B是示出充電期間結(jié)束后發(fā)生部分放電時(shí)的流過負(fù)極側(cè)圖形的電流I之時(shí)間變化的圖表。
[0027][附圖標(biāo)記說(shuō)明]
[0028]1:檢測(cè)裝置
[0029]11:恒定電流源
[0030]16:電流測(cè)定部
[0031]22:判定部
[0032]Pl:正極側(cè)圖形
[0033]P2:負(fù)極側(cè)圖形

【具體實(shí)施方式】
[0034]接下來(lái)，參考附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)進(jìn)行說(shuō)明。圖1所示的本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置I用于對(duì)形成在電路基板2的配線圖形間的絕緣狀態(tài)進(jìn)行不良與否的判定。雖然在實(shí)際的電路基板中形成有多個(gè)復(fù)雜的配線圖形，但在圖1將其簡(jiǎn)單化，進(jìn)而示出了在電路基板2形成有四個(gè)簡(jiǎn)單的配線圖形Pl至P4的狀態(tài)。
[0035]檢測(cè)裝置I包括控制部10、恒定電流源11、電壓測(cè)定部12、限幅電路(Limitercircuit) 13、探針14、開關(guān)電路15和電流測(cè)定部16。
[0036]控制部10是包括作為運(yùn)算裝置的CPU、作為記憶裝置的ROM或RAM等硬件的計(jì)算機(jī)。并且，控制部10在上述ROM等中維持著用于控制檢測(cè)裝置I各部的程序等軟件。控制部10通過上述硬件和上述軟件的協(xié)作來(lái)控制檢測(cè)裝置I的各部。
[0037]檢測(cè)裝置I包括多個(gè)探針14。各探針14是由棒狀乃至針狀形成的導(dǎo)電性部件，且能與電路基板2上的配線圖形Pl至P4中的任意一個(gè)相接觸。
[0038]恒定電流源11包括正極側(cè)端子和負(fù)極側(cè)端子，且向正極側(cè)端子和負(fù)極側(cè)端子間供給恒定的電流。并且，恒定電流源11的負(fù)極側(cè)端子接地。
[0039]限幅電路13用于保護(hù)恒定電流源11的正極側(cè)端子和負(fù)極側(cè)端子間的電位差不超過所定的上限電壓。
[0040]電流測(cè)定部16包括正極側(cè)端子和負(fù)極側(cè)端子，且用于檢測(cè)出從正極側(cè)端子向負(fù)極側(cè)端子流動(dòng)的電流的大小。電流測(cè)定部16的測(cè)定結(jié)果被輸入至控制部10。并且，電流測(cè)定部16的負(fù)極側(cè)端子接地。
[0041]開關(guān)電路15用于將各探針14在與恒定電流源11的正極側(cè)端子相接觸的狀態(tài)、與電流測(cè)定部16的正極側(cè)端子相接觸的狀態(tài)、與恒定電流源11和電流測(cè)定部16均不相接觸的狀態(tài)中任意切換狀態(tài)?？刂撇?0控制開關(guān)電路15。
[0042]控制部10通過適當(dāng)?shù)乜刂崎_關(guān)電路15，可使任意的探針14與恒定電流源11的正極側(cè)端子相接觸。據(jù)此，對(duì)相應(yīng)探針14所接觸的配線圖形，可供給來(lái)自恒定電流源11的恒定電流。在本說(shuō)明書中將供給了來(lái)自恒定電流源11的恒定電流的配線圖形稱為“正極側(cè)圖形”。并且，控制部10通過適當(dāng)?shù)乜刂崎_關(guān)電路15，可使任意的探針14與電流測(cè)定部16的正極側(cè)端子相接觸。據(jù)此，基于電流測(cè)定部16可測(cè)定相應(yīng)探針14所接觸的配線圖形中流動(dòng)的電流。在本說(shuō)明書中將基于電流測(cè)定部16而進(jìn)行電流測(cè)定的配線圖形稱為“負(fù)極側(cè)圖形”。
[0043]電壓測(cè)定部12用于測(cè)定正極側(cè)圖形的電壓。電壓測(cè)定部12的測(cè)定結(jié)果被輸入至控制部10。
[0044]在此，參考圖2更具體地進(jìn)行說(shuō)明。圖2舉例說(shuō)明了將一組配線圖形P1、P2作為檢測(cè)對(duì)象的情況。圖2在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形Pl、P2中，將一個(gè)配線圖形Pl作為正極側(cè)圖形，而將另一個(gè)配線圖形P2作為負(fù)極側(cè)圖形。并且，在圖2中，為了方便說(shuō)明，適當(dāng)?shù)厥÷粤瞬槐匾獦?gòu)成的圖示。
[0045]如圖2所示，一組配線圖形P1、P2具有寄生電容C。因此，根據(jù)恒定電流源11向正極側(cè)圖形Pi供給恒定的電流Itl,使寄生電容C得以充電。隨此，正極側(cè)圖形Pl的電壓V上升。
[0046]在此，針對(duì)正極側(cè)圖形Pl的電壓V的變化，結(jié)合圖4A進(jìn)行簡(jiǎn)單說(shuō)明。圖4A是模式化舉例示出自開始向正極側(cè)圖形Pl供給電流后的該正極側(cè)圖形Pi的電壓V的時(shí)間變化的圖表。并且，圖4A和圖4B是不發(fā)生電火花或部分放電時(shí)(正常時(shí))的圖表。如上所述，根據(jù)電壓測(cè)定部12測(cè)定電壓V。
[0047]通過給寄生電容C充電，如圖4A所示，正極側(cè)圖形Pl的電壓V慢慢上升。并且，在開始向正極側(cè)圖形Pl供給電流前的狀態(tài)中，寄生電容C完全放電，因此該正極側(cè)圖形Pl的電壓V為零。因此，在圖4A中，示出正極側(cè)圖形Pl的電壓V從零慢慢上升的狀態(tài)。如此，在本說(shuō)明書中將正極側(cè)圖形Pl的電壓V上升的期間(寄生電容C充電的期間)稱為“充電期間”。
[0048]并且如上所述，限幅電路13設(shè)置在檢測(cè)裝置I中，因此用于保護(hù)恒定電流源11的正極側(cè)端子和負(fù)極側(cè)端子間的電位差不超過上限電壓。如圖4A所示，若正極側(cè)圖形Pl的電壓V增大至上限電壓，則限幅電路13開始工作，從而電壓V恒定于上限電壓。S卩，在寄生電容C截止至上限電壓進(jìn)行充電的時(shí)點(diǎn)，該寄生電容C的充電結(jié)束。
[0049]接下來(lái)，針對(duì)流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I，結(jié)合圖4B進(jìn)行說(shuō)明。圖4B是示出在正極側(cè)圖形Pl的電壓V如圖4A變化時(shí)流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化的圖表。如上所述，根據(jù)電流測(cè)定部16測(cè)定電流I。
[0050]如圖2所示，認(rèn)為在配線圖形P1、P2之間存在電阻R。該電阻R理想值為無(wú)限大，但實(shí)際上具有有限的值。因此，在電阻R中可流過電流Ir。并且，在充電期間，如圖2所示，用于給寄生電容C充電的電流(Itl-1r)流過負(fù)極側(cè)圖形P2。因此，在充電期間中，用于給寄生電容C充電的電流(Itl-1r)與流過電阻R的電流Ir流過負(fù)極側(cè)圖形P2。此時(shí)流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流合計(jì)為Itlt5其結(jié)果是，充電期間中，在負(fù)極側(cè)圖形P2中流過恒定的電流L。
[0051]由于在寄生電容C的充電結(jié)束后不再流過用于該充電的電流，因此在負(fù)極側(cè)圖形P2中流過的則只是流過電阻R的電流Ir。因此，充電期間結(jié)束后如圖4B所示，流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I劇減，進(jìn)而逐漸接近Ir。
[0052]因此，在充電期間結(jié)束且流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I穩(wěn)定后，若能確認(rèn)該電流I變得足夠小，則能保證流過電阻R的電流Ir足夠小(電阻R足夠大)。
[0053]接下來(lái)，針對(duì)本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置I的電路基板檢測(cè)方法，參考圖3的流程圖進(jìn)行說(shuō)明。
[0054]首先，控制部10在形成于電路基板的多個(gè)配線圖形中，選擇將要檢測(cè)絕緣性的一組配線圖形(步驟S101)?？刂撇?0通過適當(dāng)?shù)乜刂崎_關(guān)電路15，將作為檢測(cè)對(duì)象所選擇的一組配線圖形中的一個(gè)作為正極側(cè)圖形，而將另一個(gè)作為負(fù)極側(cè)圖形。在此，如前述圖2，將配線圖形Pl作為正極側(cè)圖形且將配線圖形P2作為負(fù)極側(cè)圖形進(jìn)行說(shuō)明。據(jù)此，對(duì)正極側(cè)圖形P1，開始供給來(lái)自恒定電流源11的電流(步驟S102)。并且，控制部10開始進(jìn)行對(duì)正極側(cè)圖形Pl開始供給電流起所經(jīng)過時(shí)間的計(jì)測(cè)(步驟S103)。
[0055]控制部10，在步驟S103中開始測(cè)定后的所經(jīng)過時(shí)間在超過預(yù)設(shè)的限定期限時(shí)為止的期間中(步驟S104的判斷)，根據(jù)電流測(cè)定部16測(cè)定流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I (步驟 S105)。
[0056]如上所述，在充電期間結(jié)束后若能確認(rèn)電流I足夠小，則能保證檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間的電阻R足夠大。因此，控制部10判定在步驟S105中測(cè)定的電流I是否小于預(yù)設(shè)的檢測(cè)結(jié)束閾值(參考圖4B)(步驟S106)。當(dāng)電流I的測(cè)定結(jié)果小于檢測(cè)結(jié)束閾值時(shí)，由于電阻R足夠大，因此控制部10判定檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間的絕緣性被充分確保(步驟S107)。此時(shí)，控制部10，獲得自步驟S103起至步驟S107為止的經(jīng)過時(shí)間(開始向正極側(cè)圖形Pl供給電流后至流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I小于檢測(cè)結(jié)束閾值時(shí)為止所需的時(shí)間)(步驟S108)。將此時(shí)獲得的經(jīng)過時(shí)間作為“絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間”(參考圖4B)。如上，本實(shí)施形態(tài)的控制部10具有作為測(cè)定絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間的結(jié)束時(shí)間測(cè)定部21的功倉(cāng)泛。
[0057]另外，雖然經(jīng)過了充分的時(shí)間，但流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I不小于檢測(cè)結(jié)束閾值時(shí)，認(rèn)為電阻R小于規(guī)定值(配線圖形P1、P2間的絕緣性未被充分確保)。因此，控制部10，在電流I不小于檢測(cè)結(jié)束閾值的狀態(tài)下，超過了限定期限時(shí)(步驟S104的判斷)，判定檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間的絕緣性未被充分確保(步驟S109)。此時(shí)，控制部10將電路基板判定為不良品(步驟S113)，且結(jié)束流程。
[0058]如上所述，根據(jù)步驟S104至步驟S106的循環(huán)，可對(duì)檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間的絕緣性進(jìn)行檢測(cè)。
[0059]但,在上述的絕緣檢測(cè)(步驟S104至步驟S016)中，由于處于向正極側(cè)圖形Pl施加電壓的狀態(tài)，因此在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形PU P2間可能會(huì)發(fā)生電火花或部分放電。因此本實(shí)施形態(tài)的控制部10，在基于上述絕緣檢測(cè)判斷配線圖形P1、P2間的絕緣性為充分時(shí)(步驟S107)，判定在該絕緣檢測(cè)中在配線圖形P1、P2間是否發(fā)生電火花或部分放電(步驟S110)。針對(duì)用于判定是否發(fā)生了電火花和部分放電的構(gòu)成在后面進(jìn)行說(shuō)明。控制部10，當(dāng)判定在絕緣檢測(cè)中發(fā)生了電火花或部分放電時(shí)，將電路基板判定為不良品(步驟S113)，且結(jié)束流程。
[0060]在步驟SllO中，當(dāng)判定在絕緣檢測(cè)中沒有發(fā)生電火花和部分放電時(shí)，控制部10針對(duì)預(yù)定要進(jìn)行檢測(cè)的所有一組配線圖形，判定絕緣檢測(cè)是否結(jié)束(步驟Slll的判斷)，當(dāng)未結(jié)束時(shí)，針對(duì)下一組配線圖形繼續(xù)進(jìn)行絕緣檢測(cè)。當(dāng)針對(duì)所有的一組配線圖形結(jié)束絕緣檢測(cè)時(shí)，控制部將電路基板判定為良品，且結(jié)束流程(步驟S112)。
[0061]根據(jù)上述檢測(cè)方法，可僅將能充分確保配線圖形間的絕緣性的電路基板判定為良品。并且，由于可將在絕緣檢測(cè)中發(fā)生電火花或部分放電的電路基板區(qū)別為不良品，因此可提聞判定為良品的電路基板的可罪性。
[0062]接下來(lái)，針對(duì)在上述步驟SllO中，用于檢測(cè)出電火花和部分放電的方法進(jìn)行說(shuō)明。
[0063]圖5A和圖5B示出了在充電期間在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間發(fā)生電火花時(shí)之正極側(cè)圖形Pl的電壓V的時(shí)間變化(圖5A)以及流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化(圖 5B)。
[0064]電火花發(fā)生的瞬間，由于正極側(cè)圖形Pl的電荷流向負(fù)極側(cè)圖形P2，因此如圖5A所示，正極側(cè)圖形Pl的電壓V暫時(shí)下降。即，給寄生電容C充電的一部分電荷放電。其結(jié)果是，由于完成該寄生電容C充電所需的時(shí)間(充電期間)比正常時(shí)變長(zhǎng)，因此電流I開始減少的時(shí)間相比正常時(shí)變慢。結(jié)果是，如圖5B所示，絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間相比正常時(shí)變長(zhǎng)。并且，在本發(fā)明書中，“正常時(shí)”指的是未發(fā)生電火花或部分放電之狀態(tài)。
[0065]如上所述，當(dāng)充電期間中發(fā)生電火花時(shí)，充電期間相比正常時(shí)變長(zhǎng)，其結(jié)果是，絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間比正常時(shí)變長(zhǎng)。
[0066]接下來(lái)，針對(duì)發(fā)生部分放電之情況進(jìn)行說(shuō)明。圖6A和圖6B示出了在充電期間在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間發(fā)生部分放電時(shí)之正極側(cè)圖形Pl的電壓V的時(shí)間變化(圖6A)以及流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化(圖6B)。
[0067]當(dāng)發(fā)生部分放電時(shí)，正極側(cè)圖形Pl的電荷也流向負(fù)極側(cè)圖形P2。部分放電時(shí)，由于并非是如電火花那樣的急劇電荷流出，因此從正極側(cè)圖形Pl的電荷流出份額可用恒定電流源11供給的電流進(jìn)行補(bǔ)充。因此，如圖6A所示，在發(fā)生部分放電的過程中，正極側(cè)圖形Pl的電壓V雖然不下降(不發(fā)生來(lái)自寄生電容C的放電)，但電壓V的上升速度(寄生電容C的充電速度)降低。因此，寄生電容C充電所需的時(shí)間(充電時(shí)間)比正常時(shí)變長(zhǎng)。
[0068]如上所述，充電期間中發(fā)生部分放電時(shí)，充電期間比正常時(shí)也變長(zhǎng)。因此，此時(shí)，電流I開始減少的時(shí)間比正常時(shí)也變慢。結(jié)果是，如圖6B所示，絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間比正常時(shí)變長(zhǎng)。
[0069]接下來(lái)，參考圖7A和圖7B，針對(duì)充電期間結(jié)束后發(fā)生部分放電之示例進(jìn)行說(shuō)明。圖7示出了在充電期間結(jié)束后在檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間發(fā)生部分放電時(shí)之正極側(cè)圖形Pl的電壓V的時(shí)間變化(圖7A)以及流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化(圖7B)。
[0070]如上所述，在發(fā)生部分放電的過程中，正極側(cè)圖形Pl的電壓V不下降(不發(fā)生來(lái)自寄生電容C的放電)。因此，當(dāng)充電期間結(jié)束后發(fā)生部分放電時(shí)，電壓V的圖表(圖7A)與正常時(shí)的電壓V的圖表(圖5A)幾乎相同。因此，只通過電壓V的時(shí)間變化不能判斷充電期間結(jié)束后是否發(fā)生了部分放電。
[0071]但即便此時(shí)，電流I的圖表也能示出部分放電的影響。具體來(lái)說(shuō)，如圖7B所示，充電期間結(jié)束后，在發(fā)生部分放電的期間中，電流I減少的速度比正常時(shí)變慢。因此，絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間比正常時(shí)變長(zhǎng)。
[0072]如上所述，在絕緣檢測(cè)中，檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間發(fā)生部分放電或電火花時(shí)，流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化(電流I開始減少的時(shí)間，或該電流I的減少速度)比正常時(shí)變慢。
[0073]因此，本實(shí)施形態(tài)的控制部10，具有作為基于電流I的時(shí)間變化來(lái)判定絕緣檢測(cè)中是否發(fā)生電火花以及部分放電的判定部22的功能。
[0074]具體來(lái)說(shuō)，本實(shí)施形態(tài)的判定部22，判定在圖3的步驟S108中獲得的絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間是否超過規(guī)定時(shí)間。并且，上述“規(guī)定時(shí)間”基于正常時(shí)的絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間預(yù)先設(shè)定。
[0075]判定部22，在絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間時(shí)，判斷該絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間比正常時(shí)變長(zhǎng)。此時(shí)，由于說(shuō)明電流I開始減少的時(shí)間和該電流I的減少速度中的至少一個(gè)比正常時(shí)變慢，因此判定部22判定在絕緣檢測(cè)中發(fā)生了電火花或部分放電(步驟SllO中“是”)。
[0076]另外，判定部22，在絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間不超過規(guī)定時(shí)間時(shí)，判斷該絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間與正常時(shí)無(wú)變化。此時(shí)，由于電流I開始減少的時(shí)間和該電流I的減少速度兩者全都被認(rèn)為正常，因此判定部22判斷在絕緣檢測(cè)中沒有發(fā)生電火花和部分放電(步驟SllO中“否”)。
[0077]根據(jù)如此構(gòu)成的本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置1，除了以往能檢測(cè)的電火花(圖5A和圖5B)之外，還能檢測(cè)出以往難以進(jìn)行檢測(cè)的部分放電(圖6A和圖6B)的發(fā)生。
[0078]尤其，當(dāng)充電期間結(jié)束后發(fā)生部分放電時(shí)(圖7A和圖7B之情況)，電壓V的圖表與正常時(shí)(圖5A)沒有變化。因此，利用電壓V的變化來(lái)檢測(cè)電火花的專利文獻(xiàn)I的構(gòu)成不能檢測(cè)出如圖7A和圖7B之情況。與此相關(guān)，在本實(shí)施形態(tài)中，由于利用流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化，因此在圖7A和圖7B之情況中也能檢測(cè)出部分放電。
[0079]并且本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置1，在絕緣檢測(cè)(步驟S104至步驟S106的循環(huán))以及電火花和部分放電的檢測(cè)中，可利用共同的構(gòu)成(恒定電流源11、電流測(cè)定部16等)。據(jù)此，在本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置I中，不需要用于檢測(cè)電火花或部分放電的特殊傳感器(sensor)等。因此，可簡(jiǎn)化檢測(cè)裝置I的構(gòu)成。
[0080]如上述說(shuō)明的，本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置I包括恒定電流源11、電流測(cè)定部16以及判定部22。恒定電流源11向檢測(cè)對(duì)象的配線圖形的一個(gè)即正極側(cè)圖形Pl供給電流。電流測(cè)定部16測(cè)定流過檢測(cè)對(duì)象的配線圖形的電流I。判定部22，基于電流測(cè)定部16測(cè)定的電流I的時(shí)間變化，判定檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間是否發(fā)生了電火花或部分放電。
[0081]S卩，檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間發(fā)生電火花或部分放電時(shí)，流過該配線圖形的電流I的時(shí)間變化比正常時(shí)變慢。因此，基于流過配線圖形的電流I的時(shí)間變化，可判定是否發(fā)生電火花和部分放電。
[0082]并且，在本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置I中，電流測(cè)定部16測(cè)定流過檢測(cè)對(duì)象的配線圖形的另一個(gè)即負(fù)極側(cè)圖形P2的電流。
[0083]S卩，通過測(cè)定負(fù)極側(cè)圖形的電流，由于不容易受到正極側(cè)各構(gòu)成的影響，因此能高精密度地測(cè)定流過配線圖形的電流。從而，能高精密度地檢測(cè)出電火花或部分放電。
[0084]并且，如上所述，本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置1，包括用于測(cè)定電流測(cè)定部16所測(cè)定的電流I直至小于檢測(cè)結(jié)束閾值時(shí)為止所需的時(shí)間即絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間的結(jié)束時(shí)間測(cè)定部21。判定部22，在絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間時(shí)，判定發(fā)生了電火花或部分放電。
[0085]S卩，檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間發(fā)生了電火花或部分放電時(shí)，流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I的時(shí)間變化變慢，其結(jié)果是，至該電流I穩(wěn)定時(shí)為止所需的時(shí)間變長(zhǎng)。因此，如上所述，當(dāng)絕緣檢測(cè)結(jié)束時(shí)間比規(guī)定時(shí)間變長(zhǎng)時(shí)，可判定發(fā)生了電火花或部分放電。
[0086]并且，如上所述，本實(shí)施形態(tài)的檢測(cè)裝置1，包括控制部10，以用于自開始向正極側(cè)圖形Pl供給電流后，電流測(cè)定部16所測(cè)定的電流在不小于預(yù)設(shè)的檢測(cè)結(jié)束閾值的狀態(tài)下超過預(yù)設(shè)的限定期限時(shí)，判定檢測(cè)對(duì)象的配線圖形P1、P2間的絕緣性不充分。
[0087]如此，基于流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流I，可檢測(cè)配線圖形間的絕緣性。因此，根據(jù)上述構(gòu)成的檢測(cè)裝置1，利用共同的構(gòu)成(恒定電流源11、電流測(cè)定部16等)可實(shí)現(xiàn)絕緣檢測(cè)以及電火花和部分放電的檢測(cè)，從而可簡(jiǎn)化檢測(cè)裝置I。
[0088]以上雖然對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施形態(tài)進(jìn)行了說(shuō)明，但上述構(gòu)成例如可按下述進(jìn)行變形。
[0089]在上述實(shí)施形態(tài)中，即使電火花或部分放電發(fā)生一次，也將其判定為不良品，但也可容許數(shù)次的電火花(或部分放電)。
[0090]在上述實(shí)施形態(tài)中，并不使用基于電壓測(cè)定部12的電壓V的測(cè)定結(jié)果。因此，電壓測(cè)定部12可被省略。
[0091]在以往的方法(專利文獻(xiàn)I)中，雖然不能檢測(cè)出部分放電的發(fā)生，但能檢測(cè)出電火花的發(fā)生。由此，通過組合以往的方法和本案發(fā)明的方法，可以區(qū)分電火花的發(fā)生和部分放電的發(fā)生而進(jìn)行檢測(cè)。因此，在電火花發(fā)生時(shí)和在部分放電發(fā)生時(shí)，根據(jù)需要可進(jìn)行不同的處理。
[0092]在上述實(shí)施形態(tài)中，將第一閾值(檢測(cè)出電火花和部分放電時(shí)使用的閾值)和第二閾值(判斷絕緣性充分與否時(shí)使用的閾值)作為相同值(檢測(cè)結(jié)束閾值)。但第一閾值和第二閾值也可不同。
[0093]并且，上述實(shí)施形態(tài)雖然是在電流測(cè)定部中測(cè)定流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流的構(gòu)成，但從測(cè)定流過配線圖形P1、P2的電流的觀點(diǎn)來(lái)看，也可構(gòu)成為在電流測(cè)定部中測(cè)定流入正極側(cè)圖形Pl的電流。但，當(dāng)采取測(cè)定流入正極側(cè)圖形Pl的電流之構(gòu)成時(shí)，由于容易受到正極側(cè)的各構(gòu)成的影響，因此難以準(zhǔn)確檢測(cè)出流過配線圖形的電流。因此，從電火花和部分放電的檢測(cè)精密度這點(diǎn)來(lái)看，應(yīng)優(yōu)選采取如上述實(shí)施形態(tài)之測(cè)定流過負(fù)極側(cè)圖形P2的電流的構(gòu)成。
【權(quán)利要求】
1.一種檢測(cè)裝置，檢測(cè)形成在電路基板上的配線圖形的絕緣性，所述檢測(cè)裝置包括: 電流源，向正極側(cè)圖形供給電流，所述正極側(cè)圖形是檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中的一個(gè)； 電流測(cè)定部，測(cè)定流過所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形的電流；以及 判定部，基于所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流的時(shí)間變化，判定所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中是否發(fā)生了電火花或部分放電。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于所述電流測(cè)定部測(cè)定流過負(fù)極側(cè)圖形的電流，所述負(fù)極側(cè)圖形是所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形中的另一個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測(cè)裝置，其特征在于進(jìn)一步包括用于測(cè)定結(jié)束時(shí)間的結(jié)束時(shí)間測(cè)定部，所述結(jié)束時(shí)間是自開始向所述正極側(cè)圖形供給電流后，所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流直至小于預(yù)設(shè)的第一閾值時(shí)為止所需的時(shí)間， 所述判定部，在所述結(jié)束時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間時(shí)，判定發(fā)生了電火花或部分放電。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測(cè)裝置，其特征在于進(jìn)一步包括控制部，以用于自開始向所述正極側(cè)圖形供給電流后，當(dāng)所述電流測(cè)定部測(cè)定的電流在不小于預(yù)設(shè)的第二閾值的狀態(tài)下超過預(yù)設(shè)的限定期限時(shí)，判定所述檢測(cè)對(duì)象的配線圖形間的絕緣性為不充分。
【文檔編號(hào)】G01R31/12GK104422859SQ201410397343
【公開日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2014年8月13日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月27日
【發(fā)明者】高橋正 申請(qǐng)人:日本電產(chǎn)理德股份有限公司