低檢出限電子流量分析測(cè)試儀的制作方法
【專利摘要】低檢出限電子流量分析測(cè)試儀，主要包括：恒電流電源裝置，電解電流調(diào)控裝置，樣品溶液滴加裝置，樣品電解電流分析裝置，電解溫度控制裝置，溶劑電解控制裝置，樣品雜質(zhì)電解控制裝置，溶液氣體電解控制裝置，電極損耗電解控制裝置，電解電子流量分析裝置，分析結(jié)果記錄裝置；其中，溶劑電解控制裝置含有高電位溶劑電解電極，該電極材料為三苯乙酮六氰基五氟鉿的復(fù)合電極材料，樣品雜質(zhì)電解控制裝置含有樣品雜質(zhì)電解篩選膜，該電解篩選膜材料為六吡唑三鹽酸胍五硼鏑的納米復(fù)合電解篩選膜，該電解篩選膜厚度為12.88um，溶液氣體電解控制裝置含有溶液氣體電解還原電極，該電解還原電極材料為三哌嗪五嘧啶六磷鉬的納米復(fù)合電極材料。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子流量分析領(lǐng)域，尤其涉及低檢出限電子流量分析測(cè)試儀。 低檢出限電子流量分析測(cè)試儀

【背景技術(shù)】
[0002] 低檢出限電子流量分析測(cè)試儀，主要應(yīng)用于鋼筋混凝土的耐蝕性測(cè)試，鋼筋銹蝕 的測(cè)量不能應(yīng)用傳統(tǒng)的失重法，因?yàn)殇摻钤阡P蝕后的形態(tài)為不同價(jià)態(tài)的氧化鐵，它不是失 重，而是增重，在不同情況下生成的銹蝕產(chǎn)物的價(jià)態(tài)不同，不能直接計(jì)算.傳統(tǒng)的電化學(xué)儀 器只能測(cè)得在測(cè)量瞬間的銹蝕速率，而鋼筋的銹蝕速率不是勻速的，在不同的銹蝕階段，其 銹蝕速率也不同，因此，用某測(cè)量瞬間測(cè)得的銹蝕速率來估算鋼筋銹蝕往往會(huì)產(chǎn)生較大的 誤差，電子流量分析可以測(cè)量較長(zhǎng)時(shí)間鋼筋銹蝕的總量，得到更符合實(shí)際需要的測(cè)量結(jié)果。
[0003] 但是現(xiàn)有的低檢出限電子流量分析測(cè)試儀依然存在分析精度不高，檢測(cè)范圍窄， 靈敏度低等諸多不足，因此，需要對(duì)現(xiàn)有的低檢出限電子流量分析測(cè)試儀加以改進(jìn)和完善。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 為了克服現(xiàn)有裝置的不足之處，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：
[0005] 低檢出限電子流量分析測(cè)試儀，其特征在于，主要包括：
[0006] 1-恒電流電源裝置，2-電解電流調(diào)控裝置，3-樣品溶液滴加裝置，
[0007] 4-樣品電解電流分析裝置，5-電解溫度控制裝置，6-溶劑電解控制裝置，
[0008] 7-樣品雜質(zhì)電解控制裝置，8-溶液氣體電解控制裝置，9-電極損耗電解控制 裝置，
[0009] 10-電解電子流量分析裝置，11-分析結(jié)果記錄裝置；
[0010] 其中，
[0011] 溶劑電解控制裝置（6)含有高電位溶劑電解電極，該電極材料為三苯乙酮六氰基 五氟鉿的復(fù)合電極材料，
[0012] 樣品雜質(zhì)電解控制裝置（7)含有樣品雜質(zhì)電解篩選膜，該電解篩選膜材料為六吡 唑三鹽酸胍五硼鏑的納米復(fù)合電解篩選膜，該電解篩選膜厚度為12. 88um，
[0013] 溶液氣體電解控制裝置（8)含有溶液氣體電解還原電極，該電解還原電極材料為 三哌嗪五嘧啶六磷鑰的納米復(fù)合電極材料。
[0014] 恒電流電源裝置（1)主要用于電子流量分析電解過程的穩(wěn)定恒電流提供，電解電 流調(diào)控裝置（2)主要用于電子流量分析電流頻率與電流輸出大小以及電流傳導(dǎo)時(shí)間的調(diào) 節(jié)控制，實(shí)現(xiàn)電子流量分析的精確控制，樣品溶液滴加裝置（3)主要用于樣品溶液的滴加 控制，調(diào)節(jié)樣品分析進(jìn)度與電子流量測(cè)試速度，樣品電解電流分析裝置（4)主要用于樣品 的分子電解以及電子流量變化分析，電解溫度控制裝置（5)主要用于樣品分子電解過程的 溫度控制，避免電解溫度過高；溶劑電解控制裝置（6)主要用于樣品溶液體系中溶劑電解 進(jìn)程的控制，減少溶劑電解引起的溶液濃度變化；樣品雜質(zhì)電解控制裝置（7)主要用于樣 品溶液體系雜質(zhì)電解程度以及電解方向的調(diào)控，降低雜質(zhì)電解引起的電子流量不穩(wěn)定；溶 液氣體電解控制裝置（8)主要用于樣品溶液體系中溶解的氣體分子的電解過程控制，避免 氣體電解引起的溶液PH變化以及酸堿趨勢(shì)改變；電極損耗電解控制裝置（9)主要用于分子 電解過程電極本身電解引起的電極材料損耗控制，避免電極自身電解引起的電子流量突變 以及分析偏差；電解電子流量分析裝置（10)主要用于溶液體系樣品分子電解過程的電子 流量分析，實(shí)現(xiàn)微量級(jí)元素以及化合物含量與類型的分析測(cè)定；分析結(jié)果記錄裝置（11)主 要用于樣品電子流量分析結(jié)果的記錄。
[0015] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是：
[0016] (1)通過樣品雜質(zhì)電解控制裝置用于樣品溶液體系雜質(zhì)電解程度以及電解方向的 調(diào)控，降低雜質(zhì)電解引起的電子流量不穩(wěn)定；
[0017] (2)結(jié)合溶液氣體電解控制裝置實(shí)現(xiàn)樣品溶液體系中溶解的氣體分子的電解過程 控制，避免氣體電解引起的溶液PH變化以及酸堿趨勢(shì)改變；
[0018] ⑶采用電極損耗電解控制裝置進(jìn)行分子電解過程電極本身電解引起的電極材料 損耗控制，避免電極自身電解引起的電子流量突變以及分析偏差。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019] 圖1是低檢出限電子流量分析測(cè)試儀的示意圖
[0020] 如圖1所示，本發(fā)明所述的低檢出限電子流量分析測(cè)試儀，主要包括：
[0021] 1-恒電流電源裝置，2-電解電流調(diào)控裝置，3-樣品溶液滴加裝置，
[0022] 4-樣品電解電流分析裝置，5-電解溫度控制裝置，6-溶劑電解控制裝置，
[0023] 7-樣品雜質(zhì)電解控制裝置，8-溶液氣體電解控制裝置，9-電極損耗電解控制 裝置，
[0024] 10-電解電子流量分析裝置，11-分析結(jié)果記錄裝置；
[0025] 下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。

【具體實(shí)施方式】
[0026] 首先，通過恒電流電源裝置（1)用于電子流量分析電解過程的穩(wěn)定恒電流提供， 結(jié)合電解電流調(diào)控裝置（2)進(jìn)行電子流量分析電流頻率與電流輸出大小以及電流傳導(dǎo)時(shí) 間的調(diào)節(jié)控制，實(shí)現(xiàn)電子流量分析的精確控制，采用樣品溶液滴加裝置（3)用于樣品溶液 的滴加控制，調(diào)節(jié)樣品分析進(jìn)度與電子流量測(cè)試速度，借助于樣品電解電流分析裝置（4) 實(shí)現(xiàn)樣品的分子電解以及電子流量變化分析，通過電解溫度控制裝置（5)用于樣品分子 電解過程的溫度控制，避免電解溫度過高；采用溶劑電解控制裝置（6)進(jìn)行樣品溶液體系 中溶劑電解進(jìn)程的控制，減少溶劑電解引起的溶液濃度變化；結(jié)合樣品雜質(zhì)電解控制裝置 (7)實(shí)現(xiàn)樣品溶液體系雜質(zhì)電解程度以及電解方向的調(diào)控，降低雜質(zhì)電解引起的電子流量 不穩(wěn)定；借助于溶液氣體電解控制裝置（8)用于樣品溶液體系中溶解的氣體分子的電解過 程控制，避免氣體電解引起的溶液PH變化以及酸堿趨勢(shì)改變；采用電極損耗電解控制裝置 (9)進(jìn)行分子電解過程電極本身電解引起的電極材料損耗控制，避免電極自身電解引起的 電子流量突變以及分析偏差；通過電解電子流量分析裝置（10)用于溶液體系樣品分子電 解過程的電子流量分析，實(shí)現(xiàn)微量級(jí)元素以及化合物含量與類型的分析測(cè)定；最后，結(jié)合分 析結(jié)果記錄裝置（11)實(shí)現(xiàn)樣品電子流量分析結(jié)果的記錄。
【權(quán)利要求】
1.低檢出限電子流量分析測(cè)試儀，其特征在于，主要包括： 1--恒電流電源裝置，2-電解電流調(diào)控裝置，3-樣品溶液滴加裝置， 4一樣品電解電流分析裝置，5-電解溫度控制裝置，6-溶劑電解控制裝置， 7-樣品雜質(zhì)電解控制裝置，8-溶液氣體電解控制裝置，9一電極損耗電解控制裝置， 10-電解電子流量分析裝置，11-分析結(jié)果記錄裝置； 其中， 溶劑電解控制裝置（6)含有高電位溶劑電解電極，該電極材料為三苯乙酮六氰基五氟 鉿的復(fù)合電極材料， 樣品雜質(zhì)電解控制裝置（7)含有樣品雜質(zhì)電解篩選膜，該電解篩選膜材料為六吡唑三 鹽酸胍五硼鏑的納米復(fù)合電解篩選膜，該電解篩選膜厚度為12. 88um， 溶液氣體電解控制裝置（8)含有溶液氣體電解還原電極，該電解還原電極材料為三哌 嗪五嘧啶六磷鑰的納米復(fù)合電極材料。
【文檔編號(hào)】G01N17/02GK104101567SQ201410308666
【公開日】2014年10月15日 申請(qǐng)日期:2014年6月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月30日
【發(fā)明者】?jī)?chǔ)冬紅, 郭睦庚, 彭飛, 其他發(fā)明人請(qǐng)求不公開姓名 申請(qǐng)人:成都中遠(yuǎn)千葉科技有限公司