測試pad共享電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測試pad共享電路，該電路包括測試pad及一控制電路，該控制電路用于連接該測試pad及負壓電路、正高壓電路及正低壓電路，以于按照測試目的控制該測試pad分別對該負壓電路、該正高壓電路或該正低壓電路進行輸入或輸出測試，本發(fā)明通過增加少量MOS管對面積增加不多但有效減少了測試pad數(shù)量，從而有效減少芯片面積浪費。
【專利說明】測試pad共享電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種測試pad共享電路，特別是涉及一種可使測試pad測試多個電路的測試pad共享電路。
【背景技術(shù)】
[0002]目前集成電路越來越復(fù)雜，功能越來越強大，生產(chǎn)制造工藝也越來越先進，典型工藝走線寬度僅0.18um、0.13um、90nm、45nm甚至更窄，為保證各電路的正常工作，除了在裸片(Die)外的正常引出腳進行測試外，在一些關(guān)鍵點通常放置一些測試焊盤(pad)以便于在出現(xiàn)問題時進行問題追蹤。隨著集成電路復(fù)雜度的提高，需要放置追蹤焊盤的點越來越多，因為測試焊盤一般面積很大如60X60um，且其上下一般不宜放置電路，故放置較多測試pad非常浪費芯片面積，因此需要一個測試pad能夠測試更多電路。
[0003]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中利用測試pad進行電路測試的電路示意圖。如圖1所示，測試padl2直接與高壓電路10相連用于檢測高壓，測試padl2通過一 NMOS管與低壓電路11相連以在控制電壓VC的控制下檢測低壓。這種結(jié)構(gòu)雖然使得一個測試pad可以測試兩個電路，但仍然效率不高，浪費芯片面積。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種測試pad共享電路，其能夠使得一個測試pad可以測試三種電路，提高測試pad的利用率，節(jié)省芯片面積。
[0005]為達上述及其它目的，本發(fā)明提供了 一種測試pad共享電路，包括測試pad及一控制電路，該控制電路用于連接該測試pad及負壓電路、正高壓電路及正低壓電路，以于按照測試目的控制該測試pad分別對該負壓電路、該正高壓電路或該正低壓電路進行輸入或輸出測試。
[0006]進一步地，該控制電路包括一負壓測試控制電路、一正高壓測試控制電路及一正低壓測試控制電路，當(dāng)需要測試該負壓電路輸入輸出性能時，僅該負壓測試控制電路工作，控制該測試pad測試該負壓電路；當(dāng)需要測試該正高壓電路輸入輸出性能時，僅該正高壓測試控制電路工作，控制該測試pad測試該正高壓電路；當(dāng)需要測試該正低壓電路輸入輸出性能時，僅該正低壓測試控制電路工作，控制該測試pad測試該正低壓電路。
[0007]進一步地，當(dāng)需要測試該負壓電路輸入性能時，在該測試pad輸入預(yù)定負壓，此時僅該負壓測試控制電路工作，通過該負壓測試控制電路可以給該負壓電路施加預(yù)定負壓，而系統(tǒng)控制該負壓電路向外輸出負壓時，此時僅該負壓測試控制電路工作，則可通過該測試pad測量其負壓輸出。
[0008]進一步地,當(dāng)需要測試該正高壓電路輸入性能時,在該測試pad輸入預(yù)定高壓,此時僅該正高壓測試控制電路正常工作，通過該正高壓測試控制電路可給該正高壓電路施加預(yù)定高壓，而系統(tǒng)控制該正高壓電路向外輸出高壓時，此時僅該正高壓測試控制電路正常工作，則可通過該測試pad測量其高壓輸出。[0009]進一步地，當(dāng)需要測試該正低壓電路輸入性能時，在該測試pad輸入預(yù)定正壓低壓，此時僅該正低壓測試控制電路213正常工作，通過該正低壓測試控制電路可以給該正低壓電路施加預(yù)定正壓低壓，而系統(tǒng)控制該正低壓電路向外輸出正壓低壓時，僅該正低壓測試控制電路正常工作，則可通過該測試pad測量其正壓低壓輸出。
[0010]進一步地，該負壓測試控制電路包括第二 NMOS管，該第二 NMOS管柵極接地，漏極和源極分別接該測試pad和該負壓電路，襯底接該負壓電路側(cè)的源極。
[0011 ] 進一步地，該正高壓測試控制電路包括第二 PMOS管，該第二 PMOS管柵極接地，源極和漏極分別接該測試pad和該正高壓電路，襯底接該測試pad側(cè)的源極。
[0012]進一步地，該正低壓測試控制電路包括第一 PMOS管及第一 NMOS管，該第一 PMOS管柵極接地，源極接該測試pad，漏極接該第一 NMOS管漏極，襯底接該測試pad側(cè)的源極，該第一 NMOS管柵極接控制信號，源極接該正低壓電路。
[0013]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明一種測試pad共享電路通過增加少量MOS管控制測試pad分別對負壓電路、正高壓電路或正低壓電路進行輸入或輸出測試，實現(xiàn)了面積增加不多(一般MOS管僅占用幾um面積)但使得一個測試pad可以測試三個電路的目的，可有效減少測試pad的數(shù)量，從而有效減少芯片面積浪費。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中利用測試pad進行電路測試的電路示意圖；
[0015]圖2為本發(fā)明一種測試pad共享電路之較佳實施例的電路圖。
【具體實施方式】
[0016]以下通過特定的具體實例并結(jié)合【專利附圖】

【附圖說明】本發(fā)明的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其它優(yōu)點與功效。本發(fā)明亦可通過其它不同的具體實例加以施行或應(yīng)用，本說明書中的各項細節(jié)亦可基于不同觀點與應(yīng)用，在不背離本發(fā)明的精神下進行各種修飾與變更。
[0017]圖2為本發(fā)明一種測試pad共享電路之較佳實施例的電路圖。如圖2所示，本發(fā)明一種測試pad共享電路，使負壓電路、正高壓電路及正低壓電路共享一個測試pad，其包括:測試pad20以及控制電路21。
[0018]其中，控制電路21用于連接測試pad20及負壓電路、正高壓電路及正低壓電路，以于按照測試目的控制測試pad20分別對負壓電路、正高壓電路或正低壓電路進行輸入或輸出測試，其包括一負壓測試控制電路211、一正高壓測試控制電路212及一正低壓測試控制電路213;當(dāng)需要測試負壓電路輸入性能時，在測試pad20輸入預(yù)定負壓，此時僅負壓測試控制電路211工作，通過控制電路21可以給負壓電路施加預(yù)定負壓，而系統(tǒng)控制負壓電路向外輸出負壓時，此時僅負壓測試控制電路211工作，則可以在測試pad20測量其負壓輸出，此時高壓測試控制電路212和正低壓測試控電路213均截止，起到將負壓電路和正高壓/正低壓電路隔離的作用；當(dāng)需要測試正高壓電路輸入性能時，在測試pad20輸入預(yù)定高壓，此時僅正高壓測試控制電路212正常工作，通過控制電路21可以給正高壓電路施加預(yù)定高壓，而系統(tǒng)控制正高壓電路向外輸出高壓時，此時僅高壓測試控制電路212正常工作，則可以在測試pad20測量其高壓輸出，此時負壓測試控制電路211截止，起到將正壓電路和負壓電路隔離的作用；當(dāng)需要測試正低壓電路輸入性能時，在測試pad20輸入預(yù)定正壓低壓，此時僅正低壓測試控制電路213正常工作，通過控制電路21可以給正低壓電路施加預(yù)定正壓低壓，而系統(tǒng)控制正低壓電路向外輸出正壓低壓時，僅正低壓測試控制電路213正常工作，則可以在測試pad20測量其正壓低壓輸出，此時負壓測試控制電路211截止，起到將正壓電路和負壓電路隔離的作用。
[0019]在本發(fā)明較佳實施例中，負壓測試控制電路211包括一 NMOS管N2 (第二 NMOS管)，該NMOS管N2柵極接地，漏極和源極分別接測試pad20和負壓電路，為避免正壓穿通，其襯底接負壓電路側(cè)的源極；正高壓測試控制電路212包括一 PMOS管P2 (第二 PMOS管)，該PMOS管P2柵極接地，源極和漏極分別接測試pad20和正高壓電路，襯底接測試pad20側(cè)的源極；正低壓測試控制電路213包括一 PMOS管Pl (第一 PMOS管)及一 NMOS管NI (第一NMOS管)，該PMOS管Pl柵極接地，源極接測試pad20，漏極接NMOS管NI漏極，襯底接測試pad20側(cè)的源極，NMOS管NI柵極接控制信號VC，源極接正低壓電路。
[0020]外加低壓時，Pl導(dǎo)通，控制信號VC設(shè)高使NI導(dǎo)通，外加電壓加至正低壓電路，若正低壓電路向外傳送低電壓，設(shè)置控制信號VC使NI導(dǎo)通，該低壓加至Pl漏極，Pl柵極接地，由于PMOS管的對稱性故Pl也導(dǎo)通，在測試pad20可以檢測該低壓輸出；外加高壓時，Pl、P2都導(dǎo)通，但控制信號VC為低，使高壓僅進入正高壓電路，當(dāng)正高壓電路向外輸出電壓時，該輸出電壓時，因P2的對稱性，該高壓也會使P2導(dǎo)通，從而在測試pad20可以檢測該高壓；當(dāng)測試負壓電路時，輸入負壓會使得N2導(dǎo)通，輸入電壓被送至負壓電路，而當(dāng)負壓電路需要向外輸出時，由于NMOS管的對稱性，該負壓同樣使N2導(dǎo)通，輸出負壓被傳送至測試pad20。
[0021]可見，本發(fā)明一種測試pad共享電路通過增加少量MOS管控制測試pad分別對負壓電路、正高壓電路或正低壓電路進行輸入或輸出測試，實現(xiàn)了面積增加不多(一般MOS管僅占用幾um面積)但使得一個測試pad可以測試三個電路的目的，可有效減少測試pad的數(shù)量，從而有效減少芯片面積浪費。
[0022]上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾與改變。因此，本發(fā)明的權(quán)利保護范圍，應(yīng)如權(quán)利要求書所列。
【權(quán)利要求】
1.一種測試pad共享電路，其特征在于:該電路包括測試pad及一控制電路，該控制電路用于連接該測試pad及負壓電路、正高壓電路及正低壓電路，以于按照測試目的控制該測試pad分別對該負壓電路、該正高壓電路或該正低壓電路進行輸入或輸出測試。
2.如權(quán)利要求1所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:該控制電路包括一負壓測試控制電路、一正高壓測試控制電路及一正低壓測試控制電路，當(dāng)需要測試該負壓電路輸入輸出性能時，僅該負壓測試控制電路工作，控制該測試pad測試該負壓電路；當(dāng)需要測試該正高壓電路輸入輸出性能時，僅該正高壓測試控制電路工作，控制該測試pad測試該正高壓電路；當(dāng)需要測試該正低壓電路輸入輸出性能時，僅該正低壓測試控制電路工作，控制該測試pad測試該正低壓電路。
3.如權(quán)利要求2所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:當(dāng)需要測試該負壓電路輸入性能時，在該測試pad輸入預(yù)定負壓，此時僅該負壓測試控制電路工作，通過該負壓測試控制電路可以給該負壓電路施加預(yù)定負壓，而系統(tǒng)控制該負壓電路向外輸出負壓時，此時僅該負壓測試控制電路工作，則可通過該測試pad測量其負壓輸出。
4.如權(quán)利要求2所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:當(dāng)需要測試該正高壓電路輸入性能時，在該測試pad輸入預(yù)定高壓，此時僅該正高壓測試控制電路正常工作，通過該正高壓測試控制電路可給該正高壓電路施加預(yù)定高壓，而系統(tǒng)控制該正高壓電路向外輸出高壓時，此時僅該正高壓測試控制電路正常工作，則可通過該測試pad測量其高壓輸出。
5.如權(quán)利要求2所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:當(dāng)需要測試該正低壓電路輸入性能時，在該測試pad輸入預(yù)定正壓低壓，此時僅該正低壓測試控制電路正常工作，通過該正低壓測試控制電路可以給該正低壓電路施加預(yù)定正壓低壓，而系統(tǒng)控制該正低壓電路向外輸出正壓低壓時，僅該正低壓測試控制電路正常工作，則可通過該測試pad測量其正壓低壓輸出。
6.如權(quán)利要求2所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:該負壓測試控制電路包括第二 NMOS管，該第二 NMOS管柵極接地，漏極和源極分別接該測試pad和該負壓電路，襯底接該負壓電路側(cè)的源極。
7.如權(quán)利要求2所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:該正高壓測試控制電路包括第二 PMOS管，該第二 PMOS管柵極接地，源極和漏極分別接該測試pad和該正高壓電路，襯底接該測試pad側(cè)的源極。
8.如權(quán)利要求2所述的一種測試pad共享電路，其特征在于:該正低壓測試控制電路包括第一 PMOS管及第一 NMOS管，該第一 PMOS管柵極接地，源極接該測試pad，漏極接該第一 NMOS管漏極，襯底接該測試pad側(cè)的源極，該第一 NMOS管柵極接控制信號，源極接該正低壓電路。
【文檔編號】G01R31/28GK103760488SQ201410010402
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2014年1月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月9日
【發(fā)明者】楊光軍 申請人:上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司