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用熒光材料檢測(cè)熒光計(jì)的失效或性能惡化的制作方法

文檔序號(hào):6214964閱讀:214來源:國知局
用熒光材料檢測(cè)熒光計(jì)的失效或性能惡化的制作方法
【專利摘要】一種用于自檢熒光計(jì)(400)的失效或性能惡化的系統(tǒng)和方法,包括安裝在載體上以相對(duì)于一個(gè)或多個(gè)固定熒光計(jì)移動(dòng)的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物(250)。使用所述熒光計(jì)(400)初始測(cè)量所述熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物(250)的熒光發(fā)射強(qiáng)度,并且在熒光計(jì)使用了一段規(guī)定時(shí)間后,使用熒光計(jì)測(cè)定熒光標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度的測(cè)試量值。將所述測(cè)試量值與所述初始量值相比較,并且基于所述測(cè)試量值與所述初始量值的偏差確定所述熒光計(jì)的失效或性能惡化。
【專利說明】用熒光材料檢測(cè)熒光計(jì)的失效或性能惡化
[0001] 發(fā)明背景
[0002] 相關(guān)申請(qǐng)的奪叉引用
[0003] 本專利申請(qǐng)根據(jù)35U.S.C. § 119(e)要求于2012年6月14日遞交的美國臨時(shí)申 請(qǐng)No. 61/659, 590的權(quán)益,其公開內(nèi)容在此以引用方式并入。
[0004] 1.摶術(shù)領(lǐng)域
[0005] 本發(fā)明涉及用于檢測(cè)光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器如熒光計(jì)的失效或性能惡化的系統(tǒng)和方法, 具體涉及使用熒光材料的系統(tǒng)和方法,所述熒光材料由其中熒光計(jì)被用于檢測(cè)由樣本材料 發(fā)出的熒光信號(hào)的儀器承載。
[0006] 2.背景摶術(shù)
[0007] 本文描述或涉及的任何參考文獻(xiàn)均不被認(rèn)為是受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的現(xiàn) 有技術(shù)。
[0008] 診斷測(cè)定被廣泛用于臨床診斷和健康科學(xué)研宄以檢測(cè)或定量生物抗原、細(xì)胞異 常、疾病狀態(tài)和疾病相關(guān)病原體的存在或數(shù)量,包括宿主生物體或樣品中存在的寄生生物、 真菌、細(xì)菌和病毒。如果診斷測(cè)定使得能夠?qū)崿F(xiàn)定量化,則專業(yè)人員能夠更好地計(jì)算感染或 疾病的程度,并確定疾病隨時(shí)間推移的狀態(tài)。診斷測(cè)定往往專注于化學(xué)品、蛋白質(zhì)、多糖、核 酸、生物聚合物、細(xì)胞或所關(guān)注的組織。多種測(cè)定可用于檢測(cè)這些診斷指示物。
[0009] 靶標(biāo)核酸序列的檢測(cè)往往需要使用具有核苷酸堿基序列的探針,所述核苷酸堿基 序列基本上與靶標(biāo)序列或其擴(kuò)增子互補(bǔ)。在選擇性測(cè)定法條件下,探針將以允許專業(yè)人員 檢測(cè)樣品中是否存在靶標(biāo)序列的方式雜交到靶標(biāo)序列或其擴(kuò)增子。探針可包括(例如)可 檢測(cè)標(biāo)記物,其中標(biāo)記物例如是放射標(biāo)記物、熒光團(tuán)或熒光染料、生物素、酶或化學(xué)發(fā)光化 合物。
[0010] 因?yàn)樘结樢栽试S檢測(cè)指示在樣品中存在靶標(biāo)序列的信號(hào)的方式雜交到靶標(biāo)序列 或其擴(kuò)增子,所以信號(hào)的強(qiáng)度與存在的靶標(biāo)序列或其擴(kuò)增子的量成比例。因此,在擴(kuò)增過程 期間,通過周期性測(cè)量指示擴(kuò)增子存在的信號(hào),可檢測(cè)擴(kuò)增子隨時(shí)間推移的增長。根據(jù)在該 "實(shí)時(shí)"監(jiān)測(cè)擴(kuò)增過程期間收集的數(shù)據(jù),可確定樣品中最初的靶標(biāo)核酸的量。為了在單次測(cè) 定中檢測(cè)所關(guān)注的不同核酸,可使用被配置為雜交到不同核酸并且發(fā)出可檢測(cè)的不同信號(hào) 的的不同探針。例如,被配置為雜交到不同靶標(biāo)的不同探針可以用熒光團(tuán)配制,所述熒光團(tuán) 當(dāng)暴露于指定激發(fā)波長的激發(fā)光時(shí)以預(yù)定的波長(即,顏色)發(fā)熒光。用于檢測(cè)不同靶標(biāo) 核酸的測(cè)定可通過將樣品材料交替地暴露于不同激發(fā)波長,并在實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)過程期間檢測(cè)與 每個(gè)靶標(biāo)核酸的探針相對(duì)應(yīng)的所關(guān)注波長的熒光水平而并行完成。并行處理可通過使用被 構(gòu)造和布置為在擴(kuò)增過程期間周期性地測(cè)量信號(hào)發(fā)射的不同信號(hào)檢測(cè)設(shè)備,并且不同信號(hào) 檢測(cè)設(shè)備被配置為產(chǎn)生不同波長的激發(fā)信號(hào)且測(cè)量不同波長的發(fā)射信號(hào)來進(jìn)行。合適的信 號(hào)檢測(cè)設(shè)備包括熒光計(jì),如下面描述的熒光計(jì)。自動(dòng)核酸診斷儀器的一個(gè)實(shí)施例被配置成 處理多個(gè)容器內(nèi)承載的許多樣品,并且每個(gè)熒光計(jì)被配置成在容器被轉(zhuǎn)位通過熒光計(jì)時(shí)從 容器獲取熒光讀數(shù),例如每2秒一次。因此,每臺(tái)儀器一小時(shí)操作1800次,每個(gè)熒光計(jì)產(chǎn)生 對(duì)準(zhǔn)樣品容器的激發(fā)信號(hào)并且測(cè)量由容器的內(nèi)容物發(fā)出的發(fā)射信號(hào),生成與發(fā)射信號(hào)強(qiáng)度 成比例的電信號(hào)。儀器操作期間熒光計(jì)的故障(設(shè)備失效和/或性能惡化)將引起由該熒 光計(jì)生成的熒光計(jì)讀數(shù)的錯(cuò)誤,因而導(dǎo)致診斷結(jié)果的錯(cuò)誤。此類故障可歸因于熒光計(jì)操作 期間發(fā)生的機(jī)械和/或電氣失效。雖然在儀器的日常維護(hù)期間可檢查熒光計(jì)的操作,但此 類測(cè)試的機(jī)會(huì)是稀少的,因?yàn)樵摐y(cè)試只有當(dāng)儀器關(guān)機(jī)時(shí)才能進(jìn)行。理想的是,儀器被連續(xù)操 作延長的時(shí)間段以獲得最大吞吐量(throughput)。因此,反復(fù)關(guān)閉儀器以進(jìn)行熒光計(jì)功能 測(cè)試變得不切實(shí)際并且不具有成本效益。因此,需要在核酸診斷儀器操作期間周期性地確 認(rèn)熒光計(jì)的正確功能的裝置和方法。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0011] 本發(fā)明提供用于自檢光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器如熒光計(jì)以檢測(cè)所述信號(hào)檢測(cè)器的失效或 性能惡化的系統(tǒng)和方法,其中自檢可在其中采用檢測(cè)器的動(dòng)態(tài)儀器內(nèi)的檢測(cè)器的正常使用 期間進(jìn)行,并且不需要將檢測(cè)器從儀器中去除或者中斷儀器的操作。
[0012] 本發(fā)明的方面體現(xiàn)在用于監(jiān)測(cè)動(dòng)態(tài)環(huán)境中熒光計(jì)的性能的系統(tǒng)中。所述系統(tǒng)包括 焚光計(jì)、包括兩個(gè)或更多個(gè)焚光標(biāo)準(zhǔn)物(fluorescent standard)的支承架及驅(qū)動(dòng)裝置。所 述熒光計(jì)包括兩個(gè)或更多個(gè)通道,每個(gè)通道包括單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件以及光 學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,并且每個(gè)通道被配置成將光源會(huì)聚到檢測(cè)區(qū)。所述支承架的每個(gè)熒光參考 標(biāo)準(zhǔn)物(fluorescent reference standard)對(duì)應(yīng)于焚光計(jì)的單個(gè)通道,并且所述支承架被 構(gòu)造為容納兩個(gè)或更多個(gè)可移除的反應(yīng)管。所述驅(qū)動(dòng)裝置被配置成調(diào)整參考標(biāo)準(zhǔn)物與熒光 計(jì)之間的相對(duì)橫向定位,使得兩個(gè)或更多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物各自可被定位成進(jìn)入或脫離與 其對(duì)應(yīng)的熒光計(jì)通道的光學(xué)連通。
[0013] 本發(fā)明的方面進(jìn)一步體現(xiàn)在由以下部分組成的動(dòng)態(tài)系統(tǒng)中的熒光計(jì)性能的監(jiān)測(cè) 方法中:(a)包括兩個(gè)或更多個(gè)通道的熒光計(jì),每個(gè)通道具有單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過濾 組件以及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,并且其中每個(gè)通道被配置成將光源會(huì)聚到檢測(cè)區(qū);(b)包括兩 個(gè)或更多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的支承架,每個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物對(duì)應(yīng)于所述熒光計(jì)的單個(gè)通 道,其中所述支承架被構(gòu)造為容納兩個(gè)或更多個(gè)可移除的容器管;以及(c)被配置為用于 調(diào)整參考標(biāo)準(zhǔn)物與熒光計(jì)之間相對(duì)的橫向定位,使得兩個(gè)或更多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物各自可 被定位成進(jìn)入或脫離與其對(duì)應(yīng)的熒光計(jì)通道的光學(xué)連通的驅(qū)動(dòng)裝置。所述方法包括用驅(qū)動(dòng) 裝置使支承架相對(duì)于熒光計(jì)移動(dòng)以將兩個(gè)或更多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物各自定位成與熒光計(jì) 的對(duì)應(yīng)通道光學(xué)連通的步驟;以及用熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物監(jiān)測(cè)熒光計(jì)的性能的步驟。
[0014] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成與熒光計(jì)的對(duì)應(yīng)通道 光學(xué)連通并且離開相對(duì)于檢測(cè)區(qū)的焦點(diǎn)。
[0015] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,兩個(gè)或更多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物在所述支承架上 設(shè)置成直線排列。
[0016] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,所述支承架包括兩個(gè)或更多個(gè)具有兩個(gè)或更多 個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的直線排列。每個(gè)直線排列可包括一組熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物,該組熒光參考 標(biāo)準(zhǔn)物具有與每個(gè)其他的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的直線排列不同的發(fā)射特性。此外,直線排列中 的一個(gè)或多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物可具有區(qū)別于所述直線排列中的一個(gè)或多個(gè)其他熒光參考 標(biāo)準(zhǔn)物的發(fā)射特性,并且直線排列中相鄰的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物可具有不同的發(fā)射特性。所述 支承架可包括熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的三個(gè)直線排列,并且所述直線排列中的至少一個(gè)可包括一 組熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物,該組熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的發(fā)射特性有別于另外兩個(gè)直線排列的熒光參考 標(biāo)準(zhǔn)物。
[0017] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,每個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物由熒光塑料構(gòu)成,并且熒 光參考標(biāo)準(zhǔn)物可以為粉紅色、藍(lán)色或琥珀色塑料。
[0018] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,每次僅兩個(gè)或更多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物中的一個(gè) 可被定位成與熒光計(jì)的兩個(gè)或更多個(gè)通道中的一個(gè)光學(xué)連通。
[0019] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,所述熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物可被定位成相比于檢測(cè)區(qū) 在約1%到99%之間更靠近其相應(yīng)的通道,相比于檢測(cè)區(qū)在約20%到80%之間更靠近其相 應(yīng)的通道,或者相比于檢測(cè)區(qū)在約60%到90%之間更靠近其相應(yīng)的通道。
[0020] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,所述熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物可被定位成相比于檢測(cè)區(qū) 在約1%到99%之間更遠(yuǎn)離其相應(yīng)的通道,相比于檢測(cè)區(qū)在約20%到80%之間更遠(yuǎn)離其相 應(yīng)的通道,或者相比于檢測(cè)區(qū)在約60%到90%之間更遠(yuǎn)離其相應(yīng)的通道。在另一個(gè)實(shí)施例 中,所述熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物被設(shè)置在與其相應(yīng)通道之間的距離跟通道與檢測(cè)區(qū)之間的距離相 同的位置。
[0021] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,所述熒光計(jì)是靜止的,并且所述驅(qū)動(dòng)裝置被配 置成可通過調(diào)整支承架的橫向定位來調(diào)整參考標(biāo)準(zhǔn)物和熒光計(jì)之間的相對(duì)橫向定位。
[0022] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,所述支承架包括可旋轉(zhuǎn)圓形傳送盤,并且所述 驅(qū)動(dòng)裝置被配置成可通過將圓形傳送盤圍繞中心軸線產(chǎn)生角度移動(dòng)來調(diào)整參考標(biāo)準(zhǔn)物與 熒光計(jì)之間的相對(duì)橫向定位。所述驅(qū)動(dòng)裝置可包括馬達(dá)和傳動(dòng)帶,所述傳動(dòng)帶用來將旋轉(zhuǎn) 運(yùn)動(dòng)從馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)軸傳遞到圓形傳送盤。熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物可被設(shè)置在圓形傳送盤的外表面 上并且可被嵌入圓形傳送盤的外表面。根據(jù)另一些方面,所述圓形傳送盤包括圓盤,所述圓 盤具有與中心軸線對(duì)應(yīng)的中心和多個(gè)相對(duì)于中心軸線向外延伸的輻條,并且所述熒光參考 標(biāo)準(zhǔn)物位于一個(gè)或多個(gè)輻條上。所述輻條可相對(duì)于中心軸成非徑向取向。
[0023] 本發(fā)明另外的方面包括兩個(gè)或更多個(gè)熒光計(jì)。每個(gè)熒光計(jì)包括兩個(gè)或更多個(gè)通 道,每個(gè)通道包括單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件以及光信號(hào)檢測(cè)器,并且每個(gè)通道被配 置成將光源會(huì)聚到檢測(cè)區(qū)。每個(gè)熒光計(jì)可具有不同的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件以及光學(xué) 信號(hào)檢測(cè)器,使得每個(gè)熒光計(jì)發(fā)射不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā)射信號(hào)。
[0024] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,熒光計(jì)的每個(gè)通道具有不同的光源、光學(xué)聚焦 與過濾組件以及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,使得每個(gè)熒光計(jì)發(fā)出不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā) 射信號(hào)。
[0025] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,熒光計(jì)的通道以交替方式布置,使得相鄰?fù)ǖ?發(fā)出不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā)射信號(hào)。
[0026] 根據(jù)本發(fā)明另外的方面,使用熒光標(biāo)準(zhǔn)物監(jiān)測(cè)熒光計(jì)的性能包括測(cè)量熒光參考標(biāo) 準(zhǔn)物的熒光發(fā)射的強(qiáng)度以及將測(cè)得的強(qiáng)度與用于該熒光計(jì)的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的預(yù)定的基 線熒光強(qiáng)度相比較。
[0027] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,每次僅一個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物與其對(duì)應(yīng)通道光學(xué) 連通。
[0028] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,所述系統(tǒng)還包括兩個(gè)或更多個(gè)包含反應(yīng)材料的 容器管,并且所述方法還包括用熒光計(jì)監(jiān)測(cè)每個(gè)容器管中發(fā)生的反應(yīng)的進(jìn)展。
[0029] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另外的方面,監(jiān)測(cè)熒光計(jì)的性能與監(jiān)測(cè)兩個(gè)或更多個(gè)容器管 的每者中發(fā)生的反應(yīng)進(jìn)展依次發(fā)生。
[0030] 本發(fā)明另外的方面體現(xiàn)在用于監(jiān)測(cè)多個(gè)反應(yīng)容器內(nèi)的反應(yīng)的系統(tǒng)。所述系統(tǒng)包 括:具有溫度受控室的培養(yǎng)器,設(shè)置在溫度受控室內(nèi)的可移動(dòng)的容器載體,一個(gè)或多個(gè)固定 熒光計(jì),一個(gè)或多個(gè)熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物,以及控制器。容器載體用來承載多個(gè)容器管并且在溫 度受控室內(nèi)移動(dòng)容器管。每個(gè)熒光計(jì)用來測(cè)量熒光發(fā)射,并相對(duì)于所述容器載體定位成可 測(cè)量從承載在所述容器載體上的容器管進(jìn)入相對(duì)于每個(gè)熒光計(jì)的工作位置的熒光發(fā)射。熒 光參考標(biāo)準(zhǔn)物被安裝在容器載體上??刂破饔脕砜刂迫萜鬏d體以及一個(gè)或多個(gè)熒光計(jì)的操 作??刂破饔脕硐鄬?duì)于一個(gè)或多個(gè)熒光計(jì)移動(dòng)容器載體以將容器管置入相對(duì)于每個(gè)熒光計(jì) 的工作位置。所述控制器接著啟動(dòng)每個(gè)熒光計(jì)以測(cè)量來自包含在容器管中的樣品的熒光發(fā) 射強(qiáng)度,所述容器管處于相對(duì)于熒光計(jì)的工作位置,并且基于從包含在容器管中的樣品測(cè) 得的熒光發(fā)射強(qiáng)度確定反應(yīng)的特性。所述控制器接著將容器載體相對(duì)于一個(gè)或多個(gè)熒光計(jì) 移動(dòng)以將熒光標(biāo)準(zhǔn)物置于與至少一個(gè)熒光計(jì)光學(xué)連通并且啟動(dòng)所述熒光計(jì)以測(cè)量與所述 熒光計(jì)處于光學(xué)連通的熒光標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度。所述控制器接著確定測(cè)得的熒光標(biāo)準(zhǔn) 物的熒光發(fā)射強(qiáng)度與期望的熒光發(fā)射強(qiáng)度的偏差。如果偏差超出閾值,則所述控制器生成 錯(cuò)誤信號(hào);如果偏差沒有超出閾值,則所述控制器繼續(xù)儀器的操作。
[0031] 此外,在被配置成從來自樣品的熒光發(fā)射的強(qiáng)度確定所述樣品的特性的儀器中, 其中所述樣品被包含在容器管中,所述容器管被承載在可移動(dòng)的容器載體上,并且所述熒 光發(fā)射的強(qiáng)度由熒光計(jì)測(cè)量,所述熒光計(jì)相對(duì)于所述容器載體固定并且被構(gòu)造和布置成測(cè) 量來自包含在由所述容器載體移動(dòng)到相對(duì)于所述熒光計(jì)的檢測(cè)區(qū)的容器管中的樣品的熒 光發(fā)射的強(qiáng)度,本發(fā)明另外的方面體現(xiàn)在使用安裝在容器載體上的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物自動(dòng)檢 測(cè)所述熒光計(jì)的失效或性能惡化的方法。所述容器載體被相對(duì)于熒光計(jì)移動(dòng)以周期性地使 容器管進(jìn)入熒光計(jì)的檢測(cè)區(qū)中,并且用熒光計(jì)對(duì)來自包含在容器管中的樣品的熒光發(fā)射的 強(qiáng)度進(jìn)行多個(gè)測(cè)量。進(jìn)行多個(gè)測(cè)量之后,容器載體被相對(duì)于熒光計(jì)移動(dòng)以使熒光參考標(biāo)準(zhǔn) 物進(jìn)入與熒光計(jì)光學(xué)連通的位置,并且用熒光計(jì)測(cè)定熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的發(fā)射強(qiáng)度的測(cè)試量 值。確定該測(cè)試量值與熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的預(yù)定基線發(fā)射強(qiáng)度的偏差。如果偏差超出閾值, 則生成錯(cuò)誤信號(hào)。如果偏差沒有超出閾值,則儀器的操作通過繼續(xù)重復(fù)以下步驟直至達(dá)到 停止條件:進(jìn)行樣品的多個(gè)測(cè)量,測(cè)定熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的測(cè)試量值,并且確定該測(cè)試量值與 基線之間的偏差是否超出閾值。
[0032] 根據(jù)本發(fā)明另外的方面,確定基線發(fā)射強(qiáng)度包括以下步驟:在進(jìn)行樣品的熒光發(fā) 射的多個(gè)測(cè)量前,將容器載體相對(duì)于熒光計(jì)移動(dòng)以使熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物進(jìn)入與所述熒光計(jì)光 學(xué)連通的位置,使用熒光計(jì)測(cè)定熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度的初始量值,以及將所述 初始量值存儲(chǔ)為預(yù)定基線發(fā)射強(qiáng)度。
[0033] 本發(fā)明的這些和其他特征、方面和優(yōu)點(diǎn)在考慮到以下詳細(xì)說明、所附權(quán)利要求書 和附圖后對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯而易見。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0034] 圖1是一種反應(yīng)管的立體圖,該反應(yīng)管為結(jié)合實(shí)現(xiàn)本發(fā)明方面的裝置使用的多容 器裝置單元的形式。
[0035] 圖2是從圖1中箭頭"60"的方向看到的多容器裝置的一部分的放大仰視圖。
[0036] 圖3是培養(yǎng)器的分解立體圖,其被配置成可保持多個(gè)容器,同時(shí)使反應(yīng)管經(jīng)受指 定溫度條件,并且包括用于在溫育過程期間檢測(cè)反應(yīng)管的內(nèi)容物發(fā)射的信號(hào)的信號(hào)檢測(cè) 器。
[0037] 圖4是培養(yǎng)器的容器載體圓形傳送盤的仰視平面圖。
[0038] 圖5是培養(yǎng)器的容器載體圓形傳送盤的裝配組件和用于在培養(yǎng)器中產(chǎn)生氣流的 環(huán)流風(fēng)扇的立體圖。
[0039] 圖6是培養(yǎng)器殼體的底壁、容器載體的一部分和容器載體傳動(dòng)組件的立體圖。 [0040] 圖7是容器載體的容器分隔器的立體圖。
[0041] 圖8是從分隔器的相對(duì)側(cè)看到的容器分隔器立體圖。
[0042] 圖9為培養(yǎng)器的容器載體的部件的局部立體圖,所述培養(yǎng)器包括容器存在傳感 器,用于檢測(cè)容器載體上的反應(yīng)管的存在。
[0043] 圖10是培養(yǎng)器的一部分的局部立體圖,其包括培養(yǎng)器底部、設(shè)置在培養(yǎng)器底部之 下的信號(hào)檢測(cè)器,以及設(shè)置在相對(duì)于信號(hào)檢測(cè)器的信號(hào)檢測(cè)位置的反應(yīng)管。
[0044] 圖11是結(jié)合本發(fā)明使用的信號(hào)檢測(cè)器的立體圖。
[0045] 圖12是信號(hào)檢測(cè)器的仰視平面圖。
[0046] 圖13是沿圖12中線13-13截取的信號(hào)檢測(cè)器的側(cè)剖視圖。
[0047] 圖14是信號(hào)檢測(cè)器的分解立體圖。
[0048] 圖15為培養(yǎng)器的容器載體圓形傳送盤的底盤的局部俯視圖,示出容器載體上承 載的多個(gè)容器裝置與定位在容器載體下方的信號(hào)檢測(cè)器對(duì)齊以及安裝在底盤上的熒光標(biāo) 準(zhǔn)物相對(duì)于信號(hào)檢測(cè)器的相對(duì)取向。
[0049] 圖16為局部側(cè)剖視圖(沿圖15中的線I-I),示出信號(hào)檢測(cè)器和相對(duì)于信號(hào)檢測(cè) 器處于檢測(cè)區(qū)中承載在容器載體上的容器。
[0050] 圖17為局部側(cè)剖視圖(沿圖15中的線I-I),示出信號(hào)檢測(cè)器、被移動(dòng)到相對(duì)于信 號(hào)檢測(cè)器的檢測(cè)區(qū)之外的容器,以及被移動(dòng)到與信號(hào)檢測(cè)器光學(xué)連通但不在相對(duì)于信號(hào)檢 測(cè)器的檢測(cè)區(qū)中的熒光標(biāo)準(zhǔn)物。
[0051] 圖18為示出體現(xiàn)本發(fā)明的方面用于熒光計(jì)或其他光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器的自檢的流程 圖。
[0052] 圖19是表示優(yōu)選的擴(kuò)增檢測(cè)染料的激發(fā)光譜的曲線圖。
[0053] 圖20是表示優(yōu)選的擴(kuò)增檢測(cè)染料的發(fā)射光譜的曲線圖。
[0054] 圖21是表示FAM、HEX和ROX染料的激發(fā)和發(fā)射熒光光譜的曲線圖。
[0055] 圖22是示意性地示出激發(fā)和檢測(cè)架構(gòu)的框圖。
[0056] 圖23為示意性地示出檢測(cè)電路構(gòu)造的框圖。
[0057] 圖24為示意性地示出激發(fā)電路構(gòu)造的框圖。
[0058] 圖25的電路圖示出熒光計(jì)激發(fā)電路。
[0059] 圖26A和圖26B的兩部分電路圖示出熒光計(jì)檢測(cè)電路。
[0060] 圖27為流程圖,示出示例性實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定的規(guī)程(protocol)。
[0061] 圖28是表示被分析物定量過程的流程圖。
[0062] 圖29是實(shí)時(shí)熒光計(jì)數(shù)據(jù)的時(shí)間曲線圖。
[0063] 圖30顯示出將曲線擬合至實(shí)時(shí)熒光計(jì)數(shù)據(jù)及使用擬合來確定閾值時(shí)間的方法的 圖線。

【具體實(shí)施方式】
[0064] 多容器裝詈
[0065] 參見圖1,多容器裝置("MRD")160形式的反應(yīng)管包括多個(gè)單獨(dú)的容器管或反應(yīng) 管162,優(yōu)選地為五個(gè)。容器管162優(yōu)選地為具有開放頂端和封閉底端的圓柱形管的形式, 容器管162通過連接肋結(jié)構(gòu)164彼此連接,所述連接肋結(jié)構(gòu)限定了面向下的肩部,所述肩部 沿著MRD 160的任一側(cè)縱向延伸。
[0066] MRD 160優(yōu)選地由注模聚丙烯,例如特拉華州威爾明頓的蒙特爾聚烯烴公司 (Montell Polyolefins (Wilmington, Delaware))(產(chǎn)品編號(hào) PD701NW)或亨斯邁公司 (Huntsman)(產(chǎn)品編號(hào)P5M6K-048)銷售的那些注模聚丙烯形成。在一種可供選擇的實(shí)施例 中,MRD的容器管162通過諸如例如樣品管架這樣的裝置相對(duì)于彼此以能脫開的方式固定。
[0067] 弓形罩結(jié)構(gòu)169設(shè)置在MRD 160的一端。MRD操縱結(jié)構(gòu)166從罩結(jié)構(gòu)169延伸出。 操縱結(jié)構(gòu)適于與傳送機(jī)構(gòu)接合,以便在診斷分析儀的不同組件之間移動(dòng)MRD 160。與MRD 160兼容的示例性傳送機(jī)構(gòu)在美國專利No. 6, 335, 166中被描述。MRD操縱結(jié)構(gòu)166包括從 罩結(jié)構(gòu)169延伸的側(cè)向延伸板168,其中板168的相對(duì)末端上具有垂直延伸件167。角撐板 壁165在罩結(jié)構(gòu)169和垂直件167之間從側(cè)向板168向下延伸。
[0068] 如圖2中所示,罩結(jié)構(gòu)169和垂直件167具有相互面對(duì)的凸表面??赏ㄟ^使接合 構(gòu)件側(cè)向(方向"A")移動(dòng)到罩結(jié)構(gòu)169和垂直件167之間的空間,而使MRD 160與傳送機(jī) 構(gòu)和其他組件接合。罩結(jié)構(gòu)169和垂直件167的凸表面為進(jìn)行側(cè)向相對(duì)運(yùn)動(dòng)進(jìn)入該空間的 接合構(gòu)件提供了更寬的進(jìn)入點(diǎn)。
[0069] 具有平坦標(biāo)簽容納表面175的標(biāo)簽容納結(jié)構(gòu)174設(shè)置在與罩結(jié)構(gòu)169和MRD操縱 結(jié)構(gòu)166相對(duì)的MRD 160末端上。人和/或機(jī)器可讀標(biāo)簽(例如可掃描條形碼)可置于表 面175上,以在MRD 160上提供識(shí)別和指示信息。
[0070] 與MRD 160有關(guān)的另外的細(xì)節(jié)可在美國專利No. 6, 086, 827中找到。
[0071] 核酸診斷測(cè)宙
[0072] 本發(fā)明的一些方面涉及可結(jié)合核酸診斷測(cè)定使用的裝置和程序,核酸診斷測(cè)定包 括"實(shí)時(shí)"擴(kuò)增測(cè)定和"終點(diǎn)"擴(kuò)增測(cè)定。
[0073] 實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定可用于確定樣品中靶標(biāo)核酸(舉例來說,來源于病原生物體或病 毒)的存在和量。通過確定樣品中靶標(biāo)核酸的數(shù)量,從業(yè)人員可估算樣品中生物體或病毒 的量或載量。在一個(gè)應(yīng)用中,實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定可用于篩選預(yù)期用于輸血的血液或血液制品的 血源性病原體,例如丙型肝炎病毒(HCV)和人類免疫缺陷病毒(HIV)。在另一個(gè)應(yīng)用中,實(shí) 時(shí)測(cè)定可用于監(jiān)測(cè)用于感染了病原性生物體或病毒或者患有表征為異?;蛲蛔兓虮磉_(dá) 的疾病的病人的治療方案的功效。實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定還可用于診斷目的以及用于基因表達(dá)測(cè) 定。
[0074] 本發(fā)明除了結(jié)合實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定加以實(shí)施之外,還可以結(jié)合終點(diǎn)擴(kuò)增測(cè)定來實(shí)施。 在終點(diǎn)擴(kuò)增測(cè)定中,包含靶標(biāo)序列或其互補(bǔ)序列的擴(kuò)增產(chǎn)物的存在在擴(kuò)增過程的結(jié)束處被 確定。該測(cè)定可在檢測(cè)工位進(jìn)行,檢測(cè)工位可位于發(fā)生擴(kuò)增反應(yīng)的培養(yǎng)器外部。相比之下, 在"實(shí)時(shí)"擴(kuò)增測(cè)定中,在擴(kuò)增程序過程中測(cè)定含有靶標(biāo)序列或其互補(bǔ)序列的擴(kuò)增產(chǎn)物的 量。在實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定中,可采用如下方法測(cè)定靶標(biāo)核酸的濃度:通過定期測(cè)量信號(hào)(其為樣 品中含有靶標(biāo)序列或其互補(bǔ)序列的擴(kuò)增產(chǎn)物的量的函數(shù))獲得數(shù)據(jù),并根據(jù)所獲得的數(shù)據(jù) 計(jì)算靶標(biāo)序列被擴(kuò)增的比率。
[0075] 在示例性實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定中,相互作用的標(biāo)記物包括熒光部分或其他發(fā)射部分以及 淬滅劑部分,例如4-(4-二甲基氨基苯基偶氮)苯甲酸(DABCYL)。熒光部分在受到適當(dāng)激 發(fā)波長的光能激發(fā)時(shí)發(fā)射特定發(fā)射波長的光能(即,發(fā)熒光)。當(dāng)熒光部分和淬滅劑部分保 持在十分接近的位置時(shí),熒光部分發(fā)射的光能被淬滅劑部分吸收。但是當(dāng)探針雜交到存在 于樣品中的核酸時(shí),熒光和淬滅劑部分彼此分離,并且熒光部分發(fā)射的光能可以被檢測(cè)到。 可將以不同且可分辨的波長激發(fā)和發(fā)射的熒光部分與不同探針組合??蓪⒉煌结樚砑拥?樣品中,并且可通過將樣品交替地暴露于不同激發(fā)波長的光能,并在與不同熒光部分相對(duì) 應(yīng)的不同波長測(cè)定樣品的光發(fā)射,來測(cè)定與每個(gè)探針相關(guān)聯(lián)的靶標(biāo)核酸的存在性和量。
[0076] 在擴(kuò)增過程用于在檢測(cè)可能發(fā)生之前增加存在于樣品中的靶標(biāo)序列或其互補(bǔ)序 列的量的情況下,可取的是包括"對(duì)照物"以確保擴(kuò)增已經(jīng)發(fā)生,從而避免假陰性。此類對(duì) 照物可以是與所關(guān)注的序列不相關(guān)的已知核酸序列。將對(duì)于對(duì)照序列具有特異性并且具有 獨(dú)特?zé)晒馊玖希?,?duì)照染料)和淬滅劑組合的探針(即,對(duì)照探針),連同擴(kuò)增對(duì)照序列 所需的一個(gè)或多個(gè)擴(kuò)增試劑以及靶標(biāo)序列一起添加到樣品中。在將樣品暴露于適當(dāng)擴(kuò)增條 件下后,將樣品交替地暴露于不同激發(fā)波長(包括對(duì)照染料的激發(fā)波長)的光能,并檢測(cè)發(fā) 射光。檢測(cè)到與對(duì)照染料相對(duì)應(yīng)的波長的發(fā)射光就證實(shí)已經(jīng)成功進(jìn)行了擴(kuò)增(即,的確擴(kuò) 增了對(duì)照序列),因此檢測(cè)與靶標(biāo)序列的探針相對(duì)應(yīng)的發(fā)射光的任何失敗不可能歸因于擴(kuò) 增失敗。反之,未能檢測(cè)到來自對(duì)照染料的發(fā)射光可能表明擴(kuò)增失敗,因此使該測(cè)定得出的 任何結(jié)果均不可信?;蛘撸瑳]有檢測(cè)到發(fā)射光可能歸因于用于檢測(cè)發(fā)射光的儀器(下面描 述)的失效或者惡化的機(jī)械和/或電性能。本發(fā)明涉及用于檢測(cè)這種失效或性能惡化的方 法和裝置。在本文的語境中,"性能"是指在獲得測(cè)定或測(cè)試結(jié)果的過程中儀器操作的可靠 性使得儀器的輸出可被依賴。按照本發(fā)明的原理,儀器失效或性能惡化可通過偏離在類似 操作條件下儀器正確工作時(shí)通常期望的輸出的儀器輸出的客觀可測(cè)量特性而被檢測(cè)到???指示儀器失效或性能惡化的此類客觀可測(cè)量特性的實(shí)例可包括儀器輸出強(qiáng)度的意外降低 或儀器輸出中的峰值。
[0077] 用于執(zhí)行實(shí)時(shí)擴(kuò)增測(cè)定的系統(tǒng)和方法在Macioszek等人的美國專利 (No. 7,897,337) "Methods for Performing Multi-Formatted assays(進(jìn)行多格 式測(cè)定的方法)"中被描述。用于終點(diǎn)檢測(cè)的系統(tǒng)和方法在A_ann等人的美國專利 (No. 6, 335, 166)αAutomated Process For Isolating and Amplifying a Target Nucleic Acid Sequence (用于分離和擴(kuò)增祀標(biāo)核酸序列的自動(dòng)方法)"中被描述。
[0078] 根據(jù)本發(fā)明的一些方面,擴(kuò)增測(cè)定在培養(yǎng)器如培養(yǎng)器200中被執(zhí)行,培養(yǎng)器200的 結(jié)構(gòu)在圖3-10中示出。培養(yǎng)器200是以下意義上的旋轉(zhuǎn)培養(yǎng)器:MRD 160在受控溫度的殼 體內(nèi)被承載于旋轉(zhuǎn)載體結(jié)構(gòu)(例如圓形傳送盤)上。培養(yǎng)器200包括連接到其上的信號(hào)檢 測(cè)器或信號(hào)檢測(cè)器模塊400以便以實(shí)時(shí)方式檢測(cè)培養(yǎng)器中承載的MRD 160的反應(yīng)管162內(nèi) 進(jìn)行的擴(kuò)增,例如通過在用與每種染料相對(duì)應(yīng)的激發(fā)光照射MRD 160時(shí)測(cè)定MRD 160的每 個(gè)反應(yīng)管162內(nèi)的一個(gè)或多個(gè)染料發(fā)射的熒光來進(jìn)行檢測(cè)。培養(yǎng)器200可被集成到自動(dòng)診 斷分析儀(未示出)中,所述自動(dòng)診斷分析器可包括一個(gè)或多個(gè)容器傳送機(jī)構(gòu)用于將MRD 160置入培養(yǎng)器200和將MRD 160從培養(yǎng)器200取走。
[0079] 適合與本發(fā)明結(jié)合使用的培養(yǎng)器200的結(jié)構(gòu)在圖3-10中示出。圖3示出了培養(yǎng) 器200的分解立體圖。培養(yǎng)器200包括殼體,所述殼體包括外壁202、底壁206和頂壁(未 示出),所有這些都覆蓋有熱絕緣覆蓋物也就是罩212,罩212被圖示為被提升離開培養(yǎng)器 的其余部分。側(cè)壁、底壁和頂壁優(yōu)選由鋁形成,并且隔熱罩優(yōu)選由合適的隔熱材料,例如聚 氨酯泡沫制成。容器載體242優(yōu)選為可旋轉(zhuǎn)地安裝在殼體內(nèi)的圓形傳送盤的形式,并用來 承載多個(gè)反應(yīng)管。容器例如MRD 160可通過形成在側(cè)壁202中的容器開口 204插入到容器 載體242中以及從容器載體242移除。容器開口 204被門組件214的滑動(dòng)門216覆蓋(將 在下文更詳細(xì)描述)。
[0080] 一個(gè)或多個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400被設(shè)置在培養(yǎng)器殼體的底壁206的下面,并且被配置 為用于檢測(cè)承載在培養(yǎng)器200內(nèi)的容器載體242上的MRD 160的內(nèi)容物發(fā)射的信號(hào)。下面 進(jìn)一步詳述信號(hào)檢測(cè)器400,其可包括用于檢測(cè)熒光信號(hào)的熒光計(jì)。
[0081] 熱量可以任何合適方式在培養(yǎng)器200內(nèi)生成。在一個(gè)實(shí)施例中,電阻加熱元件設(shè) 置在培養(yǎng)器殼體的側(cè)壁202上。其他合適的加熱元件可包括例如珀?duì)柼麩犭娂訜嵩?。?熱元件可受微處理器控制以保持恒定的所需溫度,并且培養(yǎng)器200還可包括一個(gè)或多個(gè)溫 度感測(cè)元件以將溫度水平信號(hào)提供給微處理器控制器。
[0082] 循環(huán)風(fēng)扇226可設(shè)置在培養(yǎng)器殼體內(nèi),例如容器載體242頂部。在一個(gè)實(shí)施例中, 風(fēng)扇226為軸流風(fēng)扇,如圖所示,其被配置為產(chǎn)生穿過容器載體242且在培養(yǎng)器200內(nèi)的氣 流。
[0083] 關(guān)于容器載體242的構(gòu)造的更多細(xì)節(jié)在圖4和圖5中示出。圖4為其上承載多個(gè) MRD 160的容器載體242的仰視平面圖。圖5為容器載體242 -部分的立體圖,圖中示出了 安裝在載體242頂部的風(fēng)扇226。
[0084] 載體242包括上部圓盤244和相同的下部圓盤256。如圖4和圖5所示,下部圓盤 包括內(nèi)環(huán)258、外環(huán)260以及以同心方式設(shè)置在內(nèi)環(huán)258與外環(huán)260之間的中環(huán)262。內(nèi)徑 向輻條266在內(nèi)環(huán)248與中環(huán)262之間延伸。外輻條264在中環(huán)262和外環(huán)260之間延伸, 并且在本實(shí)施例中成非徑向取向,就是說每個(gè)輻條被配置為相對(duì)于與中環(huán)和外環(huán)260的中 心相關(guān)的實(shí)際徑向傾斜。光學(xué)參考標(biāo)準(zhǔn)物250被設(shè)置在容器載體242的下部圓盤256的選 定外輻條264上。這些光學(xué)參考標(biāo)準(zhǔn)物250的用途在下面描述。
[0085] 上部圓盤244具有類似構(gòu)造,但圖5中僅外環(huán)248和外輻條252可見。上部圓盤 244還包括內(nèi)環(huán)、中環(huán)和內(nèi)輻條,它們?cè)趫D5中均被風(fēng)扇226遮擋而不可見。
[0086] 上部圓盤244和下部圓盤256通過設(shè)置在圍繞上部圓盤244和下部圓盤256周長 的角間隔處的多個(gè)間隔柱268,相對(duì)于彼此以平行相間隔的取向固定??赏ㄟ^合適的緊固件 (例如螺釘)延伸穿過上部圓盤244或下部圓盤256中的孔進(jìn)入每個(gè)間隔柱268的每端中 形成的開口(例如螺紋開口),將每個(gè)間隔柱268固定到位。
[0087] 容器載體242還包括多個(gè)容器分隔器274,其在下部圓盤256的每個(gè)外輻條264與 上部圓盤244的對(duì)應(yīng)外輻條252之間延伸。相鄰設(shè)置的容器分隔器274之間的空間限定容 器工位240,每個(gè)容器工位用來接納單個(gè)MRD 160。如圖4所示,該圖為培養(yǎng)器的容器載體 圓形傳送盤的仰視平面圖,每個(gè)MRD160以大致垂直的取向被承載,其中每個(gè)容器管162的 下端設(shè)置在容器載體242的底部并且每個(gè)MRD 160的容器操作構(gòu)件166徑向延伸超過容器 載體242的外周邊。
[0088] 容器分隔器的細(xì)節(jié)在圖6-8中示出。如所指出的,每個(gè)容器分隔器274附接在下 部圓盤256的一個(gè)外輻條264上,如圖6中所示。容器分隔器274包括當(dāng)分隔器274被安 裝在上部圓盤244與下部圓盤256之間時(shí)大致垂直取向的分隔壁276。分隔壁276包括下 部定位柱278和上部定位柱280,所述下部定位柱被配置為被插入到下部圓盤256中形成的 配合開口(未示出)中,并且所述上部定位柱被配置為被插入到上部圓盤244中形成的配 合開口(未示出)中。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,培養(yǎng)器200每次保持18個(gè)MRD 160,各自 圍繞圓形傳送盤以20°的角度增量間隔開。
[0089] 容器載體242的傳動(dòng)組件300包括導(dǎo)向輪304和306、傳動(dòng)帶308、以及安裝在培養(yǎng) 器殼體的底壁206的馬達(dá)安裝部分208上的馬達(dá)302。傳動(dòng)帶308固定在馬達(dá)302的傳動(dòng) 軸(未示出)周圍、導(dǎo)向輪304和306周圍、并且還在安裝在上部圓盤244與下部圓盤256 之間的多個(gè)分隔器274的帶傳動(dòng)支承件298之上。如所指出的,每個(gè)傳動(dòng)帶支承件298可 包括垂直肋299,用于接合傳動(dòng)帶308上的齒(未示出)。如圖6所示,該圖示出了培養(yǎng)器 殼體的底壁、容器載體的一部分和容器載體傳動(dòng)組件的立體圖,培養(yǎng)器殼體的底壁206包 括多個(gè)細(xì)長開口 210,其優(yōu)選地圍繞與容器載體242的旋轉(zhuǎn)軸相對(duì)應(yīng)的點(diǎn)以相等角間隔形 成。開口 210以每個(gè)MRD 160在承載于容器載體242上時(shí)將取向的相同角度取向,并且每 個(gè)開口 210被配置為容納信號(hào)檢測(cè)器400的上端,該信號(hào)檢測(cè)器延伸進(jìn)入培養(yǎng)器200以在 溫育過程中檢測(cè)MRD160的內(nèi)容物發(fā)射的信號(hào)。馬達(dá)302優(yōu)選地為在微處理器控制下的步 進(jìn)電動(dòng)機(jī)以能夠精確控制容器載體242的轉(zhuǎn)動(dòng)。"原位"位置傳感器(未示出)指示容器載 體242何時(shí)處于指定旋轉(zhuǎn)位置,并且馬達(dá)302設(shè)有編碼器。因此,容器載體242的移動(dòng)可以 被控制,例如通過微處理器從連接到馬達(dá)302的編碼器和原位傳感器接收信號(hào)來控制和監(jiān) 測(cè)載體242的角運(yùn)動(dòng)和定位,以將容器載體242上的每個(gè)MRD 160順序放置到開口 210上 方的信號(hào)檢測(cè)位置。
[0090] 如圖9所示,該圖示出了培養(yǎng)器的容器載體的部件的局部立體圖,容器載體242還 包括在下部圓盤256的內(nèi)環(huán)258與上部圓盤244(未在圖9中示出)的內(nèi)環(huán)之間延伸的中 心柱270。容器存在傳感器272被安裝到中心柱270上并且被配置成可檢測(cè)插入到容器載 體242的容器工位中的MRD 160的存在??刂撇⒈O(jiān)測(cè)容器載體242的角位置的微處理器控 制裝置也監(jiān)測(cè)每個(gè)特定MRD 160的位置,MRD 160的位置可通過例如標(biāo)簽,諸如機(jī)器可讀條 形碼或RFID標(biāo)簽來標(biāo)識(shí)。也就是說,當(dāng)通過其標(biāo)簽或其他方式標(biāo)識(shí)的MRD 160被移動(dòng)到培 養(yǎng)器200中時(shí),對(duì)該MRD 160被插入到的容器工位240的角位置進(jìn)行測(cè)定和跟蹤,以在MRD 位于培養(yǎng)器200內(nèi)時(shí)始終監(jiān)測(cè)MRD 160的位置。
[0091] 參考圖9和圖10-14,所述信號(hào)檢測(cè)器400為系統(tǒng)的一部分,所述系統(tǒng)測(cè)量(例如) 容器載體242上承載的MRD 160的容器管162的內(nèi)容物內(nèi)的未淬滅熒光染料分子的濃度。 每個(gè)MRD 160的每個(gè)容器管162內(nèi)進(jìn)行的測(cè)定可被設(shè)計(jì)成使得熒光信號(hào)隨著靶標(biāo)濃度通過 擴(kuò)增增大而增強(qiáng)。信號(hào)檢測(cè)器400 (例如,熒光計(jì))被用來通過監(jiān)測(cè)熒光信號(hào)的出現(xiàn)來監(jiān)測(cè) 擴(kuò)增過程。
[0092] 培養(yǎng)器200的一示例性實(shí)施例可包括三和六個(gè)之間的信號(hào)檢測(cè)器400,其中每個(gè) 檢測(cè)器被設(shè)計(jì)為測(cè)量特定熒光染料(即,顏色)。每個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400裝有例如5個(gè)獨(dú)立檢 測(cè)器。五個(gè)獨(dú)立檢測(cè)器(在此也稱為"通道")彼此相對(duì)間隔開,其間距與每個(gè)MRD 160的 容器管162的間距相同。信號(hào)檢測(cè)器400可設(shè)置更多或更少的獨(dú)立檢測(cè)器,但是檢測(cè)器的 數(shù)量通常對(duì)應(yīng)于每個(gè)MRD 160中容器管162的數(shù)量。信號(hào)檢測(cè)器400以這樣的取向被安裝 到擴(kuò)增培養(yǎng)器200 :當(dāng)容器載體242在預(yù)設(shè)的對(duì)應(yīng)于信號(hào)檢測(cè)器400的角位置的角增量處 停止時(shí),它們中的每個(gè)可檢測(cè)由MRD 160的每個(gè)容器管162的內(nèi)容物發(fā)出的信號(hào)。因此,載 體242每旋轉(zhuǎn)一次,每個(gè)MRD 160可被每個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400掃描一次。
[0093] 如為培養(yǎng)器的一部分的局部立體圖的圖10所示,在一個(gè)實(shí)施例中,六個(gè)信號(hào)檢測(cè) 器被構(gòu)造和布置成可檢測(cè)培養(yǎng)器200的殼體內(nèi)承載的六個(gè)不同MRD 160的五個(gè)容器管162 中每個(gè)的內(nèi)容物發(fā)出的信號(hào)。也就是說,每個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400被配置成可檢測(cè)MRD 160的 五個(gè)容器管162中每一個(gè)發(fā)射的信號(hào),MRD 160通過載體242可操作地相對(duì)于信號(hào)檢測(cè)器 400定位。信號(hào)檢測(cè)器400可具有大致相同的構(gòu)造,但是每個(gè)可適于檢測(cè)以不同的可測(cè)量 或可檢測(cè)值為特征的信號(hào)。例如,每個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400可被配置成可檢測(cè)不同波長(即,顏 色)的熒光,并且因此每個(gè)可被配置或調(diào)整為檢測(cè)容器管162的內(nèi)容物內(nèi)的不同熒光染料。 每個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400還可被配置為發(fā)射預(yù)定波長或一定波長范圍內(nèi)的光。很多情況下,信 號(hào)檢測(cè)器400發(fā)射的光的波長對(duì)應(yīng)于容器管162的內(nèi)容物內(nèi)焚光染料的激發(fā)波長窗口。
[0094] 驅(qū)動(dòng)容器載體242的馬達(dá)302受微處理器控制,微處理器可從連接到載體242的 原位傳感器、定時(shí)器和連接到馬達(dá)302的編碼器接收信號(hào),以便控制載體242的移動(dòng)和角定 位。載體242被控制為(a)將MRD 160移動(dòng)到相對(duì)于信號(hào)檢測(cè)器400操作性感測(cè)位置;(b) 停留足夠長的時(shí)間以允許信號(hào)檢測(cè)器從被相對(duì)于其可操作地放置的MRD讀取并處理信號(hào); 以及(c)對(duì)載體242進(jìn)行分度以將下一個(gè)MRD 160定位到相對(duì)于信號(hào)檢測(cè)器400的操作性 位置。
[0095] 結(jié)合本發(fā)明使用的信號(hào)檢測(cè)器400的細(xì)節(jié)在圖11-14中示出。如圖11所示,該圖 為信號(hào)檢測(cè)器的立體圖,檢測(cè)器400包括殼體,所述殼體包括檢測(cè)器殼體418和激發(fā)殼體 402,這兩者彼此成直角連接到透鏡和濾光片(即光學(xué)器件)殼體434。對(duì)接蓋456附接到 光學(xué)器件殼體438。每個(gè)殼體部件402、418和434可例如用經(jīng)機(jī)械加工的鋁材制成并且通 過合適的緊固件例如螺釘彼此固定,并且優(yōu)選地作陽極化處理。對(duì)接蓋456優(yōu)選由非導(dǎo)熱 材料例如Delrinκ加工而成,以便使培養(yǎng)器200與檢測(cè)器400之間的熱傳導(dǎo)最小化。激發(fā)印 刷電路板("PCB")406連接到激發(fā)殼體402的末端,并且檢測(cè)器PCB422連接到檢測(cè)器殼 體418的末端。分別設(shè)置在激發(fā)PCB 406和檢測(cè)器PCB422上的激發(fā)和檢測(cè)器電路在以下 描述。柔性電纜454將激發(fā)PCB 406與檢測(cè)器PCB 422連接。
[0096] 對(duì)接蓋456包括圍繞蓋456周邊的輪緣460和輪緣460上突出的穹頂部分458。 如例如圖10所示,對(duì)接蓋456的穹頂458伸進(jìn)在培養(yǎng)器200的底壁206中形成的檢測(cè)器開 口 210,并且輪緣460鄰接圍繞檢測(cè)器開口 210的底壁206的底部,以便在對(duì)接蓋456和底 壁206之間提供不透光密封。墊圈材料可設(shè)置在輪緣460和底壁206之間以進(jìn)一步增強(qiáng)不 透光密封。五個(gè)檢測(cè)開口 462設(shè)置在對(duì)接蓋456中。
[0097] 如圖13和圖14所示,這兩個(gè)圖分別示出了信號(hào)檢測(cè)器的側(cè)剖視圖和分解立體圖, 激發(fā)殼體402包括五個(gè)激發(fā)通道404。激發(fā)光源405,例如連接到激發(fā)PCB 406的發(fā)光二極 管("LED")位于每個(gè)激發(fā)通道404的末端。類似地,檢測(cè)器殼體418包括五個(gè)發(fā)射通道 420,并且檢測(cè)器元件即光信號(hào)檢測(cè)器423 (例如光電二極管)設(shè)置在每個(gè)發(fā)射通道420中 并被連接到檢測(cè)器PCB 422。螺柱464安裝在激發(fā)殼體402和檢測(cè)器PCB 422之間離檢測(cè) 器殼體418 -定距離處,以為檢測(cè)器PCB 422提供額外穩(wěn)定性。
[0098] 在每個(gè)檢測(cè)器400的各個(gè)獨(dú)立通道內(nèi)存在兩個(gè)分別由至少部分地設(shè)置在激發(fā)通 道和發(fā)射通道內(nèi)的激發(fā)光學(xué)器件和發(fā)射光學(xué)器件限定的光路。如下文更詳細(xì)描述的,激發(fā) 光路從作為光源的LED開始,其光被激發(fā)透鏡準(zhǔn)直,然后通過激發(fā)濾光片過濾。過濾后的光 向上穿過分束器并通過容器管162和分束器之間的物鏡聚焦于容器管162上。發(fā)射光路源 自容器管162的內(nèi)容物發(fā)射的光,該光在朝分束器通過時(shí)被物鏡準(zhǔn)直并且被分束器反射向 發(fā)射通道。在發(fā)射通道內(nèi),通過發(fā)射濾光片過濾后,光被發(fā)射透鏡聚焦于檢測(cè)器元件423,例 如光電檢測(cè)器上。
[0099] 檢測(cè)器400的多種光學(xué)元件位于光學(xué)器件殼體434中。對(duì)于激發(fā)殼體402的每個(gè) 激發(fā)通道404而言,光學(xué)器件殼體434容納激發(fā)光學(xué)器件408,對(duì)于檢測(cè)器殼體418的每個(gè) 發(fā)射通道420而言,光學(xué)器件殼體434容納發(fā)射光學(xué)器件424,而對(duì)于對(duì)接蓋456的每個(gè)檢 測(cè)器開口 462而言,光學(xué)器件殼體434容納輸入/輸出光學(xué)器件444。激發(fā)光學(xué)器件408、 發(fā)射光學(xué)器件424、和輸入/輸出光學(xué)器件444設(shè)置在光學(xué)器件殼體434內(nèi)形成的光學(xué)器件 通道436內(nèi)。
[0100] 激發(fā)光學(xué)器件包括光學(xué)聚焦與過濾組件并且包括激發(fā)透鏡412、透鏡夾持器414 和激發(fā)濾光片416。O形環(huán)410在激發(fā)殼體402和光學(xué)器件殼體434之間提供不透光密封。 對(duì)激發(fā)濾光片416進(jìn)行選擇,以使具有所期望激發(fā)特性(如,波長)的激發(fā)光從光源405行 進(jìn)到激發(fā)通道404內(nèi)。
[0101] 發(fā)射光學(xué)器件包括發(fā)射透鏡428、透鏡座430和發(fā)射濾光片432。O形環(huán)426在檢 測(cè)器殼體418和光學(xué)器件殼體434之間提供不透光密封。對(duì)發(fā)射濾光片432進(jìn)行選擇,以 使僅反應(yīng)管的內(nèi)容物發(fā)射的信號(hào)的具有所期望信號(hào)特性(如,波長)的那部分透射到發(fā)射 通道420內(nèi)的檢測(cè)器423。
[0102] 輸入/輸出光學(xué)器件444包括第一物鏡450和第二物鏡448,其間設(shè)置有間隔環(huán) 446。O形環(huán)452在對(duì)接蓋456和光學(xué)器件殼體434之間提供不透光密封。
[0103] 檢測(cè)器400還包括二向色性分束器,其包括保持在分束器框架442內(nèi)的二向色性 分束器元件440,分束器框架442被插入到光學(xué)器件殼體434的分束器開口 438中。為每個(gè) 激發(fā)通道404和對(duì)應(yīng)的發(fā)射通道420提供分束器440。對(duì)分束器440進(jìn)行選擇,以使具有指 定激發(fā)波長的激發(fā)光以直線光路從激發(fā)通道404通過,并使來自容器162的內(nèi)容物的具有 指定檢測(cè)波長的發(fā)射光偏轉(zhuǎn)朝向檢測(cè)通道420。
[0104] 在一個(gè)實(shí)施例中,信號(hào)檢測(cè)器包括熒光計(jì),所述熒光計(jì)被配置成可激發(fā)特定波長 (即顏色)的熒光染料,其手段是將具有指定的、相關(guān)聯(lián)的激發(fā)波長的光激發(fā)信號(hào)對(duì)準(zhǔn)含有 與熒光染料混合的樣品的容器,并且被配置成可檢測(cè)具有對(duì)應(yīng)于特定染料的波長即顏色的 波長的發(fā)射信號(hào)。不同熒光染料以不同波長被激發(fā)。在本發(fā)明的一個(gè)多重應(yīng)用中,合適的染 料包括羅丹明染料四甲基-6-羅丹明("TAMRA")和四丙醇-6-羧基羅丹明("ROX"),以 及熒光素染料6-羧基熒光素("FAM"),并且它們各自均與DABCYL淬滅劑組合。其它合適 的染料包括5' -六氯熒光素氨基磷酸酯("HEX")和2',7' -二甲氧基-4',5' -二氯-6-羧 基熒光素("JOE")。FAM、JOE、TAMRA和ROX染料的歸一化(normalized)的激發(fā)光譜在圖 19中示出。圖20示出FAM、JOE、TAMRA和ROX染料的歸一化的發(fā)射光譜。因?yàn)閮?yōu)選的染料 在不同波長被激發(fā),每個(gè)信號(hào)檢測(cè)器400優(yōu)選地定制成發(fā)射用于熒光計(jì)要檢測(cè)的特定染料 的所需激發(fā)波長(即,顏色)或接近該所需激發(fā)波長的激發(fā)光。因此,檢測(cè)器或熒光計(jì)部件 的選擇在很多情況下將取決于信號(hào)檢測(cè)器400要用于的特定染料。例如,對(duì)于光源405,特 定LED的選擇將取決于熒光計(jì)要用于的染料。如圖21所示,該圖示出了歸一化的激發(fā)和發(fā) 射熒光與FAM、HEX和ROX染料的波長的關(guān)系圖,HEX激發(fā)波長帶與FAM發(fā)射波長帶部分重 疊,ROX激發(fā)波長帶與HEX發(fā)射波長帶部分重疊。還可參見下面的表1。
[0105] 除了針對(duì)染料的特定部件,檢測(cè)器400在設(shè)計(jì)和部件上是相同的。針對(duì)染料的特 定部件包括光源405、激發(fā)濾光片416、發(fā)射濾光片432和分束器440。
[0106] 下表提供用于選擇針對(duì)不同類型染料的濾光片的規(guī)格:
[0107] 濾光片規(guī)格
[0108] 表 1

【權(quán)利要求】
1. 一種用于監(jiān)測(cè)動(dòng)態(tài)環(huán)境中巧光計(jì)的性能的系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括: 巧光計(jì),所述巧光計(jì)包括兩個(gè)或更多個(gè)通道,每個(gè)通道具有單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過 濾組件W及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,并且其中每個(gè)通道被配置成將光源會(huì)聚到檢測(cè)區(qū); 支承架,所述支承架包括兩個(gè)或更多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物,每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物對(duì)應(yīng)于 所述巧光計(jì)的單個(gè)通道,其中所述支承架被構(gòu)造為容納兩個(gè)或更多個(gè)可移除的容器管;W 及 驅(qū)動(dòng)裝置,所述驅(qū)動(dòng)裝置被配置成調(diào)整所述參考標(biāo)準(zhǔn)物與所述巧光計(jì)之間的相對(duì)橫向 定位,使得所述兩個(gè)或更多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物中的每個(gè)可被定位成進(jìn)入或離開與所述巧光 計(jì)的其對(duì)應(yīng)通道光學(xué)連通。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成與所述巧光計(jì)的所 述對(duì)應(yīng)通道光學(xué)連通,并且其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物相比于所述檢測(cè)區(qū)偏離焦點(diǎn)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng),其中所述兩個(gè)或更多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物在所述支 承架上設(shè)置成直線排列。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述支承架包括巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的 兩個(gè)或更多個(gè)直線排列。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng),其中每個(gè)直線排列包括具有區(qū)別于巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的 其他直線排列中的每一者的發(fā)射特性的一組巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物。
6. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其中所述直線排列中的所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物中的至少 一個(gè)具有區(qū)別于所述直線排列中的其他巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物中的至少一個(gè)的發(fā)射特性。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其中所述直線排列中的相鄰巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物具有不同 的發(fā)射特性。
8. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng),其中所述支承架包括巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的=個(gè)直線排 列,并且其中所述直線排列中的至少一個(gè)包括具有區(qū)別于巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的另外兩個(gè)直線 排列的發(fā)射特性的一組巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物由巧光塑料構(gòu) 成。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物分別是粉紅色、綠色、藍(lán)色 或班巧色塑料。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1至10中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中每次僅一個(gè)所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物 可被定位成與所述巧光計(jì)的所述兩個(gè)或更多個(gè)通道中的一個(gè)光學(xué)連通。
12. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約1%到99%之間更靠近所述對(duì)應(yīng)通道。
13. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約20%到80%之間更靠近所述對(duì)應(yīng)通道。
14. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約60%到90%之間更靠近所述對(duì)應(yīng)通道。
15. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成與其對(duì)應(yīng)通道的 距離跟所述通道與所述檢測(cè)區(qū)之間的距離相同。
16. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約1 %到99%之間更遠(yuǎn)離其對(duì)應(yīng)通道。
17. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約20%到80%之間更遠(yuǎn)離其對(duì)應(yīng)通道。
18. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約60%到90%之間更遠(yuǎn)離其對(duì)應(yīng)通道。
19. 根據(jù)權(quán)利要求1至18中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述巧光計(jì)是靜止的,并且所述驅(qū) 動(dòng)裝置被配置成通過調(diào)整所述支承架的橫向定位來調(diào)整所述參考標(biāo)準(zhǔn)物與所述巧光計(jì)之 間的相對(duì)橫向定位。
20. 根據(jù)權(quán)利要求1至19中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述支承架包括可旋轉(zhuǎn)圓形傳送 盤,并且其中所述巧光計(jì)被相對(duì)于所述圓形傳送盤固定,且所述驅(qū)動(dòng)裝置被配置成通過使 所述圓形傳送盤圍繞中屯、軸產(chǎn)生角運(yùn)動(dòng)來調(diào)整所述參考標(biāo)準(zhǔn)物與所述巧光計(jì)之間的相對(duì) 橫向定位。
21. 根據(jù)權(quán)利要求20所述的系統(tǒng),其中所述驅(qū)動(dòng)裝置包括: 馬達(dá);化及 傳動(dòng)帶,所述傳動(dòng)帶被配置成將旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)從所述馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)軸轉(zhuǎn)移到所述圓形傳送 盤。
22. 根據(jù)權(quán)利要求20所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被設(shè)置在所述圓形傳送盤 的外表面上。
23. 根據(jù)權(quán)利要求22所述的系統(tǒng),其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被嵌入所述圓形傳送盤的 外表面。
24. 根據(jù)權(quán)利要求20-23中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述圓形傳送盤包括圓盤,所述圓 盤具有對(duì)應(yīng)于所述中屯、軸線的中屯、及相對(duì)于所述中屯、軸線向外延伸的多個(gè)福條,并且其中 所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物位于所述一個(gè)或多個(gè)福條上。
25. 根據(jù)權(quán)利要求24所述的系統(tǒng),其中所述福條相對(duì)于所述中屯、軸線成非徑向取向。
26. 根據(jù)權(quán)利要求1至23中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述系統(tǒng)包括兩個(gè)或更多個(gè)巧光 計(jì),每個(gè)巧光計(jì)包括兩個(gè)或更多個(gè)通道,每個(gè)通道具有單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件W 及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,并且其中每個(gè)通道被配置成將所述光源聚焦于檢測(cè)區(qū)。
27. 根據(jù)權(quán)利要求26所述的系統(tǒng),其中每個(gè)巧光計(jì)具有不同的光源、光學(xué)聚焦與過濾 組件W及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,使得每個(gè)巧光計(jì)發(fā)出不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā)射信 號(hào)。
28. 根據(jù)權(quán)利要求1至27中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述巧光計(jì)的每個(gè)通道具有不同 的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件W及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,使得每個(gè)巧光計(jì)發(fā)出不同的激發(fā)信號(hào) 并且檢測(cè)不同的發(fā)射信號(hào)。
29. 根據(jù)權(quán)利要求1至27中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng),其中所述巧光計(jì)的所述通道被布置成 交替形式,使得相鄰?fù)ǖ腊l(fā)出不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā)射信號(hào)。
30. -種在動(dòng)態(tài)系統(tǒng)中監(jiān)測(cè)巧光計(jì)性能的方法,所述系統(tǒng)包括(a)巧光計(jì),所述巧光計(jì) 包括兩個(gè)或更多個(gè)通道,每個(gè)通道具有單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件W及光學(xué)信號(hào)檢 測(cè)器,并且其中每個(gè)通道被配置成將光源會(huì)聚到檢測(cè)區(qū);化)支承架,所述支承架包括兩個(gè) 或更多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物,每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物對(duì)應(yīng)于所述巧光計(jì)的單個(gè)通道,其中所述 支承架被構(gòu)造為容納兩個(gè)或更多個(gè)可移除的容器管;W及(C)驅(qū)動(dòng)裝置,所述驅(qū)動(dòng)裝置被 配置成調(diào)整所述參考標(biāo)準(zhǔn)物與所述巧光計(jì)之間的相對(duì)橫向定位,使得所述兩個(gè)或更多個(gè)巧 光參考標(biāo)準(zhǔn)物中的每個(gè)可被定位成進(jìn)入或離開與所述巧光計(jì)的其對(duì)應(yīng)通道光學(xué)連通,所述 方法包括: 用所述驅(qū)動(dòng)裝置相對(duì)于所述巧光計(jì)移動(dòng)所述支承架,W將所述兩個(gè)或更多個(gè)巧光參考 標(biāo)準(zhǔn)物定位成與所述巧光計(jì)的所述對(duì)應(yīng)通道光學(xué)連通;W及使用所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物監(jiān)測(cè) 所述巧光計(jì)的性能。
31. 根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法,其中監(jiān)測(cè)所述巧光計(jì)的性能包括測(cè)量所述巧光參考 標(biāo)準(zhǔn)物的巧光發(fā)射強(qiáng)度并且將所測(cè)得的強(qiáng)度與用于此巧光計(jì)的所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的預(yù) 定基線巧光強(qiáng)度相比較。
32. 根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法,其中每次僅一個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物與其對(duì)應(yīng)通道光學(xué) 連通。
33. 根據(jù)權(quán)利要求30至32中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述系統(tǒng)還包括兩個(gè)或更多個(gè) 包含反應(yīng)材料的容器管,并且所述方法還包括用巧光計(jì)監(jiān)測(cè)每個(gè)容器管中發(fā)生的反應(yīng)的進(jìn) 展。
34. 根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法,其中監(jiān)測(cè)所述巧光計(jì)的性能與監(jiān)測(cè)所述兩個(gè)或更多 個(gè)容器管中的每一個(gè)內(nèi)發(fā)生的所述反應(yīng)的進(jìn)展依次發(fā)生。
35. 根據(jù)權(quán)利要求30至34中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物分別被定位 成與所述巧光計(jì)的所述對(duì)應(yīng)通道光學(xué)連通,并且其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物相比于所述檢測(cè) 區(qū)偏離焦點(diǎn)。
36. 根據(jù)權(quán)利要求30至35中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述兩個(gè)或更多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn) 物在所述支承架上設(shè)置成直線排列。
37. 根據(jù)權(quán)利要求30至36中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述支承架包括兩個(gè)或更多個(gè)巧 光參考標(biāo)準(zhǔn)物的兩個(gè)或更多個(gè)直線排列。
38. 根據(jù)權(quán)利要求37所述的方法,其中每個(gè)直線排列包括具有區(qū)別于巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物 的每個(gè)別的直線排列的發(fā)射特性的一組巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物。
39. 根據(jù)權(quán)利要求36或37所述的方法,其中所述直線排列中的所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物中 的至少一個(gè)具有區(qū)別于所述直線排列中的其他巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物中的至少一個(gè)的發(fā)射特性。
40. 根據(jù)權(quán)利要求36或37所述的方法,其中所述直線排列中的相鄰巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物具 有不同的發(fā)射特性。
41. 根據(jù)權(quán)利要求37所述的方法,其中所述支承架包括兩個(gè)或更多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物 的S個(gè)直線排列,并且其中所述直線排列中的至少一個(gè)包括具有區(qū)別于巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的 其他兩個(gè)直線排列的發(fā)射特性的一組巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物。
42. 根據(jù)權(quán)利要求30至41中任一項(xiàng)所述的方法,其中每個(gè)所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物由巧光 塑料構(gòu)成。
43. 根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法,其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物分別是粉紅色、綠色、藍(lán)色 或班巧色塑料。
44. 根據(jù)權(quán)利要求30至43中任一項(xiàng)所述的方法,其中每次僅一個(gè)所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物 可被定位成與所述巧光計(jì)的所述兩個(gè)或更多個(gè)通道中的一個(gè)光學(xué)連通。
45. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約1 %到99%之間更靠近所述對(duì)應(yīng)通道。
46. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約20%到80%之間更靠近所述對(duì)應(yīng)通道。
47. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約60%到90%之間更靠近所述對(duì)應(yīng)通道。
48. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成與所述對(duì)應(yīng)通道 的距離跟所述通道與所述檢測(cè)區(qū)之間的距離相同。
49. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約1 %到99%之間更遠(yuǎn)離所述對(duì)應(yīng)通道。
50. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約20%到80%之間更遠(yuǎn)離所述對(duì)應(yīng)通道。
51. 根據(jù)權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被定位成相比于所述檢測(cè) 區(qū)在約60%到90%之間更遠(yuǎn)離所述對(duì)應(yīng)通道。
52. 根據(jù)權(quán)利要求30至51中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述支承架包括可旋轉(zhuǎn)圓形傳送 盤并且所述巧光計(jì)被相對(duì)于所述圓形傳送盤固定,并且其中將所述支承架相對(duì)于所述巧光 計(jì)移動(dòng)包括圍繞中屯、軸線旋轉(zhuǎn)所述圓形傳送盤。
53. 根據(jù)權(quán)利要求52所述的方法,其中所述驅(qū)動(dòng)裝置包括: 馬達(dá);化及 傳動(dòng)帶,所述傳動(dòng)帶被配置成將旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)從所述馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)軸轉(zhuǎn)移到所述圓形傳送 盤。
54. 根據(jù)權(quán)利要求52或53所述的方法,其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被設(shè)置在所述圓形傳 送盤的外表面上。
55. 根據(jù)權(quán)利要求54所述的方法,其中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物被嵌入所述圓形傳送盤的 外表面。
56. 根據(jù)權(quán)利要求52至55中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述圓形傳送盤包括圓盤,所述 圓盤具有對(duì)應(yīng)于所述中屯、軸線的中屯、及相對(duì)于所述中屯、軸線向外延伸的多個(gè)福條,并且其 中所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物位于所述一個(gè)或多個(gè)福條上。
57. 根據(jù)權(quán)利要求56所述的方法,其中所述福條相對(duì)于所述中屯、軸線成非徑向取向。
58. 根據(jù)權(quán)利要求30至55中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述系統(tǒng)包括兩個(gè)或更多個(gè)巧光 計(jì),每個(gè)巧光計(jì)包括兩個(gè)或更多個(gè)通道,每個(gè)通道具有單獨(dú)的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件W 及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,并且其中每個(gè)通道被配置成將所述光源聚焦于檢測(cè)區(qū)。
59. 根據(jù)權(quán)利要求58所述的方法,其中每個(gè)附加的巧光計(jì)是靜止巧光計(jì)。
60. 根據(jù)權(quán)利要求58所述的方法,其中每個(gè)巧光計(jì)具有不同的光源、光學(xué)聚焦與過濾 組件W及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,使得每個(gè)巧光計(jì)發(fā)出不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā)射信 號(hào)。
61. 根據(jù)權(quán)利要求30至60中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述巧光計(jì)的每個(gè)通道具有不同 的光源、光學(xué)聚焦與過濾組件W及光學(xué)信號(hào)檢測(cè)器,使得每個(gè)巧光計(jì)發(fā)出不同的激發(fā)信號(hào) 并且檢測(cè)不同的發(fā)射信號(hào)。
62. 根據(jù)權(quán)利要求30至61中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述巧光計(jì)的所述通道被布置成 交替形式,使得相鄰?fù)ǖ腊l(fā)出不同的激發(fā)信號(hào)并且檢測(cè)不同的發(fā)射信號(hào)。
63. -種用于監(jiān)測(cè)多個(gè)容器管內(nèi)的反應(yīng)的系統(tǒng),包括: 培養(yǎng)器,所述培養(yǎng)器具有溫度受控室; 可移動(dòng)的容器載體,所述可移動(dòng)的容器載體被設(shè)置在所述溫度受控室內(nèi)并且被配置成 載有多個(gè)容器管并且在所述溫度受控室內(nèi)移動(dòng)所述容器管; 一個(gè)或多個(gè)固定巧光計(jì),所述巧光計(jì)被配置成測(cè)量巧光發(fā)射,并且被相對(duì)于所述容器 管定位W測(cè)量來自所述容器載體上承載的相對(duì)于各個(gè)巧光計(jì)進(jìn)入工作位置的容器管的巧 光發(fā)射; 安裝在所述容器載體上的一個(gè)或多個(gè)巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物;W及 控制器,所述控制器被配置成控制所述容器載體W及所述一個(gè)或多個(gè)巧光計(jì)的操作, 并且: 相對(duì)于所述一個(gè)或多個(gè)巧光計(jì)移動(dòng)所述容器載體W將容器管置于相對(duì)于各個(gè)巧光計(jì) 的工作位置; 啟動(dòng)各個(gè)巧光計(jì)W測(cè)量來自包含在相對(duì)于所述巧光計(jì)處于所述工作位置的所述容器 管內(nèi)的樣品的巧光發(fā)射強(qiáng)度; 基于所測(cè)得的來自包含在所述容器管內(nèi)的所述樣品的巧光發(fā)射強(qiáng)度確定所述反應(yīng)的 特性; 相對(duì)于所述一個(gè)或多個(gè)巧光計(jì)移動(dòng)所述容器載體W將巧光標(biāo)準(zhǔn)物置于與至少一個(gè)巧 光計(jì)光學(xué)連通; 啟動(dòng)所述巧光計(jì)W測(cè)量與所述巧光計(jì)處于光學(xué)連通的所述巧光標(biāo)準(zhǔn)物的巧光發(fā)射強(qiáng) 度; 確定所測(cè)量的所述巧光標(biāo)準(zhǔn)物的巧光發(fā)射強(qiáng)度與期望的巧光發(fā)射強(qiáng)度的偏差; 如果所述偏差超出闊值,生成錯(cuò)誤信號(hào);W及 如果所述偏差沒有超出闊值,繼續(xù)所述儀器的操作。
64. 在一種被配置成根據(jù)來自樣品的巧光發(fā)射的強(qiáng)度來確定所述樣品的特性的儀器 中,其中所述樣品被包含在容器管中,所述容器管被承載在可移動(dòng)的容器載體上,并且所述 巧光發(fā)射的強(qiáng)度由巧光計(jì)測(cè)量,所述巧光計(jì)相對(duì)于所述容器載體固定并且被構(gòu)造和布置成 測(cè)量來自包含在由所述容器載體移動(dòng)到相對(duì)于所述巧光計(jì)的檢測(cè)區(qū)的容器管中的樣品的 巧光發(fā)射的強(qiáng)度,用于使用安裝在所述容器載體上的巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物檢測(cè)所述巧光計(jì)的失 效或性能惡化的自動(dòng)化方法,所述方法包括W下步驟: (a)相對(duì)于所述巧光計(jì)移動(dòng)所述容器載體W周期性地將所述容器管置于所述巧光計(jì)的 所述檢測(cè)區(qū),并且使用所述巧光計(jì)對(duì)來自包含在所述容器管中的所述樣品的巧光發(fā)射的強(qiáng) 度進(jìn)行一個(gè)或多個(gè)測(cè)量; 化)在執(zhí)行步驟(a)之前或之后,相對(duì)于所述巧光計(jì)移動(dòng)所述容器載體W將所述巧光 參考標(biāo)準(zhǔn)物置于與所述巧光計(jì)光學(xué)連通,并且測(cè)定所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的發(fā)射強(qiáng)度的測(cè)試 量值; (C)確定步驟化)中測(cè)得的所述測(cè)試量值與所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的預(yù)定基線發(fā)射強(qiáng)度 的偏差; (d) 如果步驟(c)中確定的所述偏差超出闊值,生成錯(cuò)誤信號(hào);w及 (e) 如果步驟(C)中確定的所述偏差沒有超出闊值,通過重復(fù)步驟(a)至Ij (C)繼續(xù)所述 儀器的操作直至達(dá)到停止條件。
65.根據(jù)權(quán)利要求64所述的方法,還包括通過W下步驟確定所述基線發(fā)射強(qiáng)度: 在步驟(a)之前,將所述容器載體相對(duì)于所述巧光計(jì)移動(dòng)W將所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物置 于與所述巧光計(jì)光學(xué)連通; 使用所述巧光計(jì)測(cè)定所述巧光參考標(biāo)準(zhǔn)物的發(fā)射強(qiáng)度的初始量值;W及 將所述初始量值存儲(chǔ)為所述預(yù)定基線發(fā)射強(qiáng)度。
【文檔編號(hào)】G01N21/27GK104471375SQ201380038066
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2013年6月7日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月14日
【發(fā)明者】H·李, D·奧帕爾斯基, R·E·海因茨, N·D·哈根 申請(qǐng)人:簡·探針公司
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