一種裸板測試治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種半導體器件的電性能測試設備，具體涉及一種裸板測試治具。所述治具包括底座、貼合在底座上的彈簧管護板、貼合在彈簧管護板的首層針板、與PCB板貼合的末層針板、設置在首層針板和末層針板之間的多個中間針板、支柱、墊圈和探針，所述支柱依次穿過首層針板、多個中間針板和末層針板，所述墊圈設置在相鄰的首層針板、多個中間針板和末層針板之間，探針依次穿過彈簧管護板、首層針板、多個中間針板和末層針板上的相應針孔，接觸到PCB板，所述首層針板和末層針板結構相同，分別包括外圍的緊固區(qū)和中心的減薄區(qū)，所述探針的針孔設置在減薄區(qū)內。本實用新型提供的技術方案使探針下插更通順，減少探針彎折的同時提升工作效率。
【專利說明】一種裸板測試治具
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種半導體器件的電性能測試設備，具體涉及一種裸板測試治具。
【背景技術】
[0002]裸板測試，又稱“通斷測試”，是在整個電路板制程后質量檢驗中尤為重要關鍵的一個環(huán)節(jié)，因為它是保證客戶原始設計網絡關系、基本性能實用的電檢測試工序。裸板測試治具分單面治具和雙面治具，所述PCB板設置在單面治具的下側，設置在雙面治具的中間，可以根據需要對PCB板的一面或者兩面進行測試。如圖1所示，目前的治具一般包括底座
11、貼合在底座11上的彈簧管護板12、設置在彈簧管護板12上的若干平行針板13、支柱
14、墊圈15和探針16，所述支柱14依次穿過針板13，墊圈15設置在上下相鄰針板13之間，控制上下針板13之間的距離，探針16穿過彈簧管護板12和針板13上的相應針孔穿出，接觸到探針16底端的PCB板17，針板13中首層針板與彈簧管護板12相貼合，針板13中末層針板與PCB板17相貼合，為了保證治具強度，保護PCB板不受損傷，因此首層針板和末層針板要求有一定厚度，比其余針板的厚度厚。
[0003]因針板11上的彈簧針點陣密度和PCB板上的測試點的密度不同而使得治具的探針14必須有一定的斜率，而首層針板和末層針板又存在一定厚度，因此探針14在首層針板和末層針板時比較困難，在下壓治具時，探針14容易偏斜，彎折，影響使用。
實用新型內容
[0004]本實用新型所要解決的技術問題是探針穿插困難，為了克服以上不足，提供了一種裸板測試治具。
[0005]為了解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是:所述裸板測試治具，包括底座、貼合在底座上的彈簧管護板、貼合在彈簧管護板的首層針板、與PCB板貼合的末層針板、設置在首層針板和末層針板之間的多個中間針板、支柱、墊圈和探針，所述支柱依次穿過首層針板、多個中間針板和末層針板，所述墊圈設置在相鄰的首層針板、多個中間針板和末層針板之間，探針依次穿過彈簧管護板、首層針板、多個中間針板和末層針板上的相應針孔，接觸到PCB板，所述首層針板和末層針板結構相同，分別包括外圍的緊固區(qū)和中心的減薄區(qū)，所述探針的針孔設置在減薄區(qū)內。首層針板和末層針板中心區(qū)域減薄，有助于探針順利穿過。
[0006]優(yōu)選地是，所述減薄區(qū)靠近彈簧管護板或PCB板的一面與緊固區(qū)齊平，所述減薄區(qū)遠離彈簧管護板或PCB板的一面低于緊固區(qū)。
[0007]優(yōu)選地是，所述首層針板遠離彈簧管護板的一面貼合有防護板，所述末層針板遠離PCB板的一面貼合有防護板。增加防護板后即滿足探針順利通過又保證了首層針板和末層針板的足夠強度，以防下壓時壓傷PCB板。
[0008]優(yōu)選地是，穿過首層針板和末層針板的支柱設置在相應的緊固區(qū)內，與相鄰中間針板之間的墊圈設置在相應的緊固區(qū)內。
[0009]優(yōu)選地是，所述防護板的厚度為0.3-0.5mm，所述減薄區(qū)的厚度為0.5mm，所述緊固區(qū)的厚度為2.5-3.0mm,所述中間針板的厚度為1mm。
[0010]優(yōu)選地是，所述首層針板、多個中間針板和末層針板上的針孔逐層變大。這樣可以有效防止排布密集的探針受力變形導致相互接觸而生銹。
[0011]本實用新型提供的技術方案通過首層針板和末層針板減薄并增加相應護板，使得探針可以很順暢的貫穿各針板，使探針下插更通順，減少探針彎折的同時提升工作效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是現有技術中裸板檢測治具的結構示意圖；
[0013]圖2是實施例1中所述裸板測試治具的結構示意圖；
[0014]圖3是實施例1中所述末層針板的剖視圖；
[0015]圖4是實施例2中所述裸板測試治具的結構示意圖。
[0016]圖中所示:
[0017]11-底座，12-彈簧管護板，13-針板，14-支柱，15-墊圈，16-探針，17-PCB板；
[0018]21-首層針板,22-第一防護板,23-第一中間針板,24-第二中間針板,25-第四中間針板，26-第二防護板，27-末層針板，271-緊固區(qū)，272-減薄區(qū)，31-第一墊圈，32-第二墊圈，33-第三墊圈，34-第四墊圈，41-上治具，42-下治具。
【具體實施方式】
[0019]下面結合附圖對本實用新型作詳細描述:
[0020]實施例1
[0021]如圖2所示，所述裸板測試治具，包括從上到下依次設置的底座11、貼合在底座11上的彈簧管護板12、貼合在彈簧管護板12的首層針板21、與首層針板21貼合的第一防護板22、第一中間針板23、第二中間針板24、第四中間針板25、第二防護板26、與第二防護板26貼合的末層針板27、與末層針板27貼合的PCB板15以及支柱14、墊圈和探針16，所述支柱14依次穿過首層針板21、第一防護板22、第一中間針板23、第二中間針板24、第四中間針板25、第二防護板26和末層針板27，所述第一防護板22與第一中間針板23之間設有第一墊圈31，所述第一中間針板23與第二中間針板24之間設有第二墊圈32，所述第二中間針板24與第三中間針板25之間設有第三墊圈33，所述第三中間針板25與第二防護板26之間設有第四墊圈34，探針16依次穿過彈簧管護板12、首層針板21、第一防護板22、第一中間針板23、第二中間針板24、第四中間針板25、第二防護板26和末層針板27上的相應針孔，接觸到PCB板17。
[0022]如圖2和3所示，所述首層針板21和末層針板27結構相同，以末層針板27為例，包括外圍的緊固區(qū)271和中心的減薄區(qū)272，所述探針16的針孔設置在減薄區(qū)272內，所述減薄區(qū)272靠近PCB板17的一面與緊固區(qū)271齊平，所述減薄區(qū)272遠離PCB板17的一面低于緊固區(qū)271，也就是說減薄區(qū)272是相對緊固區(qū)271的上表面向下減薄，然后貼覆第二防護板26，而首層針板21與末層針板27相對設置，也就是說首層針板21的減薄區(qū)272相對首層針板21的緊固區(qū)271的下表面向上減薄，然后貼覆第一防護板22。穿過首層針板21和末層針板27的支柱14設置在相應的緊固區(qū)271內，第一墊圈31和第四墊圈34設置在相應的緊固區(qū)271所在區(qū)域的第一防護板22和第二防護板26上。
[0023]如圖2和3所示，所述首層針板21、第一防護板22、第一中間針板23、第二中間針板24、第三中間針板25、第二防護板26和末層針板27上的針孔逐層變大。所述第一防護板22和第二防護板26的厚度為0.3mm,所述減薄區(qū)272的厚度d為0.5mm,所述緊固區(qū)271的D厚度為2.5mm，所述第一中間針板23、第二中間針板24和第三中間針板25的厚度為Imm,所述第一墊圈31、第二墊圈32和第三墊圈33的厚度為8.5mm，所述第四墊圈34的厚度為
3.2mmο
[0024]實施例2
[0025]如圖4所示，本實用新型所述裸板測試治具，其為雙面治具，在上治具41和下治具42之間設置PCB板15，上治具41和下治具42的結構參見實施例1的治具，其中上治具41的末層針板27在最下側，下治具42的末層針板27在最上側，也就是上治具41和下治具42相對設置。需要指出的是，上治具41和下治具42可以都為實施例1中所述結構，也可以其中之一為實施例1中所述結構。
[0026]顯然，本領域的技術人員可以對實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權利要求及其等同技術的范圍之內，則本實用新型也意圖包括這些改動和變型在內。
【權利要求】
1.一種裸板測試治具，包括底座、貼合在底座上的彈簧管護板、貼合在彈簧管護板的首層針板、與PCB板貼合的末層針板、設置在首層針板和末層針板之間的多個中間針板、支柱、墊圈和探針，所述支柱依次穿過首層針板、多個中間針板和末層針板，所述墊圈設置在相鄰的首層針板、多個中間針板和末層針板之間，探針依次穿過彈簧管護板、首層針板、多個中間針板和末層針板上的相應針孔，接觸到PCB板，其特征在于，所述首層針板和末層針板結構相同，分別包括外圍的緊固區(qū)和中心的減薄區(qū)，所述探針的針孔設置在減薄區(qū)內。
2.根據權利要求1所述一種裸板測試治具，其特征在于，所述減薄區(qū)靠近彈簧管護板或PCB板的一面與緊固區(qū)齊平，所述減薄區(qū)遠離彈簧管護板或PCB板的一面低于緊固區(qū)。
3.根據權利要求2所述一種裸板測試治具，其特征在于，所述首層針板遠離彈簧管護板的一面貼合有防護板，所述末層針板遠離PCB板的一面貼合有防護板。
4.根據權利要求1所述一種裸板測試治具，其特征在于，穿過首層針板和末層針板的支柱設置在相應的緊固區(qū)內，與相鄰中間針板之間的墊圈設置在相應的緊固區(qū)內。
5.根據權利要求3所述一種裸板測試治具，其特征在于，所述防護板的厚度為0.3-0.5mm,所述減薄區(qū)的厚度為0.5mm,所述緊固區(qū)的厚度為2.5-3.0mm,所述中間針板的厚度為1mm。
6.根據權利要求1任一所述一種裸板測試治具，其特征在于，所述首層針板、多個中間針板和末層針板上的針孔逐層變大。
【文檔編號】G01R31/02GK203688711SQ201320889184
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2013年12月31日 優(yōu)先權日:2013年12月31日
【發(fā)明者】陳書華, 肖高峰, 董如琴 申請人:昆山鼎鑫電子有限公司