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一種可移動測試探針的測試治具的制作方法

文檔序號:6210333閱讀:477來源:國知局
一種可移動測試探針的測試治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種可移動測試探針的測試治具,包括一針板結構,所述針板結構包括:一針板外框;若干測試針滑板,其設于所述針板外框上,并可相對于所述針板外框滑動;若干測試針滑塊,其設于所述測試針滑板上,并可相對于所述測試針滑板滑動,且所述測試針滑塊相對于所述測試針滑板滑動的方向與所述測試針滑板相對于針板外框滑動方向垂直;若干測試針,其固定于所述測試針滑塊上。本實用新型通過實現(xiàn)探針可移動技術避免了傳統(tǒng)電路板性能測試治具因測試針的固定性和測試產(chǎn)品的差異性而導致的測試治具與測試產(chǎn)品一對一的單一性問題,使每套治具的可使用性擴大,同時也降低了生產(chǎn)成本。
【專利說明】一種可移動測試探針的測試治具
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測試治具,更確切地說是一種可移動測試探針的測試治具?!颈尘凹夹g】
[0002]我們知道,電路板性能測試治具,包括用于放置測試產(chǎn)品的載板和位于載板上部的針板,產(chǎn)品在測試過程中,下壓針板,針板上的測試針與產(chǎn)品的測試部位接觸,進而進行產(chǎn)品性能測試。通常,測試產(chǎn)品、載板和針板上的測試針都是對應設置的,載板上設置有測試產(chǎn)品的型腔,針板則設置有固定測試針的定位柱,傳統(tǒng)的測試產(chǎn)品、載板和針板的定位方式是在針板上設置定位柱,然后再通過載板下壓后卡位,這樣的定位方式使得針板和測試產(chǎn)品具有一對一關系,針板和載板以及整個治具都和單一的測試產(chǎn)品對應,無法對所有測試產(chǎn)品或大部分測試產(chǎn)品通用,造成治具測試功能的單一性,做完一個產(chǎn)品其測試治具就無法再重復利用,進而提高了生產(chǎn)成本。
實用新型內容
[0003]本實用新型的目的是提供一種可移動測試探針的測試治具,本實用新型的目的在于改變探針的固定方式,進而達到使探針位置可調,對不同的測試產(chǎn)品只需要調整探針位置即可。
[0004]本實用新型采用以下技術方案:
[0005]一種可移動測試探針的測試治具,包括一針板結構,所述針板結構包括:
[0006]一針板外框;
[0007]若干測試針滑板,其設于所述針板外框上,并可相對于所述針板外框滑動;
[0008]若干測試針滑塊,其設于所述測試針滑板上,并可相對于所述測試針滑板滑動,且所述測試針滑塊相對于所述測試針滑板滑動的方向與所述測試針滑板相對于針板外框滑動方向垂直;
[0009]若干測試針,其固定于所述測試針滑塊上。
[0010]所述針板外框為一矩形外框。
[0011]所述針板外框的前后兩側分別設有一第一滑槽,所述測試針滑板的兩端卡設于所述第一滑槽內,且可相對于所述第一滑槽滑動。
[0012]所述測試針滑板包括第一滑板及第二滑板,所述第一滑板及第二滑板之間設有容置所述測試針滑塊的容置空隙,所述第一滑板相對于所述第二滑板及所述第二滑板相對于所述第一滑板一側均設有一第二滑槽。
[0013]還包括固定部,其固定于所第一滑板及第二滑板的兩端,所述固定部設于所述第一滑槽內且可相對于第一滑槽滑動。
[0014]所述測試針滑塊設于所述容置空隙內,且所述測試針滑塊左右兩端設于所述第二滑槽內并可相對于所述第二滑槽滑動。
[0015]所述測試針滑塊的上下底面露出于所述第二滑槽,且所述測試針被固定于所述測試針滑塊上。
[0016]進一步地,所述測試針滑塊的上下面凸出第二滑槽,且所述測試針通過定位柱被固定于所述測試針滑塊設有的中間孔內。
[0017]所述針板結構的后部固定于一治具底架上。
[0018]本實用新型的優(yōu)點是:本實用新型通過實現(xiàn)探針可移動技術避免了傳統(tǒng)電路板性能測試治具因測試針的固定性和測試產(chǎn)品的差異性而導致的測試治具與測試產(chǎn)品一對一的單一性問題,使每套治具的可使用性擴大,同時也降低了生產(chǎn)成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]下面結合實施例和附圖對本實用新型進行詳細說明,其中:
[0020]圖1是本實用新型的結構示意圖。
[0021]圖2是圖1的俯視圖。
[0022]圖3是圖1的局部放大圖。
[0023]圖4是本實用新型的測試針滑板的結構示意圖。
[0024]圖5是本實用新型的測試針滑塊的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0025]下面結合附圖進一步闡述本實用新型的【具體實施方式】:
[0026]如圖1、2、3所示,一種可移動測試探針的測試治具,包括一針板結構1,所述針板結構固定于治具底架2上。
[0027]本實用新型中的針板結構I包括:若干測試針11、若干測試針滑塊12 (如圖2中所示)、若干測試針滑板13及一針板外框14。測試針滑板13設于所述針板外框14上,并可相對于所述針板外框14滑動;測試針滑塊12設于所述測試針滑板13上,并可相對于所述測試針滑板13滑動,且所述測試針滑塊12相對于所述測試針滑板13滑動的方向與所述測試針滑板13相對于針板外框14滑動方向垂直;測試針11固定于所述測試針滑塊12上。
[0028]在一個實施例中,本實用新型中的所述針板外框14為一矩形外框,所述針板外框的前后兩側分別設有一第一滑槽141,所述測試針滑板13的兩端被置于所述第一滑槽141內,從而使得所述測試針滑板13可相對于所述第一滑槽141滑動。
[0029]如圖3和圖5所示,本實用新型中所述測試針滑板13包括固定部131、第一滑板132及第二滑板133,所述第一滑板132及第二滑板133之間設有容置所述測試針滑塊12的容置空隙134,所述第一滑板132相對于所述第二滑板133及所述第二滑板133相對于所述第一滑板132 —側均設有一第二滑槽135。固定部131固定于第一滑板132及第二滑板133的兩端,所述固定部被置于所述第一滑槽141內且可相對于第一滑槽141滑動。
[0030]如圖4所示,所述測試針滑塊12包括上底面121、下底面122及第二固定部123。所述測試針滑塊12左右兩端的第二固定部123被置于所述第二滑槽135內并可相對于所述第二滑槽135滑動。所述測試針滑塊12的上下底面露出于所述第二滑槽135,如圖3中所示,所述測試針11固定于所述測試針滑塊12上,使得該測試針11位于第一滑板132及第二滑板133之間的容置空隙134中。
[0031]在一個實施例中,所述測試針滑塊12的上下面凸出第二滑槽135,且所述測試針11通過定位柱被固定于所述測試針滑塊12設有的通孔中,用于對測試治具的載板上放置的待測試產(chǎn)品進行測試。
[0032]本實用新型的所述針板結構的后部固定于一治具底架上。
[0033]本實用新型的使用方法:測試針通過定位柱固定在測試針滑塊上,測試針滑塊可在測試針滑板內做Y方向滑動,測試針滑板可在針板外框內做X方向滑動,進而控制測試針相對于治具載板上放置的待測試產(chǎn)品的位置。
[0034]本實用新型的電路板檢測治具的載板定位方式不變,改變針板上固定測試針的定位方式,進而使探針可在針板上X和Y方向移動,通過調整測試針相對于治具載板的位置來滿足不同測試產(chǎn)品的需求。
[0035]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已,并不用以限制本實用新型,凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等,均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種可移動測試探針的測試治具,包括一針板結構,其特征在于,所述針板結構包括: 一針板外框; 若干測試針滑板,其設于所述針板外框上,并可相對于所述針板外框滑動; 若干測試針滑塊,其設于所述測試針滑板上,并可相對于所述測試針滑板滑動,且所述測試針滑塊相對于所述測試針滑板滑動的方向與所述測試針滑板相對于針板外框滑動方向垂直; 若干測試針,其固定于所述測試針滑塊上。
2.根據(jù)權利要求1所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述針板外框為一矩形外框。
3.根據(jù)權利要求2所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述針板外框的前后兩側分別設有一第一滑槽,所述測試針滑板的兩端卡設于所述第一滑槽內,且可相對于所述第一滑槽滑動。
4.根據(jù)權利要求1至3中任意一項所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述測試針滑板包括第一滑板及第二滑板,所述第一滑板及第二滑板之間設有容置所述測試針滑塊的容置空隙,所述第一滑板相對于所述第二滑板及所述第二滑板相對于所述第一滑板一側均設有一第二滑槽。
5.根據(jù)權利要求4所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,還包括固定部,其固定于所第一滑板及第二滑板的兩端,所述固定部設于所述第一滑槽內且可相對于第一滑槽滑動。
6.根據(jù)權利要求5所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述測試針滑塊設于所述容置空隙內,且所述測試針滑塊左右兩端設于所述第二滑槽內并可相對于所述第二滑槽滑動。
7.根據(jù)權利要求6所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述測試針滑塊的上下底面露出于所述第二滑槽,且所述測試針被固定于所述測試針滑塊上。
8.根據(jù)權利要求7所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述測試針滑塊的上下面凸出所述第二滑槽,且所述測試針通過定位柱被固定于所述測試針滑塊設有的中間孔內。
9.根據(jù)權利要求8所述的可移動測試探針的測試治具,其特征在于,所述針板結構的后部固定于一治具底架上。
【文檔編號】G01R1/067GK203720215SQ201320829701
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2013年12月16日 優(yōu)先權日:2013年12月16日
【發(fā)明者】王建鋒, 王召蒙, 王和穩(wěn) 申請人:英華達(上海)科技有限公司, 英華達(上海)電子有限公司, 英華達股份有限公司
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